JPH03108636A

JPH03108636A - 皮膜の密着力測定方法

Info

Publication number: JPH03108636A
Application number: JP24533189A
Authority: JP
Inventors: Masahiro Saito; 斉藤　正弘; Yoshiyasu Ito; 義康伊藤
Original assignee: Toshiba Corp
Current assignee: Toshiba Corp
Priority date: 1989-09-22
Filing date: 1989-09-22
Publication date: 1991-05-08

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】〔発明の目的〕（産業上の利用分野）本発明は皮膜の密着力測定方法に係り、特に構造物の基
材表面にコーティングされた皮膜の密着力を非破壊的に
測定することが可能であり、また測定精度が高く、測定
操作が簡易で迅速に実施し得る皮膜の密着力測定方法に
関する。

（従来の技術）構造物や機器部品の耐食性や耐摩耗性を改良して製品と
しての寿命を伸ばし、美観を維持するために、基材表面
に溶射、めっき、蒸着、塗装等のコーティング方法によ
って皮膜を形成する表面処理が広い分野で行なわれてい
る。

この皮膜の基材に対する蒸着強度や皮膜の剥離強度等は
、機器等の寿命を判断する上で最も基本的で重要な特性
であることから、従来より種々の評価測定方法が提案さ
れている。

例えば密着力についてはＡ　Ｓ　Ｔ　Ｍ規格Ｃ６３３７
９、ＪＩＳ−Ｈ８６６６、ＪＩＳ−Ｈ８６６４等があり
、剥離強度についてはＪＩＳ−に６８５４等によって公
的に規格化されている一方、“真空蒸着法による金属薄
膜のスクラッチテストによる付着性評価法”　（仲田他
、溶接学会全国大会講演概要、第４３集、８８−９）、
　　“大出力Ｃ０２レーザによるセラミックスコーティ
ング法の研究、第６報（峰田他、昭和６３年度、精密工
学会秋期大会学術講演会、講演論文集、Ｇ３８）等の学
会発表で開示されている。

上記開示された測定法は、いずれも最終的に皮膜を破壊
して密着力等を測定する破壊試験によるものであり、非
破壊的に皮膜め密着性や剥離特性等を検出する手法は開
示されていない。また上記の測定法はいずれも、小型試
験片での模擬試験であり、それらの測定法を実プラント
機器や部品の破壊試験に適用することは、測定条件も厳
正に一致させる必要があり、多くの困難を伴っていた。

一方、他の測定方法として、溶射後の皮膜表面をハンマ
ーにて乱打し、欠陥部を検出するノ１ンマリング法も一
部で使用されている。これは溶射皮膜の欠陥部と健全部
とにおいて打音が変化することを利用して、欠陥部を検
出するものである。しかしながら本性によれば検査員の
長い経験と高度な技側か必要とされ検査員の技側差によ
って検出値が大きくばらつき、また定量的な強度特性値
を測定することは不可能であった。

ところで、実プラントを定期点検や精密検査のために停
止することはプラントの操業度が低下して好ましくない
。特に発電プラント等については電力の安定供給という
社会的要請に対応する必要があるため、検査測定のため
にプラントを停止する期間は可及的に短かく、しかも検
査作業も迅速に完了させることが必要である。

さらに近年プラントを極力停止することなく、稼動中に
おいても安全に点検ができ、機器の安全性を常時モニタ
できる方法が多くの分野で希求されている。コーティン
グ皮膜の強度特性についも同様であり、プラントが稼動
中においても、皮膜の定着性、剥離強度や界面亀裂など
の欠陥を適宜非破壊的に測定検出できる方法の開発実用
化が求められている。

この要請に対応する一例として、赤外線映像装置を用い
て設備を非破壊−的に検査診断する手法が建築分野や化
学プラント分野で開発されている。

例えば“建築技術”　　（１９８７年、３号、４２７巻
）には、外壁タイルの剥離診断に赤外線映像装置を適用
した例が開示されている。

この赤外線映像装置の構成および診断手法を第９図に示
す。赤外線映像装置は、赤外線カメラ１と、コントロー
ル部２と、表示部３とを備える。

赤外線カメラ１は、さらに赤外線を光学的に集光する集
光器７と、赤外線量を検出する検出器８とから成る。検
出器８としては、例えばインジウムアンチモン（ＩｎＳ
ｂ）、水銀カドミウムテルル（ＨｇＣｄＴｅ）等で構成
された半導体量子検出器が一般に採用される。被検体４
を含めた全ての物体は、その表面温度Ｔに応じた電磁波
５を放射している。この電磁波５の放射エネルギ５ａの
波長は約０．７２〜１０００μｍの赤外線領域にある。

すなわち、全ての物体は、絶体温度０度（−２７３℃）
以上の赤外線５ｂを放射している。この放射エネルギ５
ａを検出し、さらに電気信号６ａ、６ｂに変換し、熱画
像９として表示することにより、被検体４の表面温度特
性値を求めることができる。

すなわち赤外線カメラ１は被検体４から放射された赤外
線５ｂを集光器７によって光学的に集光し、さらに検出
器８に導く。導かれた赤外線５ｂは、検出器８において
電気信号６ａに変換されコントロール部２に送信される
。送信された電気信号６ａはコントロール部２において
信号処理を実行された後に電気信号６ｂとなって表示部
３に送信され、熱画像９として表示される。

しかしながら、従来の赤外線映像装置は、いずれも被検
体４表面の温度分布を測定し、その温度分布から異常を
定性的に診断しているに過ぎないい。また測定された温
度特性値は、被検体４が自ら保有している表面温度に対
応した赤外線５ｂを赤外線映像装置により測定したもの
であるため、温度変化の割合が少なく、その変化量から
欠陥の有無を診断することは困難であった。

上記の問題点に対応するため第１０図に示すように被検
体４の皮膜１０の表面部に対向して加熱源１１を設け、
外部から強制的に被検体４に、熱線Ｈを照射し、欠陥部
１２とその周辺の健全部とにおける熱伝達係数や熱容量
の相異に基づいて発生する温度分布の相異を赤外線熱画
像によって判別し、異常診断を行う方法も開発実用化さ
れている。

（発明が解決しようとする課題）しかしながら上記の診断装置においては、欠陥の発生の
有無を定性的に検出する方法としては優れているが、特
に皮膜の密着力を定量的に把握することは困難であった
。

また破壊試験を採用すれば皮膜の密着力を高精度に測定
することが可能となる。しかしその場合は実機プラント
より多数の試験片を採取することが必要であり、事実上
困難である。また採取できたとしても試験片の加工調製
および各試験片についての破壊試験の実施に多大な労力
と時間を要し、迅速な測定作業が不可能であるという問
題点がある。

また従来の赤外線映像装置を使用して非破壊的に皮膜の
密着力を測定しようとしても、皮膜の材料となるコーテ
イング材の種類や皮膜を形成する基材の種類、コーティ
ング条件、実機の配置環境や雰囲気、皮膜を形成する基
材の寸法、欠陥の形状や寸法等によって測定値は大きく
ばらつき、測定精度は極めて低く信頼性が低いものしか
得られない。

特に皮膜条件としてセラミックスを使用する場合は、熱
の伝導率が低く、熱の伝導速度が小さい性質に加えて、
セラミックスの剥離の形態や密着強度という特性が不明
な点が多いため測定精度がさらに低下してしまう欠点が
ある。

一方超音波探傷法によれば、実製品表面に形成した皮膜
が剥離している場合に欠陥の検出が容易である。しかし
単に皮膜の密着力が低下している場合においては、未だ
皮膜は基材表面と接触しているため、検出信号によって
有意差は生じない。

従って超音波探傷では密着力を定量的に評価できない。

さらに、実製品の皮膜の密着度を測定する場合には実製
品と同様なダミー試験片が必要であり、実製品の製作条
件、コーティング施工条件にて製作したダミー試験片の
密着力試験がその都度必要となり、多大な検査労力を要
する。また実プラントの停止期間を可及的に短縮するた
めには、実製品の検査は短時間内に高精度に行い、かつ
連続的に実施する必要がある。ところが従来の測定方法
では作業員の資質、能力、技個差によって測定値のばら
つきが大きくなり、測定精度が低下する等の問題点があ
った。

本発明は上記の問題点を解決するためになされたもので
あり、被検体を一定条件で加熱した後の、皮膜の表面の
温度特性値と、皮膜の密着力とが強い相関をもつことに
着目して、コーティング皮膜の破壊試験によって測定し
た密着力と赤外線映像装置によるコーティング皮膜の非
破壊的な密着力の関係を求め、測定方法のンステム化を
図り、コーティング部材の剥離、密着力検出能力を向上
させると共に、密着力、剥離検出精度を向上させ、信頼
性の高い赤外線映像装置による非破壊的な皮膜の密着力
測定方法を提供することを目的とする。

〔発明の構成〕

（課題を解決するための手段）上記目的を達成するため本発明に係る皮膜の密着力測定
方法は、密着力が異なる皮膜を形成した複数の模擬試験
片について、各皮膜の密着力を破壊試験によって測定す
る一方、上記各模擬試験片を一定の加熱条件下において
加熱した後に赤外線映像装置によって皮膜表面の温度特
性値を求め、上記破壊試験によって得た密着力と皮膜表
面の温度特性値との相関関係を表わす較正曲線を作成し
ておき、密着力を求めようとする被検体の皮膜表面の温
度特性値を赤外線映像装置によって測定し、得られた測
定値を上記較正曲線に当てはめ、対応する被検体の皮膜
の密着力を非破壊的に算出することを特徴とする。

（作用）上記構成に係る皮膜の密着力測定方法によれば、密着力
が異なる複数の皮膜を形成した模擬試験片について破壊
試験を行って密着力を測定する一方、各模擬試験片を一
定の加熱条件下において加熱した後に赤外線映像装置に
よって皮膜表面の温度特性値を求め、得られた温度特性
値と破壊試験によって測定された密着力との関係が較正
曲線として得られる。

そして密着力を求めようとする被検体を同一条件下にお
いて加熱した後における皮膜表面の温度特性値を同様に
測定する。そして予め得られた較正曲線に温度特性値の
測定値を当てはめることによって、対応する密着力を算
出することができる。

このように本発明方法によれば、予め較正曲線を得てお
けば、それ以後は、赤外線映像装置を使用して皮膜表面
の温度特性値を測定するだけで皮膜の密着力を非破壊的
に測定することができる。

また密着力の分布状態は赤外線映像装置の熱画像によっ
て迅速に表示されるため測定現場において、目視によっ
て皮膜形成製品の劣化度合を知ることが可能であり、製
品の良否を迅速に判定することができる。

さらに本発明方法によれば、製品検査の都度、製品から
ダミー試験片を採取して破壊試験に供する煩雑な操作が
不要となるため、検査時間が大幅に短縮される。また測
定条件となる加熱条件を設定することが容易であり、検
査員の技仙差による誤差も少ない。従って測定誤差も減
少し、従来法と比較して密着力の測定精度を大幅に向上
させることができる。

（実施例）次に本発明の一実施例について添付図面を参照して説明
する。本発明方法を実施するためには、まず予備的作業
として密着力が異なる皮膜を形成した複数の模擬試験片
を作成し、各模擬試験片を破壊試験に供して各皮膜の密
着力を測定する作業が必要とされる。

第１図（ａ）〜（ｅ）は模擬試験片１２の調製手順およ
び破壊試験の手順を示す図である。第１図（ａ）は基材
１３ａの上端面にブラスト粒子１４を高速度で吹き付け
、表面を目荒しするブラスト処理を実施している状態を
示す斜視図である。

この目荒し程度の大小によって、基材１３ａと皮膜との
密着力を変化させることができる。次に第１図（ｂ）に
示すようにブラスト処理した基材１３ａの上端面に溶射
ガン１５を使用してコーテイング材１６を溶射する。コ
ーテイング材１６は基材１３ａの上端面に一定の厚さに
堆積し皮膜りを形成する。そして第１図（、Ｃ）に示す
ように基材１３ａの上面に溶射皮膜りが密着した模擬試
験片１２が完成する。次にこの模擬試験片１２に対して
第１図（ｄ）に示すように、ブラスト処理を施したもう
一方の基材１３ｂを接着剤Ｅを介して接着する。接着剤
Ｅとしては熱硬化性の接着剤がよい。次に模擬試験片１
２に引張荷重Ｆを徐々に作用せしめ、最終的に第１図（
ｅ）に示すように皮膜りが基材１３ａから完全に剥離し
たときの荷重Ｗから密着力σを下記（１）式に従って算
出する。

σ＝　　　　　　　　　　　　　　　　（１）ここでＷ
は引張試験において基材から皮膜を引き剥がした荷重、
Ａは基材および皮膜が荷重を受持つ面積である。

ここで基材１３ａと皮膜りの密着力σとの関係は第２図
に示す通り、基材１３ａの上端面を目荒しするブラスト
粒子の大小により増減し、ブラスト粒子１４の径が大き
くなる程、基材１３ａの表面粗さが荒くなり皮膜の密着
力σが大きくなる。

そこで密着力σが異なる皮膜りを有する模擬試験片１２
を製作する場合には、第１図（ａ）に示すブラスト処理
に使用するブラスト粒子１４の粒径を種々変えることに
より可能となる。そしてこのように密着力が異なった皮
膜りを有する多数の模擬試験片１２について破壊試験を
行い、各皮膜りの密着力σを測定しておく。

一方予備作業において調整した各模擬試験片１２につい
て、一定条件で加熱した後における皮膜の表面温度分布
を赤外線映像装置を使用して測定する。第３図はその測
定状態を示す斜視図である。

すなわち模擬試験片１２のコーティング皮膜りの表面を
均一に加熱する１対の熱源（ヒータ）１７を設け、皮膜
りからの距離を一定値に保持し、また加熱時間および皮
膜りへの入熱量も一定に保持して皮膜り表面を加熱した
後に、赤外線カメラ１にて皮膜り表面の温度分布を求め
る。皮膜りの各部の密着力の大小は、そのまま表面温度
の変化として把握される。

第４図（ａ）（Ｊ）（ｃ）はそれぞれ皮膜りの密着力が
異なる３種類の模擬試験片１２の皮膜表面の温度分布を
示すグラフである。すなわち密着力が増大すると、皮膜
りの表面温度Ｔが逆に低下することが判明した。これは
溶射皮膜りが完全に基材１３ａに密着していると、皮膜
りと基材１３ａとの境界部における伝熱抵抗が小さく皮
膜表面で吸収された熱が基材方向に迅速に移動するため
、皮膜りの表面温度Ｔは相対的に低（保持されるからで
ある。

この皮膜りの密着力と皮膜表面温度Ｔとの関係について
、さらに第５図を参照して説明する。第５図は、基材１
３ａに密着しない欠陥部へを一部に有する皮膜り表面を
一定条件の下に５秒間加熱しく入熱ｆｆ１Ｑ）　、引き
続き１０秒間放冷した場合における欠陥部表面温度Ｔ、
健全全部温度Ｂの経時変化および表面における最大温度
勾配ｄＴ／ｄＸの経時変化を示すグラフである。

すなわち、皮膜り内に欠陥部Ａが介在しており、密着力
が小さい場合の表面温度１人は高くなり、逆に密着力が
大きい健全ｔｆＪＢの表面温度Ｔ８は低くなる傾向が伺
える。

すなわち密着力が小さいという状態は、皮膜りと基材１
３ａとの界面において、ミクロ的に剥離した欠陥部Ａを
有し、欠陥部Ａにおける伝熱抵抗が大きいため、欠陥部
Ａの表面に熱が蓄積され、表面温度ＴＡが大きくなるの
である。一方密着カが大きい健全部Ｂにおいては、熱が
基材１３ａ方向に容易に移動し得るため、熱の蓄積は起
こらず、表面温度ＴＢは低（保持される。

次に前記破壊試験によって測定した各皮膜の密着力と、
赤外線映像装置によって測定した皮膜の平均表面温度を
加熱熱量によって除した値とをグラフ上にプロットして
第６図に示すような較正曲線を作成する。

この較正曲線から明らかな通り、コーティング皮膜りの
密着力が小さい場合においては皮膜の平均表面温度が高
い一方、密着力が高い場合においては、平均表面温度か
小さくなり、両者は強い負の相関関係を有する。

従って予め、模擬試験片の皮膜密着力とその皮膜表面温
度との関係式を較正曲線として作成しておけば、以後、
測定対象物の皮膜の温度分布を赤外線映像装置により測
定し、測定値を上記較正曲線に当てはめるだけで対応す
る密着力を非破壊的にかつ迅速に算出することができる
。

第７図は本発明方法を実施する際に使用する皮膜の密着
力測定装置の一実施例を示すブロック図である。すなわ
ちこの皮膜の密着力測定装置は、基材１３の表面に皮膜
１０を形成した被検体４の表面を加熱する１対の熱源（
ヒータ）１７と、皮膜１０表面からの赤外線映像を撮影
する赤外線カメラ１と、その映像信号を処理し、皮膜表
面の温度分布信号を出力する制御部」８と、各種被検体
についての較正曲線を記憶する記憶装＋買１９と、制御
部１８からの温度分布信号を、記憶装置１９から呼び出
した較正曲線に当てはめ、温度分布信号に対応した皮膜
の密着力を算出するコンピュータ２０と、コンピュータ
２０から出方された密着力を数値的に表示する表示装置
２１と、コンピュータ２０から出力された密着力を、被
検体４の表面位置に対応する画像とする画像処理装置２
２と、コンピュータ２０から出力された密着力が所定の
基準値以下になったときに警報を発信する警報装置２３
とから構成される。

被検体４の皮膜１０の密着力を測定する場合は、まず、
熱源１７によって被検体４が一定条件下で加熱され、次
に赤外線カメラ１によって皮膜１゜の表面の赤外線映像
が撮影される。映像信号は制御部１８において信号処理
され、皮膜１０表面の温度分布信号としてコンピュータ
２ｏに大刀される。コンピュータ２ｏは記憶装置１９が
ら呼び出した較正曲線に上記温度分布信号を当てはめ、
対応する皮膜の密着力を自動的に算出し、算出結果は表
示装置２１に表示される。一方コンピュータ２０から出
力された密着力信号は画像処理装置２２に入力され、こ
こで皮膜１０表面における２次元密着力分布として熱画
像表示される。

このように被検体４の皮膜１０の密着力が非破壊的にか
つ迅速に測定することが可能となる。特に得られた密着
力は赤外線熱画像で表示されるため、測定現場において
、検査員の目視によって製品の良否を迅速に判定するこ
とができる。また較正曲線を得た後は破壊試験を行う必
要がないため、測定作業が極めて簡素化し、検査時間の
短縮化が図れるとともに、検査員の技側差による測定値
のばらつきが小さくなり、製品検査の精度を大幅に向上
させることができる。

さらに、本実施例装置を、製品の検査工程に配置し、皮
膜の剥離監視装置として使用することもできる。すなわ
ち製品検査時において、皮膜の密着力が所定の規格値以
下になった場合、警報装置２３が動作し、不良品を自動
的に排除したり、運転員に警告するため、検査作業の省
力化を進めることができる。

本発明者は、多種類の被検体について本発明方法を迅速
に適用できるように、多くの種類の模擬試験片を調製し
、破壊試験によって得た密着力と、赤外線映像装置によ
って得た皮膜の表面温度特性値との相関を求め、それぞ
れ較正曲線として取得しデータベースとした。

ここで本発明者が使用したところの、密着力を変えた模
擬試験片１２の形状を第８図（ａ）（ｂ）に示しておく
。この模擬試験片１２は基材１３表面に２ケ所にわたり
、ブラスト処理を施工しない領域Ｖを設け、また領域の
直径ｄを１〜１０＋＋＋ｎ＋の範囲で変化させた。領域
■においては皮膜の密着力は零となるため、対応する表
面温度の基準値が設定し易い。

ま°た模擬試験片１２の基材１３の材料としては、Ｎｉ
基合金、ＣＯ基合金、Ｗ合金、セラミックスの４種類を
採用した。一方、模擬試験片１２の表面にコーティング
処理によって形成する皮膜りの材料としては、Ａｌ２Ｏ
３，ＺｒＯ２，Ｙ、、Ｏ３゜Ｃｒ２Ｏ３，ＴｉＣ，Ｔｉ
Ｎ、Ｔ１ＣＮ、ＺｒＮ。

ＳｉＣ，Ｓｉ３Ｎ４．Ｃｒ２Ｏ３−３ｉｎ２，５ＵＳ３
０４．Ｎ１ＣｒＡＪＹ、　　８％ＹＺｒ、Ｃ。

ＣｒＡＩＹの１５種類を使用した。さらにコーティング
処理法としては、実施例で述べた溶射法のみならず、レ
ーザ法、湿式めっき法、物理的又は化学的蒸着法、塗装
法を使用した。

このように多種類の基材、コーティング材料、コーティ
ング処理法によって模擬試験片１２を調製し、各試験片
についての破壊試験によって得た密着力と、赤外線映像
装置によって非破壊的に得た皮膜表面温度とから較正曲
線を取得し、データベースとすることにより、以後の測
定検査において皮膜を形成した製品の検査を非破壊的に
、しかも高精度で実施することができる。

〔発明の効果〕

以上説明の通り本発明に係る皮膜の密着力測定方法によ
れば、密着力が異なる複数の皮膜を形成した模擬試験片
について破壊試験を行って密着力を測定する一方、各模
擬試験片を一定の加熱条件下において加熱した後に赤外
線映像装置によって皮膜表面の温度特性値を求め、得ら
れた温度特性値と破壊試験によって測定された密着力と
の関係が較正曲線として得られる。

また密着力の分布状態は赤外線映像装置の熱画像によっ
て迅速に表示されるため測定現場において、目視によっ
て皮膜形成製品の劣化度合を定量的に知ることが可能で
あり、製品の良否を迅速に判定することができる。

さらに本発明方法によれば、製品検査の都度、製品から
ダミー試験片を採取して破壊試験に供する煩雑な操作が
不要となるため、検査時間が大幅に短縮される。また測
定条件となる加熱条件を設定することが容易であり、検
査員の技個差による誤差も少ない。従って測定誤差も減
少し、従来法と比較して測定精度を大幅に向上させるこ
とができる。

【図面の簡単な説明】

第１図（ａ）、（ｂ）、（ｃ）は模擬試験片を調製する
手順を示す図であり、第１図（ａ）は基材端面にブラス
ト処理を実施する状態を示す斜視図、第１図（ｂ）は基
材にコーティング処理を実施する状態を示す斜視図、第
１図（ｃ）は模擬試験片の斜視図、第１図（ｄ）、（ｅ
）は引張試験片においてそれぞれ基体から皮膜が剥離す
る前後の状態を示す断面図、第２図はブラスト粒子径と
皮膜の密着力との関係を示すグラフ、第３図は模擬試験
片の皮膜表面温度を測定する状態を示す斜視図、第４図
（ａ）、（ｂ）、（ｃ）は密着力がそれぞれ小、中、大
の皮膜の表面温度分布を示すグラフ、第５図は欠陥部温
度および健全部温度の経時変化を示すグラフ、第６図は
平均表面温度と皮膜の密着力との関係を示すグラフ、第
７図は皮膜の密着力測定装置の一実施例を示すブロック
図、第８図（ａ）。（ｂ）はそれぞれ模擬試験片の他の実施例を示す平面図
、側面図、第９図は従来の赤外線映像装置の一般的な構
成を示す構成図、第１０図は外部加熱源により被検体を
加熱する状態を示す斜視図である。１・・・赤外線カメラ、２・・・コントロール部、３・
・・表示部、４・・・被検体、５・・・電磁波、５ａ・
・・放射エネルギ、５ｂ・・・赤外線、６ａ、６ｂ・・
・電気信号、７・・・集光器、８・・・検出器、９・・
・熱画像、１ｏ・・・皮膜、１１・・・加熱源、１２・
・・模擬試験片、１３，１３ａ、１３ｂ・・・基材、１
４・・・ブラスト粒子、１５・・・溶射ガン、１６・・
・コーテイング材、１７・・・加熱源（ヒータ）、１８
・・・制御部、１９・・・記憶装置、２０・・・コンピ
ュータ、２１・・・表示装置、２２・・・画像処理装置
、２３・・・警報装置、Ｔ、ＴＡ、Ｔ８・・・表面温度
、Ａ・・・欠陥部、Ｈ・・・熱線、Ｆ・・・引張力、Ｄ
・・・皮膜、Ｅ・・・接着剤。

Claims

【特許請求の範囲】

　密着力が異なる皮膜を形成した複数の模擬試験片につ
いて、各皮膜の密着力を破壊試験によって測定する一方
、上記各模擬試験片を一定の加熱条件下において加熱し
た後に赤外線映像装置によって皮膜表面の温度特性値を
求め、上記破壊試験によって得た密着力と皮膜表面の温
度特性値との相関関係を表わす較正曲線を作成しておき
、密着力を求めようとする被検体の皮膜表面の温度特性
値を赤外線映像装置によって測定し、得られた測定値を
上記較正曲線に当てはめ、対応する被検体の皮膜の密着
力を非破壊的に算出することを特徴とする皮膜の密着力
測定方法。