JPH03108194A - 半導体集積回路 - Google Patents
半導体集積回路Info
- Publication number
- JPH03108194A JPH03108194A JP1244350A JP24435089A JPH03108194A JP H03108194 A JPH03108194 A JP H03108194A JP 1244350 A JP1244350 A JP 1244350A JP 24435089 A JP24435089 A JP 24435089A JP H03108194 A JPH03108194 A JP H03108194A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- input
- power supply
- level
- transistor
- circuit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims description 14
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 14
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 3
- 235000017166 Bambusa arundinacea Nutrition 0.000 description 1
- 235000017491 Bambusa tulda Nutrition 0.000 description 1
- 241001330002 Bambuseae Species 0.000 description 1
- 235000015334 Phyllostachys viridis Nutrition 0.000 description 1
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 1
- 239000011425 bamboo Substances 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000002386 leaching Methods 0.000 description 1
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 1
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は半導体集積回路に関し、特に入力回路の入力レ
シオを変化させる゛V導体集積回路に関する。
シオを変化させる゛V導体集積回路に関する。
近年、半導体装置における半導体集積回路は、安定動作
のために入力特性の余裕度の向上が要求されている。そ
の為、半導体集積回路における入力回路の入力レシオを
最適化させる必要がある。
のために入力特性の余裕度の向上が要求されている。そ
の為、半導体集積回路における入力回路の入力レシオを
最適化させる必要がある。
第4図に、従来の半導体集積回路における入力回路の一
例を示す。第4図は、いわゆるCMOSインバータロ路
であり、第1の電源vCCと第2の′iri源GND間
に、P型MOSエンハンスメントトランジスタQa及び
NWMOSエンハンスメントトランジスタQ2+のa列
回路が接続されたものである。これらトランジスタQn
、Q21のドレイン側を共通の出力端F20とし、ゲー
ト側を同一の入力端F21としている。第4図の回路は
、入力*j’21からのゲート入力信号により!・ラン
ジスタQζ、Q21が導通、非導通の反対動作をする。
例を示す。第4図は、いわゆるCMOSインバータロ路
であり、第1の電源vCCと第2の′iri源GND間
に、P型MOSエンハンスメントトランジスタQa及び
NWMOSエンハンスメントトランジスタQ2+のa列
回路が接続されたものである。これらトランジスタQn
、Q21のドレイン側を共通の出力端F20とし、ゲー
ト側を同一の入力端F21としている。第4図の回路は
、入力*j’21からのゲート入力信号により!・ラン
ジスタQζ、Q21が導通、非導通の反対動作をする。
これにより、出力端子20からは入力端子21の信号状
態と反転した信号を出力するものである。
態と反転した信号を出力するものである。
ところで、第4図のCMOSインバータで構成されてい
る回路の場合、第5図に示すように、入力ハイレベル側
しきいl’tV111と入力【コーレベル側しきい値v
Itは第1の電源V。0の電圧に依存するのが一般的で
ある。
る回路の場合、第5図に示すように、入力ハイレベル側
しきいl’tV111と入力【コーレベル側しきい値v
Itは第1の電源V。0の電圧に依存するのが一般的で
ある。
そして、このようなCMOSインバータを、例えば2モ
ードで動作するE P ROM (E rasable
p rograa+able ROM )の入力回路
に使用する場合、入力レシオを読出しモード、書込みモ
ードの何れかに固定し、第1の電源vCcの7h圧に応
じたしきい値で使用されていた。
ードで動作するE P ROM (E rasable
p rograa+able ROM )の入力回路
に使用する場合、入力レシオを読出しモード、書込みモ
ードの何れかに固定し、第1の電源vCcの7h圧に応
じたしきい値で使用されていた。
(発明が解決しようとする課題)
しかし、EPROMは読出しモードと占込みモードとで
は駆e電圧が異なることから、前述のように入力回路の
入力レシオを読出しモードで設定すると書込みモードで
は不適切となる。従って、浸出bモード、占込みモード
それぞれについて入力回路の入力レシオを適切にするこ
とができヂ、半導体集積回路における入力特性の余裕度
が低下するという問題を生じていた。
は駆e電圧が異なることから、前述のように入力回路の
入力レシオを読出しモードで設定すると書込みモードで
は不適切となる。従って、浸出bモード、占込みモード
それぞれについて入力回路の入力レシオを適切にするこ
とができヂ、半導体集積回路における入力特性の余裕度
が低下するという問題を生じていた。
そこで、本発明は上記課題に鑑みなされたちので、入力
回路における入力特性の余裕度の向上を図る半導体集積
回路を提供することを目的とする。
回路における入力特性の余裕度の向上を図る半導体集積
回路を提供することを目的とする。
第1図に本発明の原理ブロック図を示す。第1図中、1
は半導体集積回路における入力回路であり、各動作モー
ドによって異なる電源電圧のレベルで使用される。2は
入力回路1における検知部であり、第1の電源■PPと
第2の電源GND閤に接続される。そして、この検知部
2は各動作モードによる1n記異なる電源電圧のレベル
を検知する。
は半導体集積回路における入力回路であり、各動作モー
ドによって異なる電源電圧のレベルで使用される。2は
入力回路1における検知部であり、第1の電源■PPと
第2の電源GND閤に接続される。そして、この検知部
2は各動作モードによる1n記異なる電源電圧のレベル
を検知する。
また、3は入力回路1における入力部であり、第3の1
f源vCcと第2の電源GND間に接続される。
f源vCcと第2の電源GND間に接続される。
そして、入力部3は検知i!!2の出力信号により、該
異なる電m7fi圧のレベルに対して所定のしきい値で
動作し、入力端子4からの入り信号に応じて出力端F5
から出力信号を出力する。
異なる電m7fi圧のレベルに対して所定のしきい値で
動作し、入力端子4からの入り信号に応じて出力端F5
から出力信号を出力する。
第1図に示すように、検知部2で各動作モードにおける
電源電圧のレベルを検知し、その出力信号により入力部
3が電IIl電圧のレベルに対して所定の入力しきい値
でvJ何する。すなわち、検知部2は、第1の電源匂、
の電圧レベル及び第3の電源vccの’J/)レベルの
変化を検知する。そして、入力部3は、検知部2の信号
により、第1の電源vPP及び第3の電源VCcの電圧
レベルが変化しても、入力FF4からの入力信号に対し
て所定の入力しきい値でwJ竹し、出力端子5より出力
信号を出力する。
電源電圧のレベルを検知し、その出力信号により入力部
3が電IIl電圧のレベルに対して所定の入力しきい値
でvJ何する。すなわち、検知部2は、第1の電源匂、
の電圧レベル及び第3の電源vccの’J/)レベルの
変化を検知する。そして、入力部3は、検知部2の信号
により、第1の電源vPP及び第3の電源VCcの電圧
レベルが変化しても、入力FF4からの入力信号に対し
て所定の入力しきい値でwJ竹し、出力端子5より出力
信号を出力する。
これにより、各動作モードで電源電圧の電圧レベルが異
なっても、入力回路における入力レシオの適切化を図る
ことができ、入力特性の余裕度を向上させることが可能
となる。
なっても、入力回路における入力レシオの適切化を図る
ことができ、入力特性の余裕度を向上させることが可能
となる。
(実施例)
第2図に本発明の一実施例を示す。なお、第2図は、本
発明の半導体集積回路を、EPROMに使用した場合の
70ツクD路図である。第1図において、半導体集積回
路における入力回路1内の検知部2は、第1の電源VP
Pと第2の電源GND間に、1〕型MO8Iンハンスメ
ントトランジスタ0+及びNヤMO8T、ンハンスメン
トトランジスタQ2の直列回路が接続され、ゲートには
共に第3の電源■ccより印加される。そして、トラン
ジスタQ+ 、Q2の共通のドレイン側より出力モード
信号が2段のインバータ回路6.7を介して、入力部3
のモード端子8に出力される。
発明の半導体集積回路を、EPROMに使用した場合の
70ツクD路図である。第1図において、半導体集積回
路における入力回路1内の検知部2は、第1の電源VP
Pと第2の電源GND間に、1〕型MO8Iンハンスメ
ントトランジスタ0+及びNヤMO8T、ンハンスメン
トトランジスタQ2の直列回路が接続され、ゲートには
共に第3の電源■ccより印加される。そして、トラン
ジスタQ+ 、Q2の共通のドレイン側より出力モード
信号が2段のインバータ回路6.7を介して、入力部3
のモード端子8に出力される。
−h1入力回路1における入力部3は、第3の電源■c
cと第2の電源GND問に、P型MO8Iンハンスメン
トトランジスタQ3 、QJ及びNヤMO8Iンハンス
メントトランジスタQ5の直列回路が接続され、ゲート
は共に入力端子4に接続される。また、トランジスタQ
3にはP型MOSエンハンスメントトランジスタQ6が
並列に接続され、トランジスタQ6のゲートはモード端
子8に接続されて検知部2からのモード信号を入力する
。また、トランジスタQ4 、Qsの共通のドレイン側
より出力端子5に接続され、出力信号を出力する。
cと第2の電源GND問に、P型MO8Iンハンスメン
トトランジスタQ3 、QJ及びNヤMO8Iンハンス
メントトランジスタQ5の直列回路が接続され、ゲート
は共に入力端子4に接続される。また、トランジスタQ
3にはP型MOSエンハンスメントトランジスタQ6が
並列に接続され、トランジスタQ6のゲートはモード端
子8に接続されて検知部2からのモード信号を入力する
。また、トランジスタQ4 、Qsの共通のドレイン側
より出力端子5に接続され、出力信号を出力する。
そして、EPROM9では、入力回路1の出力端子5か
ら入カバッフ?10.デコーダ11を介してセル・アレ
イ12に接続される。また、セル・アレイ12からはセ
ンスアンプ13.出力バッ゛ノ?14を介して出力f4
″F15に接続される。ここで、デコーダ11及びセル
・アレイ12は第1の電源VPPより電圧が供給される
。
ら入カバッフ?10.デコーダ11を介してセル・アレ
イ12に接続される。また、セル・アレイ12からはセ
ンスアンプ13.出力バッ゛ノ?14を介して出力f4
″F15に接続される。ここで、デコーダ11及びセル
・アレイ12は第1の電源VPPより電圧が供給される
。
次に、上記回路の動作を説明する。ここで、EP RO
M 9は、読出しモードと占込みモードを有しており、
これらのモードによっ゛て第1の電源vPP及び第3の
電源■cCの電圧レベルが変化する。
M 9は、読出しモードと占込みモードを有しており、
これらのモードによっ゛て第1の電源vPP及び第3の
電源■cCの電圧レベルが変化する。
゛また、入力部3のトランジスタQ3と06には容量に
おいて、Q3 (Qsの関係を有する1゜まず、読出し
七−ドでは、第1の電源VPPの電圧喀よ5 (V)
、第3の電源V。0の電圧を5〔v〕とする。従って、
検知部2から入力部3のモード端子8へ出力する信号は
ローレベルとなる。、このとき、入力部3ではトランジ
スタQ6がオン状態となる。ここで、入力端子4の入力
信号がハイレベルより0−レベルに変化した場合、トラ
ンジスタQ3 、Q<はオン状態となり、トランジスタ
Qsはオフ状態となる。この場合、トランジスタ06は
Q6 >03の容量を有していることから、その抵抗弁
を零とみなすことができ、出力端子5に対するプルアッ
プトランジスタはトランジスタQ4のみとなる。従って
、トランジスタQ4の入力しきい値(立上りしきい値)
は、第3の電源V の電圧5 (V)に対するしきい値
と同等でトC ランジスタQ4が立上り、出力端子5よりハイレベルの
出力信号を出力する。
おいて、Q3 (Qsの関係を有する1゜まず、読出し
七−ドでは、第1の電源VPPの電圧喀よ5 (V)
、第3の電源V。0の電圧を5〔v〕とする。従って、
検知部2から入力部3のモード端子8へ出力する信号は
ローレベルとなる。、このとき、入力部3ではトランジ
スタQ6がオン状態となる。ここで、入力端子4の入力
信号がハイレベルより0−レベルに変化した場合、トラ
ンジスタQ3 、Q<はオン状態となり、トランジスタ
Qsはオフ状態となる。この場合、トランジスタ06は
Q6 >03の容量を有していることから、その抵抗弁
を零とみなすことができ、出力端子5に対するプルアッ
プトランジスタはトランジスタQ4のみとなる。従って
、トランジスタQ4の入力しきい値(立上りしきい値)
は、第3の電源V の電圧5 (V)に対するしきい値
と同等でトC ランジスタQ4が立上り、出力端子5よりハイレベルの
出力信号を出力する。
一方、EPROM9では、出力端子5の出力信号に対し
て正論理で動作するように入力バッフ710を設定する
ものとすると、入カバツノ?10からの信号でデ」−ダ
11がアドレスを選定し、該アドレスのデータをセル・
アレイ12(第1の電源VPPが5(v)のときが読出
しモード)より読出す。そして、センスアンプ13.出
力バッフ?14を介して出力端子15より記憶データを
出力する。なお、入ツノ端子4の入力信号がハイレベル
のときは、トランジスタQ4がオフ状態、トランジスタ
Qsがオン状態となって、出力端子5よりローレベルの
信号が出力される。従って、正論理動作するEPROM
9では読出しは行われない。
て正論理で動作するように入力バッフ710を設定する
ものとすると、入カバツノ?10からの信号でデ」−ダ
11がアドレスを選定し、該アドレスのデータをセル・
アレイ12(第1の電源VPPが5(v)のときが読出
しモード)より読出す。そして、センスアンプ13.出
力バッフ?14を介して出力端子15より記憶データを
出力する。なお、入ツノ端子4の入力信号がハイレベル
のときは、トランジスタQ4がオフ状態、トランジスタ
Qsがオン状態となって、出力端子5よりローレベルの
信号が出力される。従って、正論理動作するEPROM
9では読出しは行われない。
次に、古込みモードでは、第1の電源VPPの電圧は1
2.5(V)、第3の電源■。、の電圧を6(v)とす
る。このVp、= 12.5 (V )は古込み用とし
ての電源であり■、。−6Vは山込みの確認の基準とし
たものである。従って、検知部2から入力部3のモード
端F8へ出力信号はハイレベル(V、、=12.5V1
.:対t6V、、C=6Vl;to−t、’ベルの信号
である)となる。このとき、入力部3で【よトランジス
タQ6はオフ状態(高抵抗)となる。ここで、入力端F
4の入力信号がハイレベルよりローレベルに変化した場
合、トランジスタQ3.04はオン状態となり、トラン
ジスタQsはオフ状態となる。この場合、出力端子5に
対するプルアップトランジスタ喀よトランジスタQ3
、QJ となる。また、トランジスタQ3はQ6に比べ
て容量が小さいことから抵抗とみなすことができ、ここ
での電圧降下を1(v)となるようにトランジスタQ3
を選択すると、トランジスタQ4には5〔V〕の電源電
圧が印加されることと等価になる。従って、トランジス
タQ4の入力しきい値(立上りしきい値)は、第3の電
源V、。の電圧が6〔v〕であっても、電圧5〔V〕に
対するしきい値と同等でトランジスタQ4が立上り、出
力g ’F 5よりハイレベルの出力信号を出力する。
2.5(V)、第3の電源■。、の電圧を6(v)とす
る。このVp、= 12.5 (V )は古込み用とし
ての電源であり■、。−6Vは山込みの確認の基準とし
たものである。従って、検知部2から入力部3のモード
端F8へ出力信号はハイレベル(V、、=12.5V1
.:対t6V、、C=6Vl;to−t、’ベルの信号
である)となる。このとき、入力部3で【よトランジス
タQ6はオフ状態(高抵抗)となる。ここで、入力端F
4の入力信号がハイレベルよりローレベルに変化した場
合、トランジスタQ3.04はオン状態となり、トラン
ジスタQsはオフ状態となる。この場合、出力端子5に
対するプルアップトランジスタ喀よトランジスタQ3
、QJ となる。また、トランジスタQ3はQ6に比べ
て容量が小さいことから抵抗とみなすことができ、ここ
での電圧降下を1(v)となるようにトランジスタQ3
を選択すると、トランジスタQ4には5〔V〕の電源電
圧が印加されることと等価になる。従って、トランジス
タQ4の入力しきい値(立上りしきい値)は、第3の電
源V、。の電圧が6〔v〕であっても、電圧5〔V〕に
対するしきい値と同等でトランジスタQ4が立上り、出
力g ’F 5よりハイレベルの出力信号を出力する。
一方、EPROM9では、前述と同様に正論理で動作す
るものとすると、入力バッフ710からの信号でデコー
ダ11がアドレスを選定し、該アドレスにデータをセル
・アレイ12(第1の電源vppが12.5 (V )
のときが21込みモード)に占込む。なお、入力端子4
の入力信号がハイレベルのときは、トランジスタQ4が
オフ状態、トランジスタQsがオン状態となって、出力
端子5よりローレベルの信号が出力される。従って、正
論叩動作するEPROM9では書込みは行われない。
るものとすると、入力バッフ710からの信号でデコー
ダ11がアドレスを選定し、該アドレスにデータをセル
・アレイ12(第1の電源vppが12.5 (V )
のときが21込みモード)に占込む。なお、入力端子4
の入力信号がハイレベルのときは、トランジスタQ4が
オフ状態、トランジスタQsがオン状態となって、出力
端子5よりローレベルの信号が出力される。従って、正
論叩動作するEPROM9では書込みは行われない。
このように、EPROM9の読出しモード又は書込み王
−ドによって第1の電源VPP及び第3の電源V、。の
電圧レベルが異なっても、入力部3のトランジスタQ4
に供給される電圧は変化しない。
−ドによって第1の電源VPP及び第3の電源V、。の
電圧レベルが異なっても、入力部3のトランジスタQ4
に供給される電圧は変化しない。
従って、入力しきい値ら変化せずに所定のしきい値でト
ランジスタQ4が動作することから、入力回路の入力レ
シオを最適化することができ、入力特性の余裕度を向上
させることができる1゜次に、第3図に入力回路1にお
(プる入力部3の他の実施例の回路図を示す。第3図に
おいて、入力部3は、第3の電源vCCと第2の電源G
ND間に、P型MO5T−ンハンスメントトランジスタ
Q4及びN型MO8”nンハンスメントトランジスタQ
sの直列回路が接続され、ゲートは共に入力端I4に接
続されると共に、共通のドレイン側が出力端f5に接続
される。また、出力端子5と第2の電源GND間に、N
型MOSエンハンスメントトランジスタQy、Qsの直
列回路が接続される。また、トランジスタQ7のゲート
は入力E ’F4に接続され、トランジスタQ8のゲー
1−がモード端F8に接続されるものである。
ランジスタQ4が動作することから、入力回路の入力レ
シオを最適化することができ、入力特性の余裕度を向上
させることができる1゜次に、第3図に入力回路1にお
(プる入力部3の他の実施例の回路図を示す。第3図に
おいて、入力部3は、第3の電源vCCと第2の電源G
ND間に、P型MO5T−ンハンスメントトランジスタ
Q4及びN型MO8”nンハンスメントトランジスタQ
sの直列回路が接続され、ゲートは共に入力端I4に接
続されると共に、共通のドレイン側が出力端f5に接続
される。また、出力端子5と第2の電源GND間に、N
型MOSエンハンスメントトランジスタQy、Qsの直
列回路が接続される。また、トランジスタQ7のゲート
は入力E ’F4に接続され、トランジスタQ8のゲー
1−がモード端F8に接続されるものである。
第3図の回路の勤nについて説明する。ここで、EPR
OM9は出力端f5の出力信号に対して負論理で動作す
るものとし、他の条件は第2図と同様とする。まず、読
出しモードのときは、モード端子8には[1−レベルの
信号が入力し、トランジスタQ8をオフ状態とする。こ
のとき、入力端子4の入力信号がローレベルからハイレ
ベルに変化すると、トランジスタ04はオフ状態となり
、トランジスタQs 、Qyがオン状態となる。しかし
、トランジスタQ8がオフ状態であるから、プルダウン
トランジスタはトランジスタQ5となり、第3の電源V
C,(5(V) )に対する入力しきい値(立下りしき
い値)で動作する。これによって、第2図と同様にEP
ROM9で番ま読出しが行われる。
OM9は出力端f5の出力信号に対して負論理で動作す
るものとし、他の条件は第2図と同様とする。まず、読
出しモードのときは、モード端子8には[1−レベルの
信号が入力し、トランジスタQ8をオフ状態とする。こ
のとき、入力端子4の入力信号がローレベルからハイレ
ベルに変化すると、トランジスタ04はオフ状態となり
、トランジスタQs 、Qyがオン状態となる。しかし
、トランジスタQ8がオフ状態であるから、プルダウン
トランジスタはトランジスタQ5となり、第3の電源V
C,(5(V) )に対する入力しきい値(立下りしき
い値)で動作する。これによって、第2図と同様にEP
ROM9で番ま読出しが行われる。
一方、書込みモードのときは、モード端子8にはハイレ
ベルが入力し、1−ランジスタQ8をオン状態とする。
ベルが入力し、1−ランジスタQ8をオン状態とする。
このとき、入力端子4の入力信号が0−レベルからハイ
レベルに変化すると、トランジスタ04はオフ状態とな
り、トランジスタQs。
レベルに変化すると、トランジスタ04はオフ状態とな
り、トランジスタQs。
Q7がオン状態となる。すなわち、占込みモードのとき
はプルダウントランジスタはトランジスタQsと、トラ
ンジスタQy 、Qsの直列回路との並列回路になり、
電源電圧の上かによるトランジスタQ5の増幅をトラン
ジスタQ7によって相殺するものである(ここで、容F
JQy<Qs)。従って、第3の電源vccが変化して
も、入力しさいfl(立下りしきい値)は変化すること
なく、EPROM9で占込みが行われる。
はプルダウントランジスタはトランジスタQsと、トラ
ンジスタQy 、Qsの直列回路との並列回路になり、
電源電圧の上かによるトランジスタQ5の増幅をトラン
ジスタQ7によって相殺するものである(ここで、容F
JQy<Qs)。従って、第3の電源vccが変化して
も、入力しさいfl(立下りしきい値)は変化すること
なく、EPROM9で占込みが行われる。
このように、第2図においてはプルアップトランジスタ
を選択動作させて入力レシオの最適化を図ったが、第3
図のようにプルダウントランジスタを選択動作すること
によっても同様の効果を右するものである。
を選択動作させて入力レシオの最適化を図ったが、第3
図のようにプルダウントランジスタを選択動作すること
によっても同様の効果を右するものである。
なお、上記実施例では本発明の半導体集積回路における
入力回路をEPROMの読出し、占込みに使用した場合
を示したが、これに限らf1異なる1m電圧で動作させ
るものであれば何れにおいても同様の効果を有するもの
である。
入力回路をEPROMの読出し、占込みに使用した場合
を示したが、これに限らf1異なる1m電圧で動作させ
るものであれば何れにおいても同様の効果を有するもの
である。
以上のように本発明によれば、動作モードによって電源
電圧が変化しても、これを検知し、入力部のプルアップ
又はプルダウントランジスタの動作を選択することによ
り、入力回路における入力レシオの適切化を図ることが
でき、これにより入力特性の余裕度を向上させることが
できる。
電圧が変化しても、これを検知し、入力部のプルアップ
又はプルダウントランジスタの動作を選択することによ
り、入力回路における入力レシオの適切化を図ることが
でき、これにより入力特性の余裕度を向上させることが
できる。
第1図は本発明の原理ブロック図、
第2図は本発明の一実施例のブロック回路図、第3図は
第2図における入力部の他の実施例を示した回路図、 第4図は従来の入力回路の一例を示した回路図、第5図
は電源電圧に対する入力しきい値のグラフである。 3は入力部、 4は入力端r、 5は出力端f、 8はモード端I、 9はEl)ROM を丞づ。
第2図における入力部の他の実施例を示した回路図、 第4図は従来の入力回路の一例を示した回路図、第5図
は電源電圧に対する入力しきい値のグラフである。 3は入力部、 4は入力端r、 5は出力端f、 8はモード端I、 9はEl)ROM を丞づ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 各動作モードによつて異なる電源電圧のレベルで使用さ
れる入力回路(1)を備えた半導体集積回路において、 前記入力回路(1)は、 前記各動作モードによる前記異なる電源電圧のレベルを
検知する検知部(2)と、 該検知部(2)の出力信号により、該異なる電源電圧の
レベルに対して所定の入力しきい値で動作する入力部(
3)と、 を有することを特徴とする半導体集積回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1244350A JPH03108194A (ja) | 1989-09-20 | 1989-09-20 | 半導体集積回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1244350A JPH03108194A (ja) | 1989-09-20 | 1989-09-20 | 半導体集積回路 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03108194A true JPH03108194A (ja) | 1991-05-08 |
Family
ID=17117393
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1244350A Pending JPH03108194A (ja) | 1989-09-20 | 1989-09-20 | 半導体集積回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH03108194A (ja) |
-
1989
- 1989-09-20 JP JP1244350A patent/JPH03108194A/ja active Pending
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4973864A (en) | Sense circuit for use in semiconductor memory | |
US5583460A (en) | Output driver circuit for restraining generation of noise and semiconductor memory device utilizing such circuit | |
US7498844B2 (en) | Output driver for dynamic random access memory | |
US7808318B2 (en) | Data amplifying circuit controllable with swing level according to operation mode and output driver including the same | |
US7359277B2 (en) | High speed power-gating technique for integrated circuit devices incorporating a sleep mode of operation | |
US4653029A (en) | MOS amplifier and semiconductor memory using the same | |
US5680071A (en) | Tristate voltage boosted integrated circuit | |
US6100744A (en) | Integrated circuit devices having improved internal voltage generators which reduce timing skew in buffer circuits therein | |
US5450362A (en) | Semiconductor integrated circuit device | |
KR960000896B1 (ko) | 반도체 집적회로장치 | |
JPH07239348A (ja) | パワーオンリセット回路及び電源電圧検出回路 | |
US5293515A (en) | Amplifier circuit having two inverters | |
JPH03108194A (ja) | 半導体集積回路 | |
JPH06132747A (ja) | 半導体装置 | |
US6590812B2 (en) | Memory cells incorporating a buffer circuit and memory comprising such a memory cell | |
JPS6129496A (ja) | 半導体記憶装置 | |
KR100282761B1 (ko) | I/o 클램프 회로를 구비한 반도체 메모리 장치 | |
JP2001229676A (ja) | 集積回路 | |
US5617370A (en) | Semiconductor memory device with controllable charging characteristics of column lines | |
JP3889161B2 (ja) | 半導体集積回路装置 | |
EP0417973A2 (en) | Amplifier circuit having two inverters | |
JP2707825B2 (ja) | 半導体集積回路装置 | |
JPH0685159A (ja) | 半導体記憶装置とそれを用いたメモリ装置 | |
JPH06303123A (ja) | 半導体集積回路 | |
JPH05335898A (ja) | 入力バッファ回路 |