JPH03106467U - - Google Patents
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- Publication number
- JPH03106467U JPH03106467U JP1309190U JP1309190U JPH03106467U JP H03106467 U JPH03106467 U JP H03106467U JP 1309190 U JP1309190 U JP 1309190U JP 1309190 U JP1309190 U JP 1309190U JP H03106467 U JPH03106467 U JP H03106467U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- mounting base
- liquid crystal
- circuit board
- crystal circuit
- movable
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 claims description 7
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 6
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 5
Landscapes
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Liquid Crystal (AREA)
Description
第１〜２図は本考案の液晶回路基板用検査装置
の実施例を示しており、第１図は部分切断斜視図
、第２図は全体構成を示す正面図、第３図は液晶
回路基板の１例を示す拡大平面図である。 １……基台、２……Ｘ方向案内レール、３……
移動テーブル、４……液晶回路基板、５……Ｙ方
向案内レール、６ａ……第一の取付台、６ｂ……
第二の取付台、７……引き出しパターン、８……
回路パターン、９……切欠き、１０……固定側プ
ローブ、１１……支持板、１２……差動案内レー
ル、１３……差動移動台、１４……プローブホル
ダ、１５……差動側プローブ。
の実施例を示しており、第１図は部分切断斜視図
、第２図は全体構成を示す正面図、第３図は液晶
回路基板の１例を示す拡大平面図である。 １……基台、２……Ｘ方向案内レール、３……
移動テーブル、４……液晶回路基板、５……Ｙ方
向案内レール、６ａ……第一の取付台、６ｂ……
第二の取付台、７……引き出しパターン、８……
回路パターン、９……切欠き、１０……固定側プ
ローブ、１１……支持板、１２……差動案内レー
ル、１３……差動移動台、１４……プローブホル
ダ、１５……差動側プローブ。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 被検査物である液晶回路基板を載置して水
平方向に移動する移動テーブルと、この移動テー
ブルの上方に、移動テーブルの移動方向と直角方
向に亙る移動自在に設けられた第一の取付台と、
この第一の取付台に支持され、上記液晶回路基板
の上面に当接自在とされた固定側プローブと、上
記移動テーブルの上方に、上記第一の取付台と同
方向の移動自在に設けられた第二の取付台の上面
に、上記移動テーブルの移動方向と同方向に亙る
移動自在に支持され、上記液晶回路基板の上面に
当接自在とされた差動側プローブとから成る、液
晶回路基板用検査装置。 (2) 第一の取付台と第二の取付台とを一体とし
た、請求項１に記載の液晶回路基板用検査装置。 (3) 一体とされた第一、第二の取付台を、移動
テーブルの上方に固定した、請求項２に記載の液
晶回路基板用検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1309190U JPH088462Y2 (ja) | 1990-02-15 | 1990-02-15 | 液晶回路基板用検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1309190U JPH088462Y2 (ja) | 1990-02-15 | 1990-02-15 | 液晶回路基板用検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03106467U true JPH03106467U (ja) | 1991-11-01 |
| JPH088462Y2 JPH088462Y2 (ja) | 1996-03-06 |
Family
ID=31516530
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1309190U Expired - Lifetime JPH088462Y2 (ja) | 1990-02-15 | 1990-02-15 | 液晶回路基板用検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH088462Y2 (ja) |
-
1990
- 1990-02-15 JP JP1309190U patent/JPH088462Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH088462Y2 (ja) | 1996-03-06 |
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Legal Events
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