JPH03105246A - 超音波探傷法 - Google Patents
超音波探傷法Info
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- JPH03105246A JPH03105246A JP1242888A JP24288889A JPH03105246A JP H03105246 A JPH03105246 A JP H03105246A JP 1242888 A JP1242888 A JP 1242888A JP 24288889 A JP24288889 A JP 24288889A JP H03105246 A JPH03105246 A JP H03105246A
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- 239000000523 sample Substances 0.000 claims abstract description 35
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- 238000002604 ultrasonography Methods 0.000 claims description 17
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 9
- 239000011449 brick Substances 0.000 description 3
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/04—Analysing solids
- G01N29/11—Analysing solids by measuring attenuation of acoustic waves
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
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- G01N29/07—Analysing solids by measuring propagation velocity or propagation time of acoustic waves
-
- G—PHYSICS
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- G01N2291/00—Indexing codes associated with group G01N29/00
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- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
本発明は、石材（大理石、御影石等）、レンガ及びコン
クリート等の非金属性鉱物のクラック等の欠陥を非破壊
で検出することの出来る超音波探傷法に関するものであ
る。
クリート等の非金属性鉱物のクラック等の欠陥を非破壊
で検出することの出来る超音波探傷法に関するものであ
る。
［従来の技術］
石材（大理石、御影石等）、レンガ及びコンクリート等
の非金属性鉱物を建材等に使用する際、クラック等の欠
陥があると、そこから雨水が流れ込みクラックは徐々に
大きくなり、大きな破損や災害の原因となるのでその存
在、太きさの検知は非常に重要である。
の非金属性鉱物を建材等に使用する際、クラック等の欠
陥があると、そこから雨水が流れ込みクラックは徐々に
大きくなり、大きな破損や災害の原因となるのでその存
在、太きさの検知は非常に重要である。
前記の欠陥に対する検査は、従来専ら目視により行われ
ていた。
ていた。
［発明が解決しようとする課題］
しかし、目視では表面の状態はわかるものの内部の状態
までは検知することが出来ず、クラックの大きさ等も正
確に測定することが出来ないという欠点があった。
までは検知することが出来ず、クラックの大きさ等も正
確に測定することが出来ないという欠点があった。
本発明は、従来技術の斯る問題点に鑑み案出されたもの
で、非破壊で石材、レンガ及びコンクリート等非金属性
鉱物内部の欠陥の存在や大きさを正確に検知する方法を
提供することを目的としたものである。
で、非破壊で石材、レンガ及びコンクリート等非金属性
鉱物内部の欠陥の存在や大きさを正確に検知する方法を
提供することを目的としたものである。
「課題を解決するための手段］
本発明は、超音波送信器から発信された低周波超音波を
、非金属性鉱物から成る被検体の一面に接触させた送信
探触子を介して前記被検体に発信させ、該被検体を透過
して来た低周波超音波を前記被検体の送信探触子を接触
させた面と同一面に接触させた受信探触子を介して超音
波受信器に受信し、低周波超音波の発信から被検体を透
過して来た超音波の受信までに要した時間間隔から前記
被検体の欠陥の有無を判定するものである。又本発明で
は受信探触子を、被検体の送信探触子を接触させた面と
は異なる面に接触させ探傷しても良いし、更に被検体を
透過して来た低周波超音波の強さから欠陥の大きさを判
定しても良い。
、非金属性鉱物から成る被検体の一面に接触させた送信
探触子を介して前記被検体に発信させ、該被検体を透過
して来た低周波超音波を前記被検体の送信探触子を接触
させた面と同一面に接触させた受信探触子を介して超音
波受信器に受信し、低周波超音波の発信から被検体を透
過して来た超音波の受信までに要した時間間隔から前記
被検体の欠陥の有無を判定するものである。又本発明で
は受信探触子を、被検体の送信探触子を接触させた面と
は異なる面に接触させ探傷しても良いし、更に被検体を
透過して来た低周波超音波の強さから欠陥の大きさを判
定しても良い。
［作 用］
超音波発信器から発信させた低周波超音波を、被検体に
接触させた送信探触子を介し被検体に発信させると、該
低周波超音波は被検体を透過し、受信探触子を介して超
音波受信器に受信され、低周波超音波の発信から透過し
て来た低周波超音波の受信までに要した時間間隔から、
披検体に欠陥があるか否かか判定される。又透過して来
た低周波超音波の強さから、欠陥の大きさが判定される
。
接触させた送信探触子を介し被検体に発信させると、該
低周波超音波は被検体を透過し、受信探触子を介して超
音波受信器に受信され、低周波超音波の発信から透過し
て来た低周波超音波の受信までに要した時間間隔から、
披検体に欠陥があるか否かか判定される。又透過して来
た低周波超音波の強さから、欠陥の大きさが判定される
。
［実 施 例コ
以下、本発明の実施例を図面を参照しつつ説明する。
第１図乃至第３図は本発明の一実施例であり、第２図及
び第３図は、被検体の欠陥存否と、パルスを発信してか
ら受信するまでに要する時間及びパルスの波高との関係
を示す図である。
び第３図は、被検体の欠陥存否と、パルスを発信してか
ら受信するまでに要する時間及びパルスの波高との関係
を示す図である。
第１図に示す如く、非金属性鉱物から成る被検体■の探
傷面２上に、低周波超音波４ （０．５ＭＨｚ以下）
を発信する送信探触子３を配置すると共に、該送信探触
子３より発信されて被検体１を透過して来た低周波超音
波４を受信する受信探触子６を配置し、前記送信探触子
３及び受信探触子６を超音波送受信器７に接続する。
傷面２上に、低周波超音波４ （０．５ＭＨｚ以下）
を発信する送信探触子３を配置すると共に、該送信探触
子３より発信されて被検体１を透過して来た低周波超音
波４を受信する受信探触子６を配置し、前記送信探触子
３及び受信探触子６を超音波送受信器７に接続する。
該超音波送受信器７は超音波送信器及び超音波受信器を
備えている。
備えている。
超音波送受信器７は、送信探触子３へ低周波超音ｉ＃４
を送信すると共に受信探触子６から戻って来た低周波超
音波４を受信するようになっており、又低周波超音波４
が発信される瞬間の発信パルス８及び受信された瞬間の
受信パルス９をブラウン管１０に記録、表示し得るよう
になっている。
を送信すると共に受信探触子６から戻って来た低周波超
音波４を受信するようになっており、又低周波超音波４
が発信される瞬間の発信パルス８及び受信された瞬間の
受信パルス９をブラウン管１０に記録、表示し得るよう
になっている。
更に超音波送受信器７は、発信パルス８が発信されて後
、受信パルス９が受信されるまでの時間間隔ｔを計測し
得るようになっていると共に受信パルス９の波高ｈを計
測し得るようになっている。
、受信パルス９が受信されるまでの時間間隔ｔを計測し
得るようになっていると共に受信パルス９の波高ｈを計
測し得るようになっている。
以上のような構成に於で、超音波送受信器７から送信探
触子３を介して連続的に被検体１に低周波超音波４を発
信させ、一方、受信探触子６を探傷面２に沿って摺動さ
せつつ被検体ｌを透過して来た低周波超音波４を受信探
触子６を介して超音波送受信器７に受信する。
触子３を介して連続的に被検体１に低周波超音波４を発
信させ、一方、受信探触子６を探傷面２に沿って摺動さ
せつつ被検体ｌを透過して来た低周波超音波４を受信探
触子６を介して超音波送受信器７に受信する。
低周波超音波４は高周波超音波と異なり、指向性が鈍く
、いずれの方向に向っても一様に球面状に波動が波及し
て行く。而して、クラック等の欠陥５のない場合には、
低周波超音波４は最短距離を進み、超音波送受信器７か
ら低周波超音波４が発信されることにより生ずる発信バ
ルス８と超音波送受信器７が低周波超音波４を受信して
生ずる受信パルス９との時間間隔ｔ（ブラウン管１０の
横軸）は短かく、且つ受信バルス９は高い波高（強さ）
ｈで記録表示される（第２図参照）。
、いずれの方向に向っても一様に球面状に波動が波及し
て行く。而して、クラック等の欠陥５のない場合には、
低周波超音波４は最短距離を進み、超音波送受信器７か
ら低周波超音波４が発信されることにより生ずる発信バ
ルス８と超音波送受信器７が低周波超音波４を受信して
生ずる受信パルス９との時間間隔ｔ（ブラウン管１０の
横軸）は短かく、且つ受信バルス９は高い波高（強さ）
ｈで記録表示される（第２図参照）。
しかし、送信探触子３と受信探触子６との間に、欠陥５
が存在する場合には、低周波超音波４は欠陥５部分に到
達すると吸収され、それより先に進むことが出来ず、第
１図のように欠陥５を迂回した低周波超音波４のみが受
信され、記録、表示される。
が存在する場合には、低周波超音波４は欠陥５部分に到
達すると吸収され、それより先に進むことが出来ず、第
１図のように欠陥５を迂回した低周波超音波４のみが受
信され、記録、表示される。
その為低周波超音波４の通過路が長くなり発信パルス８
と受信バルス９との時間間隔ｔが大きくなり、且つ受信
バルス９は低い波高ｈで表示される（第３図参照）。
と受信バルス９との時間間隔ｔが大きくなり、且つ受信
バルス９は低い波高ｈで表示される（第３図参照）。
従って欠陥５のない場合の発信バルス８と受信パルス９
相互の時間間隔及び受信バルス９の波高と、欠陥５のあ
る場合の発信パルス８と受信バルス９の時間間隔及び受
信パルス９の波高を比較することによって探傷面２の欠
陥５の存在、大きさを検出することが出来る。
相互の時間間隔及び受信バルス９の波高と、欠陥５のあ
る場合の発信パルス８と受信バルス９の時間間隔及び受
信パルス９の波高を比較することによって探傷面２の欠
陥５の存在、大きさを検出することが出来る。
第４図は本発明の他の実施例を示し前記実施例と略同一
の構成に於で、被検体ｌの２つの隣接する面２．２゜に
受信探触子６及び送信探触子３を別々に配置し、超音波
送受信器７から送信探触子３を介して連続的に被検体ｌ
に低周波超音波４を発信させると共に、受信探触子６を
面２に沿って摺動させ、受信探触子６を介して超音波送
受信器７に透過して来た低周波超音波４を受信させる。
の構成に於で、被検体ｌの２つの隣接する面２．２゜に
受信探触子６及び送信探触子３を別々に配置し、超音波
送受信器７から送信探触子３を介して連続的に被検体ｌ
に低周波超音波４を発信させると共に、受信探触子６を
面２に沿って摺動させ、受信探触子６を介して超音波送
受信器７に透過して来た低周波超音波４を受信させる。
而して、この場合も発信バルス８と受信パルス９との時
間間隔ｔ及び受信パルス９の波高ｈから欠陥５の存在、
大きさが検知される。
間間隔ｔ及び受信パルス９の波高ｈから欠陥５の存在、
大きさが検知される。
尚、本発明の実施例では、発信パルスと受信パルスをブ
ラウン管に表示する場合について説明したが、特に表示
はしなくとも、超音波送受信器内に低周波超音波を発信
させた峙刻、及び戻って来た低周波超音波が受信された
時刻並にそのときの波高（強さ）ｈを記録させて演算す
るようにしても良いこと、その他、本発明の要旨を逸脱
しない範囲内において種々変更を加え得ることは勿論で
ある。
ラウン管に表示する場合について説明したが、特に表示
はしなくとも、超音波送受信器内に低周波超音波を発信
させた峙刻、及び戻って来た低周波超音波が受信された
時刻並にそのときの波高（強さ）ｈを記録させて演算す
るようにしても良いこと、その他、本発明の要旨を逸脱
しない範囲内において種々変更を加え得ることは勿論で
ある。
［発明の効果］
以上説明したように、本発明の超音波探傷法によれば、
非金属性鉱物から成る被検体の内部にある欠陥を非破壊
で簡便且つ正確に検知することが出来るという優れた効
果を奏し得る。
非金属性鉱物から成る被検体の内部にある欠陥を非破壊
で簡便且つ正確に検知することが出来るという優れた効
果を奏し得る。
第１図は本発明の一実施例の正面図、第２図は本発明の
方法に於で、被検体の内部に欠陥のない場合のパルスの
形状を表わす図、第３図は本発明の方法に於で、被検体
の内部に欠陥のある場合のパルスの形状を表わす図、第
４図は本発明の他の実施例の正面図である。 ｌは被検体、２は探傷而、３は送信探触子、４は低周波
超音波、５は欠陥、６は受信探触子、７は超音波送受信
器（超音波送信器、超音波受信器）、８は発信パルス、
９は受信パルス、ｔは時間間隔、ｈは波高（強さ）を示
す。 ４ １ 第４図
方法に於で、被検体の内部に欠陥のない場合のパルスの
形状を表わす図、第３図は本発明の方法に於で、被検体
の内部に欠陥のある場合のパルスの形状を表わす図、第
４図は本発明の他の実施例の正面図である。 ｌは被検体、２は探傷而、３は送信探触子、４は低周波
超音波、５は欠陥、６は受信探触子、７は超音波送受信
器（超音波送信器、超音波受信器）、８は発信パルス、
９は受信パルス、ｔは時間間隔、ｈは波高（強さ）を示
す。 ４ １ 第４図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １）超音波送信器から発信された低周波超音波を、非金
属性鉱物から成る被検体の一面に接触させた送信探触子
を介して前記被検体に発信させ、該被検体を透過して来
た低周波超音波を前記被検体の送信探触子を接触させた
面と同一面に接触させた受信探触子を介して超音波受信
器に受信し、低周波超音波の発信から被検体を透過して
来た超音波の受信までに要した時間間隔から前記被検体
の欠陥の有無を判定することを特徴とする超音波探傷法
。 ２）超音波送信器から発信された低周波超音波を、非金
属性鉱物から成る被検体の一面に接触させた送信探触子
を介して前記被検体に発信させ、該被検体を透過して来
た低周波超音波を前記被検体の送信探触子を接触させた
面とは異なる面に接触させた受信探触子を介して超音波
受信器に受信し、低周波超音波の発信から被検体を透過
して来た超音波の受信までに要した時間間隔から前記被
検体の欠陥の有無を判定することを特徴とする超音波探
傷法。 ３）被検体を透過して来た低周波超音波の強さから欠陥
の大きさを判定する請求項１又は２に記載の超音波探傷
法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1242888A JPH03105246A (ja) | 1989-09-19 | 1989-09-19 | 超音波探傷法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1242888A JPH03105246A (ja) | 1989-09-19 | 1989-09-19 | 超音波探傷法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03105246A true JPH03105246A (ja) | 1991-05-02 |
Family
ID=17095721
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1242888A Pending JPH03105246A (ja) | 1989-09-19 | 1989-09-19 | 超音波探傷法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03105246A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US20160202214A1 (en) * | 2015-01-14 | 2016-07-14 | Toshiba Tec Kabushiki Kaisha | Structural deformation detecting device |
-
1989
- 1989-09-19 JP JP1242888A patent/JPH03105246A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US20160202214A1 (en) * | 2015-01-14 | 2016-07-14 | Toshiba Tec Kabushiki Kaisha | Structural deformation detecting device |
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