JPH03103752A - 分光光度計 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利川分野） 本発明は試料透過光の試料中光路長を可変にした分光光
度計に関する。

（従来の技術〉 従来の分光光度計で吸光度測定をする場合、試料は固定
したま＼であるから、試料透過光の試料中光路長は一定
していた。しかしこのように試料中の光路長が一定して
いると、吸光度の大きい試料の場合、試料透過光が弱く
なり、測定のＳ／Ｎ比が悪化する。また吸光度の小さい
試料では濃度差による透過光強度の変化比率が小さいか
ら、やはり定量精度を上げることが困難である。このよ
うな場合、試料濃度を予め適当に調整しておくことも行
われるが面倒である。更に測定波長範囲で吸光度変化が
大きい試料では上述した二つの場合が一つの測定内に含
まれ、全体の測定精度を所定値以上にするためには、測
光系の感度を上げねばならないから、測光系は大きなダ
イナミックレンジを必要とし、また予め試料濃度を適当
に調整しておくと云うこともできない。

〈発明が解決しようとする課題〉 本発明は上述した場合でも、測光系に格別広いダイナミ
ックレンジを必要とせず、一律な試料調整によって、し
かも広い吸光度範囲で梢度の良い測定を可能にしようと
するものである。

（課題を解決するための手段） 試料を測定光路と直交する軸により回転可能とし、測定
光路中に光路横ずれ補償素子を仲人して、試料の回転帖
と平行な軸により、試料と反対方向に同じ角度だけ回転
させるようにした。或は上記光路横ずれ補償素子として
、二等分した試料の一方を用いるようにした。

（作用） 試料を測定光路と直交する軸１こより回転可能にしてお
くことにより、試料の測定光路に対する傾きを変えるこ
とで、試料中の光路長を変えられることは明らかである
。光路長を変えることで、試料の透過率を測定に適した
乾囲に調節できる。このとき試料の傾きに応じて光路の
横ずれが生し、そのま＼では受光素子の受光面上の光の
入射場所が移動し、受光面上の場所によ゛り感度に違い
があると、それが測定誤差となる。そこで光路横ずれ補
償素子を試料と反対向きに同じ角度だけ回わせは、試料
による横ずれと反対方向に同じたけ光路の横ずれが生じ
、両方の横ずれが打消し合って、受光面上の光の入射場
所の移動がなくなる。

（実施例） 図に本発明の一実施例を示す。１は分光器、Ｓは試料測
定光光路、Ｒは対照光光路　２，２’は同期して回転す
るセクターミラーで試料測定光と対照光を同一光路上に
乗せ交互に受光素子の光電子増倍管３に入射させる。４
Ｓは試料セル、４Ｒは対照セルでそれぞれＯ点を中心に
図の紙面に垂直な軸回りに回転可能に支承されており、
両セルは同し方向に同じ角度だけ回転するように機構的
に連結されている。試料セルには試料が入れてあり、対
照セルには溶媒だけが入れてある。試料測定光光路Ｓと
対照光光路Ｒには夫〜光路の横ずれ補償セルとして試料
セル．対照セルと同じセル５Ｓ．５Ｒが配置され、これ
らは夫々Ｏ゛点にわいて図の紙面に垂直な軸回りに回転
可能に支承され、両者は試料セル４Ｓ．対照セル４Ｒと
反対方向に同じ角度だけ回転するよう試料セルと機構的
に連結されている。セル５Ｓ．５Ｒにも溶媒だけが入れ
てある。

試料セル４Ｓをその前面が試料測定光光路に垂直な位置
から図のように角度αだけ回わすと、光の屈折により試
料測定光光路はｄだけ横ずれを生じる。しかしもう一つ
のセル５Ｓが反対方向にαだけ回わリセル５Ｓにより光
路は予め反対方向にｄだけずれているので、受光素子３
に入射する光の光路には横ずれは生じない。

上の例ではセル５Ｓには溶媒だけ入れているが、溶媒に
試料を溶解したときの屈折率の変化が大きいときは、セ
ル５Ｓにも試料を入れる。つまり試料を２等分して一方
を光路横ずれ補償セルとずればよい。試料が粉末のよう
に光を屈折させない場合は、試料セル４Ｓに試料の粉末
を入れ、他のセル４Ｒ，５３．５Ｒは全部空にしておけ
ばよい。この場合、セル５３等はセルの壁の厚さの合計
が試料セル４Ｓの聖の厚さの合計と同じであればよく、
中空である必要はなくて、セル４Ｓと同質の一枚の透明
板であればよい。また実施例は二光束型分光光度計であ
るが、単光束型の場合、図の試料測定光の光路構成だけ
となる。

上述装置による測定に当っては、試料の測定波長による
吸光度に応じ、角度αを予め適当に設定しておく。ｉ７
ｌ！長走査を行う場合は予備測定で吸光度＋Ｔｏ　Ｌａ
の大体の形を測定しておき、波長梶囲を幾つかに区切っ
て夫々の区間におけるαを予め決めておき、波長区間毎
にＣτを変え、波長区間とその区間の角度αを記録して
おく。この動作はコンピュータを用い、シーケンシャル
に実行させることができる。

（発明の効果〉 本発明によれば試料を測定光の光路に対して傾きを変え
ることで白山に試料中の光路長を変えることができて、
広い範囲の透過率の試料に対し最適の光路長を選ぶこと
ができ、試料の傾きを変えることによって生じる光路の
横ずれが補償されているので、測定光の受光面入射位置
が変らず、受光面の感度むらによる測定誤差も生じない
。

図面は本発明の一実施例装置の平面図である。

１・・・分光器、Ｓ・・・試料測定光光路、Ｒ・・・対
照光光路、２　，２　’・・・セクターミラー、３・・
・受光素子、４Ｓ・・・試料セル、４Ｒ・・・対照セル
、５　Ｓ　−　５　Ｒ・・・光路横ずれ捕償用セル。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 試料を試料測定光の光路と直交する軸によって回転可能
   に支承する手段と、試料測定光の光路に挿入され、上記
   試料の回転軸と平行な軸により、試料と反対方向に試料
   と同じ回転角だけ回転するよう試料支承台と連動された
   測定光路横ずれ補償素子を備えた分光光度計。