JPH03102750A - イオン注入装置におけるイオンビームの走査制御装置 - Google Patents
イオン注入装置におけるイオンビームの走査制御装置Info
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- JPH03102750A JPH03102750A JP1239865A JP23986589A JPH03102750A JP H03102750 A JPH03102750 A JP H03102750A JP 1239865 A JP1239865 A JP 1239865A JP 23986589 A JP23986589 A JP 23986589A JP H03102750 A JPH03102750 A JP H03102750A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[ J1’r;業上の利川分野]
本発明は、イオン注入装置におけるイオンビームの走査
制御装置に関するものである。
制御装置に関するものである。
[従来の技術]
従来のイオン注入装置は添付図面の第7図に示すように
イオンFi.Aと、質量分iff 器Bと、加速管Cと
、集束レンズDと、Yスキャンプレートを成す二極静電
偏向器Eと、Xスキャンプレートを成す二極静電偏向器
Fとて構成されており、イオン源Aから発生されたイオ
ンビームは質量分R 器Bで同一電荷の111 − 1
頓7’まーたは分了・イオンにされ、加速青Cて加速さ
れた後、集束レンズDで集束され、モしてYスキャンプ
レートEおよびXスキャンプレートFにより走査されて
ターゲットG上に照射される。
イオンFi.Aと、質量分iff 器Bと、加速管Cと
、集束レンズDと、Yスキャンプレートを成す二極静電
偏向器Eと、Xスキャンプレートを成す二極静電偏向器
Fとて構成されており、イオン源Aから発生されたイオ
ンビームは質量分R 器Bで同一電荷の111 − 1
頓7’まーたは分了・イオンにされ、加速青Cて加速さ
れた後、集束レンズDで集束され、モしてYスキャンプ
レートEおよびXスキャンプレートFにより走査されて
ターゲットG上に照射される。
XスキャンプレートFでは、約7°偏向方向をずらせる
ためのオフセットを加えつつ、例えば83311zの三
角波電圧を印加して走査する。またYスキャンプレート
Eにおいては、例えば16711zの二角波電圧を印加
してXYの走査でリサージュの図形が均一にターゲット
上を走査するように走査が行われる。その走査図形は第
8図に模式的に示す。
ためのオフセットを加えつつ、例えば83311zの三
角波電圧を印加して走査する。またYスキャンプレート
Eにおいては、例えば16711zの二角波電圧を印加
してXYの走査でリサージュの図形が均一にターゲット
上を走査するように走査が行われる。その走査図形は第
8図に模式的に示す。
[発明が解決しようとする課題]
ところで、イオン注入技術においてターゲットの径が6
インチから8インチへと増大し、また4Mビット、16
MビットとI)RAMの果積度が進むにつれてトレンチ
構逍が必須となってきた。
インチから8インチへと増大し、また4Mビット、16
MビットとI)RAMの果積度が進むにつれてトレンチ
構逍が必須となってきた。
しかし、従来のイオン注入装置では、偏向器とターゲッ
トとの矩離をl60CIllに取ってもイオンビームが
ターゲットに入射する場所によって人a=t方向が昇り
、例えば6インチのターゲットでは端の方に人1.1す
るイオンビームと中心に入射するイオンビームとでは入
射方向が2.7 ’異り、8インチのターゲットではそ
れが3、6°となる。ターゲットの端と端では、6イン
チのターゲットの場合最大5.4°、8インチのターゲ
ットの場合7.2°異ることになる。イオンビームのタ
ーゲットに対する人1・1角が異ることにより同一立体
角のビームレットをターゲットが切る而積はターゲット
の場所によって異ることになり、その見果イオン注入量
の分布に不均一が牛しる。このことは、特に4Mビット
以上のCMOS−DRAMのトレンチの側聖にイオン注
入しようとする際著しく影響する。またトレンチの底に
イオン注入する場含には、イオンビームの入射角が場所
によって穴ることによりシャドーイングが牛じることに
なる。
トとの矩離をl60CIllに取ってもイオンビームが
ターゲットに入射する場所によって人a=t方向が昇り
、例えば6インチのターゲットでは端の方に人1.1す
るイオンビームと中心に入射するイオンビームとでは入
射方向が2.7 ’異り、8インチのターゲットではそ
れが3、6°となる。ターゲットの端と端では、6イン
チのターゲットの場合最大5.4°、8インチのターゲ
ットの場合7.2°異ることになる。イオンビームのタ
ーゲットに対する人1・1角が異ることにより同一立体
角のビームレットをターゲットが切る而積はターゲット
の場所によって異ることになり、その見果イオン注入量
の分布に不均一が牛しる。このことは、特に4Mビット
以上のCMOS−DRAMのトレンチの側聖にイオン注
入しようとする際著しく影響する。またトレンチの底に
イオン注入する場含には、イオンビームの入射角が場所
によって穴ることによりシャドーイングが牛じることに
なる。
このような問題点を角/I!訣するため、先にターゲッ
ト上の全域に同一人射角で入射する下行スキャンビーム
で走査することのできるイオン注入装置を堤案じ、この
装置は、イオンビームを偏向させる第1多重極静電偏向
器及び第1多重極静電偏向器の後方に同一光軸上に配置
され、第1多ffI他静電偏向器で偏向されたイオンビ
ームの方向を一定方向にする第1多重極静電偏向器と同
一極数の第2多重極静電偏向器を備え、第2多重極静電
偏向器の各電極を相対応する第1多正極静電IIIa向
器の各電極に対じ光輔を含む同一面西にあって17.い
に光軸に関して反対側になるように配置した偏向系を有
している。添付図市の第1図には、各多fff極静電偏
向器が八重極から成る場含を例示し、第1八重極静電偏
向器Hにおける3電極は中心軸線に対して対称位置にあ
る第2八重極静電偏向器Iにおける電極に接続され、モ
して゛ド行スキャンの条件を満たすため、各偏向器の各
電極には図示したような電圧を印加すればよいことを堤
案じた。
ト上の全域に同一人射角で入射する下行スキャンビーム
で走査することのできるイオン注入装置を堤案じ、この
装置は、イオンビームを偏向させる第1多重極静電偏向
器及び第1多重極静電偏向器の後方に同一光軸上に配置
され、第1多ffI他静電偏向器で偏向されたイオンビ
ームの方向を一定方向にする第1多重極静電偏向器と同
一極数の第2多重極静電偏向器を備え、第2多重極静電
偏向器の各電極を相対応する第1多正極静電IIIa向
器の各電極に対じ光輔を含む同一面西にあって17.い
に光軸に関して反対側になるように配置した偏向系を有
している。添付図市の第1図には、各多fff極静電偏
向器が八重極から成る場含を例示し、第1八重極静電偏
向器Hにおける3電極は中心軸線に対して対称位置にあ
る第2八重極静電偏向器Iにおける電極に接続され、モ
して゛ド行スキャンの条件を満たすため、各偏向器の各
電極には図示したような電圧を印加すればよいことを堤
案じた。
そこで、本発明は、このような先に堤案じたイオン注入
装置において゛1ろ行スキャンの条件を満たすような各
電挑に印加すべき電圧を発生できるイオンビームの走査
制御装置を捉13(することをII的としている。
装置において゛1ろ行スキャンの条件を満たすような各
電挑に印加すべき電圧を発生できるイオンビームの走査
制御装置を捉13(することをII的としている。
[課題をWl決するための丁段]
上記の目的を達成するために、木允明によるイオンビー
ムの走査制御装置は第1の記憶装置と、この第1の記憶
装置に接続され、第1の記憶装置で予め設定された動作
制御信号に応じて越準クロックパルスを予定の数までカ
ウントしてP定のディジタル値を出力するアップ・ダウ
ンカウンタと、このアップ・ダウンカウンタのディジタ
ル出力から第1の基早電圧を発生するmlのD/A変換
器と、アップ・ダウンカウンタの計数値がr定の値に達
したとき別のJl!i準クロック信号に同期して別のP
定のディジタル値を出力する第2の記憶装置と、第2の
記憶装置からのディジタル出力から第2のJ!準電江を
発(1−する第2のD/A変換器と、第1及び第2のD
/A安換器でそれぞれ発生された第1及び第2のu’y
’電圧を演算処理して二つの多重極静電{扁向器の各電
極に印加すべき電江を形成する演算同路とから成ること
を特徴としている。
ムの走査制御装置は第1の記憶装置と、この第1の記憶
装置に接続され、第1の記憶装置で予め設定された動作
制御信号に応じて越準クロックパルスを予定の数までカ
ウントしてP定のディジタル値を出力するアップ・ダウ
ンカウンタと、このアップ・ダウンカウンタのディジタ
ル出力から第1の基早電圧を発生するmlのD/A変換
器と、アップ・ダウンカウンタの計数値がr定の値に達
したとき別のJl!i準クロック信号に同期して別のP
定のディジタル値を出力する第2の記憶装置と、第2の
記憶装置からのディジタル出力から第2のJ!準電江を
発(1−する第2のD/A変換器と、第1及び第2のD
/A安換器でそれぞれ発生された第1及び第2のu’y
’電圧を演算処理して二つの多重極静電{扁向器の各電
極に印加すべき電江を形成する演算同路とから成ること
を特徴としている。
本発明の奸ましい丈胤例では、第1、第2の各D/A変
換器に各払ヤ電江の絶χ1値を調整するためのポテンシ
ョメータを設けることができる。
換器に各払ヤ電江の絶χ1値を調整するためのポテンシ
ョメータを設けることができる。
[大 施 例]
以下、本発明の実施例を添付図向の第2図〜第6図に基
づいて説明する。
づいて説明する。
第2図にはイオンビームの偏向系に二つの八重極静電1
偏向器を備えたイオン注入装置に適用した本発明による
イオンビームの走査制御装置の一実施例をブロック線図
で示し、1は第1の記憶装置で、この第1の記憶装置1
には、越中電圧Uに関連した情報及び予め設定した動作
制御信号、すなわち、第1の記憶装置1に接続されたア
ップ・ダウンカウンタ2をjiil I時停1],させ
またアップカウント動作及びダウンカウント動作の切り
替えさせるかに関するデータが記憶されている。第1の
記憶装置1からの動作制御信号に応じてアップカウント
動作またはダウンカウント動作を行うアップ・ダウンカ
ウンタ2は第1のクロック信号発生器3に接続され、こ
の第1のクロックパルスf−号発生器3はから電圧Uを
アップ、ダウンさせる速いクロックパルス(一号をアッ
プ・ダウンカウンタ2へ供給する。このクロックパルス
信号発生器3からの速いクロックパルス信号を第1の記
ta装置1からの動作制御信号に応してアップカウント
またはダウンカウントする。アップ・ダウンカウンタ2
゛の出力は一方では第1のD/A変換器4にまた他方で
は比較同路5の一方の人力に接続されている。
偏向器を備えたイオン注入装置に適用した本発明による
イオンビームの走査制御装置の一実施例をブロック線図
で示し、1は第1の記憶装置で、この第1の記憶装置1
には、越中電圧Uに関連した情報及び予め設定した動作
制御信号、すなわち、第1の記憶装置1に接続されたア
ップ・ダウンカウンタ2をjiil I時停1],させ
またアップカウント動作及びダウンカウント動作の切り
替えさせるかに関するデータが記憶されている。第1の
記憶装置1からの動作制御信号に応じてアップカウント
動作またはダウンカウント動作を行うアップ・ダウンカ
ウンタ2は第1のクロック信号発生器3に接続され、こ
の第1のクロックパルスf−号発生器3はから電圧Uを
アップ、ダウンさせる速いクロックパルス(一号をアッ
プ・ダウンカウンタ2へ供給する。このクロックパルス
信号発生器3からの速いクロックパルス信号を第1の記
ta装置1からの動作制御信号に応してアップカウント
またはダウンカウントする。アップ・ダウンカウンタ2
゛の出力は一方では第1のD/A変換器4にまた他方で
は比較同路5の一方の人力に接続されている。
比較1i′i1路5の他方の人力は第1の記憶装置1に
接続され、それで比較回路5はアップ・ダウンカウンタ
2で計数された速いクロックパルス信号を第1の記憶装
置1のある番地に記憶されている設足値と比較するよう
にされている。比較回路5の出力はシフトレジスタ6の
一つの人力に接続され、このシフトレジスタ6の別の人
力には、fjs2のクロックパルス信号発生器7が接続
されている。この第2のクーロックパルス信号発生器7
は電圧Uのスキャンを折り返すI+,171H.rlを
設定する遅いクロックパルス信号を発生する。またシフ
トレジスタ6の出力は一方ではアップ・ダウンカウンタ
2にまた他方ではカウンタ8にそれぞれ接続されている
。
接続され、それで比較回路5はアップ・ダウンカウンタ
2で計数された速いクロックパルス信号を第1の記憶装
置1のある番地に記憶されている設足値と比較するよう
にされている。比較回路5の出力はシフトレジスタ6の
一つの人力に接続され、このシフトレジスタ6の別の人
力には、fjs2のクロックパルス信号発生器7が接続
されている。この第2のクーロックパルス信号発生器7
は電圧Uのスキャンを折り返すI+,171H.rlを
設定する遅いクロックパルス信号を発生する。またシフ
トレジスタ6の出力は一方ではアップ・ダウンカウンタ
2にまた他方ではカウンタ8にそれぞれ接続されている
。
シフトレジスタ6は、比較同路5においてアップ・ダウ
ンカウンタ2からの計数値が第1の記憶装置1で予め設
定されている値に達した時、比較回路5からの出力信号
を、第2のクロックパルス信号発生器7からのクロック
パルス信号に同期してカウンタ8へ通し、それによりカ
ウンタ8の=1数値を一つ増やせるように作用する。カ
ウンタ8の出力は別の基準電圧Vに関連した情報を記憶
する第2の記憶装置つと第1の記憶装置1とに接続され
、第2の.?C!憶装置9はカウンタ8からの計数値に
応してその値に応じたV出力数値を出力する。
ンカウンタ2からの計数値が第1の記憶装置1で予め設
定されている値に達した時、比較回路5からの出力信号
を、第2のクロックパルス信号発生器7からのクロック
パルス信号に同期してカウンタ8へ通し、それによりカ
ウンタ8の=1数値を一つ増やせるように作用する。カ
ウンタ8の出力は別の基準電圧Vに関連した情報を記憶
する第2の記憶装置つと第1の記憶装置1とに接続され
、第2の.?C!憶装置9はカウンタ8からの計数値に
応してその値に応じたV出力数値を出力する。
また第1の記憶装置1はカウンタ8からの計数値に応じ
てその出力における動作制御f5号を変更する。
てその出力における動作制御f5号を変更する。
第2の記憶装置9の出力は第1のD/A変換藩4と大質
的に同し措成の第2のD/A変換器10に接続され、こ
の第2のD/A変換器IOの出力は第1のD/A’&換
器4の出力と』(にアナログ演p同路IIに接続されて
いる。
的に同し措成の第2のD/A変換器10に接続され、こ
の第2のD/A変換器IOの出力は第1のD/A’&換
器4の出力と』(にアナログ演p同路IIに接続されて
いる。
第3図にはアナログ演算同路I1の同路構成の一例を示
し、第1のD/Ai換器4と第2のD/A支換器10の
出力にそれぞれ接続された二つの反転回路l2、l3と
、各々反転、加算、ゲイン可変機能をもつ演算増幅器か
ら成る四つの加算同路l4〜I7とをaし、これらの同
路は図示したように接続され、そして八つの出力に図示
してない二つの八重極静電偏向器の各電極に印加すべき
異る電圧を発生するように構成されている。
し、第1のD/Ai換器4と第2のD/A支換器10の
出力にそれぞれ接続された二つの反転回路l2、l3と
、各々反転、加算、ゲイン可変機能をもつ演算増幅器か
ら成る四つの加算同路l4〜I7とをaし、これらの同
路は図示したように接続され、そして八つの出力に図示
してない二つの八重極静電偏向器の各電極に印加すべき
異る電圧を発生するように構成されている。
このように構成した図示装置の動作について以下説明す
る。
る。
アップ・ダウンカウンタ2は、第1の記憶装置1からの
rめ設定された動作1,1御信号に応じて、第1のクロ
ックパルス信号発生器3からの速いクロックパルス信号
を計数し、その±1数値は第1のD/A変換器4により
アナログ電圧+Uに変換される。また、アップ・ダウン
カウンタ2の出力計数値は比較同路5で第1の記憶装置
1におけるr・め設定された値と比較され、このPめ設
足された値と一致すると、比較11リ路5は出力信号を
シフトレジスタ6へ供給する。シフトレジスタ6は第2
のクロックパルス信号発生器7からの遅いクロックパル
ス信号の周期の数周期だけシフトされ、その間アップ◆
ダウンカウンタ2の=1数を停止させる。一方、シフト
レジスク6は第2のクロックパルス信号発生器7からの
遅いクロックパルス信号に同期してカウンタ8の計数値
を一つ増加させ、このカウンタ8の出力.in値の増加
に応じて第2の記憶装Fit9の所定の番地に記憶され
ているV出力数値が第2のD/A変換器10へ送られ、
アナログ電圧+Vに変換される。またカウンタ8の出力
罰数値は第1の記憶装置1に供給され、この第1の記憶
装置1から出力される値を別の番地に記憶している別の
値に更新させる。
rめ設定された動作1,1御信号に応じて、第1のクロ
ックパルス信号発生器3からの速いクロックパルス信号
を計数し、その±1数値は第1のD/A変換器4により
アナログ電圧+Uに変換される。また、アップ・ダウン
カウンタ2の出力計数値は比較同路5で第1の記憶装置
1におけるr・め設定された値と比較され、このPめ設
足された値と一致すると、比較11リ路5は出力信号を
シフトレジスタ6へ供給する。シフトレジスタ6は第2
のクロックパルス信号発生器7からの遅いクロックパル
ス信号の周期の数周期だけシフトされ、その間アップ◆
ダウンカウンタ2の=1数を停止させる。一方、シフト
レジスク6は第2のクロックパルス信号発生器7からの
遅いクロックパルス信号に同期してカウンタ8の計数値
を一つ増加させ、このカウンタ8の出力.in値の増加
に応じて第2の記憶装Fit9の所定の番地に記憶され
ているV出力数値が第2のD/A変換器10へ送られ、
アナログ電圧+Vに変換される。またカウンタ8の出力
罰数値は第1の記憶装置1に供給され、この第1の記憶
装置1から出力される値を別の番地に記憶している別の
値に更新させる。
シフトレジスタ6による動作停止設定時間後、アップ・
ダウンカウンタ2は計数動作をNj開し、新しく設定(
更新)された第1の記憶装置1からの出力値に等しくな
るまで、=1数し続け、そして上述の動作が繰返される
。
ダウンカウンタ2は計数動作をNj開し、新しく設定(
更新)された第1の記憶装置1からの出力値に等しくな
るまで、=1数し続け、そして上述の動作が繰返される
。
このようにして発坐されたアナログ電圧+v1十Uは第
4図及び第5図に示すような波形をもち、そして第3図
に示すアナログ演算同路11に入れられ、+U,+Vは
そのまま出力されるノ(にそれぞれ反転同路l2、l3
で反転させることにより−U1Vが11}られる。また
これらの四つの出力電圧をそれぞれ加算同路l4〜I7
て演算処理することにより図示したように残りの四つの
出力電圧が得られる。
4図及び第5図に示すような波形をもち、そして第3図
に示すアナログ演算同路11に入れられ、+U,+Vは
そのまま出力されるノ(にそれぞれ反転同路l2、l3
で反転させることにより−U1Vが11}られる。また
これらの四つの出力電圧をそれぞれ加算同路l4〜I7
て演算処理することにより図示したように残りの四つの
出力電圧が得られる。
この場合、各D/A変換器にボテンショメータを組み込
むことにより、電圧U,Vの絶χ・l値を変えることが
でき、これにより元のアナログ電江十U、+Vの値を変
えることで、八重極静電偏向器の各電極に印加すべき電
圧を同特に変えることができる。これは、イオンの加速
電圧を変える際に必ず八重極静電f一向器の各電極に印
加すべき電圧を調整する必要があるので、実際の電圧調
整托作の観点から非常にq利である。
むことにより、電圧U,Vの絶χ・l値を変えることが
でき、これにより元のアナログ電江十U、+Vの値を変
えることで、八重極静電偏向器の各電極に印加すべき電
圧を同特に変えることができる。これは、イオンの加速
電圧を変える際に必ず八重極静電f一向器の各電極に印
加すべき電圧を調整する必要があるので、実際の電圧調
整托作の観点から非常にq利である。
第6図にはこれらの電仕による八重極静電fIlli向
器の各電極の・L査の桔果、ターゲット(−示してない
)に走査されるビームを示す。
器の各電極の・L査の桔果、ターゲット(−示してない
)に走査されるビームを示す。
第1のクロックパルス1。;号発生器3からのクロック
パルス信号をアップ◆ダウンカウンタ2て計数した数値
に比例した電[Uによりイオンビームをターゲットの横
方向にスキャンさせ、イオンビームをターゲットの端ま
でスキャンさせた特点でアップ・ダウンカウンタ2の出
力値が第1の記憶装置1で設定された値に一致するよう
にされており、比較器5が一致信号を出力すると、第2
のクロックパルス信号発生器7からのクロックパルス信
号で設定されたある一定の繰返し時間の後、イオンビー
ムを反対方向にスキャンさせる。次の痛方向のスキャン
はカウンタ8からの出力でアドレスされた第1の記憶装
置1におけるデータにより命令され、こうして図示した
ように順次スキャンを繰返し、イオンビームがオーバー
スキャンすることなしにターゲットの全域を1i行スキ
ャンすることができる。
パルス信号をアップ◆ダウンカウンタ2て計数した数値
に比例した電[Uによりイオンビームをターゲットの横
方向にスキャンさせ、イオンビームをターゲットの端ま
でスキャンさせた特点でアップ・ダウンカウンタ2の出
力値が第1の記憶装置1で設定された値に一致するよう
にされており、比較器5が一致信号を出力すると、第2
のクロックパルス信号発生器7からのクロックパルス信
号で設定されたある一定の繰返し時間の後、イオンビー
ムを反対方向にスキャンさせる。次の痛方向のスキャン
はカウンタ8からの出力でアドレスされた第1の記憶装
置1におけるデータにより命令され、こうして図示した
ように順次スキャンを繰返し、イオンビームがオーバー
スキャンすることなしにターゲットの全域を1i行スキ
ャンすることができる。
ところで、縦方向の,h査においてターゲット血上をビ
ームが塗り清すh法としては、各記憶装置1、9に1
tt査の縦h゛向の間隔をδと設足し、同の走査の終r
する毎に1/2δ、l/4δづつ縦方向にづらしてこれ
らの全ての点を記憶させておく方法や、各記憶装置1、
9に上からドまたはドから上への1走査から数疋査のデ
ータを人力しておき、づらす間隔はオフセット電圧とし
て人力する方法が考えられ、後者の方法ではオフセット
電圧用の同路が必要となるが、しかし前者の方法に比較
してより細かな塗り潰しが1+J能となる。
ームが塗り清すh法としては、各記憶装置1、9に1
tt査の縦h゛向の間隔をδと設足し、同の走査の終r
する毎に1/2δ、l/4δづつ縦方向にづらしてこれ
らの全ての点を記憶させておく方法や、各記憶装置1、
9に上からドまたはドから上への1走査から数疋査のデ
ータを人力しておき、づらす間隔はオフセット電圧とし
て人力する方法が考えられ、後者の方法ではオフセット
電圧用の同路が必要となるが、しかし前者の方法に比較
してより細かな塗り潰しが1+J能となる。
上記大施例では本発明を八虫極静電IIlli向器゛に
適用する場合について説明してきたが、当然他の多重極
静電fIlii向器にχ−}Lても<Itに静電偏向器
の電極の数に含わせでアナログ漬算同路を設4I変更す
るによって同様に通川できる。
適用する場合について説明してきたが、当然他の多重極
静電fIlii向器にχ−}Lても<Itに静電偏向器
の電極の数に含わせでアナログ漬算同路を設4I変更す
るによって同様に通川できる。
またターゲット(ウエハ)面上にビームを塗り潰す方法
として上記の二つの方法に代えてオフセット電圧を決定
する方法でδを(II■分割するかを決定するようにし
てもよい。
として上記の二つの方法に代えてオフセット電圧を決定
する方法でδを(II■分割するかを決定するようにし
てもよい。
さらに、第1の肥憶装置のデータを変更して縦方向の疋
査密度を変え、そして第1のクロックパルス信号発生装
置を調整して横方向のスピードを変化させることにより
ターゲットへのビームの打ち込み、シート抵抗のall
l定マップにより位置的なドーズ量の補正を行うことか
できる。
査密度を変え、そして第1のクロックパルス信号発生装
置を調整して横方向のスピードを変化させることにより
ターゲットへのビームの打ち込み、シート抵抗のall
l定マップにより位置的なドーズ量の補正を行うことか
できる。
[発明の効東]
以上説明してきたように、本発明によれば、二つの基準
電JfUSVを発生し、これらの電圧の関数に粘づいて
多重極静電偏向器の各電極に印加される電圧を制御でき
るように構成しているので、パラレルイオンビームを利
川したイオン注入装置においてターゲット上でビーム人
射角が・V行なビームを走査することかでき、またビー
ムエネルギが支化した場含でも各7LiI!iii電佳
を一定の比十で.凋整することができる。
電JfUSVを発生し、これらの電圧の関数に粘づいて
多重極静電偏向器の各電極に印加される電圧を制御でき
るように構成しているので、パラレルイオンビームを利
川したイオン注入装置においてターゲット上でビーム人
射角が・V行なビームを走査することかでき、またビー
ムエネルギが支化した場含でも各7LiI!iii電佳
を一定の比十で.凋整することができる。
第1図は本発明の適用される二つの八重極静電偏向姦を
備えたイオン注入装置における偏向電極の電気的接続関
係及び各電極に印加される電圧を例示する概略線図、第
2図は本発明の丈施例を示す概略ブロック線図、第3図
は第2図におけるアナログ演算同路の一例を示すブロッ
ク線図、第4図及び第5図はそれぞれ電圧U及び電圧V
の11,1間的変化を示す概略線図、第6図はターゲッ
ト−上における走査の仕方を示す概略線図、第7図は従
来のイオンl十人装置の一例を示す概略線図、第8図は
第7図の従来のイオン注入装置による走査形態を示す概
略線図である。 図 中 1:第1の記憶装置 2:アップ・ダウンカウンタ 3:第1のクロックパルス信号発生器 4:第1のD/A女換器 5:比較器 6:シフトレジスタ 7:第2のクロックパルス信号発生器 8:カウンタ 9.第2の記憶装置 10:第2のD/A変換器 II:アナログ演算1j!J路 第1図 第3図 第2図 第4図 第5図 第 6 図 第 7 図 A 第 8 図
備えたイオン注入装置における偏向電極の電気的接続関
係及び各電極に印加される電圧を例示する概略線図、第
2図は本発明の丈施例を示す概略ブロック線図、第3図
は第2図におけるアナログ演算同路の一例を示すブロッ
ク線図、第4図及び第5図はそれぞれ電圧U及び電圧V
の11,1間的変化を示す概略線図、第6図はターゲッ
ト−上における走査の仕方を示す概略線図、第7図は従
来のイオンl十人装置の一例を示す概略線図、第8図は
第7図の従来のイオン注入装置による走査形態を示す概
略線図である。 図 中 1:第1の記憶装置 2:アップ・ダウンカウンタ 3:第1のクロックパルス信号発生器 4:第1のD/A女換器 5:比較器 6:シフトレジスタ 7:第2のクロックパルス信号発生器 8:カウンタ 9.第2の記憶装置 10:第2のD/A変換器 II:アナログ演算1j!J路 第1図 第3図 第2図 第4図 第5図 第 6 図 第 7 図 A 第 8 図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、イオンビームの偏向系に二つの多重極静電偏向器を
備えたイオン注入装置におけるイオンビームの走査制御
装置において、第1の記憶装置と、この第1の記憶装置
に接続され、第1の記憶装置で予め設定された動作制御
信号に応じて基準クロックパルスを予定の数までカウン
トして予定のディジタル値を出力するアップ・ダウンカ
ウンタと、このアップ・ダウンカウンタのディジタル出
力から第1の基準電圧を発生する第1のD/A変換器と
、アップ・ダウンカウンタの計数値が予定の値に達した
とき別の基準クロック信号に同期して別の予定のディジ
タル値を出力する第2の記憶装置と、第2の記憶装置か
らのディジタル出力から第2の基準電圧を発生する第2
のD/A変換器と、第1及び第2のD/A変換器でそれ
ぞれ発生された第1及び第2の基準電圧を演算処理して
二つの多重極静電偏向器の各電極に印加すべき電圧を形
成する演算回路とから成ることを特徴とするイオン注入
装置におけるイオンビームの走査制御装置。 2、第1、第2の各D/A変換器が各基準電圧の絶対値
を調整するためのポテンショメータを備えている請求項
1に記載の装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1239865A JP2960940B2 (ja) | 1989-09-18 | 1989-09-18 | イオン注入装置におけるイオンビームの走査制御装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1239865A JP2960940B2 (ja) | 1989-09-18 | 1989-09-18 | イオン注入装置におけるイオンビームの走査制御装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03102750A true JPH03102750A (ja) | 1991-04-30 |
JP2960940B2 JP2960940B2 (ja) | 1999-10-12 |
Family
ID=17051035
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1239865A Expired - Fee Related JP2960940B2 (ja) | 1989-09-18 | 1989-09-18 | イオン注入装置におけるイオンビームの走査制御装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2960940B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6619859B1 (en) | 1999-07-19 | 2003-09-16 | The Furukawa Electric Co., Ltd. | Receptacle module |
-
1989
- 1989-09-18 JP JP1239865A patent/JP2960940B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6619859B1 (en) | 1999-07-19 | 2003-09-16 | The Furukawa Electric Co., Ltd. | Receptacle module |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2960940B2 (ja) | 1999-10-12 |
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