JPH03102211A - Projecting-type distance measuring apparatus - Google Patents

Projecting-type distance measuring apparatus

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JPH03102211A
JPH03102211A JP11367290A JP11367290A JPH03102211A JP H03102211 A JPH03102211 A JP H03102211A JP 11367290 A JP11367290 A JP 11367290A JP 11367290 A JP11367290 A JP 11367290A JP H03102211 A JPH03102211 A JP H03102211A
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light
distance
receiving element
output
circuit
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伸治 長岡
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Abstract

PURPOSE:To process irregular photo-electric converting outputs by constituting an attenuating means by a light shielding member moving in front of a photodetecting element, and selecting the distance to an object to be photographed on the basis of the position of said attenuating means. CONSTITUTION:A light projected from a light emitting element 1 is condensed by a projecting lens 2, and the light beam 3 is directed to an object 8 to be photographed. The light 4 reflected from the object 8 forms a light spot on a point of a photodetecting element 6 through a light receiving lens 5. A light shielding plate 7 moves from the right to left with a certain correlation kept with the distance to the object 8. When the light shielding plate 7 traverses the optical axis 4, the reflecting light from the object 8 is obstructed and does not reach the element 6, so that the photoelectric output of the element 6 is attenuated. Further, when the light shielding plate 7 completely passes the optical axis 4, the output is returned to the original level. The distance to the object 8 is measured at a point where a negative peak is detected.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、小型カメラ等に適した測距装置に関するもの
である。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a distance measuring device suitable for small cameras and the like.

【従来の技術] 従来、三角川距の原理を利用した光投射式の測距装置は
種々提案されている。
[Prior Art] Various optical projection type distance measuring devices that utilize the principle of triangular distance have been proposed.

そのなかで、すでに本出願人により提案をした測距装置
(特願昭55−124268)は、単一の受光素子面上
を遮光板が走査することによって、受光素子の光電出力
が変化することを検出して測距を行うシステムである。
Among these, the distance measuring device (Japanese Patent Application No. 124268/1982) already proposed by the applicant is a device that changes the photoelectric output of the light receiving element by scanning a light shielding plate over the surface of a single light receiving element. This is a system that detects and measures distance.

以下、遮光板走査型測距装置と呼ぶ。Hereinafter, this will be referred to as a light shielding plate scanning type distance measuring device.

【解決しようとする課題コ 遮光板走査型測距装置においては、これに適した処理回
路が提案されていなかった。特にイレギュラーな光電変
換出力に対する回路上の対策がなされていなかった。
[Problems to be Solved] No processing circuit suitable for a light-shielding plate scanning distance measuring device has been proposed. In particular, no circuit measures were taken to deal with irregular photoelectric conversion outputs.

本発明の目的は、遮光板走査型測距装置おいて、これに
適した処理回路を提供するとともに、イレギュラーな光
電変換出力に対する処理を可能にした回路を提供するこ
とである。
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a processing circuit suitable for a light-shielding plate scanning distance measuring device, and also to provide a circuit that is capable of processing irregular photoelectric conversion outputs.

[実施例] 以下、添付図面に従って実施例について説明する。[Example] Embodiments will be described below with reference to the accompanying drawings.

第1図は、遮光板走査型の投光式測距装置の原理図であ
る。
FIG. 1 is a diagram showing the principle of a light-shielding plate scanning type light projection type distance measuring device.

1は発光素子、2は投光レンズ、3は投光軸を示す。4
は被写体8からの反射光軸を示し、5は受光レンズ、6
は受光素子である。7は上記受光素子の面上を走査する
遮光板である。9は上記測距装置を組み込んだカメラボ
ディである。
1 is a light emitting element, 2 is a light projection lens, and 3 is a light projection axis. 4
indicates the reflected optical axis from the subject 8, 5 is the light receiving lens, and 6 is the light receiving lens.
is a light receiving element. 7 is a light shielding plate that scans the surface of the light receiving element. 9 is a camera body incorporating the above distance measuring device.

作動について説明すると、発光素子1から出た光は投光
レンズによって集光し光ビームとなって披写体8に当り
、反射光が受光レンズ5によって受光素子6上の一点に
光スポットとして結像する。
To explain the operation, the light emitted from the light emitting element 1 is condensed by the light projecting lens and hits the subject 8 as a light beam, and the reflected light is focused by the light receiving lens 5 on one point on the light receiving element 6 as a light spot. Image.

一方、遮光板7は被写体までの距離とある相関を持って
図上右から左に走査する。上記遮光板7が光軸4を横切
ったとき、被写体からの反射光は遮られて受光素子6上
に当たらなくなり、受光素子6の光電出力は減衰する。
On the other hand, the light shielding plate 7 scans from right to left in the figure in a certain correlation with the distance to the subject. When the light-shielding plate 7 crosses the optical axis 4, the reflected light from the subject is blocked and does not strike the light-receiving element 6, and the photoelectric output of the light-receiving element 6 is attenuated.

遮光板7が光軸4を通り過ぎてしまうと、再び出力は元
のレベルに上る。
When the light shielding plate 7 passes the optical axis 4, the output increases to the original level again.

この関係を第2図に示し、負のピークとなった点1pが
被写体までの距離である。被写体が遠くなるほど、第1
図の受光素子6上にできる光スポットの位置は左にずれ
る。
This relationship is shown in FIG. 2, where the point 1p that has a negative peak is the distance to the subject. The farther the subject is, the more
The position of the light spot formed on the light receiving element 6 in the figure is shifted to the left.

第3図は、本発明の制御回路とともにカメラに組み込ま
れる測距装置の機構の一例である。
FIG. 3 is an example of a mechanism of a distance measuring device that is incorporated into a camera together with the control circuit of the present invention.

同図において、11はレリーズレバーであり、バネ12
によって上方に付勢されている。17は走査板であり、
受光素子16の表面を走査する遮光板17aがある。ま
た、走査板17はバネ18によって右方向に付勢されて
いるが、係止部材13およびバネ14によって係止され
ている。19はギヤ、20はアンクルであり、走査板の
走行スピードを制御する。21は制御レバーであり、バ
ネ22によって時計方向に回転習性が与えられており、
走査板17上のビン17cに係合して回転する。23は
電磁石、24は鉄片であり、バネ25が電磁石より引き
離し方向に作用している。26はシャッタ前走レバーを
右方向に付勢するバネである。30は対物レンズの繰り
出し量を決定するための段カムであり、バネ32によっ
て反時計方向に回転習性が与えられている。33は接片
であり、対物レンズの繰り出しに応じて抵抗36を選定
し、フラッシュマチック等の距離情報として使用するた
めのものである。
In the figure, 11 is a release lever, and a spring 12
is forced upward by. 17 is a scanning plate;
There is a light shielding plate 17a that scans the surface of the light receiving element 16. Further, the scanning plate 17 is urged rightward by a spring 18, but is locked by a locking member 13 and a spring 14. 19 is a gear, and 20 is an ankle, which controls the traveling speed of the scanning plate. 21 is a control lever, which is given a clockwise rotational habit by a spring 22;
It engages with the bin 17c on the scanning plate 17 and rotates. Reference numeral 23 is an electromagnet, 24 is an iron piece, and a spring 25 acts in a direction that separates the electromagnet. A spring 26 biases the shutter forward lever in the right direction. Reference numeral 30 denotes a stepped cam for determining the amount of extension of the objective lens, and is given a counterclockwise rotational habit by a spring 32. Reference numeral 33 is a contact piece, which selects a resistor 36 according to the extension of the objective lens, and is used as distance information for flashmatic and the like.

第4図!ま、本発明の測距装置における制御回路の一実
施例である。
Figure 4! This is one embodiment of the control circuit in the distance measuring device of the present invention.

同図において、PDは受光素子であり、初段の増輔器A
1によって短絡電流を電圧に変換している。R1は帰還
抵抗である。C1は交流結合用コンデンサ、A2は2段
目の増輻器で交流増幅を行っている。C2およびR3は
帰還コンデンサおよび抵抗である。D1は検波用ダイオ
ード、R6、C3は積分用抵抗およびコンデンサ、R5
は放電抵抗である。A3はボルテージフォロヮ、A4は
積分出力の直流増幅器、R7は入力抵抗、R8は帰還抵
抗である。SHはサンプルホールド回路であり、A5は
作動増幅器を形威し、入力抵抗はR10とRllである
。CPIはコンパレータであり、非反転入力には積分出
力が入力され、反転入力にはコンデンサC6と抵抗R1
7が接続され、また入力間にはダイオードD3を接続し
、クランブ回路を構成している。コンバレータCPIの
出力はトランジスタTriに接続されている。R13、
C5は第2の積分回路用の抵抗とコンデンサである。A
6は反転増幅器であり、その出力はコバレータCP2の
非反転入力に接続されている。
In the figure, PD is a light receiving element, and the first stage intensifier A
1 converts the short circuit current into voltage. R1 is a feedback resistor. C1 is an AC coupling capacitor, and A2 is a second-stage amplifier for AC amplification. C2 and R3 are feedback capacitors and resistors. D1 is a detection diode, R6 and C3 are an integrating resistor and capacitor, R5
is the discharge resistance. A3 is a voltage follower, A4 is an integral output DC amplifier, R7 is an input resistor, and R8 is a feedback resistor. SH is a sample and hold circuit, A5 forms a differential amplifier, and the input resistors are R10 and Rll. CPI is a comparator, the integral output is input to the non-inverting input, and the capacitor C6 and resistor R1 are input to the inverting input.
7 is connected, and a diode D3 is connected between the inputs to form a clamp circuit. The output of the converter CPI is connected to the transistor Tri. R13,
C5 is a resistor and capacitor for the second integration circuit. A
6 is an inverting amplifier, the output of which is connected to the non-inverting input of coverator CP2.

PSDは正傾斜検出回路であり、この出力とコンバレー
タCP2の出力がオア回路ORに入り、さらにフリップ
フロップFFに接続されている。Tr2は測距用電磁石
M g $ilI n用のトランジスタである。CP3
はコンバレータであり、非反転入力には第1の積分出力
が入力され、反転入力には抵抗R19、R20からなる
ブリーダーに接続されている。ANDI、AND2はア
ンドゲート、■NVはインバーター S2は走査板が走
査完了点に近い所でオンするスイッチである。Tr3は
警告用LED制御用トランジスタ、Tr4は電子ブザー
B制御用トランジスタである。OSCは発振器である。
PSD is a positive slope detection circuit, and its output and the output of the comparator CP2 enter an OR circuit OR, which is further connected to a flip-flop FF. Tr2 is a transistor for the ranging electromagnet Mg$ilIn. CP3
is a converter, the first integral output is input to the non-inverting input, and the inverting input is connected to a bleeder consisting of resistors R19 and R20. ANDI and AND2 are AND gates, NV is an inverter, and S2 is a switch that is turned on when the scanning plate is close to the point where scanning is completed. Tr3 is a transistor for controlling the warning LED, and Tr4 is a transistor for controlling the electronic buzzer B. OSC is an oscillator.

TMEはタイマー回路であり、シャツ夕のレリーズスイ
ッチS3でトリガ作動し、IRED駆動回路DRVの作
動を制御する。I REDは投光用赤外発光ダイオード
であり、トランジスタTr5でパルス駆動される。S1
は電源スイッチである。
TME is a timer circuit, which is triggered by the shutter release switch S3 and controls the operation of the IRED drive circuit DRV. I RED is an infrared light emitting diode for light projection, and is pulse driven by transistor Tr5. S1
is the power switch.

つぎに、第3図および第4図の動作について説明する。Next, the operations shown in FIGS. 3 and 4 will be explained.

なお、回路各部の作動波形については第5図に示す。The operating waveforms of each part of the circuit are shown in FIG.

レリーズレバ−11を押し下げると、電源スイッチS1
が入り回路各部に給電が行われ、受光回路が作動状態と
なり、投光用I REDが駆動回路DRVからの一定周
期のパルスによりパルス駆動される。さらにレリーズレ
バ−11を押し下げると、係止部材13による走査板1
7の係止が外れ、ガバナー19、20によって一定スピ
ードで走査板17は図中矢印方向に走査を開始する。第
5図SCPが走査板17の作動を示し、nは至近距離で
ある。遮光板17aが受光素子16上を走査して受光素
子上の光スポットを遮光し始めると、交流増幅器A2の
出力■の波形は第5図のように振幅が変化する。この交
流信号をダイオードD1により検波し、R6およびC3
で積分すると、増幅器A4によって増幅された波形は■
に示すようにディップ波形となる。さらに、サンプルホ
ールド回路SHを介した波形は■のように階段状になる
When the release lever 11 is pressed down, the power switch S1
power is supplied to each part of the circuit, the light receiving circuit is put into operation, and the light emitting IRED is pulse-driven by constant periodic pulses from the driving circuit DRV. When the release lever 11 is further pushed down, the scanning plate 1 is moved by the locking member 13.
7 is released, and the scanning plate 17 starts scanning at a constant speed in the direction of the arrow in the figure by the governors 19 and 20. FIG. 5 SCP shows the operation of the scanning plate 17, where n is the close range. When the light-shielding plate 17a scans the light-receiving element 16 and begins to block the light spot on the light-receiving element, the waveform of the output (2) of the AC amplifier A2 changes in amplitude as shown in FIG. This AC signal is detected by diode D1, R6 and C3
When integrated by , the waveform amplified by amplifier A4 is ■
It becomes a dip waveform as shown in . Furthermore, the waveform passed through the sample-and-hold circuit SH becomes step-like as shown in (■).

■と■の波形を作動増幅器A5に入力すると出力■が得
られる。ここでクランブ回路がCP1、D3、C6、R
17によって構成されるが、CPIの反転入力波形は◎
で示すように上記■のディップ波形に対して立下がりの
遅れを持つ回路となっている。そして、■≧Oのときに
トランジスタTr1はオンして、作動増幅器A5の出力
をクランブしている。これは、光スポットに遮光板17
aが当っていないときに外乱等によって積分出力■が微
少に変化するのを押え込んで、誤動作を防止するもので
ある。出力■を抵抗R13とコンデンサC5で積分し、
反転増幅器A6で増幅した出力が@である。上記反転増
幅器A6の出力はコンバレータCP2の非反転入力に接
続され、また、このコンバレータCP2の反転入力はG
ndレベルにある。非反転入力および反転入力のオフセ
ット電圧をVとすれば、上記非反転入力がGndレベル
よりVを越えたときに出力が反転し、その波形を■で示
す。オア回路ORには上記コンバレータCP2の出力と
後述する正傾斜検出回路PSDの出力が入力されており
、コンバレータCP2の出力が反転するとオア回路OR
を介して次段のフリップフロップFFをセットし、出力
0が反転してトランジスタTr2がオフとなる。従って
、瀾距用電磁石Mgがカットオフする。すなわち、遮光
板17aが受光素子16上を走査することによって積分
出力は■のようにディップし、そのピーク点で電磁石M
gがオフとなる。電磁石Mgがオフになった時点の走査
板17の位置が被写体までの距離に対応している。第4
図の制御レバー21は、走査板l7の走行に追従して時
計方向に回転を始めている。上記電磁石Mg(23)が
オフすることによって鉄片24のフックが制御レバー2
1のラチェット部に入り、制御レバー21の回転を止め
る。さらにレリーズレバ−11を押し下げることによっ
て、係止レバー26によって係止が外れたシャッタ前走
部材28が走行し、図示しない機構によってまず段カム
30を反時計方向に回転させる。上記制御レバー2lの
段カムストッパ一部2lbによって段カムの回転角度が
制御され、従って対物レンズの繰り出し量が自動的に決
まる。
When the waveforms of ■ and ■ are input to the operational amplifier A5, an output of ■ is obtained. Here, the clamp circuit is CP1, D3, C6, R
17, but the inverted input waveform of CPI is ◎
As shown, the circuit has a fall delay with respect to the dip waveform shown in (2) above. When ■≧O, the transistor Tr1 is turned on to clamp the output of the operational amplifier A5. This is a light spot with a light shielding plate 17.
This prevents malfunction by suppressing minute changes in the integral output (2) due to disturbances etc. when a is not applied. Integrate the output ■ with resistor R13 and capacitor C5,
The output amplified by the inverting amplifier A6 is @. The output of the inverting amplifier A6 is connected to the non-inverting input of the converter CP2, and the inverting input of the converter CP2 is connected to the G
It is at the nd level. Assuming that the offset voltage of the non-inverting input and the inverting input is V, the output is inverted when the non-inverting input exceeds the Gnd level by V, and its waveform is shown by ■. The output of the above-mentioned comparator CP2 and the output of the positive slope detection circuit PSD described later are input to the OR circuit OR, and when the output of the comparator CP2 is inverted, the OR circuit OR
The next stage flip-flop FF is set via the FF, the output 0 is inverted, and the transistor Tr2 is turned off. Therefore, the electromagnet Mg for the distance is cut off. That is, as the light shielding plate 17a scans the light receiving element 16, the integrated output dips as shown in ■, and at its peak point, the electromagnet M
g is turned off. The position of the scanning plate 17 at the time when the electromagnet Mg is turned off corresponds to the distance to the subject. Fourth
The control lever 21 in the figure has started rotating clockwise following the movement of the scanning plate l7. When the electromagnet Mg (23) is turned off, the hook of the iron piece 24 is moved to the control lever 2.
1 and stops the rotation of the control lever 21. By further pushing down the release lever 11, the shutter front running member 28, which has been unlocked by the locking lever 26, travels, first rotating the step cam 30 counterclockwise by a mechanism not shown. The rotation angle of the step cam is controlled by the step cam stopper part 2lb of the control lever 2l, and therefore the amount of extension of the objective lens is automatically determined.

この後でシャッタの開閉動作が行われる。対物レンズの
繰り出しとともに接片33も回転し、肢写体距離に応じ
た抵抗値が選択されて、フラッシュマチックあるいは連
動外警告用の情報として使用される。スイッチS2は走
査板が近距離から遠距離に走査を終了したときにオンす
るスイッチで、後述する連動外警告のためのタイミング
信号を作ったり、赤外発光ダイオードIREDのオフ信
号として使う。スイッチS3はシャッタ前走部材28の
作動でオンし、タイマー回路TMEのトリガ信号として
使う。タイマー回路TMHのの目的は、レリーズレバ−
11を早押しした場合でも測距作動が終るまではI R
EDをオンさせておくためで、この場合はスイッチS2
はI REDをオフさせるためには必要ではなくなる。
After this, the shutter opens and closes. As the objective lens extends, the contact piece 33 also rotates, and a resistance value corresponding to the distance to the subject is selected and used as information for flashmatic or out-of-linkage warning. The switch S2 is a switch that is turned on when the scanning plate finishes scanning from a short distance to a long distance, and is used to generate a timing signal for an out-of-coupling warning, which will be described later, and as an off signal for the infrared light emitting diode IRED. The switch S3 is turned on by the operation of the shutter advance member 28, and is used as a trigger signal for the timer circuit TME. The purpose of the timer circuit TMH is to control the release lever.
Even if you press 11 quickly, the I
This is to keep the ED on, in this case switch S2
is no longer needed to turn off IRED.

また、電磁石MgのオフでIREDをオフすることも可
能である。
It is also possible to turn off the IRED by turning off the electromagnet Mg.

つぎに、第6図並びに警告回路について説明する。第6
図中、第3図と同一番号を付したものは同一機能を有す
る部材である。
Next, FIG. 6 and the warning circuit will be explained. 6th
In the figure, the same numbers as in FIG. 3 indicate members having the same functions.

この実施例では、受光素子16はその中央に不感ゾーン
16aを有するものであり、走査板17上に取り付けら
れている。走査板17が走査することによって上記第3
図の実施例と全く同様に光電出力変化が現れるので、第
4図に示す回路で制御できるものである。また、レリー
ズレバ−11を常に戻す方向に働くレバー33がバネ3
4とともに配置され、レリーズレバ−11から指を離す
とレリーズレバ−11、走査板17は常に元の状態にな
る。この機構において、走査板17はレリーズレバ−1
1の押下げにフォローして走行するが、前述の実施例と
同様に積分波形のディップした頂点で電磁石23がオフ
し、制御レバー21の位相を決定する。また、第4図の
コンパレータCP3の非反転入力には第1図の積分出力
が入力され、反転入力にはブリーダーR19、R20の
分圧が入力されている。また、アンドゲートAND1に
は、上記コンバレータ出力とフリップフロップFF出力
およびスイッチS2の反転信号が入力されている。すな
わち、走査板17が走行終了してスイッチS2がオンし
た時点で電磁石23のオフ信号がまだ得られておらず、
かつ第1積分出力が十分に高い場合には、このアンドゲ
ートANDlが開き、つぎのアンド回路AND 2で発
振器OSC出力とともに駆動回路Tr3、Tr4を作動
させる。LEDの点滅または電子ブザーBの断続音によ
って、測距装置が正常に働かなかったことあるいは超至
近距離であることを警告する。そこで、撮影者はレリー
ズレバ−11から指を離し測距のやり直しをすることが
できる。ここで、電磁石23の鉄片レバー24は図示し
ない公知の方法で再セットされる。
In this embodiment, the light receiving element 16 has a dead zone 16a at its center, and is mounted on a scanning plate 17. By scanning the scanning plate 17, the third
Since the photoelectric output changes appear in exactly the same way as in the embodiment shown in the figure, it can be controlled by the circuit shown in FIG. Also, the lever 33 that always works in the direction of returning the release lever 11 is supported by the spring 3.
4, and when you release your finger from the release lever 11, the release lever 11 and the scanning plate 17 always return to their original states. In this mechanism, the scanning plate 17 is connected to the release lever 1.
1 is pressed down, the electromagnet 23 is turned off at the peak of the dip in the integral waveform, as in the previous embodiment, and the phase of the control lever 21 is determined. Further, the integral output shown in FIG. 1 is input to the non-inverting input of the comparator CP3 in FIG. 4, and the partial pressures of the bleeders R19 and R20 are input to the inverting input. Further, the output of the converter, the output of the flip-flop FF, and the inverted signal of the switch S2 are input to the AND gate AND1. That is, when the scanning plate 17 finishes traveling and the switch S2 is turned on, the off signal of the electromagnet 23 has not yet been obtained.
If the first integral output is sufficiently high, the AND gate AND1 is opened, and the next AND circuit AND2 operates the drive circuits Tr3 and Tr4 together with the oscillator OSC output. The flashing of the LED or the intermittent sound of the electronic buzzer B warns that the distance measuring device is not working properly or that the distance is extremely close. The photographer can then take his finger off the release lever 11 and redo the distance measurement. Here, the iron piece lever 24 of the electromagnet 23 is reset by a known method (not shown).

つぎに、第7図により正傾斜検出回路について説明する
Next, the positive slope detection circuit will be explained with reference to FIG.

第7図(a)に示すように、受光素子16、遮光板17
a1光スポット35が理想状態よりわずかにずれた場合
を想定する。これは生産時の取り付け誤差等で起き得る
問題である。同図(c)の■に示すように、走査板17
(SCP)が走行すると、積分出力はディップせず単調
増加の信号となる。この場合でも電磁石Mgがオフする
ための回路例として、同図(b)のような回路を形成す
る。コンパレータCP4の非反転入力には、コンデンサ
C7、充電用抵抗S25およびスイッチングトランジス
タTr6を、上記コンパレータCP4の出力によって作
動するように構成し、コンパレータCP4の反転入力に
は、上記第1積分出力を入力する。この回路は、上記第
1積分出力が増加を始めたことによって次段のオアゲー
トORに対する作動信号を送り、電磁石23をオフする
ことができるものである。上記オア回路ORにはディッ
プのピーク検出信号も入力されているので、通常は、第
4図におけるコンバレータCP2の出力または正傾斜検
出回路PSDの出力のうち、どちらか早い方のタイミン
グでオアゲートORが開いてフリップフロップFFが作
動する。
As shown in FIG. 7(a), the light receiving element 16 and the light shielding plate 17
Assume that the a1 light spot 35 is slightly deviated from the ideal state. This is a problem that may occur due to installation errors during production. As shown in (c) of the same figure, the scanning plate 17
When (SCP) runs, the integral output does not dip and becomes a monotonically increasing signal. Even in this case, as an example of a circuit for turning off the electromagnet Mg, a circuit as shown in FIG. 3(b) is formed. A capacitor C7, a charging resistor S25, and a switching transistor Tr6 are configured to be activated by the output of the comparator CP4 to the non-inverting input of the comparator CP4, and the first integral output is input to the inverting input of the comparator CP4. do. This circuit is capable of sending an activation signal to the next-stage OR gate OR to turn off the electromagnet 23 when the first integral output begins to increase. Since the dip peak detection signal is also input to the OR circuit OR, the OR gate OR is normally activated at the earlier timing of the output of the comparator CP2 or the output of the positive slope detection circuit PSD in FIG. It opens and the flip-flop FF operates.

第8図は、jl距用電磁石Mg制御回路の他の実施例で
ある。
FIG. 8 shows another embodiment of the jl distance electromagnet Mg control circuit.

同図(c)に示すように、走査板sc.pが走査する以
前に何らかの原因で被写体からの反射光の強度が■のよ
うに変動した場合には、従来の方法では電磁石M gは
a点でオフしてしまい誤動作となるが、(C)のMg波
形のようにすぐに再励磁して、正規のディップ信号のピ
ークすなわちb点で再度オフすることによって正しいJ
)1距が可能となる。同図(a)において、電磁石23
の鉄片24Aはスライド式を利用し、走査板17が走行
開始するまでは係止部17dでロックレバー24Bの作
動を阻止している。従って、走査板17が走行開始した
後は、制御レバー21のラチェットをロツクレバー24
Bによって止めることが可能となる。口路は同図(b)
に示すように、オア回路ORの次段にワンショットマル
チバイブレークOSTを入れることによって成り立つ。
As shown in FIG. 3(c), the scanning plate sc. If the intensity of the reflected light from the subject fluctuates as shown in ■ for some reason before p scans, in the conventional method, the electromagnet Mg turns off at point a, resulting in a malfunction, but (C) As shown in the Mg waveform of
) 1 distance is possible. In the same figure (a), the electromagnet 23
The iron piece 24A is of a sliding type, and the locking portion 17d prevents the lock lever 24B from operating until the scanning plate 17 starts traveling. Therefore, after the scanning plate 17 starts traveling, the ratchet of the control lever 21 is locked by the locking lever 24.
It can be stopped by B. The entrance route is in the same figure (b)
This is achieved by inserting a one-shot multi-by-break OST at the next stage of the OR circuit OR, as shown in FIG.

電磁石23がオフしている明間は、コンデンサC8と抵
抗R27の値で決まる。
The bright period when the electromagnet 23 is off is determined by the values of the capacitor C8 and the resistor R27.

なお、距離表示については、制御レバー21の四転角度
に応じた表示部材を設けることで簡単に実施することが
できる。原理的には、段カムのストッパ一部2lbをフ
ァインダー内から見えるようにすればよい。
Note that the distance display can be easily implemented by providing a display member corresponding to the rotation angle of the control lever 21. In principle, part 2 lb of the step cam stopper should be made visible from inside the finder.

また、走査板17の走行を電磁石23のオフによって停
止するように構成すれば、表示部材は走査板17に連動
する部材を設けることによっても可能である。
Furthermore, if the scanning plate 17 is configured to stop running when the electromagnet 23 is turned off, the display member can also be provided by providing a member that interlocks with the scanning plate 17.

[効果] 本発明によれば、遮光板走査型の投光式/1111距装
置(受光素子に不感ゾーンを設けた投光式測距装置も含
む。)において、光電変換素子の減衰出力を適確に検出
することができるため、被写体までの距離を正確にとら
えることができる。また、積分信号のピークを検出する
ピーク検出回路の他に、積分信号のレベル変化を検出す
るレベル変化検出回路を設け、積分信号がピークを生じ
ないときにはレベル変化検出回路で検出した信号を用い
るようにしたため、イレギュラーな光電変換出力に対し
ても適確な瀾距が可能となる。
[Effects] According to the present invention, the attenuation output of the photoelectric conversion element can be adjusted appropriately in a light-shielding plate scanning type light projection type/1111 distance measuring device (including a light projection type distance measuring device in which a dead zone is provided in the light receiving element). Because it can detect accurately, it is possible to accurately determine the distance to the subject. In addition to the peak detection circuit that detects the peak of the integral signal, a level change detection circuit that detects level changes of the integral signal is provided, and when the integral signal does not have a peak, the signal detected by the level change detection circuit is used. Therefore, it is possible to obtain an accurate range even for irregular photoelectric conversion outputs.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は遮光板走査型の投光式測距装置の原理説明のた
めの図、第2図は同測距装置における光電出力波形図、
第3図は測距装置を構成する機構の一例、第4図は測距
装置の制御回路の一例である。第5図は第4図の制御回
路の作動説明のための各部の出力波形を示す図、第6図
は測距装置の他の機横の一例、第7図は正傾斜検出回路
の一例とその作動説明図、第8図は測距装置の他の機横
の一例と瀾距用電磁石の駆動回路の一例およびその作動
説明図である。 AI、A2〜A6・・・・・・増幅器 CP1〜CP3・・・・・・電圧コンバレータSH・・
・・・・サンプルホールド回路PSD・・・・・・正傾
斜検出回路 OSC・・・・・・発振器 PD・・・・・・受光素子 IRED・・・・・・赤外発光ダイオードTME・・・
・・・タイマー回路 DRV・・・・・・IRED駆動同路 B・・・・・・ブザー 1・・・・・・発光素子 6・・・・・・受光素子 7・・・・・・遮光板 17・・・・・・走査板 21・・・・・・制御レバー 23・・・・・・電磁石 30・・・・・・段カム S1・・・・・・電源スイッチ 33・・・・・・接片 35・・・・・・光スポット 以上
Fig. 1 is a diagram for explaining the principle of a light-shielding plate scanning type light projection type distance measuring device, and Fig. 2 is a photoelectric output waveform diagram of the same distance measuring device.
FIG. 3 shows an example of a mechanism constituting the distance measuring device, and FIG. 4 shows an example of a control circuit for the distance measuring device. Fig. 5 is a diagram showing the output waveforms of each part to explain the operation of the control circuit in Fig. 4, Fig. 6 is an example of another side of the range finder, and Fig. 7 is an example of the positive tilt detection circuit. FIG. 8 is a diagram illustrating another side of the distance measuring device, an example of a drive circuit for a ranging electromagnet, and a diagram illustrating its operation. AI, A2-A6...Amplifier CP1-CP3...Voltage converter SH...
・・・・Sample hold circuit PSD・・・・Positive slope detection circuit OSC・・・Oscillator PD・・・Photodetector IRED・・・Infrared light emitting diode TME・・・・
... Timer circuit DRV ... IRED drive circuit B ... Buzzer 1 ... Light emitting element 6 ... Light receiving element 7 ... Light shielding Plate 17...Scanning plate 21...Control lever 23...Electromagnet 30...Step cam S1...Power switch 33...・・Touch piece 35・・・・・・Light spot or more

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)発光素子で発光する光を被写体に投光する投光手
段と、 上記発光素子をパルス状に発光させる駆動回路と、 被写体で反射する上記発光素子の反射光を光電変換する
受光素子と、 被写体までの距離と相関をもって移動し、上記反射光の
光路と交差したときに上記受光素子の光電変換出力を減
衰させる減衰手段と、 上記受光素子で光電変換された信号を積分して積分信号
を生じる積分回路と、 上記光電変換出力の減衰に伴い変化する上記積分信号の
ピークを検出するピーク検出回路と、上記積分信号のレ
ベル変化を検出するレベル変化検出回路と、 上記積分信号がピークを生じるときには上記ピーク検出
回路でピークを検出したときの上記減衰手段の位置に基
いて被写体までの距離を選定し、上記積分信号がピーク
を生じないときには上記レベル変化検出回路でレベル変
化を検出したときの上記減衰手段の位置に基いて被写体
までの距離を選定する距離選定手段と からなる投光式測距装置。
(1) A light projector that projects light emitted by a light emitting element onto a subject; a drive circuit that causes the light emitting element to emit light in a pulsed manner; and a light receiving element that photoelectrically converts the reflected light of the light emitting element that is reflected by the subject. , attenuation means that moves in correlation with the distance to the subject and attenuates the photoelectric conversion output of the light receiving element when it intersects the optical path of the reflected light; and an integrated signal that integrates the signal photoelectrically converted by the light receiving element. a peak detection circuit that detects a peak of the integrated signal that changes with attenuation of the photoelectric conversion output; a level change detection circuit that detects a level change of the integrated signal; When a peak occurs, the distance to the subject is selected based on the position of the attenuation means when the peak is detected by the peak detection circuit, and when a level change is detected by the level change detection circuit when the integrated signal does not produce a peak. and distance selection means for selecting a distance to a subject based on the position of the attenuation means.
(2)上記減衰手段は、上記受光素子の前面を移動する
遮光部材で構成されている 特許請求の範囲第1項に記載された投光式測距装置。
(2) The projecting distance measuring device according to claim 1, wherein the attenuation means is constituted by a light shielding member that moves in front of the light receiving element.
(3)上記減衰手段は、上記受光素子に設けた不感ゾー
ンで構成されている 特許請求の範囲第1項に記載された投光式測距装置。
(3) The projecting distance measuring device according to claim 1, wherein the attenuation means is constituted by a dead zone provided in the light receiving element.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4732388B2 (en) * 2007-03-22 2011-07-27 株式会社日立製作所 Electronic equipment housing structure

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JP4732388B2 (en) * 2007-03-22 2011-07-27 株式会社日立製作所 Electronic equipment housing structure

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JPH0439016B2 (en) 1992-06-26

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