JPH0588404B2 - - Google Patents

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JPH0588404B2
JPH0588404B2 JP33704291A JP33704291A JPH0588404B2 JP H0588404 B2 JPH0588404 B2 JP H0588404B2 JP 33704291 A JP33704291 A JP 33704291A JP 33704291 A JP33704291 A JP 33704291A JP H0588404 B2 JPH0588404 B2 JP H0588404B2
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JP
Japan
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light
circuit
signal
output
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JP33704291A
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Shinji Nagaoka
Koji Sato
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Seikosha KK
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Seikosha KK
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Publication of JPH0579837A publication Critical patent/JPH0579837A/en
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Description

【発明の詳細な説明】[Detailed description of the invention]

【0001】[0001]

【産業上の利用野】 本発明は、小型カメラ等に
適した測距装置に関するものである。
[Industrial Field of Application] The present invention relates to a distance measuring device suitable for small cameras and the like.

【0002】[0002]

【従来の技術】 従来、三角測距の原理を利用し
た光投射式の測距装置は種々提案されている。そ
のなかで、すでに本出願人により提案をした測距
装置(特願昭53−124268)は、単一の受光素子面
上を遮光板が走査することによつて、受光素子の
光電出力が変化することを検出して測距を行うシ
ステムである。以下、遮光板走査型測距装置と呼
ぶ。
2. Description of the Related Art Conventionally, various optical projection type distance measuring devices that utilize the principle of triangulation have been proposed. Among these, a distance measuring device (Japanese Patent Application No. 124268/1989) already proposed by the applicant has a light-shielding plate that scans the surface of a single light-receiving element, thereby changing the photoelectric output of the light-receiving element. This is a system that measures distance by detecting the presence of objects. Hereinafter, this will be referred to as a light shielding plate scanning type distance measuring device.

【0003】【0003】

【発明が解決しようとする課題】 遮光板走査型
測距装置においては、受光素子と遮光板とを別々
に構成しなければならず、構成が複雑になるとい
う問題があつた。
[Problems to be Solved by the Invention] In the light-shielding plate scanning type distance measuring device, there is a problem in that the light-receiving element and the light-shielding plate must be constructed separately, making the structure complicated.

【0004】 本発明の目的は、簡単な構成で測距す
ることが可能な投光式測距装置を提供することで
ある。
[0004] An object of the present invention is to provide a projection type distance measuring device that can measure distances with a simple configuration.

【0005】[0005]

【実施例】 以下、添付図面に従つて実施例につ
いて説明する。
[Examples] Examples will be described below with reference to the accompanying drawings.

【0006】 図1は、遮光板走査型の投光式測距装
置の原理図である。
[0006] FIG. 1 is a diagram showing the principle of a light-shielding plate scanning type light projection type distance measuring device.

【0007】 1は発光素子、2は投光レンズ、3は
投光軸を示す。4は被写体8からの反射光軸、5
は発光レンズ、6は受光素子である。7は上記受
光素子の面上を走査する遮光板である。9は上記
測距装置を組み込んだカメラボデイである。
[0007] 1 is a light emitting element, 2 is a light projection lens, and 3 is a light projection axis. 4 is the reflected optical axis from the subject 8, 5
is a light emitting lens, and 6 is a light receiving element. 7 is a light shielding plate that scans the surface of the light receiving element. 9 is a camera body incorporating the distance measuring device described above.

【0008】 作動について説明すると、発光素子1
から出た光は投光レンズによつて集光し光ビーム
となつて被写体8に当り、反射光が受光レンズ5
によつて受光素子6上の一点に光スポツトとして
結像する。一方、遮光板7は被写体までの距離と
ある相関を持つて図上右から走査する。上記遮光
板7が光軸4を横切つたとき、被写体からの反射
光は遮られて受光素子6上に当たらなくなり、受
光素子6の光電出力は減衰する。遮光板7が光軸
4を通り過ぎてしまうと、再び出力は元のレベル
に上る。この関係を図2に示し、負のピークとな
つた点1pが被写体までの距離である。被写体が
遠くるほど、図1の受光素子6上にできる光スポ
ツトの位置は左にずれる。
[0008] To explain the operation, the light emitting element 1
The light emitted from the lens is condensed by the light projecting lens, becomes a light beam, and hits the subject 8, and the reflected light is reflected by the light receiving lens 5.
As a result, an image is formed on one point on the light receiving element 6 as a light spot. On the other hand, the light shielding plate 7 is scanned from the right in the figure with a certain correlation to the distance to the subject. When the light-shielding plate 7 crosses the optical axis 4, the reflected light from the subject is blocked and does not strike the light-receiving element 6, and the photoelectric output of the light-receiving element 6 is attenuated. When the light shielding plate 7 passes the optical axis 4, the output increases to the original level again. This relationship is shown in FIG. 2, where the point 1p that has a negative peak is the distance to the subject. The further away the subject is, the more the position of the light spot formed on the light receiving element 6 in FIG. 1 shifts to the left.

【0009】 図3は、本発明の制御回路とともにカ
メラに組み込まれる測距装置の機構の一例であ
る。
[0009] FIG. 3 is an example of a mechanism of a distance measuring device that is incorporated into a camera together with the control circuit of the present invention.

【0010】 同図において、11はレリーズレバー
であり、バネ12によつて上方に付勢されてい
る。17は走査板であり、受光素子16の表面を
走査する遮光板17aがある。走査板17はバネ
18によつて右方向に付勢されているが、係止部
材13およびバネ14によつて係止されている。
19はギヤ、20はアンクルであり、走査板の走
行スピードを制御する。21は制御レバーであ
り、バネによつて時計方向に回転習性が与えられ
ており、走査板17上のピン17cに係合して回
転する。23は電磁石、24鉄片であり、バネ2
5が電磁石より引き離し方向に作用している。2
6はシヤツタ前走レバー28の係止レバーで、2
9はシヤツタ前走レバー28を右方向に付勢する
バネである。30は対物レンズの繰り出し量を決
定するための段カムであり、バネ32にによつて
反時計方向に回転習性が与えられている。33は
接片であり、対物レンズの繰り出しに応じて抵抗
36を選定し、フラツシユマチツク等の距離情報
として使用するためのものである。
[0010] In the figure, 11 is a release lever, which is urged upward by a spring 12. A scanning plate 17 includes a light shielding plate 17a that scans the surface of the light receiving element 16. The scanning plate 17 is urged rightward by a spring 18 and is locked by a locking member 13 and a spring 14.
19 is a gear, and 20 is an ankle, which controls the traveling speed of the scanning plate. Reference numeral 21 denotes a control lever, which is given the habit of rotating clockwise by a spring, and is rotated by engaging with a pin 17c on the scanning plate 17. 23 is an electromagnet, 24 is an iron piece, and spring 2 is
5 acts in the direction of separation from the electromagnet. 2
6 is a locking lever for the shutter forward travel lever 28;
Reference numeral 9 denotes a spring that biases the shutter forward travel lever 28 in the right direction. Reference numeral 30 denotes a step cam for determining the amount of extension of the objective lens, and is given a counterclockwise rotational habit by a spring 32. Reference numeral 33 denotes a contact piece, which selects a resistor 36 according to the extension of the objective lens, and is used as distance information for a flash automatic or the like.

【0011】 図4は、本発明の測距装置における制
御回路の一実施例である。
[0011] FIG. 4 is an embodiment of a control circuit in a distance measuring device of the present invention.

【0012】 同図において、PDは受光素子であり、
初段の増幅器A1によつせ短絡電流を電圧に変換
している。R1は帰還抵抗である。C1は交流結
合用コンデンサ、A2は2段目の増幅器で交流増
幅を行つている。C2およびR3は帰還コンデン
サおよび抵抗である。D1は検波用ダイオード、
R6,C3は積分用抵抗およびコンデンサ、R5
は放電抵抗である。A3はボルテージフオロワ、
A4はは積分出力の直流増幅器、R7は入力抵
抗、R8は帰還抵抗である。SHはサンプルホー
ルド回路であり、A5は作動増幅器を形成し、入
力抵抗はR10とR11である。CP1はコンパ
レータであり、非反転入力には積分出力が入力さ
れ、反転入力にはコンデンサC6と抵抗R17が
接続され、また入力間にはダイオードD3を接続
し、クランプ回路を構成している。コンパレータ
CP1の出力はトランジスタTr1に接続されてい
る。R13、C5は第2の積分回路用の抵抗とコ
ンデンサである。A6は反転増幅器であり、その
出力はコパレータCP2の非反転入力に接続され
ている。PSDは正傾斜検出回路であり、この出
力とコンパレータCP2の出力がオア回路ORに入
り、さらにフリツプフロツプFFに接続されてい
る。Tr2は測距用電磁石Mg制御用のトランジス
タである。CP3はコンパレータであり、非反転
入力には第1の積分出力が入力され、反転入力に
は抵抗R19,R20からなるブリーダーに接続
されている。AND1,AND2はアンドゲート、
INVはインバーター、S2は走査板が走査完了
点に近い所でオンするスイツチである。Tr3は
警告用LED制御用トランジスタ、Tr4は電子ブ
ザーB制御用トランジスタである。OSCは発振
器である。TMEはタイマー回路であり、シヤツ
タのレリーズスイツチS3でトリガ作動し、
IRED駆動回路DRVの作動を制御する。IREDは
投光用赤外発光ダイオードであり、トランジスタ
Tr5でパルス駆動される。S1は電源スイツチ
である。
[0012] In the same figure, PD is a light receiving element,
The first-stage amplifier A1 converts the short-circuit current into voltage. R1 is a feedback resistor. C1 is an AC coupling capacitor, and A2 is a second stage amplifier that performs AC amplification. C2 and R3 are feedback capacitors and resistors. D1 is a detection diode,
R6, C3 are integrating resistors and capacitors, R5
is the discharge resistance. A3 is a voltage follower,
A4 is an integral output DC amplifier, R7 is an input resistor, and R8 is a feedback resistor. SH is a sample and hold circuit, A5 forms a differential amplifier, and the input resistors are R10 and R11. CP1 is a comparator, an integral output is input to the non-inverting input, a capacitor C6 and a resistor R17 are connected to the inverting input, and a diode D3 is connected between the inputs to form a clamp circuit. comparator
The output of CP1 is connected to transistor Tr1. R13 and C5 are a resistor and a capacitor for the second integrating circuit. A6 is an inverting amplifier, the output of which is connected to the non-inverting input of the coparator CP2. PSD is a positive slope detection circuit, and its output and the output of comparator CP2 enter an OR circuit OR, which is further connected to a flip-flop FF. Tr2 is a transistor for controlling the ranging electromagnet Mg. CP3 is a comparator whose non-inverting input receives the first integral output, and its inverting input is connected to a bleeder consisting of resistors R19 and R20. AND1 and AND2 are and gates,
INV is an inverter, and S2 is a switch that is turned on when the scanning plate is close to the point where scanning is completed. Tr3 is a transistor for controlling the warning LED, and Tr4 is a transistor for controlling the electronic buzzer B. OSC is an oscillator. TME is a timer circuit that is triggered by the shutter release switch S3.
Controls the operation of the IRED drive circuit DRV. IRED is an infrared light emitting diode for light emission, and is a transistor
Pulse driven by Tr5. S1 is a power switch.

【0013】 つぎに、図3および図4の動作につい
て説明する。なお、回路各部の作動波形について
図5示す。
[0013] Next, the operations in FIGS. 3 and 4 will be described. Note that FIG. 5 shows the operating waveforms of each part of the circuit.

【0014】 レリーズレバー11を押し下げると、
電源スイツチS1が入り回路各部に給電が行わ
れ、受光回路が作動状態となり、投光用IREDが
駆動回路DRVからの一定周期のパルスによりパ
ルス駆動される。さらにレリーズレバー11を押
し下げると、係止部材13による走査板17の係
止が外れ、ガバナー19,20によつて一定スピ
ードで走査板17は図中矢印方向に走査を開始す
る。図5SCPが走査板17の作動を示し、nは至
近距離である。遮光素子17aが受光素子16上
を走査して受光素子上の光スポツトを遮光し始め
ると、交流増幅器A2の出力Aの波形は図5のよ
うに振幅が変化する。この交流信号をダイオード
D1により検波し、R6およびC3で積分する
と、増幅器A4によつて増幅された波形はBに示
すようにデイツプ波形となる。さらに、サンプル
ホールド回路SHを介した波形はDのうに階段状
になる。BとDの波形を作動増幅器A5に入力す
ると出力Eが得られる。ここでクランプ回路が
CP1、D3、C6、R17によつて構成される
が、CP1の反転入力波形はCで示すように上記
Bのデイツプ波形に対して立下がりの遅れを持つ
回路となつている。そして、B>Cのときにトラ
ンジタTr1はオンして、作動増幅器A5の出力
をクランプしている。これは、光ポツトに遮光板
17aが当つていないときに外乱等によつて積分
出力Bが微少に変化するのを押え込んで、誤動作
を防止するものである。出力Eを抵抗R13とコ
ンデンサC5で積分し、反転増幅器A6で増幅し
た出力がGである。上記反転増幅器A6の出力は
コンパレータCP2の非反転入力接続され、また、
このコンパレータCP2の反転入力はGndレベル
にある。非反転入力および反転入力のオフセツト
電圧をvとすれば、上記非反転入力がGndレベル
よりvを越えたとき出力が反転し、その波形をH
で示す。オア回路ORには上記コンパレータCP2
の出力と後述する正傾斜検出回路PSDの出力が
入力されており、コンパレータCP2の出力が反
転するとオア回路ORを介して次段のフリツプフ
ロツプFFをセツトし、出力Qバーが反転してト
ランジスタTr2がオフとなる。従つて、測距用
電磁石Mgがカツトオフする。すなわち、遮光板
17aが受光素子16上を走査することによつて
積分出力はBのようにデイツプし、そのピーク点
で電磁石Mgがオフとなる。電磁石Mgがオフに
なつた時点の走査板17の位置が被写体までの距
離対応している。図3の制御レバー21は、走査
板17の走行に追従して時計方向に回転を始めて
いる。上記電磁石Mg23がオフすることによつ
て鉄片24のフツクが制御レバー21のラチエツ
ト部に入り、制御レバー21の回転を止める。さ
らにレリーズレバー11を押し下げることによつ
て、係止レバー26によつて係止が外れたシヤツ
タ前走部材28が走行し、図示しない機構によつ
てまず段カム30を反時計方向に回転させる。上
記制御レバー21の段カムストツパー21bによ
つて段カムの回転角度が制御され、従つて対物レ
ンズの繰りり出し量が被写体までの距離に対応し
て自動的に設定される。この後でシヤツタの開閉
動作が行われる。対物レンズの繰り出しとともに
接片33も回転し、被写体距離に応じた抵抗値が
が選択されて、フラツシユマチツクあるいは連動
外警告用の情報として使用される。スイツチS2
は走査板が近距離から遠距離に走査を終了したと
きにオンするスイツチで、後述する連動外警告の
ためのタイミング信号を作つたり、赤外発光ダイ
オードIREDのオフ信号として使う。スイツチS
3はシヤツタ前走部材28の作動でオンし、タイ
マー回路TMEのトリガ信号として使う。タイマ
ー回路TMEのの目的は、レリーズレバー11を
早押しした場合でも測距作動がが終るまでは
IREDをオンさせておくためで、この場合はスイ
ツチS2はIREDをオフさせるためには必要では
なくなる。また、電磁石MgのオフでIREDをオ
フすることも可能である。
[0014] When the release lever 11 is pushed down,
The power switch S1 is turned on, power is supplied to each part of the circuit, the light receiving circuit is put into operation, and the light emitting IRED is pulse-driven by constant periodic pulses from the drive circuit DRV. When the release lever 11 is further pushed down, the locking member 13 disengages the scanning plate 17, and the governors 19 and 20 cause the scanning plate 17 to start scanning at a constant speed in the direction of the arrow in the figure. FIG. 5 SCP shows the operation of the scanning plate 17, where n is the close range. When the light shielding element 17a scans the light receiving element 16 and starts shielding the light spot on the light receiving element, the amplitude of the waveform of the output A of the AC amplifier A2 changes as shown in FIG. When this AC signal is detected by diode D1 and integrated by R6 and C3, the waveform amplified by amplifier A4 becomes a dip waveform as shown in B. Furthermore, the waveform passed through the sample-and-hold circuit SH becomes step-like as shown in D. When the waveforms B and D are input to the operational amplifier A5, an output E is obtained. Here the clamp circuit
The circuit is composed of CP1, D3, C6, and R17, and the inverted input waveform of CP1 has a fall delay with respect to the dip waveform of B, as shown by C. Then, when B>C, the transistor Tr1 is turned on and clamps the output of the operational amplifier A5. This prevents malfunctions by suppressing minute changes in the integral output B due to external disturbances when the light shielding plate 17a is not in contact with the optical pot. Output E is integrated by resistor R13 and capacitor C5, and output G is amplified by inverting amplifier A6. The output of the inverting amplifier A6 is connected to the non-inverting input of the comparator CP2, and
The inverting input of this comparator CP2 is at Gnd level. If the offset voltage of the non-inverting input and the inverting input is v, then when the non-inverting input exceeds the Gnd level by v, the output is inverted and its waveform becomes H.
Indicated by The above comparator CP2 is used for the OR circuit OR.
The output of the comparator CP2 and the output of the positive slope detection circuit PSD described later are input, and when the output of the comparator CP2 is inverted, the next stage flip-flop FF is set via the OR circuit OR, and the output Q bar is inverted and the transistor Tr2 is activated. It turns off. Therefore, the ranging electromagnet Mg is cut off. That is, as the light-shielding plate 17a scans the light-receiving element 16, the integrated output dips as indicated by B, and at its peak point, the electromagnet Mg is turned off. The position of the scanning plate 17 at the time when the electromagnet Mg is turned off corresponds to the distance to the subject. The control lever 21 in FIG. 3 has started rotating clockwise following the movement of the scanning plate 17. When the electromagnet Mg23 is turned off, the hook of the iron piece 24 enters the ratchet portion of the control lever 21, and the rotation of the control lever 21 is stopped. By further pushing down the release lever 11, the shutter front running member 28, which has been unlocked by the locking lever 26, travels, first rotating the step cam 30 counterclockwise by a mechanism not shown. The rotation angle of the stepped cam is controlled by the stepped cam stopper 21b of the control lever 21, and therefore the amount of extension of the objective lens is automatically set in accordance with the distance to the subject. After this, the shutter opens and closes. As the objective lens moves out, the contact piece 33 also rotates, and a resistance value corresponding to the object distance is selected and used as information for a flash automatic or out-of-link warning. Switch S2
is a switch that is turned on when the scanning plate finishes scanning from a short distance to a long distance, and is used to create a timing signal for the out-of-link warning described later, and as an off signal for the infrared light emitting diode IRED. Switch S
3 is turned on by the operation of the shutter forward running member 28, and is used as a trigger signal for the timer circuit TME. The purpose of the timer circuit TME is that even if the release lever 11 is pressed quickly, the timer circuit TME will not operate until the distance measurement operation is completed.
This is to keep IRED on; in this case, switch S2 is no longer necessary to turn off IRED. It is also possible to turn off IRED by turning off electromagnet Mg.

【0015】 つぎに、図6並びに警告回路について
説明する。図6中、図3と同一一番号を付したも
のは同一機能を有する部材である。
[0015] Next, FIG. 6 and the warning circuit will be explained. In FIG. 6, the same reference numerals as in FIG. 3 indicate members having the same functions.

【0016】 この実施例では、受光素子16はその
中央に不感ゾーン16aを有するものであり、走
査板17上に取り付けられている。走査板17が
走査することによつて上記図3の実施例と全く同
様に光電出力変化が現れるので、図4に示す回路
で制御できるものである。また、レリーズレバー
11を常に戻す方向に働くレバー33がバネ34
とともに配置され、レリーズレバー11から指を
離すとレリーズレバー11、走査板17は常に元
の状態になる。この機構において、走査板17は
レリーズレバー11の押下げにフオローして走行
するが、前述の実施例と同様に積分波形のデイツ
プした頂点で電磁石23がオフし、制御レバー2
1の位相を決定する。また、図4のコンパレータ
CP3の非反転入力には図1の積分出力が入力さ
れ、反転入力にはブリーダーR19、R20の分
圧が入力されている。また、アンドゲートAND
1には、上記コンパレータ出力とフリツプフロツ
プFF出力およびスイツチS2の反転信号が入力
されている。すなわち、走査板17が走行終了し
てスイツチS2がオンした時点で電磁石23のオ
フ信号がまだ得られておらず、かつ第1積分出力
が十分に高い場合は、このアンドゲートAND1
が開き、つぎのアンド回路AND2で発振器OSC
出力とともに駆動回路Tr3、Tr4を作動させ
る。LEDの点滅または電子ブザーBの断続音に
よつて、測距装置が正常に働かなかつたことある
いは超至近距離であることを警告する。そこで、
撮影者はレリーズレバー11から指を離し測距の
やり直しをすることができる。ここで、電磁石2
3の鉄片レバー24は図示しない公知の方法で再
セツトされることになる。
[0016] In this embodiment, the light receiving element 16 has a dead zone 16a at its center, and is mounted on a scanning plate 17. As the scanning plate 17 scans, a change in photoelectric output appears in exactly the same manner as in the embodiment shown in FIG. 3, and therefore it can be controlled by the circuit shown in FIG. In addition, the lever 33 that always works in the direction of returning the release lever 11 is supported by a spring 34.
The release lever 11 and the scanning plate 17 always return to their original states when the release lever 11 is released. In this mechanism, the scanning plate 17 follows the depression of the release lever 11 and travels, but the electromagnet 23 is turned off at the dip peak of the integral waveform as in the previous embodiment, and the control lever 11 is pressed down.
Determine the phase of 1. Also, the comparator in Figure 4
The integral output of FIG. 1 is input to the non-inverting input of CP3, and the partial pressures of the bleeders R19 and R20 are input to the inverting input. Also, and gate AND
1, the above-mentioned comparator output, flip-flop FF output, and the inverted signal of switch S2 are input. That is, when the scanning plate 17 finishes traveling and the switch S2 is turned on, if the electromagnet 23 has not yet received an off signal and the first integral output is sufficiently high, the AND gate AND1
opens, and the next AND circuit AND2 turns on the oscillator OSC.
Along with the output, drive circuits Tr3 and Tr4 are activated. A flashing LED or an intermittent sound from the electronic buzzer B warns you that the distance measuring device is not working properly or that the distance is extremely close. Therefore,
The photographer can take his finger off the release lever 11 and redo the distance measurement. Here, electromagnet 2
The iron piece lever 24 of No. 3 is reset by a known method (not shown).

【0017】 つぎに、図7により正傾斜検出回路に
ついて説明する。
[0017] Next, the positive slope detection circuit will be explained with reference to FIG.

【0018】 図7aに示すように、受光素子16、
遮光板17a、光スポツト35が理想状態よりわ
ずかにずれた場合を想定する。これは生産時の取
り付け誤差等で起き得る問題である。同図cのB
に示すように、走査板17SCPが走行すると積分
出力はデイツプせず単調増加の信号となる。この
場合でも電磁石Mgがオフするための回路例とし
て、同図bのような回路を形成する。コンパレー
タCP4の非反転入力には、コンデンサC7、充
電用抵抗S25およびスイツチングトランジスタ
Tr6を、上記コンパレータCP4の出力によつて
作動するように構成し、コンパレータCP4の反
転入力には、上記第1積分出力を入力する。この
回路は、上記第1積分出力が増加を始めたことに
よつて次段のオアゲートORに対する作動信号を
送り、電磁石23をオフすることができるもので
ある。上記オア回路ORにはデイツプのピーク検
出信号も入力されているので、通常は、図4にお
けるコンパレータCP2の出力または正傾斜検出
回路PSDの出力のうち、どちらか早い方のタイ
ミングでオアゲートORが開いてフリツプフロツ
プFFが作動する。
[0018] As shown in FIG. 7a, the light receiving element 16,
Assume that the light shielding plate 17a and the light spot 35 are slightly deviated from the ideal state. This is a problem that may occur due to installation errors during production. B in c of the same figure
As shown in FIG. 2, when the scanning plate 17SCP moves, the integral output does not dip and becomes a monotonically increasing signal. Even in this case, as an example of a circuit for turning off the electromagnet Mg, a circuit as shown in FIG. 2B is formed. The non-inverting input of comparator CP4 includes a capacitor C7, a charging resistor S25, and a switching transistor.
Tr6 is configured to be activated by the output of the comparator CP4, and the first integral output is input to the inverting input of the comparator CP4. This circuit is capable of sending an activation signal to the next-stage OR gate OR to turn off the electromagnet 23 when the first integral output begins to increase. Since the dip peak detection signal is also input to the OR circuit OR, the OR gate OR normally opens at the earlier timing of the output of the comparator CP2 or the output of the positive slope detection circuit PSD in Figure 4. The flip-flop FF operates.

【0019】 図8は、測距用電磁石Mg制御回路の
他の実施例である。
[0019] FIG. 8 shows another embodiment of the ranging electromagnet Mg control circuit.

【0020】 同図cに示すように、走査板SC、P
が走査する以前に何らかの原因で被写体からの反
射光の強度がBのように変動した場合には、従来
の方法では電磁石Mgはa点でオフしてしまい誤
動作となるがが、cのMg波形のようにすぐに再
励磁して、正規のデイツプ信号のピークすなわち
b点で再度オフすることよつて正しい測距が可能
となる。同図aにおいて、電磁石23の鉄片24
Aはスライド式を利用し、走査板17が走行開始
するまでは係止部17dでロツクレバー24Bの
作動を阻止している。従つて、走査板17が走行
開始した後は、制御レバー21のラチエツトをロ
ツクレバー24Bによつて止めることが可能とな
る。回路は同図bに示すように、オア回路ORの
次段にワンシヨツトマルチバイブレータOSTを
入れることによつて成り立つ。電磁石23がオフ
している期間は、コンデンサC8と抵抗R27の
値で決まる。
[0020] As shown in Figure c, the scanning plates SC, P
If the intensity of the reflected light from the subject fluctuates as shown in B for some reason before scanning, in the conventional method, the electromagnet Mg would turn off at point a, resulting in a malfunction, but the Mg waveform at c Correct distance measurement becomes possible by immediately re-energizing the sensor and turning it off again at the peak of the normal dip signal, that is, at point b. In the figure a, the iron piece 24 of the electromagnet 23
A uses a sliding type, and a locking portion 17d prevents the lock lever 24B from operating until the scanning plate 17 starts traveling. Therefore, after the scanning plate 17 starts traveling, the ratchet of the control lever 21 can be stopped by the lock lever 24B. As shown in Figure b, the circuit is constructed by inserting a one-shot multivibrator OST at the next stage of the OR circuit OR. The period during which the electromagnet 23 is off is determined by the values of the capacitor C8 and the resistor R27.

【0021】 なお、距離表示については、制御レバ
ー21の回転角度に応じた表示部材を設けること
で簡単に実施することができる。原理的には、段
カムのストツパー部21bをフアインダー内から
見えるようにすればよい。
[0021] Note that the distance display can be easily implemented by providing a display member corresponding to the rotation angle of the control lever 21. In principle, the stopper portion 21b of the stepped cam may be made visible from inside the viewfinder.

【0022】 また、走査板17の走行を電磁石23
のオフによつて停止するようにすれば、表示部材
は走査板17に連動する部材を設けることによつ
ても可能である。
[0022] In addition, the movement of the scanning plate 17 is controlled by the electromagnet 23.
If the display member is stopped when the scanning plate 17 is turned off, the display member can also be provided by providing a member that interlocks with the scanning plate 17.

【0023】[0023]

【発明の効果】 本発明によれば、一部に不感ゾ
ーンを設けた受光素子を採用したので、測距装置
の構成が簡単になる。
[Effects of the Invention] According to the present invention, since a light-receiving element in which a dead zone is provided in a part is employed, the configuration of the distance measuring device is simplified.

【図面の簡単説明】[Brief explanation of drawings]

【図1】遮光板走査型の投光式測距装置の原理説
明のための図である。
FIG. 1 is a diagram for explaining the principle of a light-shielding plate scanning type light projection type distance measuring device.

【図2】測距装置における光電出力波形図であ
る。
FIG. 2 is a photoelectric output waveform diagram in the distance measuring device.

【図3】測距装置を構成する機構の一例である。FIG. 3 is an example of a mechanism that constitutes a distance measuring device.

【図4】測距装置の制御回路の一例である。FIG. 4 is an example of a control circuit of a distance measuring device.

【図5】図4の制御回路の作動説明のための各部
の出力波形を示す図である。
5 is a diagram showing output waveforms of various parts for explaining the operation of the control circuit shown in FIG. 4; FIG.

【図6】測距装置の他の機構の一例である。FIG. 6 is an example of another mechanism of the distance measuring device.

【図7】正傾斜検出回路の一例とその作動説明図
である。
FIG. 7 is an example of a positive slope detection circuit and an explanatory diagram of its operation.

【図8】測距装置の他の機構の一例と測距用電磁
石の駆動回路の一例およびその作動説明図であ
る。
FIG. 8 is an example of another mechanism of the distance measuring device, an example of a drive circuit for a distance measuring electromagnet, and an explanatory diagram of its operation.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

A1,A2〜A6……増幅器 CP1〜CP3……電圧コンパレータ SH……サンプルホールド回路 PSD……正傾斜検出回路 OSC……発振器 PD……受光素子 IRED……赤外発光ダイオード TME……タイマー回路 DRV……IRED駆動回路 B……ブザー 1……発光素子 6……受光素子 7……遮光板 17……走査板 21……制御レバー 23……電磁石 30……段カム S1……電源スイツチ 33……接片 35……光スポツト。 A1, A2 ~ A6...Amplifier CP1~CP3……Voltage comparator SH……Sample hold circuit PSD……Positive slope detection circuit OSC……oscillator PD……Photodetector IRED……Infrared light emitting diode TME……Timer circuit DRV……IRED drive circuit B...Buzzer 1... Light emitting element 6... Light receiving element 7... Light shielding plate 17...Scanning plate 21...control lever 23...Electromagnet 30...stage cam S1...Power switch 33... contact piece 35...Light spot.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 発光素子で発光する光を対象物に
投光する投光手段と、 上記発光素子をパルス状に発光させる駆動回路
と、 対象物までの距離と相関をもつて移動し、対象物
で反射する上記発光素子の反射光を光電変換した
光電変換信号を生じ、その一部に不感ゾーンを設
けた受光素子と、 上記光電変換信号を積分した積分信号を生じる積
分回路と、 上記積分信号を遅延した遅延信号を生じる遅延回
路と、 上記積分信号と上記遅延信号との差分値を生じる
差分回路と、 上記不感ゾーンが上記反射光と交差したときに生
じる上記積分信号のピークを上記差分値に基いて
検出するピーク検出回路と、 上記ピーク検出回路で上記光電変換信号の変化を
検出したときの上記受光素子の移動過程における
位置に基いて、対象物までの距離に対応した距離
情報を設定する距離情報設定手段と からなる投光式測距装置。
1. Light projecting means for projecting light emitted by a light emitting element onto a target object; a driving circuit that causes the light emitting element to emit light in a pulsed manner; a light-receiving element that generates a photoelectric conversion signal by photoelectrically converting the reflected light of the light emitting element reflected by an object, and has a dead zone in a part thereof; an integrating circuit that generates an integral signal that integrates the photoelectric conversion signal; a delay circuit that generates a delayed signal that is a delayed signal; a differential circuit that generates a difference value between the integral signal and the delayed signal; and a differential circuit that generates a differential value between the integral signal and the delayed signal; a peak detection circuit that detects based on the value, and distance information corresponding to the distance to the object based on the position of the light receiving element in the movement process when the peak detection circuit detects a change in the photoelectric conversion signal. A projection type distance measuring device comprising a distance information setting means for setting.
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