JPH029506B2 - - Google Patents

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JPH029506B2
JPH029506B2 JP59107097A JP10709784A JPH029506B2 JP H029506 B2 JPH029506 B2 JP H029506B2 JP 59107097 A JP59107097 A JP 59107097A JP 10709784 A JP10709784 A JP 10709784A JP H029506 B2 JPH029506 B2 JP H029506B2
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JP
Japan
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light
light source
solder
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JP59107097A
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Japanese (ja)
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JPS60250783A (en
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Kazunari Yoshimura
Shinji Okamoto
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Panasonic Electric Works Co Ltd
Original Assignee
Matsushita Electric Works Ltd
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Publication date
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Publication of JPH029506B2 publication Critical patent/JPH029506B2/ja
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    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N7/00Television systems
    • H04N7/18Closed-circuit television [CCTV] systems, i.e. systems in which the video signal is not broadcast

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Closed-Circuit Television Systems (AREA)
  • Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 技術分野 本発明は、たとえば印刷配線基板に取付けられ
たチツプなどと呼ばれる電子回路素子のはんだ付
け状態を検査するために有利に実施される撮像用
照明装置に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION Technical Field The present invention relates to an imaging illumination device that is advantageously implemented for inspecting the soldering condition of electronic circuit elements called chips, which are attached to printed wiring boards, for example.

背景技術 たとえば電子回路が実装された印刷配線基板を
自動的にはんだ付けする場合、はんだ不足やはん
だ欠如をなくすためはんだ付け状態を検査する必
要があり、はんだ付けが正しく行われて初めて電
子回路の正しい動作が実現される。そこで従来は
第1図および第2図に示される検査方法を行つて
いる。印刷配線基板1には、電子回路素子2やリ
ード線3がはんだ4,5によつてそれぞれ取付け
られる。この印刷配線基板1の上方には、はんだ
4,5の各はんだ面4a,5aを検査するための
工業用テレビカメラ6が設けられる。はんだ面4
a,5aを検査するにあたつては、第1図に示す
ようなビーム光を照射する照明装置7や、ライン
光を照射する照明装置8が用いられる。このよう
にビーム光を照射する照明装置7では、はんだ面
4a,5aの複雑な形状のためはんだ面4a,5
a全体を均一に明るくすることが困難であり、は
んだ付け状態の良否を精度よく検出することがで
きない。またライン光を使つた光切断方式の照明
装置8では、はんだ面4a,5aの立体的な特徴
は検出できるが、ライン光のため複雑な形状認識
が必要であり、またスキヤンして全画面の光切断
像を取り込んで見る必要があり、検査に時間がか
かる。またある程度はんだ取付け位置が固定して
いないとはんだ不良を認識することができないた
め、たとえばチツプずれなどには対処しにくいと
いう欠点がある。
BACKGROUND ART For example, when automatically soldering printed wiring boards on which electronic circuits are mounted, it is necessary to inspect the soldering condition to eliminate solder shortages and missing solders. Correct operation is achieved. Therefore, the inspection method shown in FIGS. 1 and 2 has conventionally been used. Electronic circuit elements 2 and lead wires 3 are attached to printed wiring board 1 with solders 4 and 5, respectively. An industrial television camera 6 is provided above the printed wiring board 1 to inspect the solder surfaces 4a, 5a of the solders 4, 5. Solder side 4
A, 5a is inspected using an illumination device 7 that emits a beam of light as shown in FIG. 1, or an illumination device 8 that emits line light. In the illumination device 7 that irradiates the beam light in this way, the solder surfaces 4a, 5a have complicated shapes, so the solder surfaces 4a, 5a have complicated shapes.
It is difficult to uniformly brighten the entire area a, and it is not possible to accurately detect whether the soldering condition is good or bad. In addition, the illumination device 8 that uses a light cutting method that uses line light can detect the three-dimensional features of the solder surfaces 4a and 5a, but because of the line light, complex shape recognition is required, and it is necessary to scan the entire screen. It is necessary to capture and view the optically sectioned image, which takes time for inspection. Furthermore, since solder defects cannot be recognized unless the solder attachment position is fixed to some extent, it is difficult to deal with problems such as chip displacement.

目 的 本発明の目的は、上述の技術的課題を解決し、
被検出物体のはんだ付け状態等の光沢のある平坦
部、凹凸部を正確に、かつ容易に検出することが
できるようにした撮像用照明装置を提供すること
である。
Purpose The purpose of the present invention is to solve the above-mentioned technical problem,
An object of the present invention is to provide an imaging illumination device that can accurately and easily detect glossy flat parts and uneven parts such as soldered states of an object to be detected.

発明の構成 本発明は、被検出物体の真上付近で被検出物体
を中心として環状に配置され、その被検出物体に
向けて照射光を照射する第1光源と、 前記被検出物体よりも上方で、かつ第1光源よ
りも下方で、被検出物体を中心として環状に配置
され、被検出物体に向けて照射光を照射し、その
光度は第1光源寄りから被検出物体に近付くにつ
れて大きくなるように構成してある第2光源とを
含み、 第1光源および第2光源のそれぞれの光度を可
変自在とし、 被検出物体の真上付近の位置において被検出物
体を撮像する撮像手段を設けることを特徴とする
撮像用照明装置である。
Structure of the Invention The present invention includes: a first light source that is arranged in a ring shape with the detected object as the center near directly above the detected object and emits irradiation light toward the detected object; and above the detected object. and below the first light source, are arranged in a ring shape with the object to be detected as the center, and irradiate the irradiation light toward the object to be detected, the luminous intensity of which increases as it approaches the object to be detected from closer to the first light source. and a second light source configured as follows, the luminous intensity of each of the first light source and the second light source is freely variable, and an imaging means is provided for capturing an image of the object to be detected at a position near directly above the object to be detected. This is an imaging illumination device characterized by:

実施例 第3図は本発明の一実施例の断面図、第4図は
第3図の切断面線−から見た断面図、第5図
は第1保持部材9の展開図、第6図は第2保持部
材10の断面図である。印刷配線基板11の検査
されるべきリード線12とそのはんだ面13は、
被検出物体15である。後述の光フアイバ28と
光源29とは、第1光源を構成し、この第1光源
では、被検出物体の真上付近で、光フアイバ28
が第1保持部材9によつて保持されて被検出物体
15を中心として環状に配置され、被検出物体1
5に向けて照射光を照射する。第2光源は、後述
のように、光フアイバ20、光源21、高周波蛍
光灯22,23および拡散部材14によつて構成
される。被検出物体15よりも上方で、かつ上述
の第1光源よりも下方で、被検出物体15を中心
として、第2保持部材10によつて保持される光
フアイバ20と、蛍光灯22,23と、拡散部材
14とが環状に配置され、被検出物体15に向け
て照射光を照射する。この第2光源の光度は、第
1光源寄り(第3図の上方)から被検出物体15
に近付くにつれて(すなわち第3図の下方になる
につれて)、大きくなるように構成される。
Embodiment FIG. 3 is a sectional view of an embodiment of the present invention, FIG. 4 is a sectional view taken from the cutting plane line - in FIG. 3, FIG. 5 is a developed view of the first holding member 9, and FIG. 6 2 is a sectional view of the second holding member 10. FIG. The lead wires 12 and their solder surfaces 13 to be inspected on the printed wiring board 11 are as follows:
This is the object to be detected 15 . An optical fiber 28 and a light source 29, which will be described later, constitute a first light source, and in this first light source, the optical fiber 28
are held by the first holding member 9 and arranged in a ring shape with the detected object 15 as the center, and the detected object 1
The irradiation light is irradiated toward 5. The second light source includes an optical fiber 20, a light source 21, high frequency fluorescent lamps 22 and 23, and a diffusion member 14, as will be described later. Above the object to be detected 15 and below the first light source described above, an optical fiber 20 and fluorescent lamps 22 and 23 are held by the second holding member 10 with the object to be detected 15 as the center. , a diffusion member 14 are arranged in an annular manner, and irradiate the irradiation light toward the object 15 to be detected. The luminous intensity of this second light source varies from near the first light source (upper part of FIG. 3) to the detected object 15.
It is constructed so that it becomes larger as it approaches (that is, as it moves downward in FIG. 3).

駆動シヤツタ30は、第1光源および第2光源
のそれぞれの光度を可変自在とする。被検出物体
15は、その真上付近の位置において、撮像手段
である工業用テレビカメラ25,26によつて撮
像される。
The drive shutter 30 allows the luminous intensity of each of the first light source and the second light source to be varied. The detected object 15 is imaged by industrial television cameras 25 and 26, which are imaging means, at a position directly above it.

前記第2光源の構成についてさらに述べると、
被検出物体15はドーム状の拡散部材14によつ
て覆われる。この拡散部材14は、たとえばアク
リル樹脂などのような透光性材料から成る。拡散
部材14の被検出物体15の真上にあたる位置に
は、透孔16が形成される。拡散部材14は、ド
ーム状の遮光性カバー体17によつて覆われる。
拡散部材14の印刷配線基板11側に開放した下
端部14aおよびカバー体17の下端部17a
は、水平方向に延びる環状の底板18の連設され
る。この底板18上には、拡散部材14の外周面
14bを囲んで環状の第2保持部材10が固定さ
れる。第2保持部材10は、第6図に示されるよ
うに半径方向に延びる挿通孔19が全周にわたり
形成されており、この各挿通孔19に複数の光フ
アイバ20が個別的に挿通される。各光フアイバ
20の端面20aは、拡散部材14に臨んで配置
される。この光フアイバ20の基端部20bは、
カバー体17の外部に配置された光源21に臨ん
で配置される。第2保持部材10の上方、かつカ
バー体17の内方には、高周波電力によつて付勢
される環状の蛍光灯22,23が配置される。こ
の蛍光灯22,23によつてカバー体17内から
被検出物体15に向けて、斜め上方からその物体
15を中心とする周方向に均一な光度で拡散光が
得られる。ここで第2光源は、前述のように光源
21、光フアイバ20、蛍光灯22,23によつ
て構成される。
To further describe the configuration of the second light source,
The object to be detected 15 is covered by a dome-shaped diffusion member 14 . This diffusion member 14 is made of a translucent material such as acrylic resin. A through hole 16 is formed in the diffusion member 14 at a position directly above the object to be detected 15 . The diffusion member 14 is covered with a dome-shaped light-shielding cover body 17.
Lower end 14a of diffusion member 14 open to printed wiring board 11 side and lower end 17a of cover body 17
is connected to an annular bottom plate 18 extending in the horizontal direction. An annular second holding member 10 is fixed on the bottom plate 18 so as to surround the outer peripheral surface 14b of the diffusion member 14. As shown in FIG. 6, the second holding member 10 has insertion holes 19 extending in the radial direction formed over the entire circumference, and a plurality of optical fibers 20 are individually inserted into each insertion hole 19. The end surface 20a of each optical fiber 20 is arranged facing the diffusion member 14. The base end 20b of this optical fiber 20 is
It is arranged facing the light source 21 arranged outside the cover body 17. Above the second holding member 10 and inside the cover body 17, annular fluorescent lamps 22 and 23 that are energized by high frequency power are arranged. The fluorescent lamps 22 and 23 provide diffused light from inside the cover body 17 toward the object 15 to be detected with uniform luminous intensity in the circumferential direction around the object 15 from diagonally above. Here, the second light source is constituted by the light source 21, the optical fiber 20, and the fluorescent lamps 22 and 23 as described above.

カバー体17において、被検出物体15の真上
にあたる位置には、透孔24が形成され、この透
孔24および拡散部材14の前記透孔16を介し
て、工業用テレビカメラ25,26によつて、予
め定められた位置に置かれている被検出物体15
を撮像することができる。
A through hole 24 is formed in the cover body 17 at a position directly above the object to be detected 15, and the industrial television cameras 25 and 26 are provided through the through hole 24 and the through hole 16 of the diffusion member 14. Object 15 to be detected placed at a predetermined position
can be imaged.

第1光源についてさらに述べると、カバー体1
7の透孔24を囲む位置には、第4図に示される
環状の第1保持部材9が固定される。第1保持部
材9には、全周にわたり複数の挿通孔27が形成
され、この挿通孔27に第1光源を構成する複数
の光フアイバ28が個別的に挿通される。光フア
イバ28の第5図に示される各端面28aは、被
検出物体15に臨んで配置され、光フアイバ28
の基端部28bはカバー体17の外部に設けられ
た光源29に臨んで配置され、この光源29と前
記光源21とは、透過光量を調節するための半円
形状の不透明または半透明の遮光板30aを回転
する駆動シヤツタ30の切り換え動作によつて選
択的に光量調節をして光フアイバ28,20に光
が送られるように構成し、第1光源および第2光
源のそれぞれの光度を可変自在にしている。
To further describe the first light source, the cover body 1
An annular first holding member 9 shown in FIG. 4 is fixed at a position surrounding the through hole 24 of No. 7. A plurality of insertion holes 27 are formed around the entire circumference of the first holding member 9, and a plurality of optical fibers 28 constituting the first light source are individually inserted into the insertion holes 27. Each end face 28a of the optical fiber 28 shown in FIG.
The base end portion 28b is disposed facing a light source 29 provided outside the cover body 17, and the light source 29 and the light source 21 are formed into a semicircular opaque or translucent light-shielding device for adjusting the amount of transmitted light. The light intensity is selectively adjusted by the switching operation of the driving shutter 30 that rotates the plate 30a, and the light is sent to the optical fibers 28, 20, so that the luminous intensity of each of the first light source and the second light source is variable. I am free to do so.

被検出物体15と、拡散部材14の透孔16の
中心と、カバー体17の透孔24の中心とを結ぶ
鉛直線上には、工業用テレビカメラ25が配置さ
れ、その側方には工業用テレビカメラ26が配置
される。被検出物体15からの光は、被検出物体
15と工業用テレビカメラ25との間に介在され
たハーフミラー31に入射される。ハーフミラー
31からの直線光は、青色フイルタ32を介して
工業用テレビカメラ25の撮像レンズに入射され
る。また被検出物体15からのハーフミラー31
によつて直角に反射された一部の光は、反射ミラ
ー34によつて90度に屈曲されて、赤色フイルタ
35を介して工業用テレビカメラ26の撮像レン
ズに入射される。このように被検出物体15の像
を2台の工業用テレビカメラ25,26にフイル
タ分割することによつて、後述するような被検出
物体15のはんだ不足などのはんだ不良部分を区
別して検出することが可能となる。
An industrial television camera 25 is arranged on a vertical line connecting the object to be detected 15, the center of the through hole 16 of the diffusion member 14, and the center of the through hole 24 of the cover body 17, and an industrial television camera 25 is placed on the side thereof. A television camera 26 is arranged. Light from the object to be detected 15 is incident on a half mirror 31 interposed between the object to be detected 15 and the industrial television camera 25 . The straight light from the half mirror 31 is incident on the imaging lens of the industrial television camera 25 via the blue filter 32. Also, the half mirror 31 from the detected object 15
A part of the light reflected at a right angle by the mirror 34 is bent by 90 degrees and is incident on the imaging lens of the industrial television camera 26 via the red filter 35. By dividing the image of the object to be detected 15 into the two industrial television cameras 25 and 26 in this way, defective solder parts such as insufficient solder on the object to be detected 15 as described later can be distinguished and detected. becomes possible.

第7図は照明の分布状態を示す図であり、第8
図および第9図は水平拡散光と原理を示す図であ
る。第10図は第9図の拡散照明における撮像状
態を示す図であり、斜線部は、カメラ25,26
へ入射する光の量が少ない暗い部分である。光フ
アイバ20,28および高周波蛍光灯22,23
からの各光は、被検出物体15に向けて第7図に
示されるように照射される。第2光源の拡散部材
14内において、光フアイバ20および蛍光灯2
2,23からの光の強度ベクトルは、被検出物体
15に近付くにつれて大きくなる矢符Aで示され
るような拡散光であり、その水平方向と鉛直方向
との光度比は、たとえば10:1〜10:5に設定さ
れている。この光度比の分布は、蛍光灯22,2
3と、光フアイバ20との被検出物体15に対す
る位置関係と光強度で実現でき、拡散部材14で
光強度の変化を滑らかにしている。たとえば蛍光
灯23の光量を蛍光灯22よりも強くし、光フア
イバ20の光量を付加することにより、矢符Aの
ような分布が得られ、光度比は各照明の光量比を
変えることにより希望する値に設定できる。
FIG. 7 is a diagram showing the distribution state of illumination, and FIG.
This figure and FIG. 9 are diagrams showing horizontally diffused light and its principle. FIG. 10 is a diagram showing the imaging state in the diffused illumination of FIG.
This is a dark area where the amount of light entering the area is small. Optical fibers 20, 28 and high frequency fluorescent lamps 22, 23
The respective lights are irradiated toward the object to be detected 15 as shown in FIG. In the diffusion member 14 of the second light source, the optical fiber 20 and the fluorescent lamp 2
The intensity vector of the light from 2 and 23 is a diffused light as shown by the arrow A that increases as it approaches the detected object 15, and the luminous intensity ratio between the horizontal direction and the vertical direction is, for example, 10:1 to 1. It is set to 10:5. The distribution of this luminous intensity ratio is based on the fluorescent lamps 22, 2
3, the positional relationship of the optical fiber 20 with respect to the object to be detected 15, and the light intensity, and the diffusing member 14 smoothes the change in the light intensity. For example, by making the light intensity of the fluorescent lamp 23 stronger than that of the fluorescent lamp 22 and adding the light intensity of the optical fiber 20, a distribution as shown by arrow A can be obtained, and the luminous intensity ratio can be adjusted as desired by changing the light intensity ratio of each illumination. The value can be set to

また、第1光源の光フアイバ28からの光の強
度ベクトルは矢符A′で示されるようなほぼ鉛直
方向の落射光である。
Further, the intensity vector of the light from the optical fiber 28 of the first light source is substantially vertically incident light as shown by arrow A'.

ここで第1光源のときは、A′の光量が主体で
あり、Aの光量のうち光フアイバ20の光は、駆
動シヤツタ30で遮断ないしは弱められ、蛍光灯
22,23は高周波電力の付勢を調整することに
よつて、光量を調整してある。
Here, when the first light source is used, the light amount of A' is the main one, and of the light amount of A, the light from the optical fiber 20 is blocked or weakened by the drive shutter 30, and the fluorescent lamps 22 and 23 are activated by high frequency power. The amount of light is adjusted by adjusting .

また、第2光源のときは、Aの光量が主体であ
り、A′の光量は、駆動シヤツタ30で光フアイ
バ28の光量を遮断ないしは弱められるため、小
さな値となる。
Further, when the second light source is used, the light amount of A is the main one, and the light amount of A' is a small value because the light amount of the optical fiber 28 is blocked or weakened by the drive shutter 30.

一般に被検出物体15のはんだ面13におい
て、第8図に示されるようにその傾斜角θ1が45度
未満である部分は矢符Bで示されるように正反射
の光が返るような角度で光を照射することが可能
なため、少ない光量でも明るく見えるが、第9図
に示されるように傾斜角θ2が45度以上である部分
は矢符B″で示されるように光が上方に配置した
工業用テレビカメラ25,26に向けて大きな光
度では反射されず、したがつて第10図に示され
るようにはんだ面13の斜線部分が暗く見えるこ
ととなる。このようなはんだ面13の斜線部分は
鏡面に近く、真上に反射する光の量は極めて少な
い。そこで第7図の矢符Aで示されるように、第
2光源による、水平方向の拡散光になるにつれて
すなわち物体15に近付くにつれて、光度を強く
設定することによつて、はんだ面13が傾斜角45
度以上の場合であつても、第9図の矢符B″のカ
メラ25,26方向への拡散光の大きさを増大す
ることで、傾斜角θ2が45度以上のはんだ付の部分
も明るく撮像することができる。なお、第8図の
矢符B′で示されるように二重反射光量をも増大
させ、カメラ25,26への入射光量を増やすこ
とができる。
Generally, on the solder surface 13 of the object to be detected 15, as shown in FIG. Because it is possible to illuminate the area, it looks bright even with a small amount of light. However, as shown in Figure 9, in areas where the inclination angle θ2 is 45 degrees or more, the light is placed upwards as shown by arrow B''. It is not reflected with a large luminous intensity toward the industrial television cameras 25 and 26, and therefore the shaded area of the solder surface 13 appears dark as shown in FIG. 10. Such a shaded area of the solder surface 13 is close to a mirror surface, and the amount of light reflected directly above is extremely small.Therefore, as shown by arrow A in FIG. , by setting the luminous intensity strongly, the solder surface 13 has an inclination angle of 45
Even if the angle of inclination θ2 is more than 45 degrees, by increasing the magnitude of the diffused light toward the cameras 25 and 26 indicated by arrow B'' in Fig. 9, the soldered part where the inclination angle θ2 is more than 45 degrees will be brightened. Furthermore, as shown by arrow B' in FIG. 8, the amount of double reflected light can also be increased to increase the amount of light incident on the cameras 25 and 26.

第11図1に断面が示されるブローホール3
6、第12図1に断面が示されるリード孔ふさが
り、第13図1に断面が示される近接、第14図
に平面が示されるチツプずれをそれぞれ検出する
にあたつては第2光源を用いる。第11図2、第
12図2、第13図2および第14図の各平面図
において、暗い部分には斜線を施して示す。この
とき工業用テレビカメラ25,26ではんだ面1
3を見たとき、はんだ面13の輪郭がはつきり現
れ、第11図2、第12図2で示されるようにブ
ローホール36が暗くなり、リード孔ふさがり3
7の部分が明るくなる。第2光源を用いた場合
は、正常なはんだ付けのとき、はんだ面13は全
部明るくなり、穴部分は暗くなるため、暗い部分
の形状・面積等を画像処理によつて抽出すれば、
ブローホール不良、リード孔ふさがり不良を検出
することができる。また同様に、第13図1に示
される近接、第14図で示すチツプずれについて
は、はんだ面13の近接距離d1、被検出物体1
5のずれ量d2を画像処理により測定し、近接不
良、チツプずれ不良を検出することが可能であ
る。この第14図において、参照符50,51,
52は銅箔から成るランドであり、チツプ部品5
5はランド50,51にはんだ付けされるべき端
子53,54を有する。
Blowhole 3 whose cross section is shown in FIG. 11
6. The second light source is used to detect blockage of the lead hole, whose cross section is shown in Figure 12, Figure 1, proximity, whose cross section is shown in Figure 1, and chip displacement, whose plane is shown in Figure 14. . In each plan view of FIG. 11, FIG. 12, FIG. 13, FIG. 2, and FIG. 14, dark portions are indicated by diagonal lines. At this time, the industrial television cameras 25 and 26
3, the outline of the solder surface 13 is clearly visible, the blowhole 36 becomes dark as shown in FIG. 11 2 and FIG. 12 2, and the lead hole 3 is blocked.
The part numbered 7 becomes brighter. When the second light source is used, during normal soldering, the entire solder surface 13 becomes bright and the hole part becomes dark, so if the shape, area, etc. of the dark part are extracted by image processing,
It is possible to detect blowhole defects and lead hole blocking defects. Similarly, regarding the proximity shown in FIG. 13 and the chip deviation shown in FIG.
It is possible to measure the deviation amount d2 of No. 5 by image processing and detect a proximity defect or a chip misalignment defect. In this FIG. 14, reference numerals 50, 51,
52 is a land made of copper foil, and the chip component 5
5 has terminals 53 and 54 to be soldered to lands 50 and 51.

第15図1に断面が示されるはんだ不足39,
40、第16図1に断面が示される銅面41,4
2の露出、第17図1に断面が示されるはんだ過
剰部分43をそれぞれ検出するにあたつては第1
光源を用いる。このようにはんだ面13を鉛直方
向の落射光を照射することによつて平坦部が明る
く光り、工業用テレビカメラ25,26ではんだ
面13を見た場合、第15図2、第16図2、第
17図2に平面が示されるように、はんだ不足部
分39,40、銅面露出部分41,42、はんだ
過剰部分43の各部分が明るくなり、この明るい
部分の形状・面積を画像処理により測定すれば良
品のはんだ面と区別することが可能となる。銅面
露出部分41,42は、前記青色フイルタ32、
赤色フイルタ35の働きによつて赤色画像と青色
画像に分離し、この両画像の差から銅色部分を抽
出することで検出できる。またはんだ過剰は、第
17図2のようにランド中央部における明部43
が大きく現れることによつて、検出が可能とな
る。
Solder shortage 39, the cross section of which is shown in FIG.
40, 16. Copper surface 41, 4 whose cross section is shown in FIG.
2 and 17. In detecting the excess solder portion 43 whose cross section is shown in FIG.
Use a light source. By irradiating the solder surface 13 with vertical reflected light in this way, the flat part shines brightly, and when the solder surface 13 is viewed with industrial television cameras 25 and 26, the solder surface 13 is shown in FIGS. 15-2 and 16-2. As shown in the plane in FIG. 17, the solder deficient areas 39 and 40, the copper exposed areas 41 and 42, and the solder excess area 43 become brighter, and the shape and area of these bright areas are determined by image processing. By measuring it, it is possible to distinguish it from a good solder surface. The copper surface exposed portions 41 and 42 are the blue filter 32,
It can be detected by separating the red image into a red image and a blue image by the action of the red filter 35, and extracting the copper color portion from the difference between the two images. Excessive solder is caused by the bright area 43 in the center of the land as shown in FIG.
Detection becomes possible when it appears large.

このように駆動シヤツタ30の切り換え動作を
高速に行うことにより、第1光源による鉛直方向
の落射光、第2光源による水平方向の拡散光を被
検出物体15に選択的に光量調節をして照射する
ことにより、被検出物体15のはんだ面13の不
良検出等を確実に行うことができる。
By performing the switching operation of the drive shutter 30 at high speed in this manner, the vertically reflected light from the first light source and the horizontally diffused light from the second light source are selectively irradiated onto the object to be detected 15 with the light intensity adjusted. By doing so, it is possible to reliably detect defects in the solder surface 13 of the object to be detected 15.

前述の実施例では、中間照明として高周波電力
によつて付勢される蛍光灯22,23を用いたけ
れども、光フアイバを用いるような構成にしても
よい。また拡散部材14は、乳白色のアクリル樹
脂に限定されず、たとえば乳白色以外の擦りガラ
スなどであつてもよい。
In the above-described embodiment, fluorescent lamps 22 and 23 energized by high-frequency power were used as intermediate illumination, but an optical fiber may also be used. Further, the diffusion member 14 is not limited to milky white acrylic resin, and may be made of, for example, frosted glass other than milky white.

効 果 本発明によれば、第1光源の落射光により、被
検出物体の平坦部を、また第2光源の光により、
被検出物体の光沢のある凹凸面を、精度良く検出
し、かつ第1光源と第2光源のそれぞれの光度を
変化することによつて、被検出物体のはんだ面等
の多種の不良状態を確実に検査することなどが可
能となる。
Effects According to the present invention, the flat part of the object to be detected is detected by the reflected light from the first light source, and the flat part of the object is detected by the light from the second light source.
By accurately detecting the shiny, uneven surface of the object to be detected and by changing the luminous intensity of the first and second light sources, it is possible to detect various types of defects such as the solder surface of the object. This makes it possible to conduct inspections.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図および第2図は先行技術を説明するため
の図、第3図は本発明の一実施例の断面図、第4
図は第3図の切断面線−から見た断面図、第
5図は第1保持部材9の展開図、第6図は第3図
の切断面線−から見た断面図、第7図は光フ
アイバ20,28および蛍光灯22,23の各照
明の強度分布を示す図、第8図および第9図は水
平方向の拡散光の原理を示す図、第10図は第9
図の撮像状態を示す図、第11図1はブローホー
ル36を示す断面図、第11図2はそのブローホ
ール36を示す平面図、第12図1はリード孔ふ
さがりを示す断面図、第12図2はリード孔ふさ
がりを示す平面図、第13図1はんだ面13の近
接状態を示す断面図、第13図2ははんだ面13
の近接を示す平面図、第14図は被検出物体15
のずれを示す図、第15図1ははんだ不足を示す
断面図、第15図2ははんだ不足を示す平面図、
第16図1は銅面の露出状態を示す断面図、第1
6図2は銅面の露出状態を示す平面図、第17図
1ははんだ過剰の状態を示す断面図、第17図2
ははんだ過剰の状態を示す平面図である。 1,11……印刷配線基板、6,25,26…
…工業用テレビカメラ、9……第1保持部材、1
0……第2保持部材、13……はんだ面、14…
…拡散部材、15……被検出物体、20,28…
…光フアイバ。
1 and 2 are diagrams for explaining the prior art, FIG. 3 is a sectional view of an embodiment of the present invention, and FIG.
The figures are a sectional view taken from the cutting plane line - in Fig. 3, Fig. 5 is a developed view of the first holding member 9, Fig. 6 is a sectional view taken from the cutting plane line - in Fig. 3, and Fig. 7. 8 and 9 are diagrams showing the principle of horizontally diffused light, and FIG.
11 is a cross-sectional view showing the blowhole 36, FIG. 11 is a plan view showing the blowhole 36, and FIG. 12 is a cross-sectional view showing the blockage of the lead hole. 2 is a plan view showing how the lead hole is blocked, FIG. 13 is a sectional view showing the proximity of the solder surface 13 in FIG. 13, and FIG.
14 is a plan view showing the proximity of the detected object 15.
15 is a cross-sectional view showing solder shortage, and FIG. 15 2 is a plan view showing solder shortage.
FIG. 16 1 is a cross-sectional view showing the exposed state of the copper surface.
6. Figure 2 is a plan view showing the exposed state of the copper surface, Figure 17.1 is a sectional view showing the state of excess solder, and Figure 17.2.
1 is a plan view showing a state of excess solder; FIG. 1, 11...Printed wiring board, 6, 25, 26...
...Industrial TV camera, 9...First holding member, 1
0...Second holding member, 13...Solder surface, 14...
...Diffusion member, 15... Object to be detected, 20, 28...
...optical fiber.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 被検出物体の真上付近で被検出物体を中心と
して環状に配置され、その被検出物体に向けて照
射光を照射する第1光源と、 前記被検出物体よりも上方で、かつ第1光源よ
りも下方で、被検出物体を中心として環状に配置
され、被検出物体に向けて照射光を照射し、その
光度は第1光源寄りから被検出物体に近付くにつ
れて大きくなるように構成してある第2光源とを
含み、 第1光源および第2光源のそれぞれの光度を可
変自在とし、 被検出物体の真上付近の位置において被検出物
体を撮像する撮像手段を設けることを特徴とする
撮像用照明装置。
[Scope of Claims] 1. A first light source arranged in a ring shape with the detected object as the center near the detected object, and irradiating light toward the detected object, and above the detected object. and below the first light source, are arranged in a ring shape with the object to be detected as the center, and irradiate the irradiation light toward the object to be detected, the luminous intensity of which increases as it approaches the object to be detected from closer to the first light source. and a second light source configured as follows, the luminous intensity of each of the first light source and the second light source is freely variable, and an imaging means is provided for capturing an image of the object to be detected at a position near directly above the object to be detected. An imaging illumination device characterized by:
JP59107097A 1984-05-25 1984-05-25 Illuminating device Granted JPS60250783A (en)

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