JPH0294676A - 超電導素子 - Google Patents

超電導素子

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JPH0294676A
JPH0294676A JP63246809A JP24680988A JPH0294676A JP H0294676 A JPH0294676 A JP H0294676A JP 63246809 A JP63246809 A JP 63246809A JP 24680988 A JP24680988 A JP 24680988A JP H0294676 A JPH0294676 A JP H0294676A
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福島 伸
Hiromi Nibu
丹生 ひろみ
Takeshi Ando
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    • Y02E40/60Superconducting electric elements or equipment; Power systems integrating superconducting elements or equipment

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  • Superconductors And Manufacturing Methods Therefor (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) 本発明は、酸化物超電導体を用いた超電導素子に関する
(従来の技術) 近年、Ba−La−Cu−0系の層状ペロブスカイト型
の酸化物が高い臨界温度を有する可能性のあることが発
表されて以来、各所で酸化物超電導体の研究が行われて
いる(Z、Phys、B Condensed Mat
ter84.189−193(19869)、PCT国
際公開1088705029)。
その中でもY−Ba−Cu−0系で代表される酸素欠陥
を有する欠陥ペロブスカイト型(REBa2cu3o 
7−δ、ただし、REは、Y s Las Nd、 S
s、Eu5Gd、 Tbs Dy5Ho、 Er、 T
mおよびYbから選ばれた1種以上の希土類元素。Ba
の一部はSr等で置換可能。δは酸素欠陥を示し通常1
以下の数。以下同じ。)で表わされる酸化物超電導体は
、臨界温度が90に以上と液体窒素以上の高い温度を示
すため非常に有望な材料として注目されている( Ph
ys、Rev、Lett、Vol、5gNo、9,90
8−910)。
ところで、トンネル効果を利用した超電導素子は、超高
速動作が可能で消費電力も僅かであるため、コンピュー
タの論理素子やメモリ素子等のデジタルデバイスへの応
用が進められている。そして、Nb/AI    /N
b接合やNbN/ MgO/NbN接xide 合等を用いた4ビット乗算器、3にゲートアレイ等が試
作されている。また、超電導体−半導体素子として超電
導3端子素子が試作されているが、これらの素子はいず
れも臨界温度が低い超電導体からなり、液体ヘリウムを
冷媒として用いるため、周辺技術の開発や経済性の問題
等から実用化には至っていない。
このため、高い臨界温度を有する酸化物超電導体を前述
の超電導素子に応用することが検討されているが、酸化
物超電導体と電気絶縁物薄層との整合性が悪いためその
解決が望まれていた。
すなわち、酸化物超電導体を用いて例えばジョセフソン
接合素子を製造する場合、ジョセフソン接合における電
気絶縁層の格子定数、熱膨脹係数などが酸化物超電導体
層のそれと相違すると良好な単結晶膜が再現性良く得ら
れず、また、絶縁体層と酸化物超電導体層が不整合であ
ると界面準位の発生をもたらし、ジョセフソン接合の特
性を大きく劣化させるという問題があり、その解決が望
まれていた。
さらに、薄膜形成用の基板としては、現在、MgO,5
rTIOa等が用いられているが、これらの基板は格子
定数、熱膨脹係数が酸化物超電導体のそれと相違するた
め、良好な単結晶膜が再現性良く得られないという問題
があった。
(発明が解決しようとする課題) 本発明はかかる問題を解決すべくなされたもので、式R
EBa  Cu  Oで表わされる酸化物超237−δ 電導体層と接する電気絶縁物の薄層または酸化物超電導
体層形成用の基板として、REBa2Cua07〜.と
同一の結晶構造を有し、格子定数、熱膨脹係数がほぼ等
しい酸化物電気絶縁体を使用することにより、層間また
は基板と酸化物超電導体層間の不整合を解消させて、上
記問題のない超電導素子を提供することを目的とする。
[発明の構成] (課題を解決するための手段) すなわち、本発明の超電導素子は、式 1式% (ただし、REは、Y 5Las Nd5SI1% E
u%Gd%TbqDy、 llo、 Er、T11およ
びybから選ばれた希土類元素。
以下同じ。)で表わされる酸化物超電導体層上に電気絶
縁物の薄層が介在する接合部を有する超電導素子、例え
ば電気絶縁物の薄層上に、他の超電導体層を形成し、ト
ンネル効果により前記電気絶縁物の薄層を通じて前記画
題電導体層間に電圧を発生させずに電流を流すような超
電導素子において、前記電気絶縁物の薄層または前記酸
化物超電導体層を形成する基板を、式 %式% (ただし、0.8≦X≦1゜以下同じ。)で表わされる
酸化物を用いたことを特徴としている。
本発明の超電導素子は、真空蒸着法、マグネトロンスパ
ッタ法、イオンビームスパ・ツタ法、クラスタイオンビ
ーム法、分子線エピタキシ法等の物理蒸着法や、CVD
、プラズマCVD等の化学気相蒸着法により、たとえば
トンネル接合型のジョセフソン素子の場合は、基板上に
酸化物超電導体層、トンネルバリア層および酸化物超電
導体層を順次積層することにより、得ることができる。
また接合部は超電導体−超電導体に限らず、素子物性を
発揮する例えば超電導体−メタル等の接合であってもよ
い。
このとき、基板としてREBa、xLaxCu307−
δを用いることにより、この上にREBa2Cu3o 
7−δを成長させる際、このREBa  Cu  Oが
基板に237−δ 対しエピタキシャルに成長し方位の揃った膜を容易に得
ることができる。また、電気絶縁物の薄層としてREB
a   La  Cu  Oを形成した場合に2−X 
 x  3 7−δ は、REBa  Cu  O上にREBa2−xLax
Cu307−237−δ 、を成長させる際、およびRE B a 2−x L 
a X Cu 307 、、。
、上にREBa  Cu  Oを成長させる際に、それ
2  3  7−δ ぞれ各層はその下の層に対してエピタキシャルに成長し
同様に方位の揃った膜を容易に得ることができる。
このときの各層の厚さは、酸化物超電導体層は超電導特
性を示す厚さ、すなわち概ね1000Å以上、トンネル
バリア層の厚さはトンネル効果を阻害しない厚さ、すな
わちlO〜 100人とすることが好ましい。
本発明の酸化物超電導素子は、各物質層を形成した後、
必要に応じて酸素含有雰囲気中400〜900℃で熱処
理し、酸化物超電導体の酸素空席に酸素を導入して超電
導特性を向上させる。
このようにして得られたREBa  Cu  O層は、
237−δ 酸素欠陥δを有する酸素欠陥型ペロブスカイト構造とな
る。なお、BaをS「、Caの少なくとも 1種で置換
することもでき、さらにCuの一部をTI、  V。
CrSMn5Pe、 Co、N1.、Zn等で置換する
こともできる。この置換量は、超電導特性を低下させな
い程度の範囲で適宜設定可能であるが、あまりに多量の
置換は超電導特性を低下させてしまうので30m01%
以下さらに実用上は20脂01%以下程度までとする。
本発明において、基板または電気絶縁物の薄層を構成す
る YBa   La  Cu  Oは、REBa22
−x    x    3   7−δCu  Oと同
一結晶構造を有しており、したがって熱膨脹係数も近似
している。なお、その格子定数は、REBa  Cu 
 Oがa−3,82、b−3,85,237−δ c−11,86であるのに対して、YBa2−xLaX
Cu30  は、a=3.86、b−3,86、c=1
1.60である。
7−δ また、REBa  Cu  OおよびREBa2−、 
Lax2  3  7−δ Cu  Oの原子組成は厳密に上記式通りである37−
δ 必要はなく、それぞれの特性が発現する範囲で多少上記
式の組成から外れていてもよい。
また、基板と電気絶縁物の薄層のいずれもREBa  
Cu  Oで構成することが望ましいが、い237−δ ずれか一方のみをREBa  Cu  Oで構成するよ
237−δ うにしてもよい。
本発明の超電導素子は、上記したジョセフソン素子の他
、超電導3端子素子や高感度磁気センサ等にも適用可能
である。
(作 用) 本発明においては、基板または電気絶縁物の薄層を、R
EBa  Cu  Oと同一結晶構造のREBa237
−δ 2−x LaxCua O7−δで形成したので、スパ
ッタ等によりREBa   La  Cu  O基板上
にRE B a 22−x    X    3   
7−δCu  O層を成長させる際、あるいREBa2
Cua3  7−δ θ  層上にREBa   La  Cu  Oの薄膜
を形7−δ     2−x  x  3 7−δ成す
る際、各層はそれぞれ基板または下の層に対してエピタ
キシャルに成長し、したがって基板の方位を選定するこ
とにより任意の方位をもった大面積の単結晶膜を容易に
得ることが可能となり層間の不整合のない超電導素子を
得ることができろうこのように発明の超電導素子は、基
板や電気絶縁物の薄層が、酸化物超電導体と同一の結晶
構造を有するので、格子定数、熱膨脹係数の不整合がな
い。
したがって、本発明の酸化物超電導体超電導素子は、ジ
ョセフソン素子、超電導3端子素子あるいは高感度磁気
センサ等の用途において優れた特性を発揮することがで
きる。
(実施例) 次に本発明の実施例について説明する。
実施例1 基板として、YBaLaCu  O単結晶を用いて、3
7−δ そのC面上にスパッタにより YBa  Cu  Oを
2μmのNuに成長させ、さらに、この上にスパッタに
より YBaLaCu  Oを厚さ 100人に成長3
7−δ させて電気絶縁体層とした。これを酸素気流中で400
℃×24時間保持した後、この上にpbを堆積してジョ
セフソン接合を形成した。次にこの特性を4.2Kにお
いて評価したところ、良好なトンネルジョセフソン現象
が観測された。また、このとき基板を介してのリーク電
流はほぼ0であった。
比較例1 基板として、YBa  Cu  O単結晶を用い、23
7−δ 実施例1と同様にジョセフソン接合を形成し同じ条件で
熱処理を施した。この特性を実施例1と同じ条件下で評
価したところ、ジョセフソン現象の観測は得られたもの
の、基板も測定温度において超電導特性を示したため、
同一基板上にある他の素子との絶縁は不可能であった。
実施例2 基板として、YBaLaCu  O単結晶を用いて、3
7−δ そのC面上にスパッタにより YBa  Cu  Oを
2μ腸の薄膜に成長させ、次いでこの上にスパッタによ
り YBaLaCu  Oを厚さ 100人に成長さ3
  7−δ せて電気絶縁体層とし、さらにこの電気絶縁体層上にY
Ba  Cu  Oを2μlの薄膜に成長させ237−
δ てジョセフソン接合を形成した。これを酸素気流中で4
00℃X24時間保持した後、このジョセフソン素子の
特性を80にで評価したところ、良好なトンネルジョセ
フソン現象が観測された。また、このとき基板を介して
のリーク電流はほぼOであった。
比較例2 絶縁層として06 YBa2Cu306を低酸素分圧中
で堆積した以外は実施例2と同じ条件で、ジョセフソン
接合を作製した。
これに実施例2と同様の熱処理を施したところ、成膜部
分全体が超電導となり、ジョセフソン特性は得られなか
った。
比較例3 絶縁層として810゜を用いた以外は実施例2と同様に
してジョセフソン接合を形成した。
これに実施例2と同様の熱処理を施した後、60にで特
性を評価したところ、超電導体−絶縁体層界面準位の発
生により、トンネルジョセフソン特性は得られなかった
[発明の効果〕 以上説明したように、本発明の酸化物超電導素子は、基
板または電気絶縁物の薄層を、REBa2Cu307−
6と同一結晶構造のREBa2−xl、a、 Cu30
7−δで形成したので、スパッタ等によりREBaz−
xLaX ”301−5基板上にREBa  Cu  
O層を成長2  3  7−δ させる際、あるいREBa  Cu  O層上にREB
a2−2  3  7−δ 工La ! Cu 30□−8の薄膜を形成する際、各
層はそれぞれ基板または下の層に対してエピタキシャル
に成長し、したがって基板の方位を選定することにより
任意の方位をもった大面積の単結晶膜を容易に得ること
が可能となり、層間の不整合のない超電導素子を得るこ
とができる。
出願人     株式会社 東芝

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)式 REBa_2Cu_3O_7_−_δ (ただし、REは、Y、La、Nd、Sm、Eu、Gd
    、Tb、Dy、Ho、Er、TmおよびYbから選ばれ
    た希土類元素。 以下同じ。)で表わされる酸化物超電導体層上に電気絶
    縁物の薄層が介在する接合部を有する超電導素子におい
    て、 前記電気絶縁物の薄層を、式 REBa_2_−_xLa_xCu_3O_7_−_δ
    (ただし、0.6≦x≦1。以下同じ。) で表わされる酸化物により形成したことを特徴とする超
    電導素子。
  2. (2)基板上に、式 REBa_2Cu_3O_7_−_δ で表わされる酸化物超電導体層を形成し、この酸化物超
    電導体層上に、接合部を形成させる超電導素子において
    、 前記基板を、式 REBa_2_−_xLa_xCu_3O_7_−_δ
    で表わされる酸化物により形成したことを特徴とする超
    電導素子。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0513832A (ja) * 1991-07-02 1993-01-22 Sumitomo Electric Ind Ltd 超電導装置の作製方法

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JPS63306676A (ja) * 1987-06-08 1988-12-14 Matsushita Electric Ind Co Ltd ジョセフソン素子
JPH0278282A (ja) * 1988-09-14 1990-03-19 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> ジヨセフソン素子

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