JPH0291928A - 気相成長方法及びその装置 - Google Patents
気相成長方法及びその装置Info
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- JPH0291928A JPH0291928A JP24690188A JP24690188A JPH0291928A JP H0291928 A JPH0291928 A JP H0291928A JP 24690188 A JP24690188 A JP 24690188A JP 24690188 A JP24690188 A JP 24690188A JP H0291928 A JPH0291928 A JP H0291928A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概要〕
光照射による化学気相成長(光CVD)法に関し。
基板上に低汚染で効率よく成膜ができるようにすること
を目的とし。
を目的とし。
基板上に反応ガスを導入し且つ光を照射して該基板上に
成膜するに際し、該基板を加熱した後室温以下の温度に
冷却した状態で反応ガスを流し。
成膜するに際し、該基板を加熱した後室温以下の温度に
冷却した状態で反応ガスを流し。
光照射を行うように構成する。又は、光照射窓(10)
と排気口(8)を持つ反応室(1)と、該排気口に接続
する排気系と、゛核反応室内に設けられて被成長基板を
載せる基板ホルダ(3)と、該基板ホルダの加熱手段(
4)と、該基板ホルダの冷却手段(5)と、該反応室内
に設けられて該基板ホルダを覆う主反応室(12)と、
該基板ホルダ上において該主反応室を開閉するバルブ(
13)と、該主反応室に導入する反応ガス導入管(14
)と、該主反応室より導出し排気系に接続する反応ガス
導出管(15)と。
と排気口(8)を持つ反応室(1)と、該排気口に接続
する排気系と、゛核反応室内に設けられて被成長基板を
載せる基板ホルダ(3)と、該基板ホルダの加熱手段(
4)と、該基板ホルダの冷却手段(5)と、該反応室内
に設けられて該基板ホルダを覆う主反応室(12)と、
該基板ホルダ上において該主反応室を開閉するバルブ(
13)と、該主反応室に導入する反応ガス導入管(14
)と、該主反応室より導出し排気系に接続する反応ガス
導出管(15)と。
該反応ガス導出管の途中に設けられた反応ガス導出バル
ブ(15A)とを有するように構成する。
ブ(15A)とを有するように構成する。
本発明は光CVD方法及びその装置に関する。
半導体デバイス作製に、半導体基板上に光CVOにより
薄膜を形成するプロセスが用いられているが、近年、電
子蓄積リングよりのシンクロトロン放射(SOR)光を
光源として用いた光CVD法が開発されている。
薄膜を形成するプロセスが用いられているが、近年、電
子蓄積リングよりのシンクロトロン放射(SOR)光を
光源として用いた光CVD法が開発されている。
SOROR光査源いた光CVD法は気相分子を短波長光
(10〜200nm)で内殻電子を励起させ、活性化さ
せた後、薄膜を形成させるもので、短波長で且つ間強度
の光源により反応が促進されることから、半導体プロセ
スの将来技術として注目されている。
(10〜200nm)で内殻電子を励起させ、活性化さ
せた後、薄膜を形成させるもので、短波長で且つ間強度
の光源により反応が促進されることから、半導体プロセ
スの将来技術として注目されている。
更に、 SOR光CVD法は従来のCVD法に比べて、
低温で、低汚染のプロセスが可能である。
低温で、低汚染のプロセスが可能である。
光CVD法においては、基板表面を活性化するため、基
板加熱を行うのが通例であった。ところが基板温度を上
げると1表面に吸着した反応分子は脱離する方向へと進
む。
板加熱を行うのが通例であった。ところが基板温度を上
げると1表面に吸着した反応分子は脱離する方向へと進
む。
反応分子と基板表面とが接触し、固着することにより反
応は進むが1反応分子が脱離する方向へと進むと9反応
が阻害され成膜が困難となる。
応は進むが1反応分子が脱離する方向へと進むと9反応
が阻害され成膜が困難となる。
本発明はSOR光CVD法において、低汚染で効率よく
成膜ができる方法及び装置を得ることを目的とする。
成膜ができる方法及び装置を得ることを目的とする。
上記課題の解決は、基板上に反応ガスを導入し且つ光を
照射して該基板上に成膜するに際し、該基板を加熱した
後室温以下の温度に冷却した状態で反応ガスを流し、光
照射を行う気相成長方法により、又は、光照射窓(10
)と排気口(8)を持つ反応室(1)と、該排気口に接
続する排気系と、該反応室内に設けられて被成長基板を
載せる基板ホルダ(3)と、該基板ホルダの加熱手段(
4)と、該基板ホルダの冷却手段(5)と、該反応室内
に設けられて該基板ホルダを覆う主反応室(12)と、
該基板ホルダ上において該主反応室を開閉するバルブ(
13)と、該主反応室に導入する反応ガス導入管(14
)と、該主反応室より導出し排気系に接続する反応ガス
導出管(15)と、該反応ガス導出管の途中に設けられ
た反応ガス導出バルブ(15^)とを有する気相成長装
置により達成される。
照射して該基板上に成膜するに際し、該基板を加熱した
後室温以下の温度に冷却した状態で反応ガスを流し、光
照射を行う気相成長方法により、又は、光照射窓(10
)と排気口(8)を持つ反応室(1)と、該排気口に接
続する排気系と、該反応室内に設けられて被成長基板を
載せる基板ホルダ(3)と、該基板ホルダの加熱手段(
4)と、該基板ホルダの冷却手段(5)と、該反応室内
に設けられて該基板ホルダを覆う主反応室(12)と、
該基板ホルダ上において該主反応室を開閉するバルブ(
13)と、該主反応室に導入する反応ガス導入管(14
)と、該主反応室より導出し排気系に接続する反応ガス
導出管(15)と、該反応ガス導出管の途中に設けられ
た反応ガス導出バルブ(15^)とを有する気相成長装
置により達成される。
本発明は基板を一旦加熱して表面を活性化した後、従来
のCVD法とは逆に液体窒素等で冷却して基板表面に反
応ガスを積極的に吸着させたところで光を照射するよう
にして反応促進をはかったものである。
のCVD法とは逆に液体窒素等で冷却して基板表面に反
応ガスを積極的に吸着させたところで光を照射するよう
にして反応促進をはかったものである。
例えば、モノシラン(SiH,)ガスに珪素(Si)の
内殻電子を励起させるレベルの短波長光1)を照射する
と、 SiH2,5il(3,5iHISiH等の活性
中間体を生じながら、多数の反応過程が連鎖的に起こり
、壁面にStが堆積する。
内殻電子を励起させるレベルの短波長光1)を照射する
と、 SiH2,5il(3,5iHISiH等の活性
中間体を生じながら、多数の反応過程が連鎖的に起こり
、壁面にStが堆積する。
=般に光による分子の励起状態の寿命はIQ−I 2秒
といわれ、上記の反応は爆発的に起こる2)従って、基
板表面付近のガスの濃度が高い方が堆積反応は効果的に
起こると考えられる。
といわれ、上記の反応は爆発的に起こる2)従って、基
板表面付近のガスの濃度が高い方が堆積反応は効果的に
起こると考えられる。
基板表面に吸着した5il14がSi膜となるまでの反
応過程は1次のようであると考えられる3)SiH4+
hν→5iHz”2 H+H+5i11.→ 11□
+5il13゜Sin、+wall−+ 5olid
。
応過程は1次のようであると考えられる3)SiH4+
hν→5iHz”2 H+H+5i11.→ 11□
+5il13゜Sin、+wall−+ 5olid
。
1) Stの軌道電子のエネルギ準位は次のとおりで
ある。
ある。
2p : 99 eV (13nm)2s :
150 eV (8,3nm)is : 1
839 eV (0,69nm)2)、3) 日本電
子工業振興協会。
150 eV (8,3nm)is : 1
839 eV (0,69nm)2)、3) 日本電
子工業振興協会。
新電子材料に関する調査研究報告xn
光励起プロセス技術調査報告2゜
〔実施例〕
第1図は本発明の方法の一実施例を説明する光CVD装
置の模式図である。
置の模式図である。
図において、1は反応室、2は被成長基板、3は基板ホ
ルダ、4は基板加熱用ヒータ、5は基板冷却用配管、6
は反応ガス導入管、7は反応ガスシャワー、8は排気口
、9はゲートバルブ、10は光照射窓でSOR光導入0
.11はSOR光である。
ルダ、4は基板加熱用ヒータ、5は基板冷却用配管、6
は反応ガス導入管、7は反応ガスシャワー、8は排気口
、9はゲートバルブ、10は光照射窓でSOR光導入0
.11はSOR光である。
装置は光源側と反応室側とがSOR光導入口lOを介し
て差動排気系を構成している。又、排気系は図示されな
いが、メカニカルブースタポンプとロータリポンプで構
成される。
て差動排気系を構成している。又、排気系は図示されな
いが、メカニカルブースタポンプとロータリポンプで構
成される。
基板ホルダ3はヒータ4により加熱でき、配管5に液体
窒素等を流して冷却できるようになっている。
窒素等を流して冷却できるようになっている。
まず、被成長基板2として1例えばSi基板を基板ホル
ダ3上に置き、500〜600℃に加熱して表面に吸着
しているガスを飛ばして除去する。
ダ3上に置き、500〜600℃に加熱して表面に吸着
しているガスを飛ばして除去する。
その後、液体窒素を配管5に流し基板2を冷却する。
次いで、 SiH4ガスを反応ガス導入管6に微量流す
と、冷却された基板2の表面にSiH4が吸着される。
と、冷却された基板2の表面にSiH4が吸着される。
この状態で、 SOROR光査1板2の上に照射して、
基板2上にSi薄膜を形成する。
基板2上にSi薄膜を形成する。
この時の成長条件は次のとおりである。
5it14ガスの流量 : 10 SCCM程度。
反応室内のガス圧:数Torr+
SOR光の強度 :
フォトン数10”/sec mrad” mA成長速度
: 10〜100 n+++/min。
: 10〜100 n+++/min。
第2図は本発明の光CVD装置の一実施例を説明する模
式図である。
式図である。
図において1図番1〜5及び8〜11は第1図と同様で
ある。
ある。
12は主反応室、13は基板上に設けられ主反応室を開
閉する電磁バルブ、14は主反応室へ導入する反応ガス
導入管、14^は反応ガス導入バルブ、15は主反応室
より排気系に導出する反応ガス導出管。
閉する電磁バルブ、14は主反応室へ導入する反応ガス
導入管、14^は反応ガス導入バルブ、15は主反応室
より排気系に導出する反応ガス導出管。
15^は反応ガス導出バルブである。
この例では1反応室1内において基板ホルダ3を覆うよ
うにして主反応室12を設け、ガスの反応域を狭くした
ものである。
うにして主反応室12を設け、ガスの反応域を狭くした
ものである。
この装置は、基板を冷却してガスを吸着した後に主反応
室12内の残留ガスをバルブ15Aを開いて引ききるこ
とを特徴としている。
室12内の残留ガスをバルブ15Aを開いて引ききるこ
とを特徴としている。
その後、電磁バルブ13を開いてSOROR光査1射し
て基板2上にSi薄膜を形成する。
て基板2上にSi薄膜を形成する。
この装置の利点は1次のようである。
■ 反応ガスによる差動排気系の汚染を従来より低減で
きる。
きる。
■ 反応室が狭いため8反応ガスの流量が少なくてすむ
。
。
■ 反応ガスで主反応室が汚染されても、交換が簡単で
ある。
ある。
以上説明したように本発明によれば、基板上に低汚染で
効率よく成膜ができる。
効率よく成膜ができる。
又、主反応室を設けた装置は2反応ガスの低消費、低汚
染等の効果がある。
染等の効果がある。
第1図は本発明の方法の一実施例を説明する光CVD装
置の模式図。 第2図は本発明の光CVD装置の一実施例を説明する模
式図である。 図において。 1は反応室、 2は被成長基板。 3は基板ホルダ、 4は基板加熱用ヒータ。 5は基板冷却用配管、6は反応ガス導入管。 7は反応ガスシャワー 8は排気口、 9はゲートバルブ。 10は光照射窓でSOR光導入口。 11はSOR光、12は主反応室。 13は主反応室を開閉する電磁バルブ。 14は主反応室へ導入する反応ガス導入管。 14^は反応ガス導入バルブ。 15は主反応室より導出する反応ガス導出管。 15A は反応ガス導出バルブ 桐去0突杷卆臣説朗マる装置の模式2 %式%
置の模式図。 第2図は本発明の光CVD装置の一実施例を説明する模
式図である。 図において。 1は反応室、 2は被成長基板。 3は基板ホルダ、 4は基板加熱用ヒータ。 5は基板冷却用配管、6は反応ガス導入管。 7は反応ガスシャワー 8は排気口、 9はゲートバルブ。 10は光照射窓でSOR光導入口。 11はSOR光、12は主反応室。 13は主反応室を開閉する電磁バルブ。 14は主反応室へ導入する反応ガス導入管。 14^は反応ガス導入バルブ。 15は主反応室より導出する反応ガス導出管。 15A は反応ガス導出バルブ 桐去0突杷卆臣説朗マる装置の模式2 %式%
Claims (2)
- (1)基板上に反応ガスを導入し、且つ光を照射して該
基板上に成膜するに際し、該基板を加熱した後、室温以
下の温度に冷却した状態で反応ガスを流し、光照射を行
うことを特徴とする気相成長方法。 - (2)光照射窓(10)と排気口(8)を持つ反応室(
1)と、該排気口に接続する排気系と、該反応室内に設
けられて被成長基板を載せる基板ホルダ(3)と、該基
板ホルダの加熱手段(4)と、該基板ホルダの冷却手段
(5)と、該反応室内に設けられて該基板ホルダを覆う
主反応室(12)と、該基板ホルダ上において該主反応
室を開閉するバルブ(13)と、該主反応室に導入する
反応ガス導入管(14)と、該主反応室より導出し排気
系に接続する反応ガス導出管(15)と、該反応ガス導
出管の途中に設けられた反応ガス導出バルブ(15A)
とを有することを特徴とする気相成長装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP24690188A JPH0291928A (ja) | 1988-09-28 | 1988-09-28 | 気相成長方法及びその装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP24690188A JPH0291928A (ja) | 1988-09-28 | 1988-09-28 | 気相成長方法及びその装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0291928A true JPH0291928A (ja) | 1990-03-30 |
Family
ID=17155429
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP24690188A Pending JPH0291928A (ja) | 1988-09-28 | 1988-09-28 | 気相成長方法及びその装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0291928A (ja) |
-
1988
- 1988-09-28 JP JP24690188A patent/JPH0291928A/ja active Pending
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