JPH0290005A - 二次元位置センサ - Google Patents

二次元位置センサ

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JPH0290005A
JPH0290005A JP63240884A JP24088488A JPH0290005A JP H0290005 A JPH0290005 A JP H0290005A JP 63240884 A JP63240884 A JP 63240884A JP 24088488 A JP24088488 A JP 24088488A JP H0290005 A JPH0290005 A JP H0290005A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、光の当たった位置を検出する二次元位置セン
サに関する。
〔従来の技術〕
トンネルなどを掘り進む場合、掘削機の掘進方向を正確
に知る必要がある。しかし、掘削機は地中にあるため、
目視によって掘進方向を知ることは困難である。そこで
、掘削機の掘進方向を検出するために、掘削機の後方の
トンネル内の所々に、レーザ光源と受光器(位置検出器
)とを配設するとともに、レーザ光を前方と後方の受光
器に向けて出射し、受光器に当たったレーザ光の位置か
らトンネルの方向、掘削機の姿勢などを検出するように
している。そして、近年は、位置検出器としてシリコン
フォトダイオードの原理を応用した二次元位置センサが
利用されている。
この二次元位置センサは、第13図に示すように、空乏
層10を介してP層12とN1114とが設けてあり、
正方形状の2層120対向した一対の辺に電極16.1
8を取り付け、N層14のP層12の電極を設けた辺と
異なる一対の辺に電極20.22を取り付けている。そ
して、このセンサに光が当たると、その位置から光電流
が発生し、各電極16.18.20.22に分割出力さ
れる。
そこで、各電極から取り出された電流を演算回路を用い
て電圧変換、除算を行い、例えばX−Y座標電圧として
取り出し、光の当たった位置を求める。
〔発明が解決しようとする課題〕
しかし、上記した従来の二次元位置センサは、背景光が
当たると、背景光によって発生した光電流も信号光によ
る電流とともに出力されることになり、誤差が生じ易い
、このため、背景光による影響を小さくするために、信
号光を強くする等の処置が必要となる。
また、第14図のように、外乱光24と信号光26とが
センサ面上の2個所以上の位置に同時に当たった場合、
外乱光24と信号光26との出力分離が不可能であるた
め、光の当たって位置が外乱光24と信号光26とによ
る重心28として出力され、信号光26が当たった位置
を求めることができない。
本発明は、前記従来技術の欠点を解消するためになされ
たもので、外乱光による影響の少ない二次元位置センサ
を提供することを目的としている。
〔課題を解決するための手段〕
上記目的を達成するために、本発明に係る二次元位置セ
ンサは、並列に配設した複数の第1の電極と交差して第
2の電極を複数設け、これら第1の電極と第2の電極と
の少なくともいずれが一方を透明電極にするとともに、
前記第1の電極と前記第2の?f掻との間に受光素子を
介在させたことを特徴としている。
〔作用] 上記の如く構成した本発明は、透明電極を介して受光素
子に光りが入射すると、この受光素子の上下面に接触し
ている第1の電極と第2の電極とに光電流が出力される
。従って、複数の第1の電極と第2の電極とを順次走査
して信号を取り出すことにより、光が入射した受光素子
の位置を知ることができる。しかも、各電極が出力する
光N 流は、分割出力されたものでないため、大きな光
電流が出力され、外乱光の影響を受けにくい感度の良い
センサを得ることができる。そして、外乱光と信号光と
がセンサ面上の2個所以上の位置に同時に当たったとし
ても、光が当たった各位置を求めることができ、信号光
による出力電流を外乱光による電流から分離でき、信号
光の当たった位置を求めることができる。また、当った
光の断面の形状、寸法も認識できる。
(実施例) 本発明に係る二次元位置センサの好ましい実施例を、添
付図面に従って詳説する。
第1図は、本発明の実施例に係る二次元位置センサの正
面図である。
第1図において、二次元位置センサ30は、ガラス、セ
ラミックまたは有機材からなる透明基板32上に複数の
透明電極Y、−Y、が設けである。
透明電極Y1〜Y、は、導電性酸化錫・インジウム(I
TO)、酸化錫(Sno□)、酸化インジ・ラム(In
to)等によって図の縦方向(Y方向)に帯状に形成さ
れ、図の横方向(X方向)に等間隔に並列に?j[数装
置しである。また、透明電#1iY、〜Y、の上方には
、後述する受光素子を介して複数の電極X1〜x、、が
透明電極Y、〜Y。
に直交して形成しである。電8iIX、〜x1は、金、
根、胴、アルミニウム等の金属によって帯状に形成され
、Y方向に等間隔で複数配置されている。
透明電極Y1〜Ynと電極xI〜χ、との各交点には、
第2図に示したように、受光素子D II〜D□が設け
である。各受光素子DIl〜D□は、それぞれP層34
.1層36、N層38が積層さ瓢PINダイオードを構
成している。
このように構成した二次元位置センサ30は、各透明電
極Y、〜Y、、と電極X、−XRとが透明基板32に周
辺部に設けたバフ)電極部(図示せず)に接続され、こ
のバット電極部を介してワイヤまたはリード線により周
辺回路に接続されて使用される。そして、各受光素子D
Il〜D□の出力電流(信号)を検出する場合、第3図
に示したように透明電極Y、〜Y、lをスイッチSY、
〜SY、に接続するとともに、電h x +〜X7をス
イッチSX、−5X、lに接続し、スイッチSY、〜S
y、、sx、〜Sχ0切り替えることによって行う。す
なわち、スイッチSX1を閉じると受光素子DIl〜I
)+aが図示しない演’II器等に接続され、スイッチ
SYIを閉じることにより、受光素子り、のみを選択し
て出力信号を得ることができる。
また、スイッチSX、を閉じたままスイッチSY1を解
放し、スイッチS Y zを閉じることにより、受光素
子Dltのみを選択することができる。このようにして
、スイッチsx、−sx、とスイッチSY、−3Y、と
を順次切り替えることにより、各受光素子り、〜D1の
出力信号を得ることができる。
具体的な検出回路は、第4図のように構成される 第4図において、二次元位置センサ30の透明電極Y1
〜Y7は電源供給用のアナログスイッチ40の各チャン
ネルに接続され、電極X1〜Xaは信号取り出し用アナ
ログスイッチ42の各チャンネルに接続される。アナロ
グスイッチ40の入出力コモン端子は、電源VCCに接
続する。また、アナログスイッチ42の入出力コモン端
子には、検出信号を増幅する増幅器44が接続され、増
幅器44の出力信号が比較器46に人力するようになっ
ている。そして、各アナログスイッチ40゜42には、
コントローラ48.50が接続され、コントローラ48
.50によって入出力コモン端子と各チャンネルとの接
続、遮断の制御がなされるようになっている。
すなわち、各コントローラ48.50は、第5図0) 
ヨ’) ニハス52.54を介してマイクロコンピュー
タ56に接続してあり、マイクロコンピュータ56から
制御信号を受けるようになっている。
また、コントローラ50は、アナログスイッチ42の切
り替え信号に同期して増幅器44と比較器46とに信号
を出力し、比較器46の出力信号をマイクロコンピュー
タ5Gに人力する。マイクロコンピュータ56は、電源
VCCに接続したスタビライザ58から駆動電圧が供給
され、二次元位置センサ30の検出データを出力する。
光が当たった位置の検出は、次の如くして行う。
マス、マイクロコンピュータ56は、コントローラ48
に制御信号を送出し、アナログスイッチ40の透rIA
電極Y、が接続しであるチャンネルを人出力コモン端子
に接続し、電極Y、に電圧VCCを印加する。また、マ
イクロコンピュータ56は、コントローラ50を介して
アナログスイッチ42を作動し、アナログスイッチ42
のt極x1が接続しであるチャンネルを入出力コモン端
子に接続し、受光素子D 11の出力信号を増幅器44
に入力する。増幅器44は、受光素子D11の信号を増
幅し2て比較2S46に送る。比較器46は、入力して
きた値を設定された基準値と比較し、受光素子り、に光
が当たっていれば「11」を出力し、光が当たっていな
ければ「L」を出力する。比較器46の出力信号は、コ
ントローラ50を介してマイクロコンピュータ56に入
力され、マイクロコンピュータ56内の図示しないメモ
リに格納される。
マイクロコンピュータ56は、受光素子り、、について
のデータを得ると、アナログスイッチ42を切り替えて
受光素子1)z+についてのデータを同様にしてメモリ
に格納する。以下、同様にしてアナログスイッチ42の
各チャンネルを切り替え、it電極、〜X7を介して受
光素子[)sr〜Da+のデータを収集し、メモリに格
納する。
マイクロコンピュータ56は、受光素子り、〜D91に
ついてのデータの収集が終了すると、アナログスイッチ
40を切り替えて透明電極Y1を電源■。、から遮断す
るとともに、透明電極Y、を電源VCCに接続し、受光
素子D1!〜Dntに電圧VCCを印加する。そして、
受光素子DIl〜D、IIのデータを収集したときと同
様に、アナログスイッチ42をl1lfi次切り替えて
受光素子DIi〜Dotのデータをメモリに格納する。
このようにして、マイクロコンピュータ56は、受光素
子り、〜D□のデータの収集が終了すると、これらのデ
ータから光が当たっている中心を演算し、出力vi置に
出力する。
このように、実施例においては、透明電極Y1〜Y7と
電極X1〜X、、との交点に設けた受光素子り、〜D 
nnの出力信号を検出するようにしており、従来の広い
面積の受光素子に当たった光により生じた光電流を分割
して出力するのと異なり、外乱光の影響が少なく、また
外乱光と信号光とを分離することができる。
なお、前記実施例においては、受光素子DIl〜D工を
透明基板32にP層、1層、N層の順に積層した場合に
ついて説明したが、N層、1層、P層の順に積層しても
よい、また、前記実施例においては、電極X1〜X7を
金属で形成した場合について説明したが、電極X1〜X
、を透明電極としてもよい、そして、二次元位置センサ
30の上面に、保護膜を設けてもよいことは勿論である
亀上叉扇朋 一辺120mmの正方形の透明ガラス板に、X方向(第
1図の上下方向)に延在させた厚さ1μm、100μm
幅のITOi!明導電体を、X方向(第1図の左右方向
)に100μm間隔で257本形成し、透明電極を作成
する0次いで、この透明電極上に100μm角、厚さ5
00人のN型シリコン半導体を100μm間隔で定着さ
せる。その後、N型シリコン半導体の上に真正半導体を
5000人定着させて1層を形成し、この1層の上にP
型シリコン半導体を200人定着させ、PIN構造のシ
リコン受光素子を形成する0次に、X方向に延在させた
厚さ1μm、幅100μmの電極を、シリコン受光素子
を通過し、かつ透明電極を横切って金蒸着により257
本形成する。
このように作成したアモルファスSi :H(水素化シ
リコン)二次元位置センサ3oは、第6図のように透明
電極60と電極62とがリード線64を用いて回路基板
66に接続される。なお、二次元位置センサの各電極は
、第6図のように1つおきに反対側を回路基板に接続し
てもよいし、第7図のように各電極の同L7側だけを接
続するようにしてもよい。そして、電源供給用のアナロ
グスイッチの入出力コモン端子を電源に結線し、各チャ
ンネルを各シリコン受光素子のカソードに接続する。一
方、信号取り出し用のアナログスイッチの各チャンネル
と受光素子の出力側(アノ−1)とをコンデンサを介し
て結線する。アナログスイッチが8チヤンネルの場合、
コントロール端子は3ビツトである。また、16チヤン
ネルのアナログスイッチの場合には、コントロール端子
が4ビツトとなる。そして、アナログスイッチの数は、
16チヤンネルのものを使用すると、電源供給用として
16個、信号取り出し用として16個の計32個が必要
となる。
一素子を取り出して図示すると、第8図のようになり、
各アナログスイッチ68.70のチャンネルと入出力コ
モン端子COとの接続は、コントロール端子A、B、C
,Dを用いて行う。各アナログスイッチのコントロール
端子A、B、C,Dは、コンピュータ72に接続してあ
り、インヒビノド端子INHはインバータ74.7Gを
介してシフトレジスタ78.80に接続しである。そし
て、シフトレジスタ78.80は、コンピュータ72か
ら制御信号を受ける。なお、信号取り出し用のアナログ
スイッチ70の人出力コモン端子は、増幅器44、比較
器46を介してコンピュータ72に接続される。
コンピュータ72は、複数の電源用アナログスイッチと
信号用アナログスイッチとの内、それぞれの1つをオン
状態にし、他のすべてをオフ状態にする。すなわち、コ
ンピュータ72は、信号を取り出すべき受光素子が接続
しである電源用アナログスイッチ68と信号用アナログ
スイッチ70とのインヒビノド端子INHに、シフトレ
ジスタ78.80を介して「L」を与えてオン状態にす
るとともに、他のすべてのアナログスイッチのインヒビ
ノド端子I N HにrH,を与えてオフ状態にする。
その後、コントロール端子に制御信号を送り、前記した
ように各受光素子の出力信号を取り込む。
肛り丈韮■ 一辺が100rnrnの透明ガラス仮に、X方向に延在
させた厚さ1μm、幅50μmのSn0w透明電極を、
X方向に50μm間隔で257本作成する0次に、この
j3明電極上に厚さ200人、50μm角のP型シリコ
ン半導体を50μm間隔で定着させる0次いで、P型シ
リコン半導体」−に真正半導体を5000人の厚さで定
着させてIIMを形成し、さらにこの上にN型シリコン
半導体を500人定着し、PIN構造を有する網目状の
シリコン受光素子を形成する。その後、透明電極を横切
ってX方向に延在し、かつ受光素子上を通過させて厚さ
1μm1幅50μmの電極を、X方向に50μm間隔で
257本金莫着により形成する。
このように作成したアモルファスSi :Hをリード線
を用いて回路基板に接続する。そして、第9図のように
電源供給用のディジタルマルチプレクサ82の入出力コ
モン端子を電源VCCに結線し、各チャンネルを各受光
素子のカソードに接続する。
また、各受光素子のアノードを比較器84を介して信号
用ディジタルマルチプレクサ86の各チャンネルに接続
する。そして、信号用ディジクルマルチプレクサ86の
入出力コモン端子は、信号取り出し用としてコンピュー
タに接続する。なお、比較器84に代えて、演算増幅器
を用いてもよく、比較器と演算増幅器とを併用してもよ
い。
第9図に示したディジタルマルチプレクサ82.86の
制御は、第1実施例と同様にコンピュータにより行う。
肛止丈崖朋 一辺が120mmの透明ガラス板に、Y方向に延在させ
た1γさ1μm、llilooμmのSno!透明電極
を、X軸方向に100μm間隔で257本作成する0次
いで、端子取り出し用電極部を除く透明ガラス板の全面
に、アモルファスS i : Hを定着させる。その後
、X方向に延在させた100μm幅の?it極を、Y方
向に100μm間隔で257本金蒸着により形成する。
そして、バット電極部を基板の周辺部に設け、このバッ
ト電極部をワイヤまたはリード線を用いて周辺回路に接
続する。
この実施例の回路は第1O図のようになり、カソードを
スイッチAS!を介して電源VCCに接続し、アノード
にスイッチAS、を接続して、スイッチAS、、ASZ
で選択された信号のみが出力として取り出される。この
とき、信号取り出し回路は、第1111の如くなる。す
なわち、受光素子のアノードが電界効果トランジスタ(
FET)90のドレインに接続され、ソースがコンピュ
ータに接続され、ゲートがシフトレジスタ92に接続さ
れる。また、受光素子に逆バイアスを加える場合、第1
2図のようにFET94のドレインを電源V(eに接続
し、ソースを受光素子のカソードに接続し、ゲートをシ
フトレジスタ96に接続する。
電圧の印加、信号の取り出しは、シフトレジスタにクロ
ック信号を入力し、図の左の1番目から順次ゲートをr
H,としてドレイン、ソース間を開くことにより行う。
そして、透明電極の左端上端の最初のlビットから左端
の透明電極上を1ビツトずつ信号を取り出し、Y軸方向
のデータとしてコンピュータに送る。Y軸方向の256
ビツトの信号の送出が終了したならば、次の2番目の透
明電極について同様にしてデータをコンピュータに送る
このようにして全ビットのデータをコンピュータに入力
したならば、コンピュータがデータに基づいて演算し、
光の当たっている位置を求めるなお、各実施例に示した
二次元位置センサは、各実施例のいずれの回路を使用し
てもよいことは勿論である。
(発明の効果] 以上に説明した如く、本発明によれば、交差している電
極間に受光素子を設けたことにより、外乱光による影響
を少なくでき、外乱光による出力と信号光による出力と
を分離することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係る二次元位置センサの実施例の正面
図、第2図は第1図の■−■線に沿う断面図、第3図は
実施例に係る二次元位置センサの信号取り出し方法の原
理説明図、第4図、第5図は信号取り出し回路の実施例
の説明図、第6図、第7図は回路基板への接続方法の説
明図、第8図は第1実施例の信号取り出し方法の説明図
、第9図は第2実施例の信号取り出し方法の説明図、第
10図は第3実施例の信号取り出し方法の原理説明図、
第1.1図は第3実施例の信号取り出し用回路図、第1
2図は第3実施例の電圧印加用回路A第13図は従来の
二次元位置センサの斜視図、第14図は従来の二次元位
置センサの動作説明図である。 30− 二次元位置センサ、32  透明基板、34−
P層、36−・何層、3 B −−NJ!、Y、 〜Y
 、  −・・−透明電極、x 、 〜x fi−−を
極、Dlg・ I)+3 受光素子。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)並列に配設した複数の第1の電極と交差して第2
    の電極を複数設け、これら第1の電極と第2の電極との
    少なくともいずれか一方を透明電極にするとともに、前
    記第1の電極と前記第2の電極との間に受光素子を介在
    させたことを特徴とする二次元位置センサ。
JP24088488A 1988-09-28 1988-09-28 二次元位置センサ Expired - Lifetime JPH0820211B2 (ja)

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JPH0820211B2 JPH0820211B2 (ja) 1996-03-04

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010032545A (ja) * 2009-11-09 2010-02-12 Mitsutoyo Corp 光学式変位測定装置

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JPS61129509A (ja) * 1984-11-29 1986-06-17 Komatsu Ltd 半導体光位置検出器
JPS63111402A (ja) * 1986-10-29 1988-05-16 Yaskawa Electric Mfg Co Ltd 位置計測装置

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