JPH0287044A - 原子吸光分析装置 - Google Patents
原子吸光分析装置Info
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- JPH0287044A JPH0287044A JP23930888A JP23930888A JPH0287044A JP H0287044 A JPH0287044 A JP H0287044A JP 23930888 A JP23930888 A JP 23930888A JP 23930888 A JP23930888 A JP 23930888A JP H0287044 A JPH0287044 A JP H0287044A
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- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、スペクトル吸収を利用した原子吸光分析法及
び装置に関する。
び装置に関する。
原子吸光分析法は、周知のように試料をバーナ、管状炉
等で霧化し、この霧化された元素分析領域に特定のスペ
クトルを通過させ、この時のスペクトル吸収(原子吸光
度)を利用して試料の分析、測定が行われる。この原子
吸光分析法は、重金属等の金属元素の微量濃度測定に好
適である。
等で霧化し、この霧化された元素分析領域に特定のスペ
クトルを通過させ、この時のスペクトル吸収(原子吸光
度)を利用して試料の分析、測定が行われる。この原子
吸光分析法は、重金属等の金属元素の微量濃度測定に好
適である。
ところで、原子吸光分析法では、測定に際して元素分析
領域に多量の共存物質が存在すると、見かけの吸光(光
散乱や分子吸収等)が起り、測定誤差が生じるため、そ
れらの補正(いわゆるバラフグラウンド補正)を必要と
する。バックグラウンド補正には、代表的なものに連続
スペクトル光源(例えば重水素ランプ)を用いたものが
あり、その他に、最近ではゼーマン効果を利用する方法
や、スペクトルの自己反転を利用したバックグラウンド
補正が提案されている。
領域に多量の共存物質が存在すると、見かけの吸光(光
散乱や分子吸収等)が起り、測定誤差が生じるため、そ
れらの補正(いわゆるバラフグラウンド補正)を必要と
する。バックグラウンド補正には、代表的なものに連続
スペクトル光源(例えば重水素ランプ)を用いたものが
あり、その他に、最近ではゼーマン効果を利用する方法
や、スペクトルの自己反転を利用したバックグラウンド
補正が提案されている。
これらのバックグラウンド補正のうち、連続スペクトル
光源を用いたものは、周知のように特定のスペクトルを
元素分析領域に通過させる他に、連続スペクトルを元素
分析領域に通過させ、連続スペクトルの吸収値をバック
グラウンド補正値として用いるもので、一般試料の測定
に広く用いられている。
光源を用いたものは、周知のように特定のスペクトルを
元素分析領域に通過させる他に、連続スペクトルを元素
分析領域に通過させ、連続スペクトルの吸収値をバック
グラウンド補正値として用いるもので、一般試料の測定
に広く用いられている。
また、スペクトルの自己反転を利用したものは、特開昭
57−160047号公報や文献「分光研究」第35巻
第1号(1986・大道寺英弘著)に論じられているよ
うに、中空陰極ランプからの特定スペクトルが、高電流
の放電で自己反転(自己吸収)する現像を利用する。具
体的には、中空陰極ランプ(ホローカソードランプ)に
通常使用する低電−4= 流(5〜20mA)と、これよりもはるかに大きい高電
流(200〜600mA)とを交互に流す。
57−160047号公報や文献「分光研究」第35巻
第1号(1986・大道寺英弘著)に論じられているよ
うに、中空陰極ランプからの特定スペクトルが、高電流
の放電で自己反転(自己吸収)する現像を利用する。具
体的には、中空陰極ランプ(ホローカソードランプ)に
通常使用する低電−4= 流(5〜20mA)と、これよりもはるかに大きい高電
流(200〜600mA)とを交互に流す。
このうち、中空陰極ランプに高電流を流して生じるスペ
クトルは、スペクトル中心付近で自己吸収作用によるス
ペクトル強度の低下(反転)が生じる。このように自己
反転しているスペクトルでは、当然元素分析領域を通過
した時の原子吸光値(スペクトル吸収値)も低下する。
クトルは、スペクトル中心付近で自己吸収作用によるス
ペクトル強度の低下(反転)が生じる。このように自己
反転しているスペクトルでは、当然元素分析領域を通過
した時の原子吸光値(スペクトル吸収値)も低下する。
そして、この自己反転したスペクトルを元素分析領域で
通過させた時の原子吸光値を見かけの吸収(光散乱、分
子吸収等)とみなしてバックグラウンド補正が行われる
。
通過させた時の原子吸光値を見かけの吸収(光散乱、分
子吸収等)とみなしてバックグラウンド補正が行われる
。
前述した自己反転や連続スペクトル光源を用いたものは
、光源に対する電流制御や光源の選択等でバックグラウ
ンド補正を行い得、バックグラウンド補正のメカニズム
が簡略な利点を有する。しかしながら、いずれの方法も
検量線の直線或いは直線に近い範囲が狭く、そのため、
原子吸光分析法の測定濃度範囲(ダイナミックレンジ)
が狭く、その拡大化が望まれていた。
、光源に対する電流制御や光源の選択等でバックグラウ
ンド補正を行い得、バックグラウンド補正のメカニズム
が簡略な利点を有する。しかしながら、いずれの方法も
検量線の直線或いは直線に近い範囲が狭く、そのため、
原子吸光分析法の測定濃度範囲(ダイナミックレンジ)
が狭く、その拡大化が望まれていた。
本発明は以上の点に鑑みてなされたもので、その目的と
するところは、原子吸光分析法の弱点であった測定濃度
範囲の狭さを改良することにある。
するところは、原子吸光分析法の弱点であった測定濃度
範囲の狭さを改良することにある。
本発明は、上記目的を達成するために、次のような手段
を講じる。
を講じる。
先ず、方法的には、
特定元素のスペクトルを発する特定スペクトル光源と、
連続スペクトルを発する連続スペクトル光源とを備え、
前記特定スペクトル光源に低電流と高電流の少なくとも
2種類の異なる電流を流し、且つ前記連続スペクトル光
源にも所定の電流を前記低電流、高電流と時期を異にし
て流して、これらの光源から夫々スペクトル吸収感度の
異なるスペクトルを交互に発生させ、これらのスペクト
ルを元素分析領域に通過させて、この元素分析領域で吸
収される前記特定スペクトル光源の低電流及び高電流の
各スペクトル吸収値(原子吸光度) A 1及びA2と
、前記連続スペクトル光源のスペクトル吸収値ADを求
め、これらのスペクトル吸収値A1.AZ、ADを任意
に組合せ演算して、特定元素の濃度測定を行なう。
連続スペクトルを発する連続スペクトル光源とを備え、
前記特定スペクトル光源に低電流と高電流の少なくとも
2種類の異なる電流を流し、且つ前記連続スペクトル光
源にも所定の電流を前記低電流、高電流と時期を異にし
て流して、これらの光源から夫々スペクトル吸収感度の
異なるスペクトルを交互に発生させ、これらのスペクト
ルを元素分析領域に通過させて、この元素分析領域で吸
収される前記特定スペクトル光源の低電流及び高電流の
各スペクトル吸収値(原子吸光度) A 1及びA2と
、前記連続スペクトル光源のスペクトル吸収値ADを求
め、これらのスペクトル吸収値A1.AZ、ADを任意
に組合せ演算して、特定元素の濃度測定を行なう。
また、このような方法を実現させる装置として、特定元
素のスペクトルを発する特定スペクトル光源と、連続ス
ペクトルを発する連続スペク(−ル光源と、前記特定ス
ペクトル光源に低電流と高電流の少なくとも2種類の電
流を、及び前記連続スペクトル光源にも所定の電流を夫
々時間制御して流すことで、これらの光源からそれぞれ
吸収感度の異なるスペクトルを発生させる電流制御手段
と、これらの吸収感度の異なるスペクトルを通過させる
元素分析領域と、前記元素分析領域で吸収されるスペク
トル吸収を検出する手段と、前記元素分析領域で吸収さ
れる前記特定スペクトル光源の低電流及び高電流の各ス
ペクトルの吸収値A1、A2及び前記連続スペクトル光
源のスペクトル吸収値ADを任意に組合せ演算する演算
手段とで、装置を構成する。
素のスペクトルを発する特定スペクトル光源と、連続ス
ペクトルを発する連続スペク(−ル光源と、前記特定ス
ペクトル光源に低電流と高電流の少なくとも2種類の電
流を、及び前記連続スペクトル光源にも所定の電流を夫
々時間制御して流すことで、これらの光源からそれぞれ
吸収感度の異なるスペクトルを発生させる電流制御手段
と、これらの吸収感度の異なるスペクトルを通過させる
元素分析領域と、前記元素分析領域で吸収されるスペク
トル吸収を検出する手段と、前記元素分析領域で吸収さ
れる前記特定スペクトル光源の低電流及び高電流の各ス
ペクトルの吸収値A1、A2及び前記連続スペクトル光
源のスペクトル吸収値ADを任意に組合せ演算する演算
手段とで、装置を構成する。
特定元素のスペクトルを発する光源(例えば中空陰極ラ
ンプ)に低電流を流し、その時に生じるスペクトルが元
素分析領域を通過した時に得られるスペクトル吸収値は
、一般の原子吸光分析法で得られる値と同じである(こ
の吸収値をA1とする) 一方、特定元素のスペクトルを発する光源に高電流を流
した時に生じるスペクトルの元素分析領域でのスペクト
ル吸収値は、上記吸収値A1の10〜30%である(こ
の吸収値をA2とする)。
ンプ)に低電流を流し、その時に生じるスペクトルが元
素分析領域を通過した時に得られるスペクトル吸収値は
、一般の原子吸光分析法で得られる値と同じである(こ
の吸収値をA1とする) 一方、特定元素のスペクトルを発する光源に高電流を流
した時に生じるスペクトルの元素分析領域でのスペクト
ル吸収値は、上記吸収値A1の10〜30%である(こ
の吸収値をA2とする)。
他方、連続スペクトル光源(例えば重水素ランプ)に電
流を流した時に生じるスペクトルの元素分析領域でのス
ペクトル吸収値は、吸収値AIの0.1%以下である(
この吸収値をADとする)。
流を流した時に生じるスペクトルの元素分析領域でのス
ペクトル吸収値は、吸収値AIの0.1%以下である(
この吸収値をADとする)。
このAIl A2、ADの吸収感度を第3図に示す。
本発明では、これらのスペクトル吸収値A i 。
Az、AD、A2−ADを任意に組合せ演算する。
この演算は例えば減算が採用され、減算によって次のよ
うな異なるスペクトル吸収値が得られる。
うな異なるスペクトル吸収値が得られる。
AD−A2:通常の原子吸光測定の70〜90%の吸収
値 AニーAD:通常の原子吸光測定とほぼ同等の吸収値 A2−AD:通常の原子吸光測定の30〜10%の吸収
値 第4図は、元素分析領域での試料濃度に対する吸光度(
スペクトル吸収値)の関係を表わすもので、WsはAニ
ーAD、A2−ADの検量線、W2はAI−Axの検量
線、WsはA 2− A oの検量線である。
値 AニーAD:通常の原子吸光測定とほぼ同等の吸収値 A2−AD:通常の原子吸光測定の30〜10%の吸収
値 第4図は、元素分析領域での試料濃度に対する吸光度(
スペクトル吸収値)の関係を表わすもので、WsはAニ
ーAD、A2−ADの検量線、W2はAI−Axの検量
線、WsはA 2− A oの検量線である。
これらの検量線W s r W 2 ! W aによっ
て、バックグラウンド補正の伴うスペクトル吸収値から
、そのスペクトル吸収値に対応する試料濃度を求めるこ
とができる。すなわち、Wl、w3ではADが、W2で
はA2がバックグラウンド補正値となる。
て、バックグラウンド補正の伴うスペクトル吸収値から
、そのスペクトル吸収値に対応する試料濃度を求めるこ
とができる。すなわち、Wl、w3ではADが、W2で
はA2がバックグラウンド補正値となる。
第4図の検量線W11 W21 Wsからも明らかなよ
うに、検量線の直線範囲の最も大きいものは、W8検量
線(A2 ADの減算パターン)、次いでW2検量線
(Ax−A2(7)減算バタ ))、W+検量線(A
s −A oの減算パターン)となる。ここで。
うに、検量線の直線範囲の最も大きいものは、W8検量
線(A2 ADの減算パターン)、次いでW2検量線
(Ax−A2(7)減算バタ ))、W+検量線(A
s −A oの減算パターン)となる。ここで。
Wsの直線範囲はWlに較へて極めて大きく、例えばW
lの場合に較べて約10倍濃度の高い試料の測定が可能
となる。
lの場合に較べて約10倍濃度の高い試料の測定が可能
となる。
一方、検量線の傾きは、直線範囲が狭いほど大きくなり
、Wl が最も大きく、次いでWl、Waの順となる。
、Wl が最も大きく、次いでWl、Waの順となる。
本発明は、Wl、Wl、Wsの検量線のいずれかを選択
して試料の濃度測定を行うが、これは、例えば検量線の
直線範囲と傾きの両者を考慮して任意に行う。
して試料の濃度測定を行うが、これは、例えば検量線の
直線範囲と傾きの両者を考慮して任意に行う。
具体的には、第4図の例においては、試料濃度0 ”
C2の領域では、Wl、Wl、Waの全てが直線範囲に
あるが、この場合には、検量線の傾きが大きいほど試料
濃度に対応するスペクトル吸収値の読取り信号が大きく
、読取り精度が高いので、Wlの検量線を使用するのが
好ましい。
C2の領域では、Wl、Wl、Waの全てが直線範囲に
あるが、この場合には、検量線の傾きが大きいほど試料
濃度に対応するスペクトル吸収値の読取り信号が大きく
、読取り精度が高いので、Wlの検量線を使用するのが
好ましい。
例えば、同一の試料濃度を基準にして、A1−ADの差
がW1検量線の81点ある場合、AlA2の差がW2検
量線の82点にある場合、A2ADの差がW3検量線の
83点にある場合には、81点をスペクトル吸収値とし
て選択する。但し、Al−ADの如く連続スペクトル光
源のスペクトル吸収値ADをバックグラウンド補正値し
て用いる場合、試料によっては、試料中の他の多量に共
存する物質により、補正がオーバーになる(例えば鉄鋼
中の微量金属の分析時や、アンチモン分析時の鉛の共存
等)こともあるので、この場合には、このような問題の
ないW2検量線(自己反転によるバックグラウンド補正
を伴った原子吸光法)を使用する。
がW1検量線の81点ある場合、AlA2の差がW2検
量線の82点にある場合、A2ADの差がW3検量線の
83点にある場合には、81点をスペクトル吸収値とし
て選択する。但し、Al−ADの如く連続スペクトル光
源のスペクトル吸収値ADをバックグラウンド補正値し
て用いる場合、試料によっては、試料中の他の多量に共
存する物質により、補正がオーバーになる(例えば鉄鋼
中の微量金属の分析時や、アンチモン分析時の鉛の共存
等)こともあるので、この場合には、このような問題の
ないW2検量線(自己反転によるバックグラウンド補正
を伴った原子吸光法)を使用する。
また、試料濃度02〜C4領域では、W1検量線は非直
線となるため、検量線W2.W3のいずれかが選択され
る。この場合には、Wlの方がWaより傾き特性が大き
くスペクI・ル吸収値の読み取り精度に勝るので、W2
検量線換言すれば検出信号At A2の差から試料濃
度を求める。例えばC3の試料濃度の時に、各検量線に
3種類のスペクトル吸収値a4.aBr 86がそれぞ
れ存在するが、この場合にはC5が選択される。なお、
C2〜C4の領域でW2検量線を用いた場合、この領域
ではW2検量線の信号(スペクトル吸収値)レベルが高
くなっているので、スペクトル吸収値を精度良く読み取
ることができる。
線となるため、検量線W2.W3のいずれかが選択され
る。この場合には、Wlの方がWaより傾き特性が大き
くスペクI・ル吸収値の読み取り精度に勝るので、W2
検量線換言すれば検出信号At A2の差から試料濃
度を求める。例えばC3の試料濃度の時に、各検量線に
3種類のスペクトル吸収値a4.aBr 86がそれぞ
れ存在するが、この場合にはC5が選択される。なお、
C2〜C4の領域でW2検量線を用いた場合、この領域
ではW2検量線の信号(スペクトル吸収値)レベルが高
くなっているので、スペクトル吸収値を精度良く読み取
ることができる。
また、試料濃度C4〜Cn領域では、Wl検量線の他に
W2検量線も非直線となるため、Wa検量線換言すれば
検出信号A 2− A oの差から試料濃度を求める。
W2検量線も非直線となるため、Wa検量線換言すれば
検出信号A 2− A oの差から試料濃度を求める。
例えば、C6の試料濃度の時に、各検量線に3種類のス
ペクトル吸収値a7. C8,A9がそれぞれ存在する
が、この場合にはA9が選択される。なお、C4〜Cn
の領域でW8検量線を用いた場合、この領域では、W8
検量線の信号レベルが高くなっているので、スペクトル
吸収値を精度良く読み取ることができる。そして、この
W8検量線を使用することで、従来よりも濃度測定範囲
を大幅に拡げることが可能となる。
ペクトル吸収値a7. C8,A9がそれぞれ存在する
が、この場合にはA9が選択される。なお、C4〜Cn
の領域でW8検量線を用いた場合、この領域では、W8
検量線の信号レベルが高くなっているので、スペクトル
吸収値を精度良く読み取ることができる。そして、この
W8検量線を使用することで、従来よりも濃度測定範囲
を大幅に拡げることが可能となる。
なお、上記の例では、スペクトル吸収値A I 。
A2.ADを組合せ減算して、バックグラウンド補正の
伴うスペクトル吸収値を求めるが、演算方式は減算に限
定するものではなく、その他にもA I 。
伴うスペクトル吸収値を求めるが、演算方式は減算に限
定するものではなく、その他にもA I 。
A2.ADを加減乗除の任意の組合せからなる関数式に
組み込んで、前述のWl、Wl、Ws同様の検量線が求
まれば、本発明の目的を達成できる。
組み込んで、前述のWl、Wl、Ws同様の検量線が求
まれば、本発明の目的を達成できる。
本発明の一実施例を図面に基づき説明する。
第1図は本実施例の原子吸光分析システムのブロック構
成図で、1は中空陰極ランプ、2は重水素ランプ、3,
4はランプ電源、5はビームコンバイナ、6は元素分析
領域(試料の霧化された領域)、7は分光器、8は検知
器(光電変換器)、9はプリアンプ、10は同期整流器
、11は同期信号発生器(電流制御器)、12は対数変
換器。
成図で、1は中空陰極ランプ、2は重水素ランプ、3,
4はランプ電源、5はビームコンバイナ、6は元素分析
領域(試料の霧化された領域)、7は分光器、8は検知
器(光電変換器)、9はプリアンプ、10は同期整流器
、11は同期信号発生器(電流制御器)、12は対数変
換器。
13は演算器、14は濃度変換器である。
このうち、同期信号発生器11は、ランプ電源3及び4
を制御することで、中空陰極ランプ1及び重水素ランプ
2に流れる電流を制御する。具体的には、第2図に示す
ように、中空陰極ランプ1に通常の低電流■1、高電流
I2.を、及び重水素ランプ3に電流IDを時系列に一
定周期で一定時間流す。11は約10mA、工2は20
0−400mA程度である。このようにして、中空陰極
ランプ1及び重水素ランプ2には、3種類の発光強度の
光が時期を異にして発せられる。
を制御することで、中空陰極ランプ1及び重水素ランプ
2に流れる電流を制御する。具体的には、第2図に示す
ように、中空陰極ランプ1に通常の低電流■1、高電流
I2.を、及び重水素ランプ3に電流IDを時系列に一
定周期で一定時間流す。11は約10mA、工2は20
0−400mA程度である。このようにして、中空陰極
ランプ1及び重水素ランプ2には、3種類の発光強度の
光が時期を異にして発せられる。
これらの光は、ビームコンバイナ5を介して同一光軸」
二を通り、元素分析領域6の特定元素により原子吸光さ
れる。本実施例では、バーナを用いて試料の原子化(霧
化)を図っているが、石英セルやグラファイト炉を用い
てもよい。両ランプの光は、その後分光器7に導びかれ
目的波長のスペクトルが取出され、検知器8で電気信号
に変換される。電気信号はプリアンプ9で増幅され、同
期整流器10で弁別され、その後、対数変換器12で吸
光度変換される。
二を通り、元素分析領域6の特定元素により原子吸光さ
れる。本実施例では、バーナを用いて試料の原子化(霧
化)を図っているが、石英セルやグラファイト炉を用い
てもよい。両ランプの光は、その後分光器7に導びかれ
目的波長のスペクトルが取出され、検知器8で電気信号
に変換される。電気信号はプリアンプ9で増幅され、同
期整流器10で弁別され、その後、対数変換器12で吸
光度変換される。
演算器13は、吸光度変換された各信号A L 。
A2. AD (ここで、A1は中空陰極ランプ1に低
電流■1を流した時の吸光度信号、A2は中空陰極ラン
プに高電流I2を流した時の吸光度信号、ADは重水素
ランプ2に高電流を流した時の吸光度信号である)を任
意に組合せて減算する。減算のパターンは、A l−A
2 、 A t −A o 、 A z A oの
三通りである。以上の3種類の信号Ax、Ax。
電流■1を流した時の吸光度信号、A2は中空陰極ラン
プに高電流I2を流した時の吸光度信号、ADは重水素
ランプ2に高電流を流した時の吸光度信号である)を任
意に組合せて減算する。減算のパターンは、A l−A
2 、 A t −A o 、 A z A oの
三通りである。以上の3種類の信号Ax、Ax。
AD、A2−ADの組合せ演算(A 1− A o +
A I A 21 A xAD)は、演算手段13
を用いて常に行われる。
A I A 21 A xAD)は、演算手段13
を用いて常に行われる。
Al、A2.ADの吸収感度(一定濃度試料における吸
光度)は、発明の〔作用〕の項でも第3図に基づき述べ
たように、A1は一般の原子吸光分析法で得られる値と
同じ、A2はA1の10〜30%、AaはA1の0.1
%以下である。前述のA1A2.At AD、AZ
A[1の減算を行うことで、これらぬいずれの各パタ
ーンからもバックグラウンド補正された信号を得ること
ができる。
光度)は、発明の〔作用〕の項でも第3図に基づき述べ
たように、A1は一般の原子吸光分析法で得られる値と
同じ、A2はA1の10〜30%、AaはA1の0.1
%以下である。前述のA1A2.At AD、AZ
A[1の減算を行うことで、これらぬいずれの各パタ
ーンからもバックグラウンド補正された信号を得ること
ができる。
第4図のWlは、既述したようしこA 1− A oの
減算で得られた検量線、W2はA1−A2の減算で得ら
れた検量線、W3はA 2− A nの減算で得られた
検量線であり、演算手段13は、Wl、 W2. W3
の検量線を選択する機能を有する。Wl、W2、W3の
いずれの検量線を用いて試料の濃度測定を行うかは、A
I AD、A2−AD、At A2.A2 ADの
スペクトル吸収値の大きさに対応して予め設定しである
。例えば、発明の〔作用〕の項でも詳述したように、試
料濃度0 ” C2の領域ではWt検量線を、試料濃度
02〜G4の領域ではW2検量線を、C4〜Coの領域
ではW3検量線を選択する。
減算で得られた検量線、W2はA1−A2の減算で得ら
れた検量線、W3はA 2− A nの減算で得られた
検量線であり、演算手段13は、Wl、 W2. W3
の検量線を選択する機能を有する。Wl、W2、W3の
いずれの検量線を用いて試料の濃度測定を行うかは、A
I AD、A2−AD、At A2.A2 ADの
スペクトル吸収値の大きさに対応して予め設定しである
。例えば、発明の〔作用〕の項でも詳述したように、試
料濃度0 ” C2の領域ではWt検量線を、試料濃度
02〜G4の領域ではW2検量線を、C4〜Coの領域
ではW3検量線を選択する。
そして、演算手段13で求められたバックグラウンド補
正後のスペクトル吸収値が濃度変換器14で濃度に変換
され、表示手段等を通して表示される。
正後のスペクトル吸収値が濃度変換器14で濃度に変換
され、表示手段等を通して表示される。
しかして本実施例によれば、吸収感度の異なる3種類以
」二のスペクトル吸収値を常に組み合せ減算して、見か
けの吸収(バックグラウンド吸収)を補正すると同時に
、3種類以上の検量線を試料濃度(スペクトル吸収値)
に応じて選択し、特にWl、W2の検量線の直線範囲を
超えた場合には。
」二のスペクトル吸収値を常に組み合せ減算して、見か
けの吸収(バックグラウンド吸収)を補正すると同時に
、3種類以上の検量線を試料濃度(スペクトル吸収値)
に応じて選択し、特にWl、W2の検量線の直線範囲を
超えた場合には。
Wl、W2より直線範囲が大幅に拡大されたW8検量線
を使用することで、測定可能な濃度範囲を精度を低下さ
せることな〈従来よりも大幅に拡大させることができる
。
を使用することで、測定可能な濃度範囲を精度を低下さ
せることな〈従来よりも大幅に拡大させることができる
。
しかも、本実施例は、中空陰極ランプと重水素ランプの
電流制御といった、簡略な手法で前述の測定濃度範囲の
拡大を図り得るので、測定メカニズムの簡略化を図り得
る。
電流制御といった、簡略な手法で前述の測定濃度範囲の
拡大を図り得るので、測定メカニズムの簡略化を図り得
る。
以上のように本発明によれば、電流制御により生じた少
なくとも2種以上の特定スペクトル光ル連続スペクトル
に基づくスペクトル吸収値を組合せ演算することで、バ
ックグラウンド補正の伴なった原子吸光分析が可能とな
り、しかも濃度測定範囲を従来よりも大幅に拡大するこ
とができる。
なくとも2種以上の特定スペクトル光ル連続スペクトル
に基づくスペクトル吸収値を組合せ演算することで、バ
ックグラウンド補正の伴なった原子吸光分析が可能とな
り、しかも濃度測定範囲を従来よりも大幅に拡大するこ
とができる。
第1図は本発明の一実施例を示すシステム構成図、第2
図は上記実施例に用いる光源からの光強度信号図、第3
図は連続スペクトル光源及び特定スペクトル光源からの
スペクトルが元素分析領域を通過した時の吸収感度特性
図、第4図は連続スペクトル光源及び特定スペクトル光
源からのスペクトルが元素分析領域を通過した時のスペ
クトル吸収値を組合せ減算して得た検量線図である。 1・・・特定スペクトル光源(中空陰極ランプ)、2・
・・連続スペクトル光源(重水素ランプ)、3.4・・
ランプ電源、6・・・元素分析領域、8・・・スペクト
ギ添億硬
図は上記実施例に用いる光源からの光強度信号図、第3
図は連続スペクトル光源及び特定スペクトル光源からの
スペクトルが元素分析領域を通過した時の吸収感度特性
図、第4図は連続スペクトル光源及び特定スペクトル光
源からのスペクトルが元素分析領域を通過した時のスペ
クトル吸収値を組合せ減算して得た検量線図である。 1・・・特定スペクトル光源(中空陰極ランプ)、2・
・・連続スペクトル光源(重水素ランプ)、3.4・・
ランプ電源、6・・・元素分析領域、8・・・スペクト
ギ添億硬
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、特定元素の分析を行なう原子吸光分析法において、
前記特定元素のスペクトルを発する特定スペクトル光源
と、連続スペクトルを発する連続スペクトル光源とを備
え、前記特定スペクトル光源に低電流と高電流の少なく
とも2種類の異なる電流を流し、且つ前記連続スペクト
ル光源にも所定の電流を前記低電流、高電流と時期を異
にして流して、これらの光源から夫々スペクトル吸収感
度の異なるスペクトルを交互に発生させ、これらのスペ
クトルを元素分析領域に通過させて、この元素分析領域
で吸収される前記特定スペクトル光源の低電流及び高電
流の各スペクトル吸収値(原子吸光度)A_1及びA_
2と、前記連続スペクトル光源のスペクトル吸収値A_
Dを求め、これらのスペクトル吸収値A_1、A_2、
A_Dを任意に組合せ演算して、特定元素の濃度測定を
行なうことを特徴とする原子吸光分析法。 2、第1請求項において、前記スペクトル吸収値A_1
、A_2、A_Dの任意の組合せ演算は、A_1−A_
2、A_1−A_D、A_2−A_D等の減算パターン
よりなり、これらの減算パターンのいずれかを、測定す
べき試料濃度或いはスペクトル吸収値の大きさに応じて
選択する原子吸光分析法。 3、第1請求項において、前記特定スペクトル光源は、
中空陰極ランプを使用し、前記連続スペクトル光源は、
重水素ランプを使用してなる原子吸光分析法。 4、第1請求項又は第2請求項において、前記特定スペ
クトル光源は、前記低電流及び高電流の少なくとも2種
類の電流を用いて一定周期で点灯させると共に、前記連
続スペクトル光源も一定周期で点灯させるよう設定して
なる原子吸光分析法。 5、特定元素の分析を行なう原子吸光分析装置において
、前記特定元素のスペクトルを発する特定スペクトル光
源と、連続スペクトルを発する連続スペクトル光源と、
前記特定スペクトル光源に低電流と高電流の少なくとも
2種類の電流を、及び前記連続スペクトル光源にも所定
の電流を夫々時間制御して流すことで、これらの光源か
らそれぞれ吸収感度の異なるスペクトルを発生させる電
流制御手段と、これらの吸収感度の異なるスペクトルを
通過させる元素分析領域と、前記元素分析領域で吸収さ
れるスペクトル吸収を検出する手段と、前記元素分析領
域で吸収される前記特定スペクトル光源の低電流及び高
電流の各スペクトルの吸収値A_1、A_2及び前記連
続スペクトル光源のスペクトル吸収値A_Dを任意に組
合せ演算して試料の濃度値を求める演算手段とを備えて
なることを特徴とする原子吸光分析装置。 6、第5請求項において、前記演算手段は、前記スペク
トル吸収値A_1、A_2、A_Dから、A_1−A_
2、A_1−A_D、A_2−A_Dの差を求めて、こ
れらの差に基づく検量線W_1、W_2、W_3を得る
機能を有し、試料濃度或いはスペクトル吸収値(吸光度
)の大きさに応じて、前記検量線W_1、W_2、W_
3を選択し、この選択された検量線に基づき試料の濃度
を求めるよう設定してなる原子吸光分析装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63239308A JPH0711483B2 (ja) | 1988-09-24 | 1988-09-24 | 原子吸光分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63239308A JPH0711483B2 (ja) | 1988-09-24 | 1988-09-24 | 原子吸光分析装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0287044A true JPH0287044A (ja) | 1990-03-27 |
JPH0711483B2 JPH0711483B2 (ja) | 1995-02-08 |
Family
ID=17042784
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63239308A Expired - Lifetime JPH0711483B2 (ja) | 1988-09-24 | 1988-09-24 | 原子吸光分析装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0711483B2 (ja) |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5558439A (en) * | 1978-10-27 | 1980-05-01 | Hitachi Ltd | Optical system for atomic light absorption analyzer |
JPS62167442A (ja) * | 1985-12-23 | 1987-07-23 | Shimadzu Corp | 原子吸光分析装置 |
-
1988
- 1988-09-24 JP JP63239308A patent/JPH0711483B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5558439A (en) * | 1978-10-27 | 1980-05-01 | Hitachi Ltd | Optical system for atomic light absorption analyzer |
JPS62167442A (ja) * | 1985-12-23 | 1987-07-23 | Shimadzu Corp | 原子吸光分析装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0711483B2 (ja) | 1995-02-08 |
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