JPH0282159A - 化学分析装置 - Google Patents
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- JPH0282159A JPH0282159A JP20398389A JP20398389A JPH0282159A JP H0282159 A JPH0282159 A JP H0282159A JP 20398389 A JP20398389 A JP 20398389A JP 20398389 A JP20398389 A JP 20398389A JP H0282159 A JPH0282159 A JP H0282159A
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- G—PHYSICS
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- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N30/00—Investigating or analysing materials by separation into components using adsorption, absorption or similar phenomena or using ion-exchange, e.g. chromatography or field flow fractionation
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は検出器デバイス（８）を含む液体または気体担
体物質における試料の時間に分別される物質の濃度値お
よびスペクトル値を測定する化学分析装置に関するもの
で、この分析装置は試料および担体物質の時間に分別さ
れる物質に光を透過する少なくとも１個の光源；与えら
れたスペクトル範囲にわたりおよび与えられた期間にわ
たり物質によって影響される光の強さを測定するレシー
バ−デバイス；およびデータ マド、リックスＸにおけ
る検出器デバイスによって測定された各測定のスペクト
ル値を収集し、およびデータ マ） ＩＪックスＸの特
異値分解後、物質の濃度値を評価することによって定め
る評価ユニットから構成されている。
体物質における試料の時間に分別される物質の濃度値お
よびスペクトル値を測定する化学分析装置に関するもの
で、この分析装置は試料および担体物質の時間に分別さ
れる物質に光を透過する少なくとも１個の光源；与えら
れたスペクトル範囲にわたりおよび与えられた期間にわ
たり物質によって影響される光の強さを測定するレシー
バ−デバイス；およびデータ マド、リックスＸにおけ
る検出器デバイスによって測定された各測定のスペクト
ル値を収集し、およびデータ マ） ＩＪックスＸの特
異値分解後、物質の濃度値を評価することによって定め
る評価ユニットから構成されている。
上述する化学分析装置としては、例えばガスクロマトグ
ラフ、液体クロマトグラフまたは赤外分光計がある。分
別デバイスにおいて、液体または気体担体物質に存在す
る試料の液体または気体物質は時間にふいて分別される
。例えば、液体クロマトグラフィーにおいて、分別は石
英粒子で充填されたクロマトグラフ カラムで行われる
。このカラムに圧通させる担体物質に試料を注入し、カ
ラム材料（石英粒子）の表面と相互作用するようにカラ
ムにある時間、滞留させる。従って、試料物質が分別デ
バイスの出口に、変化する濃度で時間により連続的に現
れる。しかしながら、物質の多くの濃度変化が重なるこ
とによって、物質の濃度変化（クロマトグラム）を明確
に確かめることができなくなる。分別デバイスから放出
される試料成分を有する担体物質を検出器デバイスに通
す。
ラフ、液体クロマトグラフまたは赤外分光計がある。分
別デバイスにおいて、液体または気体担体物質に存在す
る試料の液体または気体物質は時間にふいて分別される
。例えば、液体クロマトグラフィーにおいて、分別は石
英粒子で充填されたクロマトグラフ カラムで行われる
。このカラムに圧通させる担体物質に試料を注入し、カ
ラム材料（石英粒子）の表面と相互作用するようにカラ
ムにある時間、滞留させる。従って、試料物質が分別デ
バイスの出口に、変化する濃度で時間により連続的に現
れる。しかしながら、物質の多くの濃度変化が重なるこ
とによって、物質の濃度変化（クロマトグラム）を明確
に確かめることができなくなる。分別デバイスから放出
される試料成分を有する担体物質を検出器デバイスに通
す。
検出器デバイスにおいて、光源の光を試料の物質におよ
び存在する担体物質に透過する。種々の波長での光の吸
収を多数（例えば１２８個）のフォトダイオードで測定
する（レシービング デバイス）。
び存在する担体物質に透過する。種々の波長での光の吸
収を多数（例えば１２８個）のフォトダイオードで測定
する（レシービング デバイス）。
検出器デバイスを通る物質のスペクトルの測定（吸収光
の強さの測定）は等しい時間間隔で（例えば秒ごとに）
行われている。スペクトルを１８０〜２４００回測定す
るように、一般に全測定は３〜３０分間にわたって続け
られている。
の強さの測定）は等しい時間間隔で（例えば秒ごとに）
行われている。スペクトルを１８０〜２４００回測定す
るように、一般に全測定は３〜３０分間にわたって続け
られている。
測定されたスペクトル値は検出器デバイスによって評価
ユニットに送られている。ｒＡｎａｌｉｔｉｃａＣｈｉ
ｍｉｃａ Ａｃｔａｊ １７３． ２５３〜２６４（
１９８５） ｌこ、Ｂ、Ｇ、Ｍ。
ユニットに送られている。ｒＡｎａｌｉｔｉｃａＣｈｉ
ｍｉｃａ Ａｃｔａｊ １７３． ２５３〜２６４（
１９８５） ｌこ、Ｂ、Ｇ、Ｍ。
Ｖａｎｃｌｅｇｉｎｓｔｅ、 Ｗ、Ｄｅｒｋｓおよび６
゜Ｋａｔｅｍａｎ氏の「反復目標変換分析による高性能
液体クロマトグラフィーにおける多成分自動形式油清解
明」と題する文献に記載されているように、評価ユニッ
トは測定値から試料の各物質のスペクトルおよび濃度変
化を測定している。この場合、先ず検出器デバイスによ
って測定された特異値は評価ユニットによって次に示す
（Ｍ＊Ｌ）データ マトリックスＸ （Ｍライン、Ｌカ
ラム）に収集される：上記Ｘにおいて、横列（ｒｏｗ）
に測定の特異値しくＬ波長）および縦列（ｃｏｌｕ
ｍｎ）にＭ測定の波長の特異値が示される。測定の特異
値は時間において連続状態で区分される。
゜Ｋａｔｅｍａｎ氏の「反復目標変換分析による高性能
液体クロマトグラフィーにおける多成分自動形式油清解
明」と題する文献に記載されているように、評価ユニッ
トは測定値から試料の各物質のスペクトルおよび濃度変
化を測定している。この場合、先ず検出器デバイスによ
って測定された特異値は評価ユニットによって次に示す
（Ｍ＊Ｌ）データ マトリックスＸ （Ｍライン、Ｌカ
ラム）に収集される：上記Ｘにおいて、横列（ｒｏｗ）
に測定の特異値しくＬ波長）および縦列（ｃｏｌｕ
ｍｎ）にＭ測定の波長の特異値が示される。測定の特異
値は時間において連続状態で区分される。
理想的な化学分析装置においては、データ マトリック
スＸは主要部において次の式で示すように濃度マトリッ
クスＣ′およびスペクトル マトリックスＳ′の積に相
当する： （Ｍ＊Ｎ）濃度マトリックスＣ′において、縦列にＭ測
定（濃度変化）においての物質の濃度値が示される。縦
列の濃度値は物質のクロマトグラムを構成する。クロマ
トグラムまたは縦列の数はＮ物質の数に等しくしている
。（Ｎ＊Ｌ）マトリックスＳ′において、横列にＬ波長
についての物質のしスペクトル値が示される。それ故、
横列のスペクトル値は物質のスペクトルを構成している
。
スＸは主要部において次の式で示すように濃度マトリッ
クスＣ′およびスペクトル マトリックスＳ′の積に相
当する： （Ｍ＊Ｎ）濃度マトリックスＣ′において、縦列にＭ測
定（濃度変化）においての物質の濃度値が示される。縦
列の濃度値は物質のクロマトグラムを構成する。クロマ
トグラムまたは縦列の数はＮ物質の数に等しくしている
。（Ｎ＊Ｌ）マトリックスＳ′において、横列にＬ波長
についての物質のしスペクトル値が示される。それ故、
横列のスペクトル値は物質のスペクトルを構成している
。
スペクトルまたはラインの数はＮ物質の数に等しくして
いる。
いる。
スペクトル マトリックス１′または濃度マトリックス
Ｃ′はユークリッド基準によってしばしば標準化される
。次いで、唯一の修正スケールユニット（ｍｏｄｉｆｉ
ｅｄ ５ｃａｌｅ ｕｎｉｔｓ）を得るようにしている
。
Ｃ′はユークリッド基準によってしばしば標準化される
。次いで、唯一の修正スケールユニット（ｍｏｄｉｆｉ
ｅｄ ５ｃａｌｅ ｕｎｉｔｓ）を得るようにしている
。
しかしながら、測定値は、例えば検出器デバイスの非直
線性により、散乱光によりまたはフォトン ノイズ（ｐ
ｈｏｔｏｎ ｎｏｉｓｅ）により影響されるから、スペ
クトル値および濃度値を概算することができる。しかし
ながら、実際問題として、実際のスペクトルおよび濃度
値と概算のスペクトルおよび濃度値との間の誤差は数の
上で極めて小さい。それ故、データ マトリックスＸは
概算スペクトルマトリックスＳおよび濃度マトリックス
Ｃによって概算することができ、この関係式を次のよう
に与えている： ｘ５Ωミ （３）測定値を集
めるデータ マトリックスＸは余分な部分（ｒｅｄｕｎ
ｄａｎｃｉｅｓ）を含んでいる。それ故、このＸは情報
成分からなるから、これから物質のスペクトル値および
濃度値、およびノイズ成分の値を計算することができる
。特異値分解により、マトリックスを情報成分およびノ
イズ成分に分割する。
線性により、散乱光によりまたはフォトン ノイズ（ｐ
ｈｏｔｏｎ ｎｏｉｓｅ）により影響されるから、スペ
クトル値および濃度値を概算することができる。しかし
ながら、実際問題として、実際のスペクトルおよび濃度
値と概算のスペクトルおよび濃度値との間の誤差は数の
上で極めて小さい。それ故、データ マトリックスＸは
概算スペクトルマトリックスＳおよび濃度マトリックス
Ｃによって概算することができ、この関係式を次のよう
に与えている： ｘ５Ωミ （３）測定値を集
めるデータ マトリックスＸは余分な部分（ｒｅｄｕｎ
ｄａｎｃｉｅｓ）を含んでいる。それ故、このＸは情報
成分からなるから、これから物質のスペクトル値および
濃度値、およびノイズ成分の値を計算することができる
。特異値分解により、マトリックスを情報成分およびノ
イズ成分に分割する。
データ マトリックスＸから、３つのマトリックスＵ、
ＧおよびＶを形成し、次の関係式が得られている： Ｘ ＝ Ｕ Ｇ Ｖ ” （４
）（Ｍ＊Ｌ）マｌ−ＩＪックスＵの縦列はＸＸＴのし正
規直交特性ベクトルであり、（Ｌ＊Ｌ）マトリックスＶ
の縦列はＸＴＸのＬ正規直交特性ベクトルであり、およ
び（Ｌ＊Ｌ）対角行列ＧはＬ対角要素（ｄｉａｇｏｎａ
ｌ ｅｌｅｍｅｎｔ）からなり、このＧを次式％式％： この場合、１対角要素はこれらの特性値（特異値）の特
性値の平方根を含んでいる。特異値分解についての詳細
な説明はＣ０Ｌ、 ＬａｗｓｏｎおよびＲ，Ｊ、 ）Ｉ
ａｎｓｏｎ氏 ｒｓＯＬＶＩＮＧ ＬＥＡＳＴ ５
ＱＬＩＡＲＢＳ ＰＲＯＢＬＢＭＳＪ （Ｐｒｅｎ
ｔｉｃｅ−Ｈａｌｌ Ｅｎｇｌｅｗｏｏｄ Ｃ１１ｆｆ
ｓ 出版社、 １９７４） に記載されている。
ＧおよびＶを形成し、次の関係式が得られている： Ｘ ＝ Ｕ Ｇ Ｖ ” （４
）（Ｍ＊Ｌ）マｌ−ＩＪックスＵの縦列はＸＸＴのし正
規直交特性ベクトルであり、（Ｌ＊Ｌ）マトリックスＶ
の縦列はＸＴＸのＬ正規直交特性ベクトルであり、およ
び（Ｌ＊Ｌ）対角行列ＧはＬ対角要素（ｄｉａｇｏｎａ
ｌ ｅｌｅｍｅｎｔ）からなり、このＧを次式％式％： この場合、１対角要素はこれらの特性値（特異値）の特
性値の平方根を含んでいる。特異値分解についての詳細
な説明はＣ０Ｌ、 ＬａｗｓｏｎおよびＲ，Ｊ、 ）Ｉ
ａｎｓｏｎ氏 ｒｓＯＬＶＩＮＧ ＬＥＡＳＴ ５
ＱＬＩＡＲＢＳ ＰＲＯＢＬＢＭＳＪ （Ｐｒｅｎ
ｔｉｃｅ−Ｈａｌｌ Ｅｎｇｌｅｗｏｏｄ Ｃ１１ｆｆ
ｓ 出版社、 １９７４） に記載されている。
ノイズ成分の分離は、マトリックスＵ、■およびＧを有
意縦列（ｓｉｇｎｉｆｉｃａｎｔ ｃｏｌｕｍｎｓ）に
限定する（ｒｅｄｕｃｅｄ＞するように行われる。次い
で、縦列の数をＮ物質の数に相当させる。先ず、対角行
列の特異値を求め、次の関係式が得られている：ｇ１≧
ｇ２≧ ・・・・・・・・・≧ｇｒ ≧・・・・・・・
・・２ｇ Ｌ （６）続いて、特異値ｇ、、ｉ＝ｌ
、・・・・・・、Ｌを互いに比較する。次いで、ノイズ
成分により生じた特異値ｇｍ。１．・・・・・・・・・
＋ｇｔより著しく大きい特異値ｇ＋、ｔ＝１．・・・・
・・、Ｌを確かめる。対角行列旦において、（Ｎ＋１）
Ｌｈ−Ｌ ”縦列および横列を除いて、（Ｎ＊Ｎ）対
角行列ＧＭが得られる。同様に：マトリックスＵおよび
Ｖを（Ｎ＋１） ｔｈ−Ｌ ｔｈ縦列により制限する。
意縦列（ｓｉｇｎｉｆｉｃａｎｔ ｃｏｌｕｍｎｓ）に
限定する（ｒｅｄｕｃｅｄ＞するように行われる。次い
で、縦列の数をＮ物質の数に相当させる。先ず、対角行
列の特異値を求め、次の関係式が得られている：ｇ１≧
ｇ２≧ ・・・・・・・・・≧ｇｒ ≧・・・・・・・
・・２ｇ Ｌ （６）続いて、特異値ｇ、、ｉ＝ｌ
、・・・・・・、Ｌを互いに比較する。次いで、ノイズ
成分により生じた特異値ｇｍ。１．・・・・・・・・・
＋ｇｔより著しく大きい特異値ｇ＋、ｔ＝１．・・・・
・・、Ｌを確かめる。対角行列旦において、（Ｎ＋１）
Ｌｈ−Ｌ ”縦列および横列を除いて、（Ｎ＊Ｎ）対
角行列ＧＭが得られる。同様に：マトリックスＵおよび
Ｖを（Ｎ＋１） ｔｈ−Ｌ ｔｈ縦列により制限する。
次いで、（Ｍ＊Ｎ）マトリックスＵＮおよび（Ｌ ＊
Ｎ）マトリックスｖＮが得られる。このために、次の関
係式が得られている：Ｘ”＝Ａ＊ ＝Ｕｍ ＧＮ Ｖ”
（７）この場合、（Ｍ＊Ｌ）マトリックス
はオーダー（ｏｒｄｅｒ） Ｎを有している。実際上
、濃度マトリ・ンクスＣおよびスペクトル マトリック
スＳの積がマトリックスΔ緘 ： ＡＭ ” ＣＳ （８）に
相当することが確かめられている。濃度マトリックス二
の縦列の濃度値は濃度ベクトルΩ」（Ｃ＋Ｊ＋ ・・
・・・・、Ｃ，ＩＪ）１（物質の濃度変化）を構成して
いる。この濃度ベクトルは物質のクロマトグラムを示し
、マトリックスＵ、の縦列ベクトル（ｃｏｌｕｍｎ ｖ
ｅｃｔｏｒ） Ｕｋ、 ｋ ＝ １． ＝−−、Ｈ
の一時結合から形成され、次の関係式が得られている；
旦、＝ Σ ｄ、３旦、、Ｊ＝１． ・・・・・・、
Ｎ（９）この場合、数潰ｄ＞ｔ＝は評価によって確かめ
ることができる係数である。すべて、ｄ、ｌｋ数量はマ
トリックスＤに集めることができ、次の関係式が得られ
ている： ｃ＝ｕｓ Ｄ’ 翰この場合
、Ｄは（Ｎ＊Ｎ）マトリックスである。
Ｎ）マトリックスｖＮが得られる。このために、次の関
係式が得られている：Ｘ”＝Ａ＊ ＝Ｕｍ ＧＮ Ｖ”
（７）この場合、（Ｍ＊Ｌ）マトリックス
はオーダー（ｏｒｄｅｒ） Ｎを有している。実際上
、濃度マトリ・ンクスＣおよびスペクトル マトリック
スＳの積がマトリックスΔ緘 ： ＡＭ ” ＣＳ （８）に
相当することが確かめられている。濃度マトリックス二
の縦列の濃度値は濃度ベクトルΩ」（Ｃ＋Ｊ＋ ・・
・・・・、Ｃ，ＩＪ）１（物質の濃度変化）を構成して
いる。この濃度ベクトルは物質のクロマトグラムを示し
、マトリックスＵ、の縦列ベクトル（ｃｏｌｕｍｎ ｖ
ｅｃｔｏｒ） Ｕｋ、 ｋ ＝ １． ＝−−、Ｈ
の一時結合から形成され、次の関係式が得られている；
旦、＝ Σ ｄ、３旦、、Ｊ＝１． ・・・・・・、
Ｎ（９）この場合、数潰ｄ＞ｔ＝は評価によって確かめ
ることができる係数である。すべて、ｄ、ｌｋ数量はマ
トリックスＤに集めることができ、次の関係式が得られ
ている： ｃ＝ｕｓ Ｄ’ 翰この場合
、Ｄは（Ｎ＊Ｎ）マトリックスである。
対応して、スペクトル マトリックスＳは（Ｎ＊Ｎ）マ
トリックスＴおよびマトリックスＶ、の結合から得られ
、次の関係式が得られている：式（３）、 （７）、
（８）、Ｃ１およびａυを互いに結合する場合に、次の
関係式を示すことができる：ｘ＝、１、＝ｆ−５−＝、
ｉｂ Ｄ！”ＬＬ”−＝Ｍｗ ｆｔ−Ｖ”−これから、
次の関係が得られる： Ｇ、 ＤＴＴ Ｑ３１スペク
トル マトリックスＳおよび濃度マトリックスＣを定め
るために、式（９）の係数ｄｊｋを評価によって定めら
れる。次いで、評価値ｄＪｋを次の式により定められて
いる： に＝ｌ、 ・・・、Ｎ
Ｑ荀この場合、値ｕｉｋは縦列ベクトルＵ、と
関連する。
トリックスＴおよびマトリックスＶ、の結合から得られ
、次の関係式が得られている：式（３）、 （７）、
（８）、Ｃ１およびａυを互いに結合する場合に、次の
関係式を示すことができる：ｘ＝、１、＝ｆ−５−＝、
ｉｂ Ｄ！”ＬＬ”−＝Ｍｗ ｆｔ−Ｖ”−これから、
次の関係が得られる： Ｇ、 ＤＴＴ Ｑ３１スペク
トル マトリックスＳおよび濃度マトリックスＣを定め
るために、式（９）の係数ｄｊｋを評価によって定めら
れる。次いで、評価値ｄＪｋを次の式により定められて
いる： に＝ｌ、 ・・・、Ｎ
Ｑ荀この場合、値ｕｉｋは縦列ベクトルＵ、と
関連する。
濃度ベクトルＣｊの最初の評価値は弐〇釦こ置換される
。この最初の評価濃度ベクトルは１つのデルタ パルス
だけを含んでおり、この位置はラインサーチまたはバリ
マック ローテーションによって確かめられる（これに
ついてはｒＡｎａｌｙｔｉｃａＣｈｅｍｉｃａ Ａｃｔ
ａＪ１７３． ２５３〜２６４（１９８５） にＢ、
Ｇ、 Ｍ、 Ｖａｎｄｅｇｉｎｓｔｅ、 Ｗ、Ｄｅｒ
ｋｓおよびＧ、 Ｋａｔｅｍａｎ氏の「反復目標変換分
析による高性能液体クロマトグラフィ７における多成分
自動形式曲線解明」と題する文献に記載されている）。
。この最初の評価濃度ベクトルは１つのデルタ パルス
だけを含んでおり、この位置はラインサーチまたはバリ
マック ローテーションによって確かめられる（これに
ついてはｒＡｎａｌｙｔｉｃａＣｈｅｍｉｃａ Ａｃｔ
ａＪ１７３． ２５３〜２６４（１９８５） にＢ、
Ｇ、 Ｍ、 Ｖａｎｄｅｇｉｎｓｔｅ、 Ｗ、Ｄｅｒ
ｋｓおよびＧ、 Ｋａｔｅｍａｎ氏の「反復目標変換分
析による高性能液体クロマトグラフィ７における多成分
自動形式曲線解明」と題する文献に記載されている）。
弐〇４）により定められた結果は式（９）に置換される
。式（９）の解明により確かめられたベクトルＣ」を変
えて、負のＣ，ｊ値を生じないようにし、局部最小だけ
を有している。これらの値ＣＩｊによって、再び評価値
ｄｌｋを計算する。
。式（９）の解明により確かめられたベクトルＣ」を変
えて、負のＣ，ｊ値を生じないようにし、局部最小だけ
を有している。これらの値ＣＩｊによって、再び評価値
ｄｌｋを計算する。
このプロセスは、例えば与えられた数の反復段階を行っ
た場合に中断する。データ マトリックスＸの測定され
たスペクトル値は試料物質によるだけでなく、担体物質
によっても影響される。担体物質に関するこの情報は試
料物質の化学分析について関係がない。データ マトリ
ックスＸからのこの情報を除去するために、従来では、
試料について測定の前に、試料によらない担体物質につ
いてのスペクトル予備測定が行われている。担体物質デ
ータ マトリックスをスペクトルの測定のＭ同等のスペ
クトルから形成し、次いでデータ マトリックスＸから
引く。減法した後に得たマトリックスによって、上述す
るように濃度値の決定が行われる。次いで個々の試料物
質のスペクトル値を、濃度ベクトルの決定後、弐０■お
よびＯＤから定められる。
た場合に中断する。データ マトリックスＸの測定され
たスペクトル値は試料物質によるだけでなく、担体物質
によっても影響される。担体物質に関するこの情報は試
料物質の化学分析について関係がない。データ マトリ
ックスＸからのこの情報を除去するために、従来では、
試料について測定の前に、試料によらない担体物質につ
いてのスペクトル予備測定が行われている。担体物質デ
ータ マトリックスをスペクトルの測定のＭ同等のスペ
クトルから形成し、次いでデータ マトリックスＸから
引く。減法した後に得たマトリックスによって、上述す
るように濃度値の決定が行われる。次いで個々の試料物
質のスペクトル値を、濃度ベクトルの決定後、弐０■お
よびＯＤから定められる。
従来、行われていた濃度値およびスペクトル値の決定は
、実際の決定前に担体物質についての測定を行うために
、時間がかかっていた。更に、個々の物質の計算スペク
トル値および濃度値は、実際の測定中に測定装置の変化
、例えば予備測定に関する光源の光の強さの変化が生ず
る場合には、誤差が生ずる。更に、種々の個々の物質か
らなる担体物質の組成を時間によって変えることができ
ない。
、実際の決定前に担体物質についての測定を行うために
、時間がかかっていた。更に、個々の物質の計算スペク
トル値および濃度値は、実際の測定中に測定装置の変化
、例えば予備測定に関する光源の光の強さの変化が生ず
る場合には、誤差が生ずる。更に、種々の個々の物質か
らなる担体物質の組成を時間によって変えることができ
ない。
本発明の目的は、試料物質の濃度値およびスペクトル値
を決定する場合に、担体物質のスペクトルの予備測定を
必要とする化学分析装置を提供することである。
を決定する場合に、担体物質のスペクトルの予備測定を
必要とする化学分析装置を提供することである。
本発明は、上述する形式の化学分析装置において、評価
回路が時間による一次変化（ｌｉｎｅａｒ ｖａｒｉ−
ａｔｉｏｎ）による概算によって担体物質の濃度値を定
め、これから試料の物質および担体物質のスペクトル値
を計算することを特徴とする。
回路が時間による一次変化（ｌｉｎｅａｒ ｖａｒｉ−
ａｔｉｏｎ）による概算によって担体物質の濃度値を定
め、これから試料の物質および担体物質のスペクトル値
を計算することを特徴とする。
本発明の化学分析装置において、データ マトリック４
λの決定後、特異値分解および次の試料物質の濃度値の
評価による決定を評価回路で行う。
λの決定後、特異値分解および次の試料物質の濃度値の
評価による決定を評価回路で行う。
これに対して、担体物質の濃度値を時間による一次変化
での概算によって定める。一般に、担体物質は種々の個
々の物質からなる。個々の物質の組成を、測定中、一定
に保つ場合には、常に同じ濃度値が測定中、担体物質に
ついて得られる。このために、担体物質の組成の時間定
数によって、−定の濃度変化が得られる。測定中の個々
の物質の変化によって、担体物質の濃度変化の著しい直
線的上昇または降下が得られる。
での概算によって定める。一般に、担体物質は種々の個
々の物質からなる。個々の物質の組成を、測定中、一定
に保つ場合には、常に同じ濃度値が測定中、担体物質に
ついて得られる。このために、担体物質の組成の時間定
数によって、−定の濃度変化が得られる。測定中の個々
の物質の変化によって、担体物質の濃度変化の著しい直
線的上昇または降下が得られる。
担体物質の濃度値を含む濃度ベクトルは、特異値分解に
より得られたマトリックスに属する縦列ベクトルの一次
結合から形成する（式（９）参照）。
より得られたマトリックスに属する縦列ベクトルの一次
結合から形成する（式（９）参照）。
この−次結合は濃度変化を示す一次関数に等しくする。
これから、方程式システムが一次関数の特徴を有する未
知数量および位置で結合の未知係数で表わす。重複決定
（ｏｖｅｒｄｅｒｔｅｒｍｉｎｅｄ）方程式システムの
未知数量は近似計算によって概算される。
知数量および位置で結合の未知係数で表わす。重複決定
（ｏｖｅｒｄｅｒｔｅｒｍｉｎｅｄ）方程式システムの
未知数量は近似計算によって概算される。
−次間数における２つの未知数量の置換は担体物質の濃
度ベクトル（濃度変化）を生ずる。それ故、−法度化は
、測定を理想条件下で行わないために°、ただ斗既算す
ることができる。
度ベクトル（濃度変化）を生ずる。それ故、−法度化は
、測定を理想条件下で行わないために°、ただ斗既算す
ることができる。
試料物質および担体物質の濃度値の計算後、評価ユニッ
トが物質のスペクトル値を定める。測定値からの概算に
よって、担体物質の濃度値およびスペクトル値が定めら
れるから、従来技術による予備測定を必要としない。こ
の結果として、測定時間が短縮されることになる。更に
、化学分析を時間によって変化する溶媒組成物を用いて
行うことができる。
トが物質のスペクトル値を定める。測定値からの概算に
よって、担体物質の濃度値およびスペクトル値が定めら
れるから、従来技術による予備測定を必要としない。こ
の結果として、測定時間が短縮されることになる。更に
、化学分析を時間によって変化する溶媒組成物を用いて
行うことができる。
物質の濃度値およびスペクトル値の決定によって、測定
後、次の操作を評価ユニットで行うことができる： 検出器デバイスにより、与えられた定数で測定されたス
ペクトル値をメモリーに記憶する。
後、次の操作を評価ユニットで行うことができる： 検出器デバイスにより、与えられた定数で測定されたス
ペクトル値をメモリーに記憶する。
測定後、データ マトリックスＸの特異値分解を行い、
式： ％式％） （式中、Ｑ ＝ｄ＋ａｇ（ｇ、、 ＋・・＋＋＋、 ｇ
Ｌ）を示す）により時間に連続的に測定した後、横列り
に測定のスペクトル値をおよびＭラインに測定値を区分
し、ここにＵは（Ｍ＊Ｌ）マド、リックスであり：その
縦列においてＸの正規直交固有ベクトルはｘＴであり、
■は（Ｌ ＊ Ｌ）マトリックスで、その縦列において
Ｘ７のし正規直交固有ベクトルはＸであり、およびＧは
（Ｌ＊Ｌ）マトリックスで、そのＬ対角要素はこれらの
固有ベクトルの特性値の平方根を含んでいる。
式： ％式％） （式中、Ｑ ＝ｄ＋ａｇ（ｇ、、 ＋・・＋＋＋、 ｇ
Ｌ）を示す）により時間に連続的に測定した後、横列り
に測定のスペクトル値をおよびＭラインに測定値を区分
し、ここにＵは（Ｍ＊Ｌ）マド、リックスであり：その
縦列においてＸの正規直交固有ベクトルはｘＴであり、
■は（Ｌ ＊ Ｌ）マトリックスで、その縦列において
Ｘ７のし正規直交固有ベクトルはＸであり、およびＧは
（Ｌ＊Ｌ）マトリックスで、そのＬ対角要素はこれらの
固有ベクトルの特性値の平方根を含んでいる。
特異値分解後、マ） ＩＪックスｔＪ、 ＧおよびＶを
有意なＮ縦列に制限し、データ マトリックスＸの近似
値を示すオーダＮによるマ） ＩＪックスＡＮ ＝ Ｕ
ＨＧＷ Ｖ”Ｎ 全４ル。
有意なＮ縦列に制限し、データ マトリックスＸの近似
値を示すオーダＮによるマ） ＩＪックスＡＮ ＝ Ｕ
ＨＧＷ Ｖ”Ｎ 全４ル。
次いで、式：
％式％［
による濃度ベクトル旦、の計算によってすべての物質の
濃度値を定める。ここに、ｕｋはマトリックスＵＮの縦
列ベクトルであり、試料の物質に関する値ｄ、ｋを評価
により定め、担体物質に関する値ｄｊ、を近似計算によ
って定め、この場合担体物質についての濃度ベクトルＣ
ｂを１１、・・・・・・２Ｍについての二次関数ａ （
＋ ａ Ｏに等しくし、およびこれから式： を得る方程式システムを補正計算（ｃｏｍｐｅｎｓａｔ
ｉｏｎｃａｌｃｕｌａｔｉｏｎ）によって解く。および
物質の濃度値の決定後、スペクトル値を最初にマトリッ
クスＧＮおよびマトリックス二からの他のマ） ＩＪッ
クスＴの計算により定め、この場合すべての値を式ＤＴ
−工−旦、により収集し；次いでスペクトル マ） Ｉ
Ｊックス旦のみ計算により定め、この場合すべてのスペ
クトル値を式５＝ＴＶ”、によりマ） ＩＪツクスエお
よびマトリックス■８から収集する。
濃度値を定める。ここに、ｕｋはマトリックスＵＮの縦
列ベクトルであり、試料の物質に関する値ｄ、ｋを評価
により定め、担体物質に関する値ｄｊ、を近似計算によ
って定め、この場合担体物質についての濃度ベクトルＣ
ｂを１１、・・・・・・２Ｍについての二次関数ａ （
＋ ａ Ｏに等しくし、およびこれから式： を得る方程式システムを補正計算（ｃｏｍｐｅｎｓａｔ
ｉｏｎｃａｌｃｕｌａｔｉｏｎ）によって解く。および
物質の濃度値の決定後、スペクトル値を最初にマトリッ
クスＧＮおよびマトリックス二からの他のマ） ＩＪッ
クスＴの計算により定め、この場合すべての値を式ＤＴ
−工−旦、により収集し；次いでスペクトル マ） Ｉ
Ｊックス旦のみ計算により定め、この場合すべてのスペ
クトル値を式５＝ＴＶ”、によりマ） ＩＪツクスエお
よびマトリックス■８から収集する。
このために、担体物質の濃度値は一次関数ａｉ＋ａｏ、
ｉ＝１．・・・・・・１Ｍによって概算する。
ｉ＝１．・・・・・・１Ｍによって概算する。
方程式システム：
は、例えばＪｏｓｅｐｈ ５ｔｏｅｒ氏ｒＢｉｎｆｕｈ
ｒｕｎｇ ｉｎ ｄｉｅＮｕｍｅｒｉｓｃｈｅ Ｍａｔ
ｈｅｍａｔｉｋ Ｉ Ｊ第２版、１６５〜１７５頁（
１９７６）、 Ｓｐｒｉｎｇｅｒ Ｖｅｒｌａｇ出版社
の文献に記載されているように、補正計算により解くこ
とのできる重複決定方程式システムを構成している。す
べてのベクトルＣ４およびＣ６はマ） ＩＪノクスＣを
構成する。係数ｄ、Ｊはマ） ＩＪックスＤに集められ
た式： ％式％） を得る（式αＣ参照）。
ｒｕｎｇ ｉｎ ｄｉｅＮｕｍｅｒｉｓｃｈｅ Ｍａｔ
ｈｅｍａｔｉｋ Ｉ Ｊ第２版、１６５〜１７５頁（
１９７６）、 Ｓｐｒｉｎｇｅｒ Ｖｅｒｌａｇ出版社
の文献に記載されているように、補正計算により解くこ
とのできる重複決定方程式システムを構成している。す
べてのベクトルＣ４およびＣ６はマ） ＩＪノクスＣを
構成する。係数ｄ、Ｊはマ） ＩＪックスＤに集められ
た式： ％式％） を得る（式αＣ参照）。
次の式（式０３）参照）：
ＧＭ＝Ｄ” Ｔ （２ｆｆ）の
解明によって、次にマ）ＩＪックスＴを定める。
解明によって、次にマ）ＩＪックスＴを定める。
試料の物質および担体物質のスペクトルをマトリックス
乗法によって定める（弐０１）参照）：Ｓ ＝ Ｔ Ｖ
’、 （２１）化学分析
装置は液体クロマトグラフィーについて有利に用いるこ
とができる。次いで、検出器デバイスを、担体物質およ
び試料の物質を時間により分別できるクロマトグラフ
カラムより前に配置し、異なる波長でそのつど分別する
物質によって吸収された光の強さを測定する多数のフォ
トダイオードを検出器デバイスにレシーバ−デバイスと
して設ける。
乗法によって定める（弐０１）参照）：Ｓ ＝ Ｔ Ｖ
’、 （２１）化学分析
装置は液体クロマトグラフィーについて有利に用いるこ
とができる。次いで、検出器デバイスを、担体物質およ
び試料の物質を時間により分別できるクロマトグラフ
カラムより前に配置し、異なる波長でそのつど分別する
物質によって吸収された光の強さを測定する多数のフォ
トダイオードを検出器デバイスにレシーバ−デバイスと
して設ける。
次に、本発明を添付図面に基づいて説明する。
第１図に示す液体クロマトグラフィーについての化学分
析装置は容器１を有しており、この容器１に液体担体物
質を入れる。ポンプ３に連結する導管２を数種の各物質
からなる液体担体物質中に突出させる。ポンプ３は導管
２を介して容器ｌの担体物質をクロマトグラフ カラム
に延びる導管４に送る。ポンプ３は、担体物質をクロマ
トグラフカラム５を介して常に流送するようにする。導
管４は分岐管６を有しており、この分岐管６に試料物質
を弁７を介して送り、その濃度およびスペクトルを測定
する。石英粒子を装填したクロマトグラフ カラム５は
試料の液体物質を時間により分別する。カラム材料の表
面と相互接触することによって、試料の物質はカラムに
異なる滞留時間にわたって保持される。クロマトグラフ
カラム５から流出する担体物質は試料成分と共に検出
器デバイス８に送られる。検出器デバイス８は紫外光を
物質に透過する光源を含んでおり、この光の吸収をレシ
ーバ−デバイスによって測定する。
析装置は容器１を有しており、この容器１に液体担体物
質を入れる。ポンプ３に連結する導管２を数種の各物質
からなる液体担体物質中に突出させる。ポンプ３は導管
２を介して容器ｌの担体物質をクロマトグラフ カラム
に延びる導管４に送る。ポンプ３は、担体物質をクロマ
トグラフカラム５を介して常に流送するようにする。導
管４は分岐管６を有しており、この分岐管６に試料物質
を弁７を介して送り、その濃度およびスペクトルを測定
する。石英粒子を装填したクロマトグラフ カラム５は
試料の液体物質を時間により分別する。カラム材料の表
面と相互接触することによって、試料の物質はカラムに
異なる滞留時間にわたって保持される。クロマトグラフ
カラム５から流出する担体物質は試料成分と共に検出
器デバイス８に送られる。検出器デバイス８は紫外光を
物質に透過する光源を含んでおり、この光の吸収をレシ
ーバ−デバイスによって測定する。
レシーバ−デバイスは多数のフォトダイオード（例えば
１２８個）からなり、光を異なる波長で測定する。出口
導管９を介して、測定済みの物質を受は器１０に送る。
１２８個）からなり、光を異なる波長で測定する。出口
導管９を介して、測定済みの物質を受は器１０に送る。
検出器デバイス８は、物質を等しい時間間隔で；例えば
秒ごとに流れる物質を測定する。一般に、全測定時間は
３〜３０分であり、すなわち、１８０〜２４００のスペ
クトルの測定を行うことができる。データはリード線１
１を介して評価ユニット１２に送る０評価ユニット１２
は中央計算ユニット１４、例えばマイクロプロセッサ−
１少なくとも１個のランダムアクセスメモ１，１− （
ＲＡＭ） １５ 、少なくとも１個の読取り専用メモＩ
Ｊ −（Ｒｏｔ、ｌ） １６ 、書込み素子１７および
読取り素子１８を含んでいる。各測定後、測定したスペ
クトル値をリード線１１および書込み素子１７を介して
ランダム アクセスメモリー１５に読込マせる。評価ユ
ニッ［２は測定したスペクトル値から各試料物質および
担体物質の濃度値およびスペクトル値を計算する。結果
を読込み素子１８を介して表示ユニット１９に送る。
秒ごとに流れる物質を測定する。一般に、全測定時間は
３〜３０分であり、すなわち、１８０〜２４００のスペ
クトルの測定を行うことができる。データはリード線１
１を介して評価ユニット１２に送る０評価ユニット１２
は中央計算ユニット１４、例えばマイクロプロセッサ−
１少なくとも１個のランダムアクセスメモ１，１− （
ＲＡＭ） １５ 、少なくとも１個の読取り専用メモＩ
Ｊ −（Ｒｏｔ、ｌ） １６ 、書込み素子１７および
読取り素子１８を含んでいる。各測定後、測定したスペ
クトル値をリード線１１および書込み素子１７を介して
ランダム アクセスメモリー１５に読込マせる。評価ユ
ニッ［２は測定したスペクトル値から各試料物質および
担体物質の濃度値およびスペクトル値を計算する。結果
を読込み素子１８を介して表示ユニット１９に送る。
第２図は各プログラム段階を説明するためのフローチャ
ートを示しており、各段階は試料物質および担体物質の
濃度値およびスペクトル値を定める評価ユニット１２に
よって行う。測定後、ランダム アクセスメモリー１５
に記憶したデータ式（１）に示すようにデータ マトリ
ックスＸに集められる（ブロック３０）。次いで、デー
タ マトリックスＸの特異値分解くブロック３１）を式
（５）に示すように行う。対角行列Ｇ ｄｉａｇ（ｇｔ
、 ・・・・・・１ｇ、）を求め（ブｏ 、７り３２
）、ｇｔを最大値およびｇｔを最小値にする。特異値わ
、ｉ＝ｌ、・・・・・・、Ｌは情報成分およびノイズ成
分のそれぞれによって生ずる。
ートを示しており、各段階は試料物質および担体物質の
濃度値およびスペクトル値を定める評価ユニット１２に
よって行う。測定後、ランダム アクセスメモリー１５
に記憶したデータ式（１）に示すようにデータ マトリ
ックスＸに集められる（ブロック３０）。次いで、デー
タ マトリックスＸの特異値分解くブロック３１）を式
（５）に示すように行う。対角行列Ｇ ｄｉａｇ（ｇｔ
、 ・・・・・・１ｇ、）を求め（ブｏ 、７り３２
）、ｇｔを最大値およびｇｔを最小値にする。特異値わ
、ｉ＝ｌ、・・・・・・、Ｌは情報成分およびノイズ成
分のそれぞれによって生ずる。
数量によって小さいｇｈ＋値は、一般に与えられた数量
を越さないノイズ成分によって生ずる。この数量は調整
値として作用し、個々のｇ、値と比較する。限界値より
大きい特異値をｇＮとして示す。
を越さないノイズ成分によって生ずる。この数量は調整
値として作用し、個々のｇ、値と比較する。限界値より
大きい特異値をｇＮとして示す。
次いで、マトリックス旦を（Ｎ料ν１によってＬ Ｌｈ
縦列およびラインに制限して、特異値ｇＮ＋＋＋・・・
・・・ｇＬを消す。更に、マトリックスＵおよびＶを（
Ｎ＋１）ＬｈによってＬ ｔｈに制限する。かようにし
て得たマトリックスをＵ、ＩおよびＶＮで示す（式（７
）次いで、係数ｄ、ｋを上述するように評価（ブロック
３３） によって定める（式（９）および０４）参照）
。
縦列およびラインに制限して、特異値ｇＮ＋＋＋・・・
・・・ｇＬを消す。更に、マトリックスＵおよびＶを（
Ｎ＋１）ＬｈによってＬ ｔｈに制限する。かようにし
て得たマトリックスをＵ、ＩおよびＶＮで示す（式（７
）次いで、係数ｄ、ｋを上述するように評価（ブロック
３３） によって定める（式（９）および０４）参照）
。
係数ｄｌｋの決定によって、試料物質についての濃度ベ
クトルＣ１を計算する。
クトルＣ１を計算する。
ブロック３４に示すように、次いで、担体物質について
の濃度値を計算する。担体物質の濃度変化において、−
次関数を２つの未知数の数量ａおよびａ。の式Ｏａに記
載するように用いる。この結果、方程式システム： Ｃｂ ”ａｌ ＋ａ。＝ｆ ｄｂ、ｕｋ、ｉ＝１．
・・・・・・Ｍ、 （２２）を求めることができる
と共に、係数ａ。を１に等しくすることができる（標準
化）。次いで、Ｎ＋１未知数量（Ｎ Ｘ ｄｂｋおよび
ａ）を定める。−船釣な重複決定方程式システムは、例
えばＪｏｓｅｐｈ ５ｔｏｅｒ氏ｒＥｉｎｆｉｉｈｒｕ
Ｂ ｉｎ ｄｉｅ Ｎｕ＋ｙ＋ｅｒｉｓｃｈｅ Ｍａｔ
ｈｅｍａｔｉｋＩ」第２版、１７５頁（１９７６）に記
載されているように補正計算によって求める。ｌＪ＋ｌ
未知数１の決定後、担体物質の濃度ベクトルＣ６を計算
する。
の濃度値を計算する。担体物質の濃度変化において、−
次関数を２つの未知数の数量ａおよびａ。の式Ｏａに記
載するように用いる。この結果、方程式システム： Ｃｂ ”ａｌ ＋ａ。＝ｆ ｄｂ、ｕｋ、ｉ＝１．
・・・・・・Ｍ、 （２２）を求めることができる
と共に、係数ａ。を１に等しくすることができる（標準
化）。次いで、Ｎ＋１未知数量（Ｎ Ｘ ｄｂｋおよび
ａ）を定める。−船釣な重複決定方程式システムは、例
えばＪｏｓｅｐｈ ５ｔｏｅｒ氏ｒＥｉｎｆｉｉｈｒｕ
Ｂ ｉｎ ｄｉｅ Ｎｕ＋ｙ＋ｅｒｉｓｃｈｅ Ｍａｔ
ｈｅｍａｔｉｋＩ」第２版、１７５頁（１９７６）に記
載されているように補正計算によって求める。ｌＪ＋ｌ
未知数１の決定後、担体物質の濃度ベクトルＣ６を計算
する。
濃度マトリックス逅に収集される試料物質の濃度ベクト
ル至」および濃度ベクトルＣ６の決定後およびすべての
係数ｄｊｋを収集するマ） ＩＪックスｐの決定後、マ
トリックスＴを式（イ）によって計算し、次いでスペク
トル マトリックスＳを式（２１）の計算によって定め
る（ブロック３５）。試料物質および担体物質のスペク
トル値および濃度値の決定後、個々の試料物質の同定を
行うことができる。
ル至」および濃度ベクトルＣ６の決定後およびすべての
係数ｄｊｋを収集するマ） ＩＪックスｐの決定後、マ
トリックスＴを式（イ）によって計算し、次いでスペク
トル マトリックスＳを式（２１）の計算によって定め
る（ブロック３５）。試料物質および担体物質のスペク
トル値および濃度値の決定後、個々の試料物質の同定を
行うことができる。
第１図は本発明による液体クロマトグラフィーについて
の化学分析装置を示す説明用線図、および 第２図は第１図に示す装置の評価ユニットにより実施す
る各プログラム段階を説明するフローチャートである。 ■・・・容器 ２，４・・・導管３・・
・ポンプ ５・・・クロマトグラフ カラム
の化学分析装置を示す説明用線図、および 第２図は第１図に示す装置の評価ユニットにより実施す
る各プログラム段階を説明するフローチャートである。 ■・・・容器 ２，４・・・導管３・・
・ポンプ ５・・・クロマトグラフ カラム
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、試料および担体物質の時間に分別される物質に光を
透過する少なくとも１個の光源；与えられたスペクトル
範囲にわたりおよび与えられた期間にわたり物質によっ
て影響される光の強さを測定するレシーバーデバイス； およびデータマトリックスＸにおける検出器デバイスに
よって測定された各測定のスペクトル値を収集し、およ
びデータマトリックスＸの特異値分解後、物質の濃度値
を評価することによって定める評価ユニット（１２）か
らなる、検出器デバイス（８）を含む液体または気体担
体物質における試料を時間により分別される物質の濃度
値およびスペクトル値を測定する化学分析装置において
、評価回路（１２）が時間による一次変化による概算に
よって担体物質の濃度値を定め、これから試料の物質お
よび担体物質のスペクトル値を計算することを特徴とす
る化学分析装置。 ２、評価ユニットは、 −検出器デバイス（８）により、与えられた定数で測定
されたスペクトル値をメモリー （１５）に記憶し； −測定後、データマトリックス￥Ｘ￥の特異値分解を行
い、式： ￥Ｘ￥＝￥Ｕ￥￥Ｇ￥Ｖ￥＾Ｔ （式中、￥Ｇ￥＝ｄｉａｇ（ｇ＿１，……，ｇ＿Ｌ）を
示し、）により時間に連続的に測定した後、横列Ｌに測
定のスペクトル値をおよびＭラインに測定値を区分し、
ここに￥Ｕ￥は（Ｍ＊Ｌ）マトリックスであり、その縦
列において￥Ｘ￥の正規直交固有ベクトルは￥Ｘ￥＾Ｔ
であり、￥Ｖ￥は（Ｌ＊Ｌ）マトリックスで、その縦列
において￥Ｘ￥＾ＴのＬ正規直交固有ベクトルはＸであ
り、および￥Ｇ￥は（Ｌ＊Ｌ）マトリックスで、そのＬ
対角要素はこれらの固有ベクトルの特性値の平方根を含
んでおり； −特異値分解後、マトリックス￥Ｕ￥、￥Ｇ￥およびＶ
を有意なＮ縦列に制限し、データマトリックス￥Ｘ￥の
近似値を示すオーダＮによるマトリックス￥Ａ￥＿Ｎ＝
￥Ｕ￥＿Ｎ￥Ｇ￥＿Ｎ￥Ｖ￥＾Ｔ＿Ｋを得；−次いで、
式： ￥Ｃ￥＿ｊ＝▲数式、化学式、表等があります▼ｄ＿ｊ
＿ｋ￥ｕ￥＿ｋ による濃度ベクトル￥ｃ￥＿ｊの計算によってすべての
物質の濃度値を定め、ここに、ｕ＿ｋはマトリックス￥
Ｕ￥＿Ｎの縦列ベクトルであり、試料の物質に関する値
ｄ＿ｊ＿ｋを評価により定め、担体物質に関する値ｄ＿
ｊ＿ｋを近似計算によって定め、この場合担体物質につ
いての 濃度ベクトルｃ＿ｂをｉ＝１，……，Ｍについての一次
関数ａ＿ｉ＋ａ＿ｏに等しくし、およびこれから式： ￥ｃ￥＿ｂ＝ａｉ＋ａ＿ｏ＝▲数式、化学式、表等があ
ります▼ｄ＿ｂ＿ｋ￥ｕ￥＿ｋを得る方程式システムを
補正計算によって解き； − 物質の濃度値の決定後、スペクトル値を最初にマト
リックスＧ＿Ｎおよびマトリックス￥Ｄ￥からの他のマ
トリックス￥Ｔ￥の計算により定め、この場合すべての
値を式￥Ｄ￥＾Ｔ￥Ｔ￥＝￥Ｇ￥＿Ｎにより収集し； 次いでスペクトルマトリックスＳのみ計算により定め、
この場合すべてのスペクトル値を式￥Ｓ￥＝￥Ｔ￥￥Ｖ
￥＾Ｔ＿Ｎによりマトリックス￥Ｔ￥およびマトリック
ス￥Ｖ￥＿Ｎから収集する請求項１記載の装置。 ３、検出器デバイス（８）を、担体物質および試料の物
質を時間により分別できるクロマトグラフカラム（５）
より前に配置し、異なる波長でそのつど分別する物質に
よって吸収された光の強さを測定する多数のフォトダイ
オードをレシーバーデバイスとして検出器デバイスに設
けて、装置を液体クロマトグラフィーに適用するように
した請求項１または２記載の装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE3827066.8 | 1988-08-10 | ||
| DE19883827066 DE3827066A1 (de) | 1988-08-10 | 1988-08-10 | Chemisches analysegeraet |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0282159A true JPH0282159A (ja) | 1990-03-22 |
Family
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Family Applications (1)
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|---|---|---|---|
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Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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Families Citing this family (2)
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- 1989-08-08 JP JP20398389A patent/JPH0282159A/ja active Pending
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2017083441A (ja) * | 2015-10-26 | 2017-05-18 | エーザイ・アール・アンド・ディー・マネジメント株式会社 | 特異値解析法を用いた電子ノイズ除去法および特異値解析用プログラム |
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