JPH0271282A - 電位制御装置 - Google Patents

電位制御装置

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JPH0271282A
JPH0271282A JP22312888A JP22312888A JPH0271282A JP H0271282 A JPH0271282 A JP H0271282A JP 22312888 A JP22312888 A JP 22312888A JP 22312888 A JP22312888 A JP 22312888A JP H0271282 A JPH0271282 A JP H0271282A
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JP
Japan
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output
circuit
sensor
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amplifies
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JP22312888A
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Inventor
Tomoseki Yamaguchi
智責 山口
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JAPAN IMEEJINGU SYST KK
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JAPAN IMEEJINGU SYST KK
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  • Electrostatic Charge, Transfer And Separation In Electrography (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は電位制御装置に関し、特に感光体を用いた画像
形成装置の画像形成プロセスにおいて感光体の表面電位
を設定電位とするために帯電用電源の出力を制御する電
位制御装置に関する。
〔従来の技術〕
周知のように、感光体を用いた画像形成装置とし°ζ電
子写真装置がある。電子写真装置における画像形成プロ
セスは、感光体の表面に対して一様帯電を行い、画像情
報に従った露光を行って静電潜像を形成し、静電潜像を
顕像化し、顕像を用紙等の記録媒体に転写および定着し
て画像を得るものである。一方、感光体は、その後にク
リーニングおよび除電されて次のサイクルに進む。
上記画像形成プロセスの中で感光体への一様帯電にあた
っては、コロトロン帯電器を用いた定電圧または定電流
による帯電、あるいはスコロトロン帯電器を用いたグリ
ッドバイアス設定による帯電が主に用いられている。特
に、正帯電の場合には、機構が簡単となるために、コロ
トロン帯電器を用いた帯電が一般に用いられる。
また、一部でブラシ帯電が用いられる場合があるが、ブ
ラシ帯電は、オゾンの発生がない、電位が低くてよい等
の利点があるものの、機構が複雑となってコストアップ
となるために実際にはほとんど用いられていない。
ところで、感光体へのより安定した帯電を行うために、
感光体の帯電位を測定し、その測定値に応じて帯電用電
源からの帯電器への出力を制御する電位制御装置が広く
使用されるようになってきている。これは、初期帯電能
力、使用疲労、7IJL度等によって感光体の帯電能力
に差が生じるためで、特に高画質の画像が求められる画
像形成装置、感光体の帯電能力が諸条件によって大きく
変化する画像形成装置等においては、電位制御装置が用
いられる。
第2図に示すように、電位制御装置1は、感光体2の近
傍に配置されたセンサ3に接続されているとともに、帯
電用電源4に接続されている。帯電用電源4は帯電器5
に接続されている。
従来の電位制御装置は、例えば第3図に示すように、自
動発振回路31と、バンドパスフィルタ(以下、BPF
と略記する)・交流増幅回路32と、整流・直流増幅回
路33と、平滑回路34と、比較・誤差増幅回路35と
、加算回路36とから構成されていた。
センサ3は、第4図に示すように、被帯電体(感光体2
または調整時にこれに代替して使用されるアルミニュー
ム管)の帯電位Vsをセンサ3の検出電極に静電誘導に
より発生する出力電位V。
として測定するもので、出力電位Voは帯電位Vsが被
帯電体と検出電極との間のインピーダンスZ、と検出電
極の終端インピーダンスz2とで分圧されたものとなる
。なお、通常は、z、>>22となっているために、出
力電位■0は非常に小さく測定値が不正確となるので、
ここではインピーダンス2.を自励発振回路31で約5
20Hzで周期的に変化させて増幅しやすい交流の形で
出力させるようにしている。
このようにしてセンサ3から出力された出力電位VOは
、自動発振回路31の出力信号を同期信号とするBPF
・交流増幅回路32によって有効周波数での信号成分が
取り出されて交流増幅される。
次に、整流・直流増幅回路33によって整流され直流増
幅されて、平滑回路34によって平滑化されて測定値と
される。続いて、平滑回路34から出力された測定値は
、比較・誤差増幅回路35によって基準値と比較されて
その差分に応じて増幅された後に、加算回路36によっ
て応答性をよくするためにあらかじめ帯電用電源4の出
力に応じて、また使用条件に応じて設定されたレベルに
対して加算される。なお、加算回路36には、感光体2
への過帯電を防止するために最大出力値を規定するリミ
ッタを設定しておくこともできる。加算回路36からの
出力によって帯電用電源4から帯電器5への出力が制御
される。
〔発明が解決しようとする課題〕
上述した従来の電位制御装置では、実際には、例えば第
5図に示すようなセンサ3の感光体2(被帯電体)に対
する取付距離による出力変化があり、また、例えば第6
図に示すような感光体2(被帯電体)の表面温度による
出力変動があり、基準値との比較を行うにもまず測定値
そのものが信顛性の落ちるものとなっているという問題
点がある。
ところで、一部に出力微調用の可変抵抗が付いた電位セ
ンサユニットもあるが、これには零調整がなく、出力微
調を行うには、例えば第7図に示すように5oovで調
整した場合、OVの出力は不明であるため、■に示すよ
うな出力特性となっているとは限らず、■や■に示すよ
うな出力特性になっていることもあり、正確な電位測定
ができなくなるおそれがある。もちろん、5oovを設
定電位とし、その測定値を0.8Vとする場合には、そ
の設定電位だけに注目するために問題とならないかもし
れないが、設定電位を条件等によって変化させたい場合
には、この調整では測定値の信頼性は低下する。
本発明の目的は、上述の点に鑑み、基準値と比較する前
の測定値としての信頼性を上げるために、センサの零調
整および出力微調、さらには温度特性の補正を行った後
に基準値と比較するようにした電位制御装置を提供する
ことにある。
〔課題を解決するための手段〕
本発明の電位制御装置は、被帯電体の表面電位をセンサ
によって検出して基準値と比較し前記被帯電体を帯電さ
せる帯電器への帯電用電源の出力を制御する電位制御装
置において、前記センサからの交流出力を交流検波して
交流増幅するBPF・交流増幅回路と、このBPF・交
流増幅回路からの出力を整流して直流増幅する整流・直
流増幅′回路と、この整流・直流増幅回路に設けられ出
力の微調整を行う出力微調回路と、前記整流・直流増幅
回路からの出力を平滑化する平滑回路と、この平滑回路
からの出力を温度補正し零調整する温度補正・零調整回
路と、この温度補正・零調整回路からの出力を基準値と
比較して誤差に応じて増幅する比較・誤差増幅回路とを
具備することを特徴とする。
〔作用〕
本発明の電位制御装置では、BPF・交流増幅回路がセ
ンサからの交流出力を交流検波して交流増幅し、整流・
直流増幅回路がBPF・交流増幅回路からの出力を整流
して直流増幅し、整流・直流増幅回路に設けられた出力
微調回路が出力の微調整を行い、平滑回路が整流・直流
増幅回路からの出力を平滑化し、温度補正・零調整回路
が平滑回路からの出力を温度補正し零調整し、比較・誤
差増幅回路が温度補正・零調整回路からの出力を基準値
と比較して誤差に応じて増幅する。
〔実施例〕
次に、本発明について図面を参照して詳細に説明する。
第1図は、本発明の一実施例の電位制御装置の構成を示
す回路ブロック図である。本実施例の電位制御装置は、
自動発振回路11と、BPF・交流増幅回路12と、出
力微調回路14および出力微調用可変抵抗15を含む整
流・直流増幅回路13と、平滑回路16と、零調整用可
変抵抗18を含む温度補正・零調整回路17と、比較・
誤差増幅回路19と、加算回路20とから構成されてい
る。なお、符号Aは、調整用の端子を示す。
次に、このように構成された本実施例の電位制御装置の
動作について説明する。
まず、零調整にあたっては、センサ3と感光体2とが使
用される距離において、感光体2(実際には電位測定が
可能なように感光体2に代替してアルミニューム管が用
いられる)が零電位の状態で、端子Aの出力がOvとな
るように温度補正・零調整回路17の零調整用可変抵抗
18を回して零調整する。
次に、出力のvlX調整にあたっては、感光体2を例え
ば800Vとして(実際にはアルミニューム管に800
Vを印加して) 、BPF・交流増幅回路12および整
流・直流増幅回路13の増幅率から決められる出力ゲイ
ン(例えば、1/1000)で端子Aの出力が0.8v
となるように微調整用可変抵抗15を回して出力を微調
整する。
このようにして、感光体2の帯電位0〜800■に対し
て端子Aの出力0〜0.8■という対応がつき、表面電
位と測定値との関係が正確にとれることとなり、またセ
ンサ3自身がもつ温度による出力変動も温度補正・零調
整回路18によって補正されるために、感光体2の表面
電位を正確に知ることができる状態となる。
以上のようにして調整が行われた後に、画像形成装置の
実際の使用状態での電位制御装置の電位制御時には、セ
ンサ3から出力された出力電位vOは、自動発振回路1
1の出力信号を同期信号とするBPF・交流増幅回路1
2によって有効周波数での信号成分が取り出されて交流
増幅される。次に、整流・直流増幅回路13によって整
流され直流増幅されるとともに出力微調回路14によっ
て出力が補正され、平滑回路16によって平滑化される
続いて、温度補正・零調整回路17によって第4図に示
したような温度特性の傾きを補正するように温度補正が
行われるとともに零調整されて正確な電位測定値となる
。そして、比較・誤差増幅回路19によって基準値と比
較されてその差分に応じて増幅された後に、加算回路2
0によってあらかじめ設定されたレベルに加算され、加
算回路20の出力によって電源4の帯電器5への出力が
制御される。
なお、加算回路20で、リミッタにより感光体2への過
帯電を防止するように、出力が制御されるようにしても
よいことはもちろんである。
ところで、本実施例の電位制御装置はハイブリッドIC
(混成集積回路)によって回路として一体的に製作可能
であるので、コストアップもほとんどなしに、また大き
さにおいても問題となることなしに製作および使用可能
である。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明は、零調整および出力微調を
可能とするようにしたことにより、センサの取付にあた
って感光体との距離の管理が容易となり、量産時の組立
調整が容易となるという効果がある。例えば、調整時に
アルミニューム管を用いてOvと高電位、例えば800
Vとを切り換えて印加することにより、可変抵抗の調整
のみでセンサの取付調整が容易に行えること番こなる。
また、温度補正を行うようにしたことにより、センサの
出力値の信頬性が上がり、正しい測定値が得られるとい
う効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の電位制御装置の構成を示す
回路ブロック図、 第2図は電位制御装置が配設される画像形成装置を示す
要部概要図、 第3図は従来の電位制御装置の一例を示す回路ブロック
図、 第4図は被帯電体とセンサの検出電極との間に形成され
るインピーダンス回路を示す図、第5図は被帯電体とセ
ンサとの間の距離と相対比較出力値との関係を示す線図
、 第6図は被帯電体温度と出力変動との関係を示す線図、 第7図は零調整を説明するための線図である。 図において、 1・・・電位制御装置、 2・・・感光体く被帯電体)、 3・・・センサ、 4・・・帯電用電源、 5・・・帯電器、 11・・・自動発振回路、 12・・・B ’P F・交流増幅回路、13・・・整
流・直流増幅回路、 14・・・出力微調回路、 15・・・出力微調用可変抵抗、 16・・・平滑回路、 17・・・温度補正・零調整回路、 18・・・零調整用可変抵抗、 19・・・比較・誤差増幅回路、 20・・・加算回路である。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 被帯電体の表面電位をセンサによって検出して基準値と
    比較し前記被帯電体を帯電させる帯電器への帯電用電源
    の出力を制御する電位制御装置において、 前記センサからの交流出力を交流検波して交流増幅する
    BPF・交流増幅回路と、 このBPF・交流増幅回路からの出力を整流して直流増
    幅する整流・直流増幅回路と、 この整流・直流増幅回路に設けられ出力の微調整を行う
    出力微調回路と、 前記整流・直流増幅回路からの出力を平滑化する平滑回
    路と、 この平滑回路からの出力を温度補正し零調整する温度補
    正・零調整回路と、 この温度補正・零調整回路からの出力を基準値と比較し
    て誤差に応じて増幅する比較・誤差増幅回路と を具備することを特徴とする電位制御装置。
JP22312888A 1988-09-06 1988-09-06 電位制御装置 Pending JPH0271282A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4336690A1 (de) * 1993-10-27 1995-05-04 Henning Dipl Phys Dr Frunder Einrichtung zum Messen von elektrischen Potentialkontrasten (Potentialunterschieden)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4336690A1 (de) * 1993-10-27 1995-05-04 Henning Dipl Phys Dr Frunder Einrichtung zum Messen von elektrischen Potentialkontrasten (Potentialunterschieden)
DE4336690C2 (de) * 1993-10-27 1999-04-15 Henning Dipl Phys Dr Frunder Vorrichtung zum Messen von elektrischen Potentialunterschieden an elektrografischen Aufzeichnungsmaterialien

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