JPH0271277U - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0271277U JPH0271277U JP15140888U JP15140888U JPH0271277U JP H0271277 U JPH0271277 U JP H0271277U JP 15140888 U JP15140888 U JP 15140888U JP 15140888 U JP15140888 U JP 15140888U JP H0271277 U JPH0271277 U JP H0271277U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- test board
- view
- utility
- scope
- integrated circuits
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims 1
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Description
第１図ａ，ｂはこの考案の一実施例によるＩＣ
テストボードの平面図および正面図、第２図はこ
の考案の他の実施例を示す正面図、第３図ａ，ｂ
は従来のＩＣテストボードの平面図および正面図
、第４図は従来の他のＩＣテストボードの正面図
である。 図において、１はＩＣテストボード基板、２は
信号配線、３はＩＣソケツト、４は導電性板、５
は導電性柱である。なお、図中、同一符号は同一
、又は相当部分を示す。
テストボードの平面図および正面図、第２図はこ
の考案の他の実施例を示す正面図、第３図ａ，ｂ
は従来のＩＣテストボードの平面図および正面図
、第４図は従来の他のＩＣテストボードの正面図
である。 図において、１はＩＣテストボード基板、２は
信号配線、３はＩＣソケツト、４は導電性板、５
は導電性柱である。なお、図中、同一符号は同一
、又は相当部分を示す。
Claims (1)
- 半導体集積回路を電気的にテストするテストポ
ードにおいて、導電性板及び導電性柱を付加した
ことを特徴とするＩＣテストボード。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15140888U JPH0271277U (ja) | 1988-11-21 | 1988-11-21 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15140888U JPH0271277U (ja) | 1988-11-21 | 1988-11-21 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0271277U true JPH0271277U (ja) | 1990-05-30 |
Family
ID=31425429
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15140888U Pending JPH0271277U (ja) | 1988-11-21 | 1988-11-21 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0271277U (ja) |
-
1988
- 1988-11-21 JP JP15140888U patent/JPH0271277U/ja active Pending