JPH0266406A - 自動較正機能付計測装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ この発明は例えば角度、圧力等の所望の計測量を自動較
正して計測する装置、特に計測量に対応して入力するア
ナログ信号を信号増幅後、量子化して計測する場合の自
動較正機能付計測装置に関するものである。

［従来の技術］ 従来例えば角度、距離、レベル、温度、圧力等の計測量
を測定する計測装置では、センサからの微少信号を増幅
する増幅器を使用する場合が多く、この増幅器のゲイン
及びオフセットの調整を行なわないと精度の良い計測値
が得られないため、人手による調整がしばしば行われて
いた。

第５図は例えば従来の計測装置内部の増幅器のゲイン及
びオフセットの調整箇所を含む回路図であり、図におい
て２１．２２は演算増幅器、２３は可変抵抗器、２４は
ポテンショメータ、２５〜２８は固定抵抗器、２９は入
力端子、３０は出力端子′、＋Ｖｏは正電源、　Ｖｃは
負電源である。いま可変抵抗器２３、ポテンショメータ
２４、及び固定抵抗器２５．２Ｂ、　２７．２８のそれ
ぞれの抵抗値をＲ２３、Ｒ２４、Ｒ２５、Ｒ２Ｏ、Ｒ２
７、Ｒ２８とし、またＲ　２Ｂ−Ｒ２７−Ｒ２ｇとする
。

第５図の動作を説明する。同図は演算増幅器２１で信号
増幅を行い、演算増幅器２２では信号増幅は行なわず、
オフセット電圧の調整のみを行う増幅回路である。従っ
て可変抵抗器２３の調整により増幅回路のゲインが調整
され、ポテンショメータ２４の調整により増幅回路のオ
フセット電圧が調整される。いまポテンショメータ２４
の抵抗値Ｒ２４に比較し、固定抵抗器２７の抵抗値Ｒ２
７をきわめて大きく、即ちＲ２４＜　Ｒ２７とすると、
第５図の増幅回路のオフセット電圧はポテンショメータ
２４の出力電圧に比例する。従って入力端子２９よりの
入力電圧をＶ　、出力端子３０よりの出力電圧をｖ　　
１ポｉ　ｎ　　　　　　　　　　　　　　　　ｏｕｔテ
ンショメータ２４の両端をそれぞれ正電源＋Ｖｃ及び負
電源−Ｖｃに接続し、その摺動端子の電圧をＶ　　とす
ると、次の（１）式が得られる。

ｏｆ’ｆ Ｖ　　　−（Ｒ２３／Ｒ２５）　−Ｖ。

ｏｕｔ　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　
ｉｎ（Ｒ２８／　Ｒ２Ｂ）　・Ｖ　　　・・・（１）ｆ
Ｔ いまＲ２８−Ｒ２Ｂとしたので（１）式は次のくＩＡ）
式となる。

Ｖ　　　−（Ｒ２３／Ｒ２５）　　−Ｖ、ｎ−Ｖｏｆｒ
ｕｔ ・・・（ＩＡ） （ＩＡ）式により増幅回路のゲインは、Ｒ２３／　Ｒ２
４の抵抗比で決定されるので、可変抵抗器Ｒ２３で調整
できる。またポテンショメータ２４の摺動端子の電圧Ｖ
　　の調整により、増幅回路の内蔵するオｏ１’ｒ フセット電圧を相殺したり、さらに一定のオフセット電
圧を印加したりすることができる。

［発明が解決しようとする課題］ 上記のような従来の増幅器のゲイン及びオフセット調整
手段では、ゲイン及びオフセットの調整に人間の人手と
調整時間を必要とした。

即ち（１）まずポテンショメータ２４を調整し、その摺
動端子からの出力電圧Ｖ　　を零にする。

ｆＴ （１１）そして入力電圧ｖ１ｎを零としたとき、出力電
圧Ｖ　　が零であるかをチエツクする。

ｏｕｔ （ｉｌｉ）もし出力電圧Ｖ　　が零でなければ、ｏｕｔ ポテンショメータ２４を再調整して出力電圧Ｖ　　が零
となるようにする。これで演算ｕｔ 増幅器２１２２を含む増幅回路のオフセットを調整した
ことになる。

（ｉｖ）次に入力電圧Ｖ、に適当な入力値（例えｉｎ ば０．Ｉ　Ｖ）を入力し、出力電圧Ｖ　　か所ｕｔ 望の出力値（例えばｌ０Ｖ）となるように可変抵抗器２
３を調整すると、所要のゲイン（前例では１００倍）に
調整される。

（Ｖ）ゲインの調整が完了してから、再び入力電圧■、
を零として、出力電圧Ｖ　　か所Ｉｎ　　　　　　　　
　　　　　　　　　　　　　　　　　ｏｕｔ要のオフセ
ット値になるようにポテンショメータ２４を再調整する
。

上記（ｉ）〜（Ｖ）の調整手順により、増幅器のゲイン
とオフセットを調整するための、人間の人手とかなりの
調整時間を必要とした。特に調整用可変抵抗器が装置の
容器内部に設置されている場合は、多くの調整時間を要
するのみならず、環境条件の悪い設置場所では容器を開
けると塵埃が混入し、製品の品質に悪影響を及ぼすこと
がある。

また人手による調整のため、個人差による調整のバラツ
キも存在した。

この発明はかかる問題点を解決するためになされたもの
で、人手と調整時間を要する増幅器のゲインとオフセッ
トの調整を省略し、代りに直接所望の計測量に変換した
測定系の自動較正用ゲイン及びオフセットを初期較正し
、その後は自動的に所望の計Δ；ｊ量による測定ができ
る自動較正機能付測定装置を得ることを目的とする。

［課題を解決するための手段］ この発明に係る自動較正機能付測定装置は、計ａｌｌ　
ｆｆｉに対応して入力するアナログ信号を、信号増幅後
量子化し、所望の計測量に変換して計測する装置におい
て、前記アナログ信号を所定ゲインで増幅する増幅器と
、該増幅器の出力信号を量子化するアナログ・デジタル
変換器と、該アナログ・デジタル変換器から入力される
少くとも２個の自動較正用量子化データに対応する所望
の計測量である自動較正用計測データを入力するデータ
入力部と、前記アナログ・デジタル変換器から入力され
る自動較正用量子化データ及び前記データ入力部から入
力される自動較正用計測データとにより、前記所望の計
測量に変換したときの自動較正用ゲイン及びオフセット
を算出する演算部と、該演算部が算出した演算結果を記
憶するデータ記憶部と、該データ記憶部に記憶された自
動較正用ゲイン及びオフセットに基づき所望の計１１１
１Ｊｆｆｉの計測制御を行う計測制御部とを備えたもの
である。

［作用コ この発明においては、例えば角度、温度、圧力等の所望
の計ｎｊ量に対応して入力するアナログ信号を所定ゲイ
ンの増幅器により信号増１幅した後、ＡＤ変換器を介し
て量子化し、計測特性の基準となる少くとも２個以上の
前記量子化データを自動較正用量子化データとして入力
し、同時に前記自動゛較正用量子化データに対応する所
望の計測量である自動較正用計測データとを入力し、前
記入力された両自動較正用データから所望の計測量に変
換したときの計測系の自動較正用ゲイン及びオフセット
を算出し、該算出値を記憶する初期較正を行い、前記初
期較正終了後は前記記憶された自動較正用ゲイン及びオ
フセットに基づき、入力される前記量子化データから所
望の計測量の計測を可能とするものである。

［実施例］ 第１図はこの発明の第１の実施例を示すブロック図であ
り、１は固定ゲインと固定オフセットを有する増幅器、
２はアナログ・デジタル変換器（以下ＡＤ変換器という
）、３はマイクロプロセッサ（以下ＣＰＵという）、４
はデータの書込み及び読出しが可能なＲＡＭ、５は制御
プログラムを内蔵するＲＯＭ、６はデータ記憶部で、記
憶データの喪失や変更を防止できる記憶部（例えば不揮
発メモリやバッテリでバックアップされたＲＡＭ等）と
して使用することを考慮して一般のＲＡＭ４と別の記憶
部とした。７は直列データと並列データの相互変換をす
る直列・並列データ変換器、８はデジタルデータを外部
より入力させる外部入力装置、９はケーブル接続用のコ
ネクタ、ＩＯはアナログ信号の入力端子、１１は自動較
正機能付計測装置、１２は角度発信器として使用される
ポテンショメータで、その一端は正電源に、その他端は
基準電位にそれぞれ接続され、その摺動端子からの電圧
信号が角度信号として用いられる。

第１図の動作を説明する。具体的な例としてポテンショ
メータ１２は例えば自動操舵装置の角度発信器として使
用され、その角度発信範囲は０度から９０度までとする
。ポテンショメータ１２の一端は正電源（例えば＋ＩＶ
）に、またその他端は基準電位（例えばＯＶ）に接続さ
れ、その摺動端子から電圧信号Ｖが出力され、入力端子
１０を介して増幅器１に入力されている。また説明を容
易にするため、ポテンショメータ１２はその操作軸の回
転角と摺動端子の出力電圧とがリニア（直線）の特性を
有するものとする。いま最初に角度発信器であるポテン
ショメータ１２の回転軸がある操作角度位置（例えば回
転軸を反時計方向に一杯に廻した固定位置）に設定され
たとき、外部入力装置８がら出力されコネクタ９及び直
列・並列データ変換器７を介してＣＰＵ３に入力される
角度データをＹｌ（例えば０度）、そのときのポテンシ
ョメータ１２の出力電圧をＶｌ（本例では最小電圧）、
ポテンショメータ１２の出力電圧ｖ１が増幅器１を介し
てＡＤ変換器２より出力されるデジタルデータをＤｌと
し、次にポテンショメータ１２の回転軸が別の操作角度
位置（例えば回転軸を時計方向に一杯に廻した固定位置
）に設定したとき、外部入力装置８から出力されＣＰＵ
３に入力される角度データをＹ２（例えば９０度）、そ
のときのポテンショメータ１２の出力電圧をＶ２（本例
では最大電圧）、ポテンショメータ１２の出力電圧ｖ２
が増幅器１を介してＡＤ変換器２より出力されるデジタ
ルデータをＤ２とする。またこのときのＡＤ変換器２の
電圧変換係数（単位は１／ＩＩＩＶ）をＫとする。

増幅器１の固定ゲインをＡ１固定オフセット電圧をＢと
すると、増幅器１への入力電圧ｖ１、Ｖ２とＡＤ変換器
２の出力データＤ１、Ｄ２の間には次の（２）　、（３
）式が成立する。

ＤＩ−（Ａ−Ｖ１＋Ｂ）−Ｋ　　　　　−（２）Ｄ２−
　（Ａ　−Ｖ２＋Ｂ）−Ｋ　　　　　−（３）（２）　
、（３）式において電圧変換係数に−１とすると、固定
ゲインＡ１固定オフセット電圧Ｂは（４）、（５）式に
より求められる。

ｐ、−（Ｄ２−Ｄｉ）／　（Ｖ２−Ｖｌ）−（４）Ｂ−
Ｄ２−　（Ｄ２−Ｄｉ）／　（Ｖ２−Ｖｌ）ｘｖ２　　
　　　　　　　　　　　　・・・（５）具体的な例を示
すと、増幅器１の入力電圧Ｖ１−　ｌｏｍＶ、Ｖ　２−
９８０ｍＶ　、Ａ　Ｄ変換器２の出力データＤ　１−１
１５　、Ｄ　２−９８１５　（もしもＡＤ変換器２／を
二 がデジタル電圧計の場合は単位のｍＶも表示される。）
とすると、（４）　、（５）式より固定ゲインＡ耐 −１０、固定オフセット電圧Ｂ　−１５ｍＶが求められ
る。

またポテンショメータ１２はその操作回転角と出力電圧
Ｖとがリニアの特性を有するので、外部入力装置８から
の角度データＹ１、Ｙ２とＡＤ変換器２の出力データＤ
１、Ｄ２とはリニアの関係にあり、−次方程式により両
者の関係を規定できる。

第２図はこの発明の自動較正カーブを示す図であり、同
図（ａ）は−次直線の場合、同図（ｂ）は非直線を折線
近似する場合を示す。いま第２図（ａ）に示される一次
直線の勾配を８１オフセツト値をｂとすれば次の（Ｉｆ
）　　（７）式が得られる。

Ｄｌ−ａ−Ｙ１＋ｂ　　　　　　　　・・・（６）Ｄ　
２　＝　ａ−Ｙ　２　＋ｂ　　　　　　　　　−（７）
（６）　、（７）式より勾配ａ、オフセット値すが（８
）、（９）式により求められる。

ａ＝　（Ｄ２−ＤＩ）／　（Ｙ２−Ｙｌ）　・”（８）
ｂ−Ｄ２−　（Ｄ２−ＤＩ）／　（Ｙ２−Ｙｌ）ＸＹ２
　　　　　　　　　　　　　・・・（９）具体例を示す
と外部入力装置８からの角度データＹ１−０度、Ｙ２−
９０度、ＡＤ変換器２の出力データＤＩ−１１５、Ｄ２
−９８１５とすると、−次直線の勾配ａ　−９７０７９
（＝１０７．７７７・・・）、オフセット値ｂ　−１１
５が求められる。またａ、ｂが算出されれば任意のＡＤ
変換器２の出力データＤｉより対応する角度データＹ１
が次の°（１０）式により求められる。

Ｙｌ　＝　（Ｄｉ　−ｂ）　／　ａ　　　　　　　　＝
４１０）この勾配ａとオフセット値すは＜８）　、（９
）式より明らかなように、ＡＤ変換器２の出力データＤ
１、Ｄ２と外部入力装置８からの角度データＹ１、Ｙ２
より求められる。またこのＡＤ変換器２の出力データＤ
１、Ｄ２は、（２）　、（３）式に示される増幅器１の
固定ゲインＡ１固定オフセット８１人カアナログ電圧ｖ
１、ｖ２、及びＡＤ変換器２の電圧変換係数Ｋを主要因
として決定されるので、この勾配ａとオフセット値すは
増幅器１のゲインとオフセットに等価な所望の計測量（
本例では角度）に変換した計測系の自動較正用のゲイン
とオフセットと言うことができる。

第２図（ｂ）は計測量、例えば角度、レベル、温度、圧
力等を検出するセンサからの出力電圧が非直線の場合、
複数の一次直線により折線近似を行う例を示している。

即ちＡＤ変換器２からの出力データをＤｌ、Ｄ２、Ｄ３
、Ｄｉとして、それぞれに対〜応する外部入力装置８か
らの入力針４１データをＹｌ、Ｙ２、Ｙ３、Ｙ４とする
と、上記説明と同様に３つの区域についてそれぞれ（１
１）、（１２）、（１３）式を得ることができる。

Ｄラミ　　ＩＩＹ＋ｂｌ ■ （但しＤ１≦Ｄ≦Ｄ２）　　　　　・・・（１１〉Ｄ−
１Ｉａ　φＹ＋ｂ２ （但しＤ２≦Ｄ≦Ｄ３）　　　　　・・・（１２）Ｄ−
Ｉａ　ｅＹ＋ｂ３ （但しＤ３≦Ｄ≦Ｄ４）　　　　　・・・（１３）従っ
て３つの区域についてあらかじめ勾配ａ１、ａ２、ａ　
及びオフセット値ｂ　　Ｓｂ　　、ｂ３を算出して記憶
しておけば、任意のＡＤ変換器２の出力データＤｌより
対応する計測データＹｉが（１０）式にり求められる。

第１図の回路による上記計算動作を説明する。

まず外部入力装置８がコネクタ９により接続された状態
で初期較正動作を行う。第１図のポテンショメーター２
はその操作回転角と摺動端子からの出力電圧がリニアで
あるので、第２図（ａ）の−次直線の場合に該当する。

まず角度発信器であるポテンショメータ１２を第１の基
準信号位置に設定し、ＣＰＵ３は外部入力装置８よりコ
ネクタ９及び直列・並列データ変換器７を介して入力さ
れる第１の角度データＹ１と対応してＡＤ変換器２から
出力される第１のデータＤ１を読取りＲＡＭ４に記憶さ
せる。次に角度発信器であるポテンショメータ１２を第
２の基準信号位置に変更して前回と同様に、第２の角度
データＹ２と対応するＡＤ変換器２からの第２のデータ
Ｄ２を読取りＲＡＭ４に記憶させる。ＣＰＵ３は（８）
　、（９）式により勾配ａ及びオフセット値すを算出し
、この算出データをデータ記憶部６に記憶させる。デー
タ記憶部６が不揮発メモリ又はバッテリでバックアップ
されたＲＡＭの場合は、供給電源が停止されても、その
記憶内容は保持される。もしも電源が断のとき記憶デー
タの喪失が許されるなら一般のＲＡ　Ｍ　４　ニ前記算
出データを記憶させてもよい。第２図（ｂ）の非直線を
折線近似する場合は、センサからの出力電圧をそれぞれ
第１、第２、第３、第４の基準電圧信号Ｖ１、ｖ２、Ｖ
３、Ｖｉとなるように設定し、このそれぞれの場合に対
応する計測データＹ１、Ｙ２、Ｙ３、Ｙ４と、ＡＤ変換
器２がらのそれぞれの出力データＤ１、Ｄ２、Ｄ３、Ｄ
４をＣＰＵ３は読取りＲＡＭ４に記憶させる。そしてＣ
ＰＵ３は前記同様に勾配ａ１、ａ２、ａ３及びオフセッ
ト値ｂ　１ｂ２、ｂ３を算出し、この算出データをデー
タ記憶部６に記憶させる。またＣＰＵ３は前記ＲＡＭ４
に記憶させた角度データもしくは他の計測データＹ１〜
Ｙ４、ＡＤ変換器２からの出力データＤ１〜Ｄ４及びデ
ータ記憶部６に記憶させた勾配ａ　　−ａ３及びオフセ
ット値ｂ１〜ｂ３を図示しない内部表示器に表示させる
ことができる。また外部入力装置８を外部入出力装置に
代えて、直列・並列データ変換器７を介して外部入出力
装置に出力させ又は表示させることもできる。ＲＯＭ５
は上記初期較正動作及濤その後の計測動作をＣＰＵ３が
行うための各棟割・、御プログラムや計算式等を記憶し
ている。

以上の初期較正が終了すると、コネクタ９を非接続とし
て外部入力装置８を取り外し、以後は通常の測定動作に
移る。第１図の角度δＩｌｌ定の場合は、ＣＰＵ３は角
度発信器であるポテンショメータ１２から任意の角度信
号Ｖｉが人力されると、そのときのＡＤ変換器２からの
データＤＩを読込み、データ記憶部６から勾配ａ及びオ
フセットｂを、またＲＯＭ５から計算式（１０）を読出
して、角度データＹｉを算出することができる。同様に
非直線センサからの計１１ＰＪ　ｆｆｉを第２図（ｂ）
の折線近似により計７１！ｊする場合は、センサからの
入力電圧信号ｖｌに基づ（ＡＤ変換器２の出力データＤ
ｉの値により、３つの区域のうちどの区域に該当するか
を判断し、該当する区域に適用する直線の勾配ａ１及び
オフセットｂ１から１．計算式（ｌＯ）を用いて計測デ
ータＹｉを算出することができる。

従って本発明は計測系に入力される電気量としての電圧
信号（Ｖ）を所望の計測量、例えば角度、レベル、温度
、圧力等（Ｙ）に変換して計測する場合に、少くとも２
個の電圧信号ｖ１、ｖ２を量子化したデジタルｆｆ１Ｄ
１、Ｄ２と、これに対応する計ａｌｌＹ１、Ｙ２とを本
装置に入力し、アナログ増幅器を主要因とする計測系の
ゲインとオフセットを算出するのと全く等価な演算、即
ち一次方程式の勾配とオフセットを算出し、この算出値
を記憶する初期較正を行うことにより、以後任意の電圧
信号（Ｖｉ　）を量子化したデジタル量（Ｄｌ）を本装
置に入力し、直接所望の計測量（Ｙｌ）を計測可能とす
るものである。

また本発明は電圧計測の場合に必要とされるアナログ増
幅器１のゲインとオフセットの算出及び調整を省略し、
その代りに直接所望の計測量に変換、して測定系のゲイ
ンとオフセットの初期較正を行うものであるということ
ができる。さらに本発明の特徴として、単に増幅器１の
ゲインとオフセットのみならず、例えばポテンショメー
タ１２の取付誤差やＡＤ変換器２のオフセット（入力が
ｏｖのとき、出力に発生するデジタル値）等が存在する
場合にも、これらを含んだ計測系全体のゲインとオフセ
ットとを較正していることである。従って計測系全体と
して精度の高い較正が行なわれることになる。

第３図はコネクタ９の結線例を示す図であり、図におい
て３．６．７及び９は第１図と同一の機器である。８Ａ
はデータの入力及び出力が可能な外部入出力装置である
。コネクタ９あ内部の９−１〜９−５はそれぞれ接続プ
ラグとりセブタクルを示している。いま９−１には送信
データ線、９−２には受信データ線、９−３には共通グ
ランド線、９−４及び９−５には書込制御線がそれぞれ
接続されている。

ＣＰＵ３から出力さ、れる書込制御信号はコネクタ９の
プラグとりセブタクル９−５、外部入出力装置８Ａの内
部短絡線及びコネクタ９のプラグとりセブタクル９−４
を介してデータ記憶部６に供給されている。従ってコネ
クタ９のプラグとりセブタクルを非接続とすると、書込
制御信号はデータ記憶部６に供給されないので、−度記
憶された内容が再書込みにより変更されることはない。

この第３図のような結線とすることにより、初期較正動
作終了後に外部入力装置８もしくは外部入出力装置８Ａ
を取り外すと、自動的にデータ記憶部６は書込禁止状態
となる。

第４図はこの発明の第２の実施例を示すブロック図であ
り、１〜６．１０及び１２は第１図の機器と同一のもの
である。ＩＩＡはこの自動較正機能付計測装置、１３は
本装置内部のデータ入力部である。

第４図においては、第１図の直列・並列データ変換器７
、コネクタ９及び外部入力装置８を取り除いて、代りに
本装置内にデータ入力部１３を内蔵させたものである。

従って外部入力装置８の機能をデータ入力部１３が代り
に行う点を除いて総て第１図の動作と同一である。従っ
て第４図の動作説明は省略する。

なお、上記実施例ではＣＰＵ３がＡＤ変換器２から出力
データの読取り動作を実行するときに、各データを１回
だけ読取ってＲＡＭ４に記憶する例を示したが、この発
明はそれに限定されるものではなく、実際にはアナログ
入力信号Ｖｔの変動や増幅器１の変動によりＡＤ変換器
２の出力データＤＩも変動することが多いので、この場
合にはＡＤ変換器２の出力データＤＩを複数回読取って
、その平均値を算出することにより計測誤差を減少させ
るようにしている。

また第２図（ｂ）においては、非直線を折線近似する場
合の例を示したが、一般の非直線の場合は次の（１４）
式等の曲線で近似することもできる。

ｎ　　　　　　　　　ｏ−１ Ｙ　ｉ　−１−ａ　　Ｄ　ｉ　＋　ａ　２　Ｄ　ｉ　　
　＋　　・・・＋ａ　　Ｄ１＋ａｎ＋１−（１４） （１４）式を用いてセンサが対数特性等の非直線の場合
も同様に自動較正を行うことができる。

また第１図の実施例では外部入力装置８はデジタルデー
タの入力機能のみを有するように説明したが、データの
入力及び出力の両方の機能を有する外部入出力装置８Ａ
に代えても勿論問題はない。

［発明の効果］ 以上のようにこの発明によれば、例えば角度、温度、圧
力等の所望の計１１１３量を計測する場合に、センサか
ら入力されるアナログ信号を増幅器及びＡＤ変換器を介
した自動較正用量子化データと、この量子化データに対
応する自動較正用計測データとにより、計測系の自動較
正用ゲイン及びオフセットを初期較正しておくので、以
後は入力される前記量子化データから所望の計測量の計
ｆｌｌｌＪが可能となる。従って以下の効果が得られる
。

（１）増幅器のゲイン及びオフセットの調整が省略でき
、環境条件の悪い場所で容器を開ける必要がな（なり、
装置の保守性及び信頼性が向上した。

（１１）所望の計測量に変換した自動較正が可能となり
初期較正の調整時間が短縮された。特に計測量が一次直
線の特性の場合は２点の初期較正ですむから操作性が向
上した。

（Ｉｌｌ）従来人手による可変抵抗器等の調整は個人差
が多かったが、本装置により複数計測値の平均化も自動
的に可能となり、計測精度が向上した。

（ｉｖ）データ記憶部に不揮発メモリや、バッテリによ
るバックアップＲＡＭを使用した場合は、自動較正用デ
ータが供給電源が断となっても保存されるので、自動較
正用データの信頼性が保持される。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明の第１の実施例を示すブロック図、第
２図はこの発明の自動較正カーブを示す図、第３図はコ
ネクタの結線例を示す図、第４図はこの発明の第２の実
施例を示すブロック図、第５図は従来の計測装置内部の
増幅器のゲイン及びオフセットの調整箇所を含む回路図
である。 図において、１は増幅器、２はＡＤ変換器、３はＣＰＵ
、４はＲＡＭ、５はＲＯＭ、６はデータ記憶部、７は直
列・並列データ変換器、８は外部入力装置、８Ａは外部
入出力装置、９はコネクタ、１Ｏ１２９は入力端子、１
１、ＩＩＡは自動較正機能付針７）ＴＪＩ装置、１２．
２４はポテンショメータ、１３はデータ入力部、２Ｌ　
２２は演算増幅器、２３は可変抵抗器、２５〜２８は固
定抵抗器、３０は出力端子である。 なお、図中同一符号は同−又は相当部分を示す。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 計測量に対応して入力するアナログ信号を、信号増幅後
   量子化し、所望の計測量に変換して計測する装置におい
   て、 前記アナログ信号を所定ゲインで増幅する増幅器と、 該増幅器の出力信号を量子化するアナログ・デジタル変
   換器と、 該アナログ・デジタル変換器から入力される少くとも２
   個の自動較正用量子化データに対応する所望の計測量で
   ある自動較正用計測データを入力するデータ入力部と、 前記アナログ・デジタル変換器から入力される自動較正
   用量子化データ及び前記データ入力部から入力される自
   動較正用計測データとにより、前記所望の計測量に変換
   したときの自動較正用ゲイン及びオフセットを算出する
   演算部と、 該演算部が算出した演算結果を記憶するデータ記憶部と
   、 該データ記憶部に記憶された自動較正用ゲイン及びオフ
   セットに基づき所望の計測量の計測制御を行う計測制御
   部とを備えたことを特徴とする自動較正機能付計測装置
   。