JPH026350Y2 - - Google Patents
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- JPH026350Y2 JPH026350Y2 JP1982098097U JP9809782U JPH026350Y2 JP H026350 Y2 JPH026350 Y2 JP H026350Y2 JP 1982098097 U JP1982098097 U JP 1982098097U JP 9809782 U JP9809782 U JP 9809782U JP H026350 Y2 JPH026350 Y2 JP H026350Y2
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- thermal conductivity
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- reaction tube
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Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
この考案は示差熱分析装置に関し、さらに詳し
くは、ベースラインの変動を小さくした示差熱分
析装置に関する。
くは、ベースラインの変動を小さくした示差熱分
析装置に関する。
従来の示差熱分析装置は、たとえば第1図に示
すごときものであり、加熱炉6で加熱される反応
管加熱部3の内部空間に配置された試料Sと基準
物質Rの温度差を検出器7で測定して温度差曲線
(DTA曲線)を求めるものである。通常、反応管
2は石英ガラスやアルミナ製であり、その支持部
4は水冷チユーブ8で低温となるよう冷却されて
いる。また、検出器7を炉に対して相対移動させ
てベースラインを安定化させる機構9を備えてい
る。
すごときものであり、加熱炉6で加熱される反応
管加熱部3の内部空間に配置された試料Sと基準
物質Rの温度差を検出器7で測定して温度差曲線
(DTA曲線)を求めるものである。通常、反応管
2は石英ガラスやアルミナ製であり、その支持部
4は水冷チユーブ8で低温となるよう冷却されて
いる。また、検出器7を炉に対して相対移動させ
てベースラインを安定化させる機構9を備えてい
る。
しかし、上記ベースライン安定化機構9によつ
ても広い温度範囲にわたつてはベースラインを安
定化することができず、たとえば第4図のbのよ
うにベースラインが変動することがある。このよ
うにベースラインが変動すると、微小な熱変化の
検出が困難になる。具体的には、第4図bの場
合、昇温開始より150℃までの間でベースライン
の変動が大きく、この間で微小な変化を示す澱粉
の糊化、蛋白の変性、高分子物質のガラス転移な
どの検出が困難になる。
ても広い温度範囲にわたつてはベースラインを安
定化することができず、たとえば第4図のbのよ
うにベースラインが変動することがある。このよ
うにベースラインが変動すると、微小な熱変化の
検出が困難になる。具体的には、第4図bの場
合、昇温開始より150℃までの間でベースライン
の変動が大きく、この間で微小な変化を示す澱粉
の糊化、蛋白の変性、高分子物質のガラス転移な
どの検出が困難になる。
この考案は、上記事情に鑑みてなされたもので
あり、反応管の構造を改良することによつてベー
スラインを安定化できた示差熱分析装置を提供す
るものである。
あり、反応管の構造を改良することによつてベー
スラインを安定化できた示差熱分析装置を提供す
るものである。
以下、第2図および第3図に示す実施例に基い
て、この考案を詳説する。ただし、これによりこ
の考案が限定されるものではない。
て、この考案を詳説する。ただし、これによりこ
の考案が限定されるものではない。
第2図に示す11はこの考案の示差熱分析装置
の一実施例である。反応管12以外の構成要素は
従来と同様であり同番号を付してある。
の一実施例である。反応管12以外の構成要素は
従来と同様であり同番号を付してある。
反応管12は、全体としてたとえばsus27の
ごときステンレス鋼製である。ただし加熱部13
の管壁は2層構造になつていて、ステンレス鋼製
外層13aの内側に銅製内層13bが貼設されて
いる。また、加熱部13と支持部14の間の壁厚
を薄くして熱抵抗部15としてある。管壁の厚み
の具体例を示せば、加熱部外層13aは0.2〜0.5
mm、加熱部内層13bは0.2〜0.5mm、熱抵抗部1
5は0.1〜0.2mmである。
ごときステンレス鋼製である。ただし加熱部13
の管壁は2層構造になつていて、ステンレス鋼製
外層13aの内側に銅製内層13bが貼設されて
いる。また、加熱部13と支持部14の間の壁厚
を薄くして熱抵抗部15としてある。管壁の厚み
の具体例を示せば、加熱部外層13aは0.2〜0.5
mm、加熱部内層13bは0.2〜0.5mm、熱抵抗部1
5は0.1〜0.2mmである。
さて、試料Sおよび基準物質Rを加熱するとき
の熱の流れを考えると、加熱炉6→外空間5→反
応管12→内空間10→試料Sおよび基準物質R
となり、反応管12が熱の流れに介在している。
ところが反応管12からの外部への熱の逃げのた
めに、管壁には上下方向および円周方向に温度分
布を生じている。これがベースライン変動の一因
となる。ところが、この装置11では、熱抵抗部
15を設けて下方への熱の逃げを小さくしている
上に、熱伝導の良い銅製内層13bにて加熱部1
3の温度分布の均一化を図り、さらに熱伝導の悪
いステンレス鋼製外層13aによつて熱の逃げを
小さくしている。したがつて、加熱部13の温度
分布は従来に比べて著しく改善されており、その
結果、ベースライン変動は従来より格段に小さく
なる。
の熱の流れを考えると、加熱炉6→外空間5→反
応管12→内空間10→試料Sおよび基準物質R
となり、反応管12が熱の流れに介在している。
ところが反応管12からの外部への熱の逃げのた
めに、管壁には上下方向および円周方向に温度分
布を生じている。これがベースライン変動の一因
となる。ところが、この装置11では、熱抵抗部
15を設けて下方への熱の逃げを小さくしている
上に、熱伝導の良い銅製内層13bにて加熱部1
3の温度分布の均一化を図り、さらに熱伝導の悪
いステンレス鋼製外層13aによつて熱の逃げを
小さくしている。したがつて、加熱部13の温度
分布は従来に比べて著しく改善されており、その
結果、ベースライン変動は従来より格段に小さく
なる。
第3図に示す21は、この考案の示差熱分析装
置の他の実施例である。反応管22の熱抵抗部2
5が約0.1mm厚のステンレス鋼製ベローズになつ
ている外は前記反応管12と同様に構成されてい
る。熱抵抗部25がベローズ構造となつているた
めに加熱部23と支持部24間の距離が大であ
り、それだけ熱抵抗を大きくできている。この装
置21によるベースラインの変動は、第4図aに
示すようであつて、従来の石英ガラス製反応管2
によるベースライン変動すなわち第4図bに比べ
て15〜20倍程度小さく改善されている。
置の他の実施例である。反応管22の熱抵抗部2
5が約0.1mm厚のステンレス鋼製ベローズになつ
ている外は前記反応管12と同様に構成されてい
る。熱抵抗部25がベローズ構造となつているた
めに加熱部23と支持部24間の距離が大であ
り、それだけ熱抵抗を大きくできている。この装
置21によるベースラインの変動は、第4図aに
示すようであつて、従来の石英ガラス製反応管2
によるベースライン変動すなわち第4図bに比べ
て15〜20倍程度小さく改善されている。
他の実施例としては、ステンレス鋼に代えて他
の熱伝導の悪い材料たとえばアルミナ(Al2O3)
などを用い、銅に代えて他の熱伝導の良い材料た
とえばベリリア(BeO)などを用いたものが挙
げられる。これら材料の選択は、示差熱分析装置
の使用温度範囲、材料の溶融点、コストなどを考
慮して適宜行われる。大体の目安としては、熱伝
導の悪い材料は100℃付近で熱伝導度0.1cal/
(cm・℃・sec)以下のもの、熱伝導の良い材料は
100℃付近で熱伝導度0.2cal/(cm・℃・sec)以
上のものとするが、熱伝導度特性は極めて複雑な
ので、この目安が絶対的なものとは言えない。
の熱伝導の悪い材料たとえばアルミナ(Al2O3)
などを用い、銅に代えて他の熱伝導の良い材料た
とえばベリリア(BeO)などを用いたものが挙
げられる。これら材料の選択は、示差熱分析装置
の使用温度範囲、材料の溶融点、コストなどを考
慮して適宜行われる。大体の目安としては、熱伝
導の悪い材料は100℃付近で熱伝導度0.1cal/
(cm・℃・sec)以下のもの、熱伝導の良い材料は
100℃付近で熱伝導度0.2cal/(cm・℃・sec)以
上のものとするが、熱伝導度特性は極めて複雑な
ので、この目安が絶対的なものとは言えない。
さらに他の実施例としては、熱伝導の悪い材料
と熱伝導の良い材料とを交互に多層に重ねて反応
管加熱部の管壁を構成したものが挙げられる。そ
の際、表面層は高温で酸化しにくい材料になるよ
うに選ぶのが耐久性の点で好ましい。具体的に
は、ステンレス鋼と銅とを用いる場合、最外層が
ステンレス鋼となるようにするのが好ましく、ま
た最内層もステンレス鋼として銅層をサンドイツ
チするのも良い。
と熱伝導の良い材料とを交互に多層に重ねて反応
管加熱部の管壁を構成したものが挙げられる。そ
の際、表面層は高温で酸化しにくい材料になるよ
うに選ぶのが耐久性の点で好ましい。具体的に
は、ステンレス鋼と銅とを用いる場合、最外層が
ステンレス鋼となるようにするのが好ましく、ま
た最内層もステンレス鋼として銅層をサンドイツ
チするのも良い。
以上の説明から理解されるように、この考案は
反応管を具備してなる示差熱分析装置において、
反応管加熱部の管壁を熱伝導の良い材料と悪い材
料の2層以上の組合せ構造として温度分布を均一
化すると共に、反応管の加熱部と支持部の間に熱
抵抗部を介設して熱リークを小さくしたことを特
徴とする示差熱分析装置を提供するものである。
この考案の装置はベースラインが格段に安定であ
るから微少な熱変化の検出が可能である。また
S/N比が良いことから検出器の増幅率を上げる
ことができ、微少な熱変化を容易に検出できる。
さらに反応管を取り換えるだけで容易に従来装置
をこの考案の装置に改造できるという利点もあ
る。
反応管を具備してなる示差熱分析装置において、
反応管加熱部の管壁を熱伝導の良い材料と悪い材
料の2層以上の組合せ構造として温度分布を均一
化すると共に、反応管の加熱部と支持部の間に熱
抵抗部を介設して熱リークを小さくしたことを特
徴とする示差熱分析装置を提供するものである。
この考案の装置はベースラインが格段に安定であ
るから微少な熱変化の検出が可能である。また
S/N比が良いことから検出器の増幅率を上げる
ことができ、微少な熱変化を容易に検出できる。
さらに反応管を取り換えるだけで容易に従来装置
をこの考案の装置に改造できるという利点もあ
る。
第1図は従来の示差熱分析装置の一例の縦断面
構成説明図、第2図はこの考案の示差熱分析装置
の一実施例の第1図相当図、第3図はこの考案の
示差熱分析装置の他の一実施例の第1図相当図、
第4図は温度に対するベースライン変動の特性図
である。 1……従来の示差熱分析装置、2……反応管、
3……加熱部、4……支持部、6……加熱炉、7
……検出器、11,21……この考案の示差熱分
析装置、12,22……反応管、13,23……
加熱部、13a,23a……外層、13b,23
b……内層、14,24……支持部、15,25
……熱抵抗部。
構成説明図、第2図はこの考案の示差熱分析装置
の一実施例の第1図相当図、第3図はこの考案の
示差熱分析装置の他の一実施例の第1図相当図、
第4図は温度に対するベースライン変動の特性図
である。 1……従来の示差熱分析装置、2……反応管、
3……加熱部、4……支持部、6……加熱炉、7
……検出器、11,21……この考案の示差熱分
析装置、12,22……反応管、13,23……
加熱部、13a,23a……外層、13b,23
b……内層、14,24……支持部、15,25
……熱抵抗部。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 1 反応管を具備してなる示差熱分析装置におい
て、 反応管加熱部の管壁を、2層以上の組合せ構
造とし、その内層を熱伝導の良い材料で構成す
ると共に外層を熱伝導の悪い材料で構成して該
加熱部の温度分布を均一化すると共に、反応管
の加熱部と支持部の間に熱抵抗部を介設して熱
リークを小さくしたことを特徴とする示差分析
装置。 2 熱伝導の良い材料が銅であり、熱伝導の悪い
材料がステンレス鋼である請求の範囲第1項記
載の装置。 3 熱伝導の良い材料がベリリア(BeO)であ
り、熱伝導の悪い材料がアルミナ(Al2O3)で
ある請求の範囲第1項記載の装置。 4 熱抵抗部が、反応管の加熱部と支持部の間の
管壁をステンレス鋼製薄板で形成したものであ
る請求の範囲第1項〜第3項のいずれかに記載
の装置。 5 熱抵抗部が、反応管の加熱部と支持部の間の
管壁をベローズ構造としたものである請求の範
囲第1項〜第4項のいずれかに記載の装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9809782U JPS5910056U (ja) | 1982-06-28 | 1982-06-28 | 示差熱分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9809782U JPS5910056U (ja) | 1982-06-28 | 1982-06-28 | 示差熱分析装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5910056U JPS5910056U (ja) | 1984-01-21 |
JPH026350Y2 true JPH026350Y2 (ja) | 1990-02-15 |
Family
ID=30233059
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP9809782U Granted JPS5910056U (ja) | 1982-06-28 | 1982-06-28 | 示差熱分析装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5910056U (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04274748A (ja) * | 1991-03-01 | 1992-09-30 | Rigaku Corp | 示差型熱分析装置 |
JPH063299A (ja) * | 1992-06-22 | 1994-01-11 | Showa Electric Wire & Cable Co Ltd | 光ファイバに被覆された紫外線硬化型樹脂の硬化度判定方法 |
JP6841425B2 (ja) * | 2017-05-26 | 2021-03-10 | 株式会社リガク | 熱分析装置 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5144437A (ja) * | 1974-10-14 | 1976-04-16 | Hitachi Ltd | Johoshorishisutemu |
-
1982
- 1982-06-28 JP JP9809782U patent/JPS5910056U/ja active Granted
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5144437A (ja) * | 1974-10-14 | 1976-04-16 | Hitachi Ltd | Johoshorishisutemu |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS5910056U (ja) | 1984-01-21 |
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