JPH0260211A - 発振回路および発振回路の発振周波数の安定度を確認する方法 - Google Patents
発振回路および発振回路の発振周波数の安定度を確認する方法Info
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- JPH0260211A JPH0260211A JP21216988A JP21216988A JPH0260211A JP H0260211 A JPH0260211 A JP H0260211A JP 21216988 A JP21216988 A JP 21216988A JP 21216988 A JP21216988 A JP 21216988A JP H0260211 A JPH0260211 A JP H0260211A
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Landscapes
- Surface Acoustic Wave Elements And Circuit Networks Thereof (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Oscillators With Electromechanical Resonators (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
〔産業上の利用分野１
本発明は、５ＡＷＲ（弾性表面波共振素子）を含んで成
る発振周波数の安定化された発振回路ならびにその発振
回路の安定度を確認する方法に関する。 〔従来の技術１ 第１図は例えばＵＨＦ帯の低域周波数の３００ＭＨｚ付
近の発振周波数により搬送波を形成し送信信号を送信す
るためのリモコンなどに使用される発振回路の回路図で
ある０発振回路１０は増幅器としてのＮＰＮトランジス
タ１、Ｓ Ａ Ｗ （５ｕｒｆａｃｅＡｃｏｕｓｔｉｃ
Ｗａｖｅ ）共振素子２が設けられている。 この発振回路１０による発振は、まずトランジスタ１の
ベースＢとエミッタＥ間に抵抗Ｒ１を介してバイアス電
圧ｖ１を印加する。これによって図示のコイル３、コン
デンサ４、ＳＡＷ共振素子２のストレー容量などによっ
て構成される共振回路の容量によりトランジスタ１が発
振し、所定の発振周波数が得られる。 ところで、良好な発振周波数を得るためにはＳＡＷ共振
素子２の発振が安定してなされる必要がある。 従来、発振回路にＳＡＷ共振素子２を組み込む際に、コ
イル３、コンデンサ４などによって構成される共振回路
（以下、単に共振回路と記す）の発振状態が良好な否か
は考慮されておらず、その後の検査によって良好な発振
ができるようにしている。 〔発明が解決しようとする課題］ 上記の検査法としてＳＡＷ共振素子を発振回路に組み込
んだ状態で温度サイクルなどのサイクル試験を行ないＳ
ＡＷ共振素子が正常に発振するか否かを検査することが
従来よりなされている。しかしながら、このような検査
は長時間を要し、作業能率が増大するという不都合があ
る。また、検査に長時間を要するため、検査の並行処理
が望まれ、検査のための装置を大量に配置しなければな
らないという不都合がある。 また、ＳＡＷ共振素子の発振状態が検、査の段階でのみ
確認され、取り付ける段階で発振の安定化のための手段
が何ら施されていないため、発振回路の信頼性が充分で
あるとはいえなかった。 本発明は上記従来の課題に着目してなされたものであり
、発振回路の安定度の確認が短時間で行なえるような発
振回路の安定度の確認方法を提供することにある。 さらに、本発明の目的は、発振周波数の安定した、信頼
性の高い発振回路を提供することにある。 ［課題を解決するための手段］ 本発明は、発振用トランジスタと、弾性表面波共振素子
と、共振素子とを含んだ発振回路であって、前記共振素
子の共振周波数が弾性表面波共振素子の共振周波数より
数ＭＨｚ〜数十ＭＨｚ程度の範囲内にて低くされている
ことを特徴とするものである。 さらに本発明は、発振回路の電源をスイッチングして、
電源がＯＮ状態における弾性表面波共振素子の発振の瞬
間の過渡状態の出力レベルを表示装置に表示して発振回
路の安定度を確認することを特徴とするものである。 〔作用］ 上記した手段によれば、共振素子の共振周波数を弾性表
面波共振素子の共振周波数より略２０ＭＨｚを中心とし
た数ＭＨｚ〜数十ＭＨｚ程度の範囲内にて低くすること
により、弾性表面波共振素子の発振が発振不能となった
り、共振素子による共振が続く不安定な状態となるのを
回避できるようになり、発振回路の発振が安定して行な
えるようになる。 さらに、このようにすれば、発振回路の検査の前段階で
発振回路の安定化が図れるため、その後の検査によって
発振状態を再検査できるようになり、発振回路の信頼性
が向上する。 さらに本発明によれば、発振回路の発振の安定度の確認
が電源がＯＮ状態における弾性表面波共振素子の発振の
瞬間の過渡状態の出力レベルを表示し、共振素子の共振
ポイントと、弾性表面波による出カポインドとを比較す
ることによって、確認できるようにしたため、従来のサ
イクル試験のような長時間にわたって検査をする必要が
なくなる。
る発振周波数の安定化された発振回路ならびにその発振
回路の安定度を確認する方法に関する。 〔従来の技術１ 第１図は例えばＵＨＦ帯の低域周波数の３００ＭＨｚ付
近の発振周波数により搬送波を形成し送信信号を送信す
るためのリモコンなどに使用される発振回路の回路図で
ある０発振回路１０は増幅器としてのＮＰＮトランジス
タ１、Ｓ Ａ Ｗ （５ｕｒｆａｃｅＡｃｏｕｓｔｉｃ
Ｗａｖｅ ）共振素子２が設けられている。 この発振回路１０による発振は、まずトランジスタ１の
ベースＢとエミッタＥ間に抵抗Ｒ１を介してバイアス電
圧ｖ１を印加する。これによって図示のコイル３、コン
デンサ４、ＳＡＷ共振素子２のストレー容量などによっ
て構成される共振回路の容量によりトランジスタ１が発
振し、所定の発振周波数が得られる。 ところで、良好な発振周波数を得るためにはＳＡＷ共振
素子２の発振が安定してなされる必要がある。 従来、発振回路にＳＡＷ共振素子２を組み込む際に、コ
イル３、コンデンサ４などによって構成される共振回路
（以下、単に共振回路と記す）の発振状態が良好な否か
は考慮されておらず、その後の検査によって良好な発振
ができるようにしている。 〔発明が解決しようとする課題］ 上記の検査法としてＳＡＷ共振素子を発振回路に組み込
んだ状態で温度サイクルなどのサイクル試験を行ないＳ
ＡＷ共振素子が正常に発振するか否かを検査することが
従来よりなされている。しかしながら、このような検査
は長時間を要し、作業能率が増大するという不都合があ
る。また、検査に長時間を要するため、検査の並行処理
が望まれ、検査のための装置を大量に配置しなければな
らないという不都合がある。 また、ＳＡＷ共振素子の発振状態が検、査の段階でのみ
確認され、取り付ける段階で発振の安定化のための手段
が何ら施されていないため、発振回路の信頼性が充分で
あるとはいえなかった。 本発明は上記従来の課題に着目してなされたものであり
、発振回路の安定度の確認が短時間で行なえるような発
振回路の安定度の確認方法を提供することにある。 さらに、本発明の目的は、発振周波数の安定した、信頼
性の高い発振回路を提供することにある。 ［課題を解決するための手段］ 本発明は、発振用トランジスタと、弾性表面波共振素子
と、共振素子とを含んだ発振回路であって、前記共振素
子の共振周波数が弾性表面波共振素子の共振周波数より
数ＭＨｚ〜数十ＭＨｚ程度の範囲内にて低くされている
ことを特徴とするものである。 さらに本発明は、発振回路の電源をスイッチングして、
電源がＯＮ状態における弾性表面波共振素子の発振の瞬
間の過渡状態の出力レベルを表示装置に表示して発振回
路の安定度を確認することを特徴とするものである。 〔作用］ 上記した手段によれば、共振素子の共振周波数を弾性表
面波共振素子の共振周波数より略２０ＭＨｚを中心とし
た数ＭＨｚ〜数十ＭＨｚ程度の範囲内にて低くすること
により、弾性表面波共振素子の発振が発振不能となった
り、共振素子による共振が続く不安定な状態となるのを
回避できるようになり、発振回路の発振が安定して行な
えるようになる。 さらに、このようにすれば、発振回路の検査の前段階で
発振回路の安定化が図れるため、その後の検査によって
発振状態を再検査できるようになり、発振回路の信頼性
が向上する。 さらに本発明によれば、発振回路の発振の安定度の確認
が電源がＯＮ状態における弾性表面波共振素子の発振の
瞬間の過渡状態の出力レベルを表示し、共振素子の共振
ポイントと、弾性表面波による出カポインドとを比較す
ることによって、確認できるようにしたため、従来のサ
イクル試験のような長時間にわたって検査をする必要が
なくなる。
以下、本発明の実施例を図面によって説明する。
第１図は本発明の一実施例に係る発振回路の回路図、第
２図は共振素子ならびに弾性表面波共振素子の出力レベ
ルを示すグラフ、第３図は時間の経過に伴う共振素子に
よる発振（ＬＣ発振）ならびに弾性表面波共振素子によ
る発振状態の説明図、第４図は本発明に係る発振周波数
の安定度を確認する方法を説明するための図である。 第１図に示す発振回路は従来の技術の欄で説明したもの
と、ＳＡＷ共振素子２と、コイル３、コンデンサ４なら
びにＳＡＷ共振素子２のストレー容量などによって構成
される共振素子（以下、共振素子と記す）と発振周波数
との関係が問題とされている点が異なっている。すなわ
ち、第１図において符号１は発振器としてのＮＰＮトラ
ンジスタであり、そのコレクタＣはコイル３を介して電
源Ｖ、に接続されている。また、トランジスタ１のエミ
ッタＥは、バイアス抵抗Ｒ３を介して接地されている。 これによって、トランジスタ１のコレクタＣとエミッタ
Ｅとの間にはコレクタ・工ミッタ電圧■３が印加される
ようになっている。 また、トランジスタ１のベースＢはバイアス抵抗Ｒ１を
介して電源Ｖｓに接続されており、トランジスタ１のペ
ース電流工６などの動作点を設定できるようになってい
る。そして、トランジスタ１のベースＢとエミッタＥと
の間にはバイアス抵抗Ｒ１に基づいたバイアス電圧■、
が印加されるようになっている。 符号２はＳ Ａ Ｗ （５ｕｒｆａｃｅ Ａｃｏｕｓｔ
ｉｃ Ｗａｖｅ ）共振素子を示しており、帰還容量と
してトランジスタ１のコレクタＣとエミッタＥとの間に
接続されている。ＳＡＷ共振素子２は後述するＬＣ発振
（共振素子による発振）に関与するストレー容量が設け
られている。そして、前述のようにこのストレー容量と
コイル３、コンデンサ４などによって共振回路が構成さ
れている。そして、ＳＡＷ共振素子２の共振周波数ｆ１
は前記共振素子２の共振周波数ｆ０よりも略２０ＭＨｚ
程度高くなっている（第２図参照）。 例えば、共振周波数で、が３０９ＭＨｚである場合には
、ｆｏは２８５〜２９９ＭＨｚとなるようになっている
。なお、第２図においては、ｆｏが２８９ＭＨｚの場合
が記されている。 次に第３図によって、発振回路１ｏの発振について説明
する。 なお、第３図は時間の経過に伴って発振がどのように移
行するかを示す図である。 電源■、がＯＮ（第３図のａ点）、すなわち、トランジ
スタ１にバイアス電圧Ｖ□が印加されるとともに、入力
端子Ｖアを介して信号波が入力され゛ると、共振素子の
静電容量が変化し、共振素子の共振点すに達し、ＬＣ発
振が生じる（第３図０、）、その後ＳＡＷ共振素子２の
共振点への移行過程（第３図０□）を経てＳＡＷ共振点
Ｃで安定した発振を続けるようになる。第２図に示すよ
うにＳＡＷ共振素子２の共振周波数ｆ、が共振素子２の
共振周波数ｆ０よりも略２０ＭＨｚ高く設定されている
と、共振回路による共振からＳＡＷ共振素子の共振へ安
定して移行するようになることが確認されている。とこ
ろで、共振点ｆ０とで１との幅Δｆが狭すぎたり、又は
広すぎたりｆｏがｆ、に対してプラス側に行った場合は
、共振回路による発振がＳＡＷ共振・素子の領域に引き
込まれないため、発振しなかったり、共振回路による発
振（ＬＣ発振）のままの不安定な発振状態となる。 本実施例は上記のようなことをふまえて、共振素子の共
振周波数がＳＡＷ共振素子の共振周波数より数ＭＨｚ〜
数十ＭＨｚ好ましくは略２０ＬＩＨｚ低くなるように設
定されているため、上記した理由により発振回路１０の
発振が安定になる。共振周波数ｆ、とｆｏとの関係がｆ
ｏ −ｆ Ｉ４２０ＭＨｚの関係にないような場合は
、コイル３の誘導リアクタンスやコンデンサ４の容量リ
アクタンスの大きさを変えることでｆ ０− ｆ ＋
＃２０ＭＨｚなる関係を満たすようにすればよい。 次に第４図によって、発振回路の発振周波数の安定度を
測定する方法について説明する。 図中符号１は、第１図におけるトランジスタであり、ベ
ースＢ・エミッタＥ間にバイアス電圧ＶＩＥが印加され
るようになっている。また、トランジスタ１のコレクタ
Ｃ・エミッタＥ間にはパルス発生回路２０より所定周期
且つ所定レベルのパルス波が印加されるようになってい
る。これによって、トランジスタｌがらはパルス波２ｏ
に基づいたパルス波形の電源電圧が出力されるようにな
っている。この場合、ＬＣ発振から５ＡＷＲ発振への移
行（例えば数μｓｅｃ ）がパルス源形の電源電圧のパ
ルスの１周期（例えば０．５ｓｅｃ） 内ニ起こるよう
になっている。そして、ＳＡＷ共振素子２はパルス波形
の電源電圧に基づいて間欠的に発振動作がなされるよう
になっている。そして１発振状態とされると第２図に示
すようなスペクトルが、例えばスペクトラムアナライザ
のような表示装置に表示されるようになっている０表示
装置２１に表示されるスペクトルは常に電源ＯＮの瞬間
のＳＡＷ共振素子２の過渡状態に基づくものとなってお
り、したがって、ＬＣ発振がら５ＡＷＲ発振への良好な
移行が可能となるが確認できるようになっている。 発振回路の発振周波数の安定度の確認は、スペクトラム
アナライザに表示された、第２図のようなスペクトルに
おいてΔｆが略２ＧＭＨｚであるかどうか確認すること
で行なえる。略２０ＭＨｚの場合（ただしｆｌ＞ｆＯ）
は発振回路が良好な発振を行ない得る状態と判断され、
２０ＭＨｚを大巾に超えた場合、又は２０ＭＨｚより
極端に少ない場合、あるいはｆｌ ＜ｆＯなる関係とな
った場合には発振回路による発振が不良と判断される。 なお、上記実施例ではトランジスタｌよりパルス波形の
電源電圧がＳＡＷ共振素子に供給されるようになってい
るが、所定の周期のパルス波形の電源電圧が供給可能な
手段なら特に上記に限定されるものでないことは勿論で
ある。 〔発明の効果〕 以上のように本発明によれば、共振素子の共振周波数を
弾性表面波共振素子の共振周波数より略２０ＭＨｚ程度
の範囲内にて低くすることにより、弾性表面波共振素子
の発振が発振不能となったり、共振素子による共振が続
く不安定な状態となるのを回避できるようになり、発振
回路の発振が安定して行なえるようになるという効果が
得られる。 さらに、このようにすれば、発振回路の検査の前段階で
発振回路の安定化が図れるため、その後の検査によって
発振状態を再検査できるようになり、発振回路の信頼性
が向上するという効果が得られる。 さらに本発明によれば、発振回路の発振の安定度の確認
が電源がＯＮ状態における弾性表面波共振素子の発振の
瞬間の過渡状態の出力レベルを表示し、共振素子の共振
ポイントと、弾性表面波による出カポインドとを比較す
ることによってできるようにしたため、従来のサイクル
試験のような長時間にわたって検査をする必要がなくな
るという効果が得られる。したがって、通常の工程検査
で発振状態の安定度の確認が行なえるようになる。
２図は共振素子ならびに弾性表面波共振素子の出力レベ
ルを示すグラフ、第３図は時間の経過に伴う共振素子に
よる発振（ＬＣ発振）ならびに弾性表面波共振素子によ
る発振状態の説明図、第４図は本発明に係る発振周波数
の安定度を確認する方法を説明するための図である。 第１図に示す発振回路は従来の技術の欄で説明したもの
と、ＳＡＷ共振素子２と、コイル３、コンデンサ４なら
びにＳＡＷ共振素子２のストレー容量などによって構成
される共振素子（以下、共振素子と記す）と発振周波数
との関係が問題とされている点が異なっている。すなわ
ち、第１図において符号１は発振器としてのＮＰＮトラ
ンジスタであり、そのコレクタＣはコイル３を介して電
源Ｖ、に接続されている。また、トランジスタ１のエミ
ッタＥは、バイアス抵抗Ｒ３を介して接地されている。 これによって、トランジスタ１のコレクタＣとエミッタ
Ｅとの間にはコレクタ・工ミッタ電圧■３が印加される
ようになっている。 また、トランジスタ１のベースＢはバイアス抵抗Ｒ１を
介して電源Ｖｓに接続されており、トランジスタ１のペ
ース電流工６などの動作点を設定できるようになってい
る。そして、トランジスタ１のベースＢとエミッタＥと
の間にはバイアス抵抗Ｒ１に基づいたバイアス電圧■、
が印加されるようになっている。 符号２はＳ Ａ Ｗ （５ｕｒｆａｃｅ Ａｃｏｕｓｔ
ｉｃ Ｗａｖｅ ）共振素子を示しており、帰還容量と
してトランジスタ１のコレクタＣとエミッタＥとの間に
接続されている。ＳＡＷ共振素子２は後述するＬＣ発振
（共振素子による発振）に関与するストレー容量が設け
られている。そして、前述のようにこのストレー容量と
コイル３、コンデンサ４などによって共振回路が構成さ
れている。そして、ＳＡＷ共振素子２の共振周波数ｆ１
は前記共振素子２の共振周波数ｆ０よりも略２０ＭＨｚ
程度高くなっている（第２図参照）。 例えば、共振周波数で、が３０９ＭＨｚである場合には
、ｆｏは２８５〜２９９ＭＨｚとなるようになっている
。なお、第２図においては、ｆｏが２８９ＭＨｚの場合
が記されている。 次に第３図によって、発振回路１ｏの発振について説明
する。 なお、第３図は時間の経過に伴って発振がどのように移
行するかを示す図である。 電源■、がＯＮ（第３図のａ点）、すなわち、トランジ
スタ１にバイアス電圧Ｖ□が印加されるとともに、入力
端子Ｖアを介して信号波が入力され゛ると、共振素子の
静電容量が変化し、共振素子の共振点すに達し、ＬＣ発
振が生じる（第３図０、）、その後ＳＡＷ共振素子２の
共振点への移行過程（第３図０□）を経てＳＡＷ共振点
Ｃで安定した発振を続けるようになる。第２図に示すよ
うにＳＡＷ共振素子２の共振周波数ｆ、が共振素子２の
共振周波数ｆ０よりも略２０ＭＨｚ高く設定されている
と、共振回路による共振からＳＡＷ共振素子の共振へ安
定して移行するようになることが確認されている。とこ
ろで、共振点ｆ０とで１との幅Δｆが狭すぎたり、又は
広すぎたりｆｏがｆ、に対してプラス側に行った場合は
、共振回路による発振がＳＡＷ共振・素子の領域に引き
込まれないため、発振しなかったり、共振回路による発
振（ＬＣ発振）のままの不安定な発振状態となる。 本実施例は上記のようなことをふまえて、共振素子の共
振周波数がＳＡＷ共振素子の共振周波数より数ＭＨｚ〜
数十ＭＨｚ好ましくは略２０ＬＩＨｚ低くなるように設
定されているため、上記した理由により発振回路１０の
発振が安定になる。共振周波数ｆ、とｆｏとの関係がｆ
ｏ −ｆ Ｉ４２０ＭＨｚの関係にないような場合は
、コイル３の誘導リアクタンスやコンデンサ４の容量リ
アクタンスの大きさを変えることでｆ ０− ｆ ＋
＃２０ＭＨｚなる関係を満たすようにすればよい。 次に第４図によって、発振回路の発振周波数の安定度を
測定する方法について説明する。 図中符号１は、第１図におけるトランジスタであり、ベ
ースＢ・エミッタＥ間にバイアス電圧ＶＩＥが印加され
るようになっている。また、トランジスタ１のコレクタ
Ｃ・エミッタＥ間にはパルス発生回路２０より所定周期
且つ所定レベルのパルス波が印加されるようになってい
る。これによって、トランジスタｌがらはパルス波２ｏ
に基づいたパルス波形の電源電圧が出力されるようにな
っている。この場合、ＬＣ発振から５ＡＷＲ発振への移
行（例えば数μｓｅｃ ）がパルス源形の電源電圧のパ
ルスの１周期（例えば０．５ｓｅｃ） 内ニ起こるよう
になっている。そして、ＳＡＷ共振素子２はパルス波形
の電源電圧に基づいて間欠的に発振動作がなされるよう
になっている。そして１発振状態とされると第２図に示
すようなスペクトルが、例えばスペクトラムアナライザ
のような表示装置に表示されるようになっている０表示
装置２１に表示されるスペクトルは常に電源ＯＮの瞬間
のＳＡＷ共振素子２の過渡状態に基づくものとなってお
り、したがって、ＬＣ発振がら５ＡＷＲ発振への良好な
移行が可能となるが確認できるようになっている。 発振回路の発振周波数の安定度の確認は、スペクトラム
アナライザに表示された、第２図のようなスペクトルに
おいてΔｆが略２ＧＭＨｚであるかどうか確認すること
で行なえる。略２０ＭＨｚの場合（ただしｆｌ＞ｆＯ）
は発振回路が良好な発振を行ない得る状態と判断され、
２０ＭＨｚを大巾に超えた場合、又は２０ＭＨｚより
極端に少ない場合、あるいはｆｌ ＜ｆＯなる関係とな
った場合には発振回路による発振が不良と判断される。 なお、上記実施例ではトランジスタｌよりパルス波形の
電源電圧がＳＡＷ共振素子に供給されるようになってい
るが、所定の周期のパルス波形の電源電圧が供給可能な
手段なら特に上記に限定されるものでないことは勿論で
ある。 〔発明の効果〕 以上のように本発明によれば、共振素子の共振周波数を
弾性表面波共振素子の共振周波数より略２０ＭＨｚ程度
の範囲内にて低くすることにより、弾性表面波共振素子
の発振が発振不能となったり、共振素子による共振が続
く不安定な状態となるのを回避できるようになり、発振
回路の発振が安定して行なえるようになるという効果が
得られる。 さらに、このようにすれば、発振回路の検査の前段階で
発振回路の安定化が図れるため、その後の検査によって
発振状態を再検査できるようになり、発振回路の信頼性
が向上するという効果が得られる。 さらに本発明によれば、発振回路の発振の安定度の確認
が電源がＯＮ状態における弾性表面波共振素子の発振の
瞬間の過渡状態の出力レベルを表示し、共振素子の共振
ポイントと、弾性表面波による出カポインドとを比較す
ることによってできるようにしたため、従来のサイクル
試験のような長時間にわたって検査をする必要がなくな
るという効果が得られる。したがって、通常の工程検査
で発振状態の安定度の確認が行なえるようになる。
第１図は本発明の一実施例に係る発振回路の回路図、第
２図は共振素子ならびに弾性表面波共振素子の出力レベ
ルを示すグラフ、第３図は時間の経過に伴う共振素子に
よる発振（ＬＣ発振）ならびに弾性表面波共振素子によ
る発振状態の説明図、第４図は本発明に係る発振周波数
の安定度を確認する方法を説明するための図である。 ｌ・・・トランジスタ、２・・・ＳＡＷ共振素子、３・
・・コイル、４・・・コンデンサ。 電看ＯＮ
２図は共振素子ならびに弾性表面波共振素子の出力レベ
ルを示すグラフ、第３図は時間の経過に伴う共振素子に
よる発振（ＬＣ発振）ならびに弾性表面波共振素子によ
る発振状態の説明図、第４図は本発明に係る発振周波数
の安定度を確認する方法を説明するための図である。 ｌ・・・トランジスタ、２・・・ＳＡＷ共振素子、３・
・・コイル、４・・・コンデンサ。 電看ＯＮ
Claims (2)
- １．発振用トランジスタと、弾性表面波共振素子と、共
振素子とを含んだ発振回路であって、前記共振素子の共
振周波数が弾性表面波共振素子の共振周波数より数ＭＨ
ｚ〜数十ＭＨｚ程度の範囲内にて低くされていることを
特徴とする発振回路 - ２．発振回路の電源をスイッチングして、電源がＯＮ状
態における弾性表面波共振素子の発振の瞬間の過渡状態
の出力レベルを表示装置に表示して発振回路の安定度を
確認することを特徴とする発振回路の発振周波数の安定
度を確認する方法
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21216988A JPH0260211A (ja) | 1988-08-25 | 1988-08-25 | 発振回路および発振回路の発振周波数の安定度を確認する方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21216988A JPH0260211A (ja) | 1988-08-25 | 1988-08-25 | 発振回路および発振回路の発振周波数の安定度を確認する方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0260211A true JPH0260211A (ja) | 1990-02-28 |
Family
ID=16618050
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP21216988A Pending JPH0260211A (ja) | 1988-08-25 | 1988-08-25 | 発振回路および発振回路の発振周波数の安定度を確認する方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0260211A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7394180B2 (en) | 2003-10-31 | 2008-07-01 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Oscillator circuit including surface acoustic wave sensor and biosensor apparatus |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4945671A (ja) * | 1972-09-04 | 1974-05-01 |
-
1988
- 1988-08-25 JP JP21216988A patent/JPH0260211A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4945671A (ja) * | 1972-09-04 | 1974-05-01 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7394180B2 (en) | 2003-10-31 | 2008-07-01 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Oscillator circuit including surface acoustic wave sensor and biosensor apparatus |
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