JPH0252425A - Treatment apparatus - Google Patents

Treatment apparatus

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JPH0252425A
JPH0252425A JP20345788A JP20345788A JPH0252425A JP H0252425 A JPH0252425 A JP H0252425A JP 20345788 A JP20345788 A JP 20345788A JP 20345788 A JP20345788 A JP 20345788A JP H0252425 A JPH0252425 A JP H0252425A
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loading
loading area
boat
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reaction tube
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Shingo Watanabe
伸吾 渡辺
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Abstract

PURPOSE:To enhance the operation efficiency by a method wherein an illumination lamp is installed in an isolation space part in a loading area where an object to be treated is passed in order to easily remove a broken fragment of the object to be treated. CONSTITUTION:A loading area 6 whose circumference has been surrounded by an aluminum sheet is constituted to be bright. That is to say, an illumination lamp, e.g., a fluorescent lamp 14, is installed on the side, e.g., on the right side, of a carrying-in port 12 in such a way that both ends of a vertical motion mechanism 5 in the loading area 6 are in parallel with faces formed in a vertical direction. This fluorescent lamp 14 is formed in such a way that a lighting-up circuit by opening a door 13a of a maintenance opening and shutting port 13 and a lighting-up circuit to be switched on manually from an OR circuit. Accordingly, a visual observation can be executed easily; a loading state can be grasped by this visual observation; when a defective state is recognized, a loading drive can comply instantaneously. In addition, when a delivery of a conveyance operation has been finished to be imperfect and a boat 4 loading a wafer 3 is dropped to the rear surface of an isolated region and is broken, it is possible to easily remove this broken fragment.

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の目的〕 (産業上の利用分野) 本発明は処理装置に関する。[Detailed description of the invention] [Purpose of the invention] (Industrial application field) The present invention relates to a processing device.

(従来の技術) 一般に半導体製造工程において、半導体ウェハ(以下、
ウェハと略記する)上に絶縁膜や化合物半導体や有機金
属等の各種薄膜を形成するために加熱処理炉が用いられ
ているに のような処理炉には、量産性を向上させるため、通常1
00枚以上のウェハを一度に処理するようになっている
(Prior art) Generally, in the semiconductor manufacturing process, semiconductor wafers (hereinafter referred to as
Heat treatment furnaces are used to form various thin films such as insulating films, compound semiconductors, and organic metals on wafers (abbreviated as wafers).
It is designed to process more than 1,000 wafers at once.

上記処理炉には、炉を横方向に配置する横形炉と、上記
炉を縦方向に配置する縦形炉とが存在している。最近は
、設置スペースを小さくできる縦形炉が注目されている
The processing furnaces include horizontal furnaces in which the furnaces are arranged horizontally, and vertical furnaces in which the furnaces are arranged vertically. Recently, vertical furnaces have been attracting attention because they require less installation space.

この縦形炉による処理に関する機構は、第6図に示す。The mechanism for processing using this vertical furnace is shown in FIG.

上記縦形炉の処理装置、例えばCVD装置、の炉内にウ
ェハを搬送する搭載台、例えばボートを上下方向に昇際
するローデング機構が設けられている。上記ボートには
多数のウェハが所定の間隔を設けて搭載されている。
A loading mechanism for vertically raising a mounting table, such as a boat, for transporting wafers into the vertical furnace processing apparatus, such as a CVD apparatus, is provided. A large number of wafers are mounted on the boat at predetermined intervals.

上記ボートのローデング機構の上方向には長さ方向を垂
直として1反応炉が設けられている。このような縦形炉
は、上記ローデング機構によって縦でた状態を保って搬
送部から授受し、これを上方向に上昇させて、上記反応
炉内に装着するので、このローデング機構の近傍には障
害物を近づけないように、搬送口を除いて周囲を金属で
囲われている。
One reactor is provided above the loading mechanism of the boat with its length direction being vertical. Such a vertical furnace is maintained in a vertical state by the loading mechanism and delivered to and from the conveyor, and is lifted upward and installed in the reactor, so there are no obstacles near the loading mechanism. The area is surrounded by metal, except for the transfer port, to prevent objects from getting close to it.

そのために、この金属で囲われたローデングエリア内で
は、ボートの受は渡しが不備で、上記ボートをウェハご
と下面に落下する場合がある。この落下したボー1〜及
びウェハのあとしまつをオペレータが照射のほとんど無
い暗いローデングエリアで行なっているのが一般的であ
る。
Therefore, in this metal-enclosed loading area, the boat receiver may be improperly transferred, and the boat may fall along with the wafers to the bottom surface. It is common for an operator to remove the fallen bows and wafers in a dark loading area where there is almost no irradiation.

(発明が解決しようとする課題) しかしながら、上述したようなローデングエリアを金属
で囲われた処理装置には以下に示すような問題点がある
(Problems to be Solved by the Invention) However, the above-described processing apparatus in which the loading area is surrounded by metal has the following problems.

先ず、ローデングエリアの外囲を金属で囲っているので
、このローデングエリアの外部で照明されている照明光
が、上記金属で遮蔽されることになる。従って、搬送系
から授受したボートを1反応管に装着する課程での目視
a祭が困難であった。
First, since the outer circumference of the loading area is surrounded by metal, the illumination light that is illuminated outside the loading area is blocked by the metal. Therefore, it was difficult to visually inspect the boat received from the transport system during the process of attaching it to one reaction tube.

次に、上記目しa察をしたとしても、横形炉のように反
応管を横置きにしたのと異なり、何時だおれるかの不安
定要素が大きいので、搬送時のタイミングが悪くボート
を下面に落下させてしまう場合がある。
Next, even if the above-mentioned prediction is made, unlike a horizontal furnace where the reaction tube is placed horizontally, there is a large element of instability in terms of when the reaction tube will collapse, so the timing of transport may be poor and the boat may be damaged. It may fall to the bottom.

この場合に、上記ボートは石英材製であり、暗い所で取
り除き作業を行う時に、オペレータが上記石英材片及び
ウェハの破片によって負傷してしまう欠点があった。
In this case, the boat is made of quartz material, and there is a drawback that an operator may be injured by the quartz material pieces and wafer fragments when performing removal work in a dark place.

本発明は、上記問題点に対処してなされたもので、ロー
デングエリアを通過する非処理体の搬送状況を所望によ
り目視*Ii!4でき、このことにより、非処理体等の
破損物の取り除きを容易にし1作業性を向上することが
できる処理装置を提供しようとするものである。
The present invention has been made to address the above-mentioned problems, and allows visual inspection of the transportation status of unprocessed objects passing through the loading area*Ii! 4, thereby making it easier to remove damaged objects such as unprocessed objects and improving workability.

〔発明の構成〕[Structure of the invention]

(課題を解決するための手段) 本発明は、被処理体に所定の処理する気密な処理部と、
この処理部に被処理体が搬送される搬送手段をローデン
グエリアとを具備し、少なくとも上記ローデングエリア
を周囲から隔離するように遮蔽された処理装置において
、上記被処理体が通過される上記ローデングエリアの隔
離空間部に照明灯を設けたことを特徴としている。
(Means for Solving the Problems) The present invention includes an airtight processing section that performs a predetermined processing on an object to be processed;
In the processing apparatus, the processing unit is equipped with a loading area and a transport means for transporting the object to be processed, and is shielded so as to isolate at least the loading area from the surroundings. It is characterized by the installation of lighting in the isolated space of the loading area.

(作用効果) 本発明によれば、被処理体が通過されるローデングエリ
アに照明灯を設けたことにより、被処理体の通過状況が
容易に目視w1察ができ、このことにより、被処理体の
通過不具合により生じる後処理が容易に実施でき、従っ
てこの不具合による後処理するに際し、作業性を向上さ
せることができる。
(Function and Effect) According to the present invention, by providing the illumination light in the loading area where the object to be processed passes, it is possible to easily visually observe the passing condition of the object to be processed, and thereby Post-processing caused by body passage problems can be easily carried out, and therefore workability can be improved when performing post-processing due to these problems.

(実施例) 以下1本発明装置を半導体ウェハを多数枚毎同時にバッ
チ処理する縦形CVD装置に適用した一実施例について
図面を参照して説明する。
(Example) Hereinafter, an example in which the apparatus of the present invention is applied to a vertical CVD apparatus that batch-processes a large number of semiconductor wafers at the same time will be described with reference to the drawings.

上記装置は、第2図に示すように、縦形反応炉で軸方向
を垂直にした反応管■から成る処理部■と、この処理部
(2)内に挿入する多数枚の被処理体、例えば半導体ウ
ェハ■を搭載した搭載台、例えばボート(イ)を、上記
処理部■の下方の予め定められた位置から上記反応管■
にロードアンロードする上下動機構■が設けられたロー
デングエリア0とから構成されている。
As shown in Fig. 2, the above-mentioned apparatus consists of a processing section (2) consisting of a reaction tube (2) whose axis is vertical in a vertical reactor, and a large number of objects to be processed that are inserted into this processing section (2). A loading stage, such as a boat (A), on which the semiconductor wafer ■ is mounted is placed in the reaction tube ■ from a predetermined position below the processing section ■.
The loading area 0 is provided with a vertical movement mechanism (2) for loading and unloading.

上記処理部■には、耐熱性で処理ガスに対して反応しに
くい材質、例えば石英からなる反応管■が、二重管構造
で設けられている。即ち、この反応管■は、上面が封止
された筒状の外管(1a)と、この外管(1a)の内部
に非接触状態の内管(1b)とから構成されている。こ
のような反応管(ト)を同軸的に囲繞、する如く筒状加
熱機構、例えばコイル状に、巻回されたヒータ■が設け
られている。このヒータ■は上記ウェハ■の載置される
領域を所量する温度、例えば500〜1000℃に均一
加熱する加熱機構、例えば交流電源(図示せず)に接続
されている。即ち、この交流電源から電力を印加するこ
とにより、ヒータ■が加熱する。
The processing section (2) is provided with a reaction tube (2) having a double-tube structure and made of a heat-resistant material that does not easily react with the processing gas, such as quartz. That is, this reaction tube (2) is composed of a cylindrical outer tube (1a) whose upper surface is sealed and an inner tube (1b) that is not in contact with the inside of this outer tube (1a). A cylindrical heating mechanism, for example, a heater (2) wound in a coil shape, is provided so as to coaxially surround such a reaction tube (G). This heater (2) is connected to a heating mechanism, such as an AC power source (not shown), which uniformly heats the area on which the wafer (2) is placed to a predetermined temperature, for example, 500 to 1000°C. That is, by applying electric power from this AC power source, the heater (2) heats up.

また、上記反応管■の内管(1b)内には、内管(1b
)部に所定の処理ガスを供給するためのガス供給管(8
)が接続されている。
In addition, inside the inner tube (1b) of the reaction tube
) for supplying a predetermined processing gas to the section (8).
) are connected.

このガス供給管(8)は、図示しないマスフローコント
ローラ等を介在して、ガス供給減に接続されている。さ
らに、上記反応管■の外管(1a)には、排気管■)が
接続されている。
This gas supply pipe (8) is connected to a gas supply line via a mass flow controller (not shown) or the like. Further, an exhaust pipe (2) is connected to the outer tube (1a) of the reaction tube (1).

この排気管(9)は、反応管0)内を所望の圧力に減圧
及び、処理ガス等を排出可能な真空ポンプ(図示せず)
に接続されている。
This exhaust pipe (9) is equipped with a vacuum pump (not shown) capable of reducing the inside of the reaction tube 0 to a desired pressure and discharging process gas, etc.
It is connected to the.

即ち、処理ガスを反応管■内に供給すると、処理ガスは
、内管(1b)下部から上部に流れ、この時に、ウェハ
■に処理を行い、そして、上部外管(1a)側にUター
ンし、外管(1a)上部から下部方向に流出される。
That is, when the processing gas is supplied into the reaction tube (1), the processing gas flows from the lower part of the inner tube (1b) to the upper part, and at this time, it processes the wafer (2) and then makes a U-turn toward the upper outer tube (1a) The water flows out from the upper part of the outer tube (1a) toward the lower part.

上記のように構成された反応管ω内を気密に設定する如
く蓋体(10)が、着脱自在に設けられている。上記蓋
体(10)の上方には、ウェハ■を搭載したボート(イ
)がインロ一方式で載置されている。このボート(イ)
は多数枚のウェハ、例えば100乃至150枚程原水平
方向になるように所定の間隔を設けて搭載可能になって
いる。
A lid (10) is detachably provided so as to keep the inside of the reaction tube ω configured as described above airtight. Above the lid (10), a boat (A) carrying wafers (2) is placed in a one-sided immersion type. This boat (a)
A large number of wafers, for example about 100 to 150 wafers, can be mounted at predetermined intervals in the original horizontal direction.

そして、上記ボート(イ)を上記反応管(ト)内の予め
定められた高さ位置に設定可能で、上記反応管ω内の熱
を逃さないための保温筒(11)が上記ボート(イ)と
蓋体(10)との間に設けられている。
The boat (A) can be set at a predetermined height position within the reaction tube (G), and a heat insulating cylinder (11) for preventing heat from escaping inside the reaction tube (ω) is installed in the boat (I). ) and the lid (10).

ここで、上記蓋体(10)は、上下動機構、例えば駆動
モータが連結されたボールネジと、このボールネジに螺
合結合したナツトとからなる上下動機構(ハ)に支持さ
れている。
Here, the lid body (10) is supported by a vertical movement mechanism (c), which includes a vertical movement mechanism, for example, a ball screw connected to a drive motor, and a nut threadedly connected to the ball screw.

即ち、上記ボート(イ)は処理部■と、この処理部■の
下方に設けられたローデングエリア0では保温筒(11
)上にボート(イ)を図示しない水平方向に移動する搬
送装置により授受している。
That is, the boat (A) has a processing section (2) and a heating cylinder (11
) on top of which a boat (a) is transferred by means of a transport device (not shown) that moves in the horizontal direction.

上記搬送装置の駆動は、制御部により制御されている。The driving of the conveying device is controlled by a control section.

このような装置において1図示しない搬送装置より授受
したボート←)は、上下動機4i!!■によって上昇す
る空間、即ち、ローデングエリア0に障害物が侵入しな
いようにバーリア、例えばアルミ板が周囲に施されてい
る。
In such a device, a boat ←) transferred from a transport device (not shown) is a vertical motor 4i! ! A barrier, such as an aluminum plate, is provided around the space to prevent obstacles from entering the space raised by (1), that is, the loading area 0.

本実施の特徴的構成は、第1図に示す。上記アルミ板で
周囲を包囲したローデングエリア(0が、照るくなるよ
うに構成したことにある。
The characteristic configuration of this embodiment is shown in FIG. The reason is that the loading area (0) surrounded by the aluminum plate is configured to be illuminated.

即ち、上記ローデングエリア■には図示しない搬送機構
によって、上記ボート(イ)が搬出入される搬入口(1
2)を有した側面と、上記ローデングエリア(0内をメ
ンテナンスする際に開閉されるメンテナンス開閉口(1
3)を有した側面と、上記ボート(イ)を反応管■に装
着させる上下動機構■を側設する面と、周囲から隔離す
るために用いられた側面の西側面によって周囲から隔離
するように構成されている。
That is, the loading area (2) has a loading entrance (1) through which the boat (A) is loaded and unloaded by a transport mechanism (not shown).
2), and a maintenance opening (1) that is opened and closed when performing maintenance on the loading area (0).
3), a surface on which the vertical movement mechanism ■ for attaching the boat (A) to the reaction tube ■ is installed on the side, and a west side of the side used to isolate it from the surroundings. It is composed of

上記ローデングエリア0の上下動機構■を両端を上下方
向に側設した面と平行に照明灯例えば蛍光灯(14)が
搬入口(12)側例えば右側方向に設けられている。
An illumination lamp, for example, a fluorescent lamp (14) is provided on the loading entrance (12) side, for example, on the right side, in parallel with the plane in which both ends of the vertical movement mechanism (1) of the loading area 0 are provided on the vertical side.

上記蛍光灯(14)は、メンテナンス開閉口(13)の
、1(13a)を開くことにより点灯回路と、手動でス
イッチオンする点灯回路とがオア(OR)回路に形成さ
れている。
The fluorescent lamp (14) has a lighting circuit formed by opening 1 (13a) of the maintenance opening/closing port (13) and a lighting circuit which is manually switched on as an OR circuit.

次に上述したCVD装置によるウェハへの膜形成処理に
ついて説明する。
Next, a film forming process on a wafer using the above-mentioned CVD apparatus will be explained.

まず、図示しないウェハ 替え装置によりウェハ■をボ
ート(イ)上に積載する。そして、このボート(イ)を
、図示しないボート搬送装置でローデングエリア(0に
搬送する。即ち、ローデングエリア(0に設定した保温
fi(u)上に、ボート(イ)を載置する。
First, the wafer (■) is loaded onto the boat (A) using a wafer changing device (not shown). Then, this boat (A) is transported to the loading area (0) using a boat transport device (not shown). That is, the boat (A) is placed on the loading area (warm fi(u) set to 0). .

そして、上記ボート(イ)を、搬送機構(ハ)により所
定量上昇させ、上記反応管(ト)内の予め定められた位
置に反応管■の内壁に接触させることなく搬入する。こ
の時、上記反応管■下端部と上記蓋体(10)を当接さ
せることにより、自動的にウェハの位置を位置決めする
と共に上記反応管(ト)内部を気密にする。次に、上記
反応管ω内を所望の低圧状態例えば0.1〜3 Tor
rに保つように図示しない真空ポンプで排気制御する。
Then, the boat (A) is raised by a predetermined amount by the transport mechanism (C) and carried into a predetermined position within the reaction tube (G) without contacting the inner wall of the reaction tube (2). At this time, by bringing the lower end of the reaction tube (1) into contact with the lid (10), the position of the wafer is automatically determined and the inside of the reaction tube (1) is made airtight. Next, the inside of the reaction tube ω is set to a desired low pressure state, for example, 0.1 to 3 Torr.
Evacuation is controlled by a vacuum pump (not shown) to maintain the temperature at r.

又、予めヒータ■に電力を印加し、ヒータ■を所望の温
度例えば500〜1000℃程度に設定する。そして、
上記設定後、上記排気制御しながらガス供給源から図示
しないマスフローコントローラ等で流量を調節しつつ処
理ガス例えばSiH4と0□を反応管■の内管(1b)
内に、ガス供給管(8)から所定時間供給する。すると
、反応管■内管(1b)内に設置されたウェハ(3)表
面には、下式■に示すSin、膜が堆積する。
Further, electric power is applied to the heater (2) in advance, and the heater (2) is set at a desired temperature, for example, about 500 to 1000°C. and,
After the above settings, while controlling the exhaust gas and adjusting the flow rate using a mass flow controller (not shown) from the gas supply source, process gases such as SiH4 and 0□ are supplied to the inner tube (1b) of the reaction tube (■).
The gas is supplied from the gas supply pipe (8) for a predetermined period of time. Then, on the surface of the wafer (3) placed in the inner tube (1b) of the reaction tube (1), a Sin film shown in the following formula (2) is deposited.

SiH,+ 0□→Sin、 + 282↑  ・・・
・・・ ■又、処理済ガスは、所定のルートにより外管
(1a)に接続された排気管(9)から排気される。こ
のCVD処理後、処理ガスの供給を停止し、反応管■内
部を不活性ガス例えばN2ガスに置換し、常圧復帰する
。そして、上記処理後のウェハ(3)を積載したボート
(イ)をローデングエリア0に搬送機構■により搬送し
処理が終了する。
SiH, + 0□→Sin, + 282↑ ・・・
... ■Also, the treated gas is exhausted from the exhaust pipe (9) connected to the outer pipe (1a) through a predetermined route. After this CVD treatment, the supply of the processing gas is stopped, and the inside of the reaction tube (1) is replaced with an inert gas, such as N2 gas, to return to normal pressure. Then, the boat (A) loaded with the wafers (3) after the above processing is transported to the loading area 0 by the transport mechanism (2), and the processing is completed.

本実施例の特徴的作用について説明する。The characteristic effects of this embodiment will be explained.

上記反応管■内に多数枚のウェハ■を搭載したボート(
へ)を挿入する過程を、蛍光灯(14)が点灯している
ので、目視Illを容易に行うことができ、この目視観
察によってローデング状態が把握でき、不具合状態を認
識できれば直ちにローデング駆動を瞬間に対応させるこ
とができる。
A boat (with a large number of wafers ■ mounted inside the reaction tube ■
Since the fluorescent lamp (14) is on, the loading process can be easily visually observed.The loading status can be grasped through this visual observation, and if a malfunction is recognized, the loading drive can be started instantly. can be made to correspond to

また、搬送の受は渡しが不備に終り、ウェハ■を搭載し
たボート(へ)が隔離された領域の下面に落下して破損
すると、この破損片を容易に取り除くことが可能になる
Furthermore, if the transfer receiver ends up being improperly handed over and the boat (to) carrying the wafers falls onto the lower surface of the isolated area and breaks, this broken piece can be easily removed.

上述したように、この実施例によれば、被処理体に所定
の処理す秘密な処理部と、この処理部に被処理体を搬送
するローデングエリアとを具備し、少なくとも上記ロー
デングエリアを周囲から隔離するように遮蔽された処理
装置で、上記被処理体が通過される上記ローデングエリ
アに照明灯を設けたことにより、隔離された上記ローデ
ングエリアが照明でき、ウェハを搭載したボートの搬送
課程が把握でき、このことにより、ボートの不安定状態
を防止でき、ひいては作業能率の向上につながる。
As described above, this embodiment includes a secret processing section that performs predetermined processing on objects to be processed, and a loading area that transports objects to be processed to this processing section, and at least the loading area. The processing equipment is shielded so as to be isolated from the surroundings, and lighting lights are installed in the loading area through which the objects to be processed pass, so that the isolated loading area can be illuminated and the boat carrying the wafers can be illuminated. The transport process of the boat can be grasped, which prevents the boat from becoming unstable and improves work efficiency.

この発明は、上記実施例に限定するものではなく、例え
ば拡酸、酸化装置のアニール装置、エピタキシャル成長
装置等の熱処理装置やスパッタ・エツチング・イオン流
入装置等様々な処理をする装置に適用できる。
The present invention is not limited to the above-mentioned embodiments, but can be applied to various processing apparatuses such as annealing apparatuses for acid expansion and oxidation apparatuses, heat treatment apparatuses such as epitaxial growth apparatuses, and sputtering, etching, and ion injection apparatuses.

また上記照明灯で蛍光灯を利用したものについて説明し
たが、これに限定するものではなく、照明として用いら
れる照明手段、例えば電球、イルミネータ、グラスファ
イバを用いた照明等であれば何れでも良い。
Further, although the above-mentioned illumination lamp has been described using a fluorescent lamp, the present invention is not limited to this, and any illumination means used as illumination, such as a light bulb, an illuminator, or illumination using glass fiber, may be used.

さらに、上下動機構を側設した面に蛍光打釘を取り付け
るように説明したが、これに限定するものではなく、照
明部を一番目視しやすい所に設けるようにしても何ら問
題はない。
Furthermore, although it has been described that the fluorescent nails are attached to the surface on which the vertical movement mechanism is installed on the side, the present invention is not limited to this, and there is no problem in providing the illumination section in a place where it is most visible.

さらに、被処理体をウェハを用いて説明したが、これに
限定するものてば無く、テレビ画面で有名な液晶画面(
または液晶表示装置ともいう)等であっても良い。
Furthermore, although the object to be processed has been explained using a wafer, it is not limited to this; the liquid crystal screen (LCD screen), which is famous for television screens (
or a liquid crystal display device).

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明装置の照明灯装置を説明するためのロー
デングエリア断面説明図、第2図は第1図装置の一実施
例を説明するための縦型CVD装置断面説明図である。 2・・・処理部       5・・・上下動機構6・
・・ローデングエリア  12・・・搬入口13・・・
メンテナンス開閉口 14・・・蛍光灯第1図 特許出願人  チル相模株式会社 5rg肱代豚
FIG. 1 is a cross-sectional explanatory view of a loading area for explaining an illumination lamp device of the apparatus of the present invention, and FIG. 2 is a cross-sectional explanatory view of a vertical CVD apparatus for explaining an embodiment of the apparatus shown in FIG. 2... Processing section 5... Vertical movement mechanism 6.
... Loading area 12 ... Loading entrance 13 ...
Maintenance opening/closing port 14...Fluorescent lamp Figure 1 Patent applicant Chill Sagami Co., Ltd. 5rg Tsujiyobuta

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 被処理体に所定の処理する気密な処理部と、この処理部
に被処理体が搬送される搬送手段を配置したローデング
エリアとを具備し、少なくとも上記ローデングエリアを
周囲から隔離するように遮蔽された処理装置において、
上記被処理体が通過される上記ローデングエリアの隔離
空間部に照明灯を設けたことを特徴とする処理装置。
The processing unit is equipped with an airtight processing section for processing the object to be processed in a predetermined manner, and a loading area in which a conveying means for transporting the object to be processed is arranged in the processing section, and at least the loading area is isolated from the surroundings. In a shielded processing device,
A processing apparatus characterized in that a lighting lamp is provided in an isolated space of the loading area through which the object to be processed passes.
JP63203457A 1988-08-16 1988-08-16 Vertical heat treatment equipment Expired - Lifetime JP2670514B2 (en)

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JP63203457A JP2670514B2 (en) 1988-08-16 1988-08-16 Vertical heat treatment equipment

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JP63203457A JP2670514B2 (en) 1988-08-16 1988-08-16 Vertical heat treatment equipment

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JPH0252425A true JPH0252425A (en) 1990-02-22
JP2670514B2 JP2670514B2 (en) 1997-10-29

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0652141U (en) * 1992-12-18 1994-07-15 光洋リンドバーグ株式会社 Semiconductor heat treatment equipment

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