JPH0250226A - Microcomputer - Google Patents

Microcomputer

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Publication number
JPH0250226A
JPH0250226A JP63201348A JP20134888A JPH0250226A JP H0250226 A JPH0250226 A JP H0250226A JP 63201348 A JP63201348 A JP 63201348A JP 20134888 A JP20134888 A JP 20134888A JP H0250226 A JPH0250226 A JP H0250226A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
data
rom
output
signal
latch circuit
Prior art date
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Pending
Application number
JP63201348A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yoshinori Inoue
義則 井上
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC IC Microcomputer Systems Co Ltd
Original Assignee
NEC IC Microcomputer Systems Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC IC Microcomputer Systems Co Ltd filed Critical NEC IC Microcomputer Systems Co Ltd
Priority to JP63201348A priority Critical patent/JPH0250226A/en
Publication of JPH0250226A publication Critical patent/JPH0250226A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PURPOSE:To prevent data which are stored in a ROM from being read by controlling whether the data of the ROM are outputted or not according to coincidence between data which are inputted from an external part when a power source is inputted, and data to be read from the ROM just after a test condition is obtained. CONSTITUTION:A microcomputer has an input data latch circuit 4 to latch input data when the power source is inputted, a ROM data latch circuit 2 just after the test condition is obtained, a coincidence detecting circuit 3 to detect the coincidence between the output of the input data latch circuit 4 and the output of the ROM data latch circuit 2 and a control circuit 6 to control whether the ROM data are outputted or not according to the coincidence to be detected by the coincidence detecting circuit 3. Thus, even when the test condition is obtained, the data stored in a ROM1 are not outputted to an external part and the data stored in the ROM1 can be protected to any person excepting a data preparing person.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はROM内蔵のマイクロコンピュータに関し、特
にテスト時にROMのデータを外部に出力できるマイク
ロコンピュータに関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a microcomputer with a built-in ROM, and more particularly to a microcomputer that can output ROM data to the outside during testing.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

従来、マイクロコンピュータには命令などのデータを格
納するために読み出し専用メモリー(以下ROMとする
)を内蔵するものがあった。
Conventionally, some microcomputers have a built-in read-only memory (hereinafter referred to as ROM) for storing data such as instructions.

ROMのデータをテストするためにROMのデータをそ
のまま外部に出力できるマイクロコンピュータがある。
There is a microcomputer that can directly output ROM data to the outside in order to test the ROM data.

第2図はROMを内蔵したマイクロコンピュータのRO
M部をあられすブロック図である。テスト状態になると
テスト信号16は例えば“θ″レベルら“1”レベルに
なり、ROM14はROMデータ17を出力して、RO
Mデータlγは出力回路15によって外部に出力される
Figure 2 shows the RO of a microcomputer with built-in ROM.
It is a block diagram showing the M section. When the test state is entered, the test signal 16 changes from the "θ" level to the "1" level, and the ROM 14 outputs the ROM data 17, and the ROM 14 outputs the ROM data 17.
The M data lγ is outputted to the outside by the output circuit 15.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

上述した従来のマイクロコンピュータは、テスト状態に
なるといつでもデータが外部に出力されるので、ROM
に格納されたデータを知らない第三者でも簡単にROM
のデータをコピーできるという欠点がある。特に電気的
書き込み可能な読み出し専用メモリー(以下FROMと
いう)を内蔵したマ・イクロコンピュータでは書き込み
後のチエツクを行うので、FROMの内容を外部に出力
するテスト状態を公開しているためFROMに格納され
たデータを第三者が簡単にコピーできるという欠点があ
る。
The conventional microcomputer described above outputs data to the outside whenever it enters a test state, so it
Even a third party who does not know the data stored in the ROM can easily
The disadvantage is that it can copy data. In particular, microcomputers with built-in electrically writable read-only memory (hereinafter referred to as FROM) perform a check after writing, so the contents of FROM are output to the outside to expose the test state, so the contents of FROM are stored in the FROM. The disadvantage is that a third party can easily copy the stored data.

〔課題を解決するための手段〕[Means to solve the problem]

本発明のマイクロコンピュータは、電源投入時に入力デ
ータをラッチする入力データラッチ回路と、テスト状態
になった直後にROMデータラッチ回路と、入力データ
ラッチ回路の出力とROMデータラッチ回路の出力との
一致を検出する一致検出回路と、前記一致検出回路が一
致を検出したか否かによってROMデータを出力するか
否かを制御する制御回路を有している。
The microcomputer of the present invention has an input data latch circuit that latches input data when the power is turned on, a ROM data latch circuit that latches input data immediately after entering a test state, and a match between the output of the input data latch circuit and the output of the ROM data latch circuit. and a control circuit that controls whether or not to output ROM data depending on whether or not the coincidence detection circuit detects a coincidence.

〔実施例〕〔Example〕

次に、本発明について図面を参照して説明する。 Next, the present invention will be explained with reference to the drawings.

第1図は本発明の一実施例のブロック図である。FIG. 1 is a block diagram of one embodiment of the present invention.

ROM1はデータを格納したROM、ROMデータ信号
11はROMIの出力信号、ROMデータラッチ回路は
テスト信号がテストでない状態か°らテスト状態に変わ
った直後にROMデータ信号11をラッチするラッチ回
路、入力回路5は外部からの入力データを取り込む入力
回路、入力データ信号12は入力回路5の出力信号、入
力データラッチ回路4はマイクロコンピュータに電源が
投入された時に単発で出る電源投入信号8で入力データ
信号12をラッチするラッチ回路、一致検出回路3はR
OMデータラッチ回路2の出力と入力データラッチ回路
4の出力が一致しているか否かを検出する一致検出回路
、一致信号10は一致検出回路3の出力信号、制御回路
6は一致信号10が一致状態の時にROMデータ信号1
1をそのまま出力データ信号13に出力し、一致信号1
0が一致状態でない時は出力データ信号13には固定の
信号を出力する制御回路、出力回路7は出力データ信号
13を外部に出力する出力回路である。
ROM1 is a ROM that stores data, ROM data signal 11 is an output signal of ROMI, ROM data latch circuit is a latch circuit that latches the ROM data signal 11 immediately after the test signal changes from a non-test state to a test state, and is an input. The circuit 5 is an input circuit that takes in input data from the outside, the input data signal 12 is an output signal of the input circuit 5, and the input data latch circuit 4 receives the input data by a power-on signal 8 that is issued once when the power is turned on to the microcomputer. The latch circuit that latches the signal 12 and the match detection circuit 3 are R.
A coincidence detection circuit detects whether the output of the OM data latch circuit 2 and the output of the input data latch circuit 4 match, the coincidence signal 10 is the output signal of the coincidence detection circuit 3, and the control circuit 6 detects the coincidence signal 10. ROM data signal 1 when
1 is output as is to the output data signal 13, and the match signal 1 is output as is.
The output circuit 7 is a control circuit that outputs a fixed signal as the output data signal 13 when 0 does not match, and the output circuit 7 is an output circuit that outputs the output data signal 13 to the outside.

以下、第1図のROMデータ読出しテストの動作につい
て説明する。
The operation of the ROM data read test shown in FIG. 1 will be described below.

マス、マイクロコンピュータに電源を投入する時に比較
用入力データを入力回路5に印加しておく。この比較用
入力データは次にマイクロコンピュータをテスト状態に
した時ROMから読み出されるデータでROMに格納さ
れたデータをつくった人にとっては明らかなデータであ
る。この比較用入力データは入力データラッチ回路4に
ラッチされる。
Comparison input data is applied to the input circuit 5 when power is applied to the mass/microcomputer. This comparison input data is data that is read out from the ROM when the microcomputer is next put into a test state, and is data that is obvious to the person who created the data stored in the ROM. This comparison input data is latched by the input data latch circuit 4.

次に、テスト状態でない時テスト信号9は例えば“0″
レベルであり、テスト状態となると、テスト信号9は“
1”レベルとなる。このテスト信号9が“0”レベルか
ら“1”レベルに変化した直後のROMデータ信号11
のデータをラッチする。システムでこの時のROMのア
ドレスを決めておくとROMデータラッチ回路2にラッ
チされるデータはROMIに格納されたデータによって
決まる特定のデータとなる。このデータはROM1に格
納されたデータを作成した人にとっては明らかであるの
で、前述の比較用入力データとじて与えることは容易で
ある。ROMデータラッチ回路2の出力と入力データラ
ッチ回路4の出力が一致すると一致検出回路3の一致信
号10は例えば1”レベルとなり、一致信号10が“1
”レベルになると制御回路6はROMデータ信号11を
そのまま出力データ信号13に出力し、出力回路7によ
って出力データ信号13は外部に出力される。
Next, when not in the test state, the test signal 9 is, for example, "0".
level, and in the test state, the test signal 9 is “
The ROM data signal 11 immediately after the test signal 9 changes from the "0" level to the "1" level.
Latch the data. If the ROM address at this time is determined in the system, the data latched by the ROM data latch circuit 2 will be specific data determined by the data stored in the ROMI. Since this data is obvious to the person who created the data stored in the ROM 1, it is easy to provide it as the above-mentioned input data for comparison. When the output of the ROM data latch circuit 2 and the output of the input data latch circuit 4 match, the match signal 10 of the match detection circuit 3 becomes, for example, a 1" level, and the match signal 10 becomes "1".
When the level is reached, the control circuit 6 outputs the ROM data signal 11 as it is as the output data signal 13, and the output circuit 7 outputs the output data signal 13 to the outside.

また、電源投入時に与えられた比較用入力データ、すな
わち入力データラッチ回路4にラッチされたデータがR
OMデータラッチ回路2にラッチされる特定のデータと
違う場合は、一致検出回路3の出力信号、一致信号10
が“O”レベルとなる。すると制御回路6はROMデー
タ信号11にかかわらず出力データ信号13に固定の信
号例えば全部“0”レベルを出力する。このことによっ
てテスト状態になってもROMIに格納されたデータが
外部に出力されずROMIに格納されたデータはデータ
作成者以外に対して保護できる。
In addition, the input data for comparison given when the power is turned on, that is, the data latched in the input data latch circuit 4, is
If it is different from the specific data latched by the OM data latch circuit 2, the output signal of the coincidence detection circuit 3, the coincidence signal 10
becomes “O” level. Then, the control circuit 6 outputs a fixed signal, eg, all "0" level, as the output data signal 13 regardless of the ROM data signal 11. As a result, even in a test state, the data stored in the ROMI is not output to the outside, and the data stored in the ROMI can be protected from anyone other than the data creator.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上説明したように本発明は、電源投入時に外部から入
力したデータとテスト状態になった直後にROMから読
出されたデータとが一致するか否かでROMのデータを
出力するか否かを制御することにより、ROMに格納さ
れたデータを知らない人がROMに格納されたデータを
読み出すのを防ぐ効果がある。
As explained above, the present invention controls whether or not to output ROM data based on whether or not the data input from the outside when the power is turned on matches the data read from the ROM immediately after entering the test state. This has the effect of preventing a person who does not know the data stored in the ROM from reading the data stored in the ROM.

また本発明ではROMを内蔵した場合を述べたがFRO
Mを内蔵したマイクロコンピュータの場合も同様の効果
がある。
Furthermore, in the present invention, the case where the ROM is built-in has been described, but the FRO
A similar effect can be obtained in the case of a microcomputer with built-in M.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の一実施例のROM部をあられすブロッ
ク図、第2図は従来のROM部をあられすブロック図で
ある。 1・・・・・・データ格納用ROM、2・・・・・・テ
スト状態になった直後にROMの出力をラッチするRO
Mデータラッチ回路、3・・・・・・ROMデータラッ
チ回路2の出力と入力データラッチ回路4の出力が一致
しているか否かを検出する一致検出回路、4・・・・・
・電源投入信号によって入力データ信号をラッチする入
力データラッチ回路、5・・・・・・外部入力をとり込
み入力データ信号12を出力する入力回路、6・・・・
・・一致検出回路が一致を検出したか否かによってRO
Mデータ信号11の値を出すか固定の値を出すかを制御
する制御回路、7・・・・・・出力データ信号7を外部
へ出力する出力回路、8・・・・・・マイクロコンピュ
ータに電源が投入された時に出る電源投入信号、9・・
・・・・テスト状態の時“1”レベルテスト状態でない
時“0”レベルになるテスト信号、10・・・・・・一
致検出回路3の出力である一致信号、11・・・・・・
ROMIの出力であるROMデータ信号、12・・・・
・・入力回路5が外部から取り込んだ入力データ信号、
13・・・・・・制御回路の出力である出力データ信号
、14・・・・・・データを格納したROM、15・・
・・・・ROMデータ信号17を外部へ出力する出力回
路、16・・・・・・テスト状態のとき“1”レベルテ
スト状態でないときに“0”レベルになるテスト信号、
17・・・・・・ROM14の出力であるROMデータ
信号。 代理人 弁理士  内 原   音 茅 /ffi
FIG. 1 is a block diagram showing a ROM section according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a block diagram showing a conventional ROM section. 1... ROM for data storage, 2... RO that latches the ROM output immediately after entering the test state
M data latch circuit, 3... Coincidence detection circuit for detecting whether the output of the ROM data latch circuit 2 and the output of the input data latch circuit 4 match, 4...
- Input data latch circuit that latches an input data signal in response to a power-on signal, 5... Input circuit that takes in external input and outputs input data signal 12, 6...
...RO depends on whether the match detection circuit detects a match or not.
A control circuit that controls whether to output the value of the M data signal 11 or a fixed value, 7... An output circuit that outputs the output data signal 7 to the outside, 8... A microcomputer. Power-on signal that appears when the power is turned on, 9...
. . . Test signal that is “1” level when in test state, “0” level when not in test state, 10 . . . Coincidence signal that is the output of coincidence detection circuit 3, 11 .
ROM data signal, which is the output of ROMI, 12...
...Input data signal taken in from the outside by the input circuit 5,
13... Output data signal which is the output of the control circuit, 14... ROM storing data, 15...
. . . Output circuit that outputs the ROM data signal 17 to the outside, 16 . . . Test signal that is “1” level in the test state and “0” level when not in the test state,
17...ROM data signal which is the output of ROM14. Agent: Patent Attorney Otomo Uchihara /ffi

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] ROMを内蔵し、テスト時にROMのデータを外部へ出
力できるマイクロコンピュータにおいて、電源投入時に
外部からの入力データをラッチする入力データラッチ回
路と、テスト状態になった直後に前記ROMの出力デー
タをラッチするROMデータラッチ回路をそなえ、前記
入力データラッチ回路の出力と前記ROMデータラッチ
回路の出力とが一致したときのみ、前記ROMの出力デ
ータを外部へ出力することを特徴とするマイクロコンピ
ュータ。
In a microcomputer that has a built-in ROM and can output ROM data to the outside during a test, there is an input data latch circuit that latches input data from the outside when the power is turned on, and an input data latch circuit that latches the output data of the ROM immediately after entering the test state. 1. A microcomputer comprising a ROM data latch circuit for outputting the output data of the ROM to the outside only when the output of the input data latch circuit and the output of the ROM data latch circuit match.
JP63201348A 1988-08-11 1988-08-11 Microcomputer Pending JPH0250226A (en)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03256122A (en) * 1990-03-06 1991-11-14 Mitsubishi Electric Corp One-chip microcomputer
US7350524B2 (en) 2004-04-28 2008-04-01 Yoshino Kogyosho Co., Ltd. Liquid-applying device
JP2008123106A (en) * 2006-11-09 2008-05-29 Nec Electronics Corp Microcomputer and debug method for microcomputer

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