JPH0249454B2 - - Google Patents
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- JPH0249454B2 JPH0249454B2 JP57054119A JP5411982A JPH0249454B2 JP H0249454 B2 JPH0249454 B2 JP H0249454B2 JP 57054119 A JP57054119 A JP 57054119A JP 5411982 A JP5411982 A JP 5411982A JP H0249454 B2 JPH0249454 B2 JP H0249454B2
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- 230000005250 beta ray Effects 0.000 claims description 56
- 239000000428 dust Substances 0.000 claims description 40
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 23
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 16
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 11
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 7
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 5
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 16
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 6
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 4
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 3
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000004323 axial length Effects 0.000 description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000003628 erosive effect Effects 0.000 description 1
- 239000011888 foil Substances 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 230000007774 longterm Effects 0.000 description 1
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 239000000779 smoke Substances 0.000 description 1
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/06—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption
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Description
【発明の詳細な説明】
本発明はβ線透過式粉塵濃度測定装置に関し、
更に詳述すればβ線源及び検出器を特殊構造にす
ることにより、放射β線の度数分布曲線を平坦な
ものにすると共に、検出器に到達したβ線を検出
して得られる出力パルスを計測する波高弁別器の
設定レベルを前記平坦領域内に定めることによ
り、測定精度及び感度を向上させた粉塵濃度測定
装置に関する。
更に詳述すればβ線源及び検出器を特殊構造にす
ることにより、放射β線の度数分布曲線を平坦な
ものにすると共に、検出器に到達したβ線を検出
して得られる出力パルスを計測する波高弁別器の
設定レベルを前記平坦領域内に定めることによ
り、測定精度及び感度を向上させた粉塵濃度測定
装置に関する。
大気中や工場排煙中に含まれている浮遊粉塵濃
度を測定する手段として、従来ロール状に巻いた
紙を繰り出して、この紙で被測定気体を所定
流量で所定時間過することにより、被測定気体
中に浮遊している浮遊粉塵を前記繰り出した紙
面に捕集した後、この捕集面にβ線を照射して捕
集粉塵による透過β線の減衰量を検出し、これに
よる捕集粉塵の厚さを求めて被測定気体中の浮遊
粉塵濃度を決定する計測方法、即ち透過型β線厚
さ計の原理を応用した浮遊粉塵濃度の計測方法は
公知のもので、この場合透過するβ線強度と粉塵
の厚さとの間には次の関係式が成立する。
度を測定する手段として、従来ロール状に巻いた
紙を繰り出して、この紙で被測定気体を所定
流量で所定時間過することにより、被測定気体
中に浮遊している浮遊粉塵を前記繰り出した紙
面に捕集した後、この捕集面にβ線を照射して捕
集粉塵による透過β線の減衰量を検出し、これに
よる捕集粉塵の厚さを求めて被測定気体中の浮遊
粉塵濃度を決定する計測方法、即ち透過型β線厚
さ計の原理を応用した浮遊粉塵濃度の計測方法は
公知のもので、この場合透過するβ線強度と粉塵
の厚さとの間には次の関係式が成立する。
Ｉ＝Ipexp（−μX） ……(1)
ただし、Ｉ：材及び粉塵を透過したβ線強度
Ip：材を透過したβ線強度
μ：質量吸収係数（cm2／ｇ）
Ｘ：粉塵の厚さ（ｇ／cm2）
また、被測定気体中の粉塵濃度は次式により算
出される。
出される。
Ｃ＝Ａ／μQtlnIp／Ｉ ……(2)
ただし Ａ：捕集面積（cm2）
Ｑ：過流量（cm3／min）
ｔ：捕集時間（min）
Ｃ：粉塵濃度（ｇ／cm3）
よつて、粉塵捕集前後の透過β線強度Ip、Ｉを
測定することにより、(1)、(2)式を用いて粉塵濃度
を求めることができるものである。
測定することにより、(1)、(2)式を用いて粉塵濃度
を求めることができるものである。
上記原理に基づくβ線透過式粉塵濃度計に用い
られる検出系としては、従来エネルギー分布に関
しては考慮されていなかつた。
られる検出系としては、従来エネルギー分布に関
しては考慮されていなかつた。
しかし、本発明者らは粉塵濃度計の測定精度を
向上させる目的で種々検討しているうちに、下記
のようにエネルギー分布を適当に補正することに
より、例えば温度特性等を改善して測定精度を向
上せしめることに成功した。
向上させる目的で種々検討しているうちに、下記
のようにエネルギー分布を適当に補正することに
より、例えば温度特性等を改善して測定精度を向
上せしめることに成功した。
即ち、第１図はβ線源から放射されるβ線のエ
ネルギーを表わす波高値とカウント数との関係を
一次式で近似させて示したグラフで、(1)式のIp、
Ｉの測定は、前記グラフに示すように、β線のエ
ネルギースペクトルに対応した波高の高いパルス
ほどカウント数の少ない、ほぼ直線的な傾斜の波
高分布をもつランダムパルス列を有効にカウント
することにあり、このことはIpの測定においては
第１図における波高Epから波高Edまでの間のパ
ルスを全部カウントすることに相当する。ここ
で、Epはβ線エネルギーの最大値に対応したパル
ス波高を、またEdはノイズ除去のために測定器
の増幅回路に設けられた波高弁別器の設定レベル
をそれぞれ示す。従つて、Ipは下記(3)式で示され
る。
ネルギーを表わす波高値とカウント数との関係を
一次式で近似させて示したグラフで、(1)式のIp、
Ｉの測定は、前記グラフに示すように、β線のエ
ネルギースペクトルに対応した波高の高いパルス
ほどカウント数の少ない、ほぼ直線的な傾斜の波
高分布をもつランダムパルス列を有効にカウント
することにあり、このことはIpの測定においては
第１図における波高Epから波高Edまでの間のパ
ルスを全部カウントすることに相当する。ここ
で、Epはβ線エネルギーの最大値に対応したパル
ス波高を、またEdはノイズ除去のために測定器
の増幅回路に設けられた波高弁別器の設定レベル
をそれぞれ示す。従つて、Ipは下記(3)式で示され
る。
Ip＝∫Eo Edα（Ep−Ｅ）dE＝α／２〔Ep−Ed〕2……(
3) (3)式は検出される波高スペクトル自体のゆら
ぎ、検出器で発生する雑音、増幅器の電子回路、
特に電子回路の初段で発生する雑音を無視して計
算したものであるが、実際にはこれらの雑音は無
視し得る、上記雑音の発生は等価的に第１図に示
す波高弁別器の設定レベルEdの変動に対応して
考えることができ、この変動幅を2Voとすると、
雑音が発生している場合には波高弁別器の設定レ
ベルEdはEd＋VoとEd−Voとの平均で表わされる
から、計算の結果、雑音を考慮した場合の材の
みを透過したβ線強度Ip′は(4)式となる。
3) (3)式は検出される波高スペクトル自体のゆら
ぎ、検出器で発生する雑音、増幅器の電子回路、
特に電子回路の初段で発生する雑音を無視して計
算したものであるが、実際にはこれらの雑音は無
視し得る、上記雑音の発生は等価的に第１図に示
す波高弁別器の設定レベルEdの変動に対応して
考えることができ、この変動幅を2Voとすると、
雑音が発生している場合には波高弁別器の設定レ
ベルEdはEd＋VoとEd−Voとの平均で表わされる
から、計算の結果、雑音を考慮した場合の材の
みを透過したβ線強度Ip′は(4)式となる。
Ip′＝α／２｛（Ep−（Ed±Vo）｝2＝α／２（Ep−Ed
）2＋α／２Vo 2＝Ip＋α／２Vo 2……(4) (4)式から明らかなように、検出信号に雑音が重
なるとIp′はIpよりもα／２Vo 2だけ大きくなり、この ように雑音に起因する等価的設定レベルの変動は
検出精度に大きな悪影響を及ぼすものである。
）2＋α／２Vo 2＝Ip＋α／２Vo 2……(4) (4)式から明らかなように、検出信号に雑音が重
なるとIp′はIpよりもα／２Vo 2だけ大きくなり、この ように雑音に起因する等価的設定レベルの変動は
検出精度に大きな悪影響を及ぼすものである。
上記Vo 2項の生じる理由は、(3)式で示されるよ
うに、度数分布曲線がＥの一次式として表現され
ているためであり、数式的には積分結果が｛Ep−
（Ed±Vo）｝2になることによる。そして、前記β
線厚さ計の原理を利用する粉塵濃度計を用いて、
例えば大気中の粉塵濃度を測定する場合には、大
気中の粉塵濃度は一般に小さいものであるので、
大量の大気を処理してその中に浮遊している粉塵
を捕集しても、Ip／Ｉの値は１に近いものであ
る。このため、Ip中に(4)式右辺第２項に示され
る、雑音に起因する変動項α／２Vo 2を正誤差とし て含むことは、粉塵濃度の測定精度を大きく低下
させることになる。
うに、度数分布曲線がＥの一次式として表現され
ているためであり、数式的には積分結果が｛Ep−
（Ed±Vo）｝2になることによる。そして、前記β
線厚さ計の原理を利用する粉塵濃度計を用いて、
例えば大気中の粉塵濃度を測定する場合には、大
気中の粉塵濃度は一般に小さいものであるので、
大量の大気を処理してその中に浮遊している粉塵
を捕集しても、Ip／Ｉの値は１に近いものであ
る。このため、Ip中に(4)式右辺第２項に示され
る、雑音に起因する変動項α／２Vo 2を正誤差とし て含むことは、粉塵濃度の測定精度を大きく低下
させることになる。
本発明は、従来検出系における雑音が単なる
Ｓ／Ｎ比の問題として片付けられていたのに対
し、更に理論的に考察することにより、雑音が原
因となつて雑音レベルの自乗に比例する正誤差
（(4)式のα／２Vo 2）が測定値に必ず付加されること を解明し、更に度数分布曲線を第２図に示すよう
な平坦領域を有する曲線に補正できる場合には、
Ipが Ip＝α／２（Ep−Eb）2＋α（Ep−Eb）（Eb−Ed） となつて理論的にVo 2項が消滅することに想到し
た。即ち、第２図の曲線に基づいて上記と同様の
計算を行なつた結果、傾斜領域のIo（Io(A)）は下
記式(5)、平坦領域のIo（Io(B)）は下記式(6)で表さ
れる。
Ｓ／Ｎ比の問題として片付けられていたのに対
し、更に理論的に考察することにより、雑音が原
因となつて雑音レベルの自乗に比例する正誤差
（(4)式のα／２Vo 2）が測定値に必ず付加されること を解明し、更に度数分布曲線を第２図に示すよう
な平坦領域を有する曲線に補正できる場合には、
Ipが Ip＝α／２（Ep−Eb）2＋α（Ep−Eb）（Eb−Ed） となつて理論的にVo 2項が消滅することに想到し
た。即ち、第２図の曲線に基づいて上記と同様の
計算を行なつた結果、傾斜領域のIo（Io(A)）は下
記式(5)、平坦領域のIo（Io(B)）は下記式(6)で表さ
れる。
Io(A)＝α／２（Eo−Eb）2 ……(5)
Io(B)＝α（Eo−Eb）（Eb−Ed） ……(6)
ここで、雑音を考慮すると、波高弁別器の設定
レベルはEd±Vnとして表わされるから、Io′(B)は
下記(7)のようになり、Vnの項が消えて測定誤差
として出現しなくなる。
レベルはEd±Vnとして表わされるから、Io′(B)は
下記(7)のようになり、Vnの項が消えて測定誤差
として出現しなくなる。
Io′(B)＝α（Eo−Eb）｛Eb−（Ed±Vn）｝
＝α（Eo−Eb）（Eb−Ed） ……(7)
よつて、EoからEbまでの全カウント数は下記
式(8)のようになり、Vnの項は消えて測定に全く
影響を与えないものである。
式(8)のようになり、Vnの項は消えて測定に全く
影響を与えないものである。
Io＝Io(A)＋Io(B)
＝α／２（Eo−Eb）2＋α（Eo−Eb）（Eb−Ed）
……(8)
本発明は上記理論に基づいてなされたもので、
度数分布曲線がパルス波高に関係なく平坦特性を
示すように検出系を構成すると共に、検出器に到
達したβ線を検出して得られる出力パルスを計測
する波高弁別器の設定弁別レベルをパルスの度数
分布がβ線エネルギに無関係に平坦な領域内に設
定することにより、測定精度及び感度を向上させ
たβ線透過式粉塵濃度測定装置を提供することを
目的とするものである。
度数分布曲線がパルス波高に関係なく平坦特性を
示すように検出系を構成すると共に、検出器に到
達したβ線を検出して得られる出力パルスを計測
する波高弁別器の設定弁別レベルをパルスの度数
分布がβ線エネルギに無関係に平坦な領域内に設
定することにより、測定精度及び感度を向上させ
たβ線透過式粉塵濃度測定装置を提供することを
目的とするものである。
以下、本発明の一実施例につき第３図を参照し
て説明する。
て説明する。
第３図中１は金属製肉厚円板状の放射線源容器
で、その一面の中央部に形成された収納凹部２に
は 147Pm由来の円板状のβ線源３が装着されて
いる。前記容器１の一面にはジエラルミン製の金
属製肉厚円筒体よりなる線源コリメータ４がその
軸線を容器１の軸線と一致させて装着されてい
る。この線源コリメータ４の内径は前記β線源３
の直径よりも小径に形成されていると共に、その
軸方向長さはβ線源３から放射されるβ線のその
材質中における最大飛程の1/2以上に形成されて
おり、この線源コリメータ４をβ線源に積重する
ことにより、β線源３と線源コリメータ４との重
なつているβ線源３の周縁部から放射されるβ線
はほとんどこのコリメータ４の筒壁により遮閉さ
れて外部に放射し得ず、β線源の中央附近から放
射されるβ線のみが円筒状の線源コリメータ４の
内部空間よりなる窓部５を通つて前方に放射され
る。前記β線源３に装着されたコリメータ４の窓
部５の開口端にはアルミニウム等の金属薄膜より
なる線源スクリーン６が前記窓部５の開口端を覆
うごとく積重されており、前記窓部５を通り抜け
て外部に放射されるβ線のうちエネルギーの小さ
いものが、このスクリーン６によつてカツトされ
る。
で、その一面の中央部に形成された収納凹部２に
は 147Pm由来の円板状のβ線源３が装着されて
いる。前記容器１の一面にはジエラルミン製の金
属製肉厚円筒体よりなる線源コリメータ４がその
軸線を容器１の軸線と一致させて装着されてい
る。この線源コリメータ４の内径は前記β線源３
の直径よりも小径に形成されていると共に、その
軸方向長さはβ線源３から放射されるβ線のその
材質中における最大飛程の1/2以上に形成されて
おり、この線源コリメータ４をβ線源に積重する
ことにより、β線源３と線源コリメータ４との重
なつているβ線源３の周縁部から放射されるβ線
はほとんどこのコリメータ４の筒壁により遮閉さ
れて外部に放射し得ず、β線源の中央附近から放
射されるβ線のみが円筒状の線源コリメータ４の
内部空間よりなる窓部５を通つて前方に放射され
る。前記β線源３に装着されたコリメータ４の窓
部５の開口端にはアルミニウム等の金属薄膜より
なる線源スクリーン６が前記窓部５の開口端を覆
うごとく積重されており、前記窓部５を通り抜け
て外部に放射されるβ線のうちエネルギーの小さ
いものが、このスクリーン６によつてカツトされ
る。
７はロール状に巻き取られた材で、このロー
ル状材７から繰り出された材は捕集部（図示
せず）に送られ、ここで所定流量で送られる被測
定気体を過せしめられて、これにより材表面
に気体中の浮遊粉塵の沈着層８が形成された後、
前記窓部５の前方のβ線放射路中に送られる。
ル状材７から繰り出された材は捕集部（図示
せず）に送られ、ここで所定流量で送られる被測
定気体を過せしめられて、これにより材表面
に気体中の浮遊粉塵の沈着層８が形成された後、
前記窓部５の前方のβ線放射路中に送られる。
前記ロール状材７から送り出され、粉塵の沈
着層８をその表面に形成した後、窓部５の前方に
送られた材の更に前方には、β線検出器９が配
設されている。この検出器９としては半導体検出
器、シンチレーシヨンカウンタ、電離箱等が使用
できるが、全空乏層型の半導体検出器がＳ／Ｎ比
の点で特に好ましい。この検出器９は前記線源コ
リメータ４とほぼ同一の検出器コリメータ１０が
その検出面１１に装着されており、このコリメー
タ１０の軸線と線源コリメータ４の軸線とはほぼ
一致せしめられている。沈着層８を透過したβ線
は、次いで検出器コリメータ１０の窓部１３を通
り抜けて検出器９の検出面１１に入射され、ここ
においてβ線が検出されてその強度に応じた電気
信号に変換された後、得られた電気侵信号はプリ
アンプ及びリニアアンプよりなる増幅器１４に送
られ、パルス信号として取り出されて波高弁別器
１５に送られる。この弁別器１５は予め設定され
た所定電圧レベル以上の入力信号のみを弁別して
信号処理部１６に送るもので、これにより所定パ
ルス波高以上のβ線のみが弁別されて信号処理部
１６に送られ、ここで予め求めてある材のみの
場合のβ線強度に対応する計測値と、上記操作に
より粉塵を沈着させた場合に測定されたβ線計測
値とを用いて所定の演算が行なわれ、その結果粉
塵濃度が記録部１７に表示される。
着層８をその表面に形成した後、窓部５の前方に
送られた材の更に前方には、β線検出器９が配
設されている。この検出器９としては半導体検出
器、シンチレーシヨンカウンタ、電離箱等が使用
できるが、全空乏層型の半導体検出器がＳ／Ｎ比
の点で特に好ましい。この検出器９は前記線源コ
リメータ４とほぼ同一の検出器コリメータ１０が
その検出面１１に装着されており、このコリメー
タ１０の軸線と線源コリメータ４の軸線とはほぼ
一致せしめられている。沈着層８を透過したβ線
は、次いで検出器コリメータ１０の窓部１３を通
り抜けて検出器９の検出面１１に入射され、ここ
においてβ線が検出されてその強度に応じた電気
信号に変換された後、得られた電気侵信号はプリ
アンプ及びリニアアンプよりなる増幅器１４に送
られ、パルス信号として取り出されて波高弁別器
１５に送られる。この弁別器１５は予め設定され
た所定電圧レベル以上の入力信号のみを弁別して
信号処理部１６に送るもので、これにより所定パ
ルス波高以上のβ線のみが弁別されて信号処理部
１６に送られ、ここで予め求めてある材のみの
場合のβ線強度に対応する計測値と、上記操作に
より粉塵を沈着させた場合に測定されたβ線計測
値とを用いて所定の演算が行なわれ、その結果粉
塵濃度が記録部１７に表示される。
第４図は上記実施例装置（第３図の装置）にお
いて、β線源３として85μCiの 147Pmを、線源コ
リメータ４として軸長10mm、内径５mmのジエラル
ミン製円筒を、検出器コリメータ１０として軸長
２mm、内径５mmのアルミニウム製円筒を、また波
高弁別器１５の代りにマルチチヤネルアナライザ
を用いて、β線源３から放射されるβ線のスペク
トルを求めた結果を示すものである。図中、曲線
Ｓ，Ｔ，Ｕ，Ｖはそれぞれ線源スクリーン６とし
て厚さ10、20、30、50μのアルミニウム箔を用い
た場合を示すものである。また、比較のために上
記装置において線源コリメータ４及び線源スクリ
ーン６を取り除いた場合、線源スクリーン６及び
検出器コリメータ１０を取り除いた場合、線源ス
クリーン６のみを取り除いた場合の検出スペクト
ルをそれぞれ曲線Ｐ，Ｑ，Ｒで示した。なお、カ
ウント時間は100秒間で、線源３と検出器９の検
出面１１との間の距離は27mmに保ち、また検出器
９には全空乏層型の半導体検出器を使用した。比
較例の曲線Ｐ，Ｑ，Ｒにおいては、平坦部分が現
われないのに対し、線源コリメータ４、線源スク
リーン６、検出器コリメータ１０を具備する場合
のβ線検出スペクトル曲線（Ｓ，Ｔ，Ｕ，Ｖ）に
は広い平坦部が現われる。このように、β線源３
に線源コリメータ４及び線源スクリーン６を装着
すると共に、β線検出器９に検出器コリメータ１
０を装着することにより、β線源３から検出器９
に向けて放射されるβ線のスペクトル曲線が確実
に平坦部を有するようになる。
いて、β線源３として85μCiの 147Pmを、線源コ
リメータ４として軸長10mm、内径５mmのジエラル
ミン製円筒を、検出器コリメータ１０として軸長
２mm、内径５mmのアルミニウム製円筒を、また波
高弁別器１５の代りにマルチチヤネルアナライザ
を用いて、β線源３から放射されるβ線のスペク
トルを求めた結果を示すものである。図中、曲線
Ｓ，Ｔ，Ｕ，Ｖはそれぞれ線源スクリーン６とし
て厚さ10、20、30、50μのアルミニウム箔を用い
た場合を示すものである。また、比較のために上
記装置において線源コリメータ４及び線源スクリ
ーン６を取り除いた場合、線源スクリーン６及び
検出器コリメータ１０を取り除いた場合、線源ス
クリーン６のみを取り除いた場合の検出スペクト
ルをそれぞれ曲線Ｐ，Ｑ，Ｒで示した。なお、カ
ウント時間は100秒間で、線源３と検出器９の検
出面１１との間の距離は27mmに保ち、また検出器
９には全空乏層型の半導体検出器を使用した。比
較例の曲線Ｐ，Ｑ，Ｒにおいては、平坦部分が現
われないのに対し、線源コリメータ４、線源スク
リーン６、検出器コリメータ１０を具備する場合
のβ線検出スペクトル曲線（Ｓ，Ｔ，Ｕ，Ｖ）に
は広い平坦部が現われる。このように、β線源３
に線源コリメータ４及び線源スクリーン６を装着
すると共に、β線検出器９に検出器コリメータ１
０を装着することにより、β線源３から検出器９
に向けて放射されるβ線のスペクトル曲線が確実
に平坦部を有するようになる。
本実施例の粉塵濃度測定装置においてはβ線源
３に線源コリメータ４及び線源スクリーン６を装
着し、更に検出器９に検出器コリメータ１０を装
着することにより、β線源３から検出器９に向け
て放射されるβ線のスペクトル曲線に平坦部を形
成すると共に、波高弁別器１５の設定レベルを前
記平坦領域内に定めて、この状態で(2)式における
Ip、Ｉを求め、これらから粉塵の沈着層８の厚さ
を算出するようにしたので、前述した雑音に起因
するVo 2項が現われず、このためIp、Ｉの値を精
度良く求めることができる。従つて、IpとＩとの
極微小差も有意の値として取扱い得、粉塵濃度測
定における測定精度、感度及び長時間に亘るこれ
らの安定性は高いものである。
３に線源コリメータ４及び線源スクリーン６を装
着し、更に検出器９に検出器コリメータ１０を装
着することにより、β線源３から検出器９に向け
て放射されるβ線のスペクトル曲線に平坦部を形
成すると共に、波高弁別器１５の設定レベルを前
記平坦領域内に定めて、この状態で(2)式における
Ip、Ｉを求め、これらから粉塵の沈着層８の厚さ
を算出するようにしたので、前述した雑音に起因
するVo 2項が現われず、このためIp、Ｉの値を精
度良く求めることができる。従つて、IpとＩとの
極微小差も有意の値として取扱い得、粉塵濃度測
定における測定精度、感度及び長時間に亘るこれ
らの安定性は高いものである。
なお、本実施例においてはβ線源３に 147Pm
を用いたが、これに限られず、 14C、 85Kr等を
用いることもでき、また線源コリメータ４及び検
出器コリメータ１０を円筒形に形成したがこれに
限られず各種形状のものに形成でき、その他本発
明の要旨を逸脱しない範囲で種々変形して差支え
ない。
を用いたが、これに限られず、 14C、 85Kr等を
用いることもでき、また線源コリメータ４及び検
出器コリメータ１０を円筒形に形成したがこれに
限られず各種形状のものに形成でき、その他本発
明の要旨を逸脱しない範囲で種々変形して差支え
ない。
而して、本発明はβ線源と、材と、前記材
を透過して到達するβ線源からのβ線強度を検出
する検出器と、検出した信号を増幅して出力する
増幅器とからなり、前記材で被測定気体を過
して被測定気体中の浮遊粉塵を材で捕集すると
共に、前記捕集した粉塵による透過β線の減衰量
を前記検出器で検出し、これを前記増幅器で増幅
して出力することにより被測定気体中の浮遊粉塵
量を決定するβ線透過式粉塵濃度測定装置におい
て、β線源のβ線放射面に、β線放射面よりも小
面積の窓部を有しかつその材質中におけるβ線の
最大飛程の1/2以上の厚さを有する線源コリメー
タ及び金属薄板よりなる線源コリメータを順次装
着し、また検出器のβ線検出面にはβ線源のβ線
放射面よりも小面積の窓部を有しかつその材質中
におけるβ線の最大飛程の1/2以上の厚さを有す
る検出器コリメータを装着して、β線源コリメー
タ窓部及び線源スクリーンを透過して放射された
β線を検出器コリメータ窓部を通して検出器で検
出すると共に、得られた検出器のパルス出力を増
幅器で増幅してこれをパルスの度数分布曲線にお
けるパルスの度数分布曲線が平坦な領域内にその
弁別レベルを設定した波高弁別器に送り、前記設
定した弁別レベル以上のパルス出力を計測するよ
う構成したので、従来の装置において発生する
Vo 2項を確実に除去し得、その測定精度、測定感
度及び長期間に亘るこれらの安定性の向上は著し
いものである。
を透過して到達するβ線源からのβ線強度を検出
する検出器と、検出した信号を増幅して出力する
増幅器とからなり、前記材で被測定気体を過
して被測定気体中の浮遊粉塵を材で捕集すると
共に、前記捕集した粉塵による透過β線の減衰量
を前記検出器で検出し、これを前記増幅器で増幅
して出力することにより被測定気体中の浮遊粉塵
量を決定するβ線透過式粉塵濃度測定装置におい
て、β線源のβ線放射面に、β線放射面よりも小
面積の窓部を有しかつその材質中におけるβ線の
最大飛程の1/2以上の厚さを有する線源コリメー
タ及び金属薄板よりなる線源コリメータを順次装
着し、また検出器のβ線検出面にはβ線源のβ線
放射面よりも小面積の窓部を有しかつその材質中
におけるβ線の最大飛程の1/2以上の厚さを有す
る検出器コリメータを装着して、β線源コリメー
タ窓部及び線源スクリーンを透過して放射された
β線を検出器コリメータ窓部を通して検出器で検
出すると共に、得られた検出器のパルス出力を増
幅器で増幅してこれをパルスの度数分布曲線にお
けるパルスの度数分布曲線が平坦な領域内にその
弁別レベルを設定した波高弁別器に送り、前記設
定した弁別レベル以上のパルス出力を計測するよ
う構成したので、従来の装置において発生する
Vo 2項を確実に除去し得、その測定精度、測定感
度及び長期間に亘るこれらの安定性の向上は著し
いものである。
第１図はβ線源から放射されるβ線の波高値と
カウント数との関係を示すグラフ、第２図は本発
明測定装置の理論を説明するために用いるグラ
フ、第３図は本発明の一実施例を示す概略構成
図、第４図は同例において波高弁別器の代りにマ
ルチチヤネルアナライザを接続して各種測定条件
で測定した各チヤネルに対するカウント数の関係
を示すグラフである。 ３……β線源、４……線源コリメータ、５……
窓部、６……線源スクリーン、７……材、８…
…粉塵の沈着層、９……β線検出器、１０……検
出器コリメータ、１３……窓部、１４……増幅
器、１５……波高弁別器、１６……信号処理部。
カウント数との関係を示すグラフ、第２図は本発
明測定装置の理論を説明するために用いるグラ
フ、第３図は本発明の一実施例を示す概略構成
図、第４図は同例において波高弁別器の代りにマ
ルチチヤネルアナライザを接続して各種測定条件
で測定した各チヤネルに対するカウント数の関係
を示すグラフである。 ３……β線源、４……線源コリメータ、５……
窓部、６……線源スクリーン、７……材、８…
…粉塵の沈着層、９……β線検出器、１０……検
出器コリメータ、１３……窓部、１４……増幅
器、１５……波高弁別器、１６……信号処理部。
Claims (1)
- １ β線源と、材と、前記材を透過して到達
するβ線源からのβ線の強度を検出する検出器
と、検出した信号を増幅して出力する増幅器とか
らなり、前記材で被測定気体を過して被測定
気体中の浮遊粉塵を材で捕集すると共に、前記
捕集した粉塵による透過β線の減衰量を前記検出
器で検出し、これを前記増幅器で増幅して出力す
ることにより被測定気体中の浮遊粉塵量を決定す
るβ線透過式粉塵濃度測定装置において、β線源
のβ線放射面に、β線放射面よりも小面積の窓部
を有しかつその材質中におけるβ線の最大飛程の
１／２以上の厚さを有する線源コリメータを該コリ
メータの筒壁によりβ線放射面の周縁部を覆つた
状態で配設すると共に、この線源コリメータの開
口端を覆つて金属薄板よりなる線源スクリーンを
装着し、また検出器のβ線検出面にはβ線源のβ
線放射面よりも小面積の窓部を有しかつその材質
中におけるβ線の最大飛程の1/2以上の厚さを有
する検出器コリメータをその軸線を上記β線コリ
メータの軸線と一致させた状態で配設して、β線
源コリメータ窓部及び線源スクリーンを順次透過
して放射されたβ線を検出器コリメータ窓部を通
して検出器で検出すると共に、得られた検出器の
パルス出力を増幅器で増幅してこれをパルスの度
数分布曲線におけるパルスの度数分布が平坦な領
域内にその弁別レベルを設定した波高弁別器に送
り、前記設定した弁別レベル以上のパルス出力を
計測するよう構成したことを特徴とするβ線透過
式粉塵濃度測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57054119A JPS58171652A (ja) | 1982-04-01 | 1982-04-01 | β線透過式粉塵濃度測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57054119A JPS58171652A (ja) | 1982-04-01 | 1982-04-01 | β線透過式粉塵濃度測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58171652A JPS58171652A (ja) | 1983-10-08 |
| JPH0249454B2 true JPH0249454B2 (ja) | 1990-10-30 |
Family
ID=12961704
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57054119A Granted JPS58171652A (ja) | 1982-04-01 | 1982-04-01 | β線透過式粉塵濃度測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58171652A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN100526854C (zh) * | 2007-07-03 | 2009-08-12 | 武汉市天虹仪表有限责任公司 | 一种β射线烟尘浓度直读监测仪及其确认有效样本的方法 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0120680Y2 (ja) * | 1979-05-08 | 1989-06-21 |
-
1982
- 1982-04-01 JP JP57054119A patent/JPS58171652A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS58171652A (ja) | 1983-10-08 |
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