JPS58171652A - β線透過式粉塵濃度測定装置 - Google Patents
β線透過式粉塵濃度測定装置Info
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- JPS58171652A JPS58171652A JP57054119A JP5411982A JPS58171652A JP S58171652 A JPS58171652 A JP S58171652A JP 57054119 A JP57054119 A JP 57054119A JP 5411982 A JP5411982 A JP 5411982A JP S58171652 A JPS58171652 A JP S58171652A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
更に旺述すればβ縁源及び検出器を特殊構造にすること
により、放射β縁の置数分布曲線を平坦なものにすると
共に、検出器に到達したβ−を樒出して得られる出力パ
ルスを計測する波高弁別器の設定レベルを前記平坦領域
内に足めることにより、測定精度及び感度を向上させた
粉麗磯度御」足装置に関する。
により、放射β縁の置数分布曲線を平坦なものにすると
共に、検出器に到達したβ−を樒出して得られる出力パ
ルスを計測する波高弁別器の設定レベルを前記平坦領域
内に足めることにより、測定精度及び感度を向上させた
粉麗磯度御」足装置に関する。
大気中や工場排煙中に含まれている浮遊粉Ｉ＆磯展を創
建する手段として、従来ロール状に巻いた１紙を練り串
して、この１紙で被測定気体を所足滝童で所定時間ｆ遇
することにより、被ｉ１Ｊ＋１足気体中に浮遊している
浮遊粉塵を前記繰９出した１紙面に捕集しｆＩ−後、こ
の捕集面にβ線を照射して捕集粉塵による透過β線の減
衰量を検出し、これにより捕集粉塵の淳さを求めて被測
定気体中の浮遊粉塵濃度を決定する計測方法、即ち透過
型β線厚さ針の原理を応用した浮遊粉塵濃度の１御」方
法は公知のもので、この場合透過するβ線強度と粉塵の
厚さとの間には次の関係式が成立する。
建する手段として、従来ロール状に巻いた１紙を練り串
して、この１紙で被測定気体を所足滝童で所定時間ｆ遇
することにより、被ｉ１Ｊ＋１足気体中に浮遊している
浮遊粉塵を前記繰９出した１紙面に捕集しｆＩ−後、こ
の捕集面にβ線を照射して捕集粉塵による透過β線の減
衰量を検出し、これにより捕集粉塵の淳さを求めて被測
定気体中の浮遊粉塵濃度を決定する計測方法、即ち透過
型β線厚さ針の原理を応用した浮遊粉塵濃度の１御」方
法は公知のもので、この場合透過するβ線強度と粉塵の
厚さとの間には次の関係式が成立する。
Ｉ ＝Ｉ、 ＠ＸＰ Ｃ−μＸ ）
−（１）友だし、にＰ材及び粉塵を透過したβ細＊度Ｉ
：Ｐ材を透過したβ線強度 μ；質負吸収％ｌ！ （ｃｓ”／ １１ ）Ｘ：粉塵の
厚さ （＃／ａｎ”） また、被測定気体中の粉ｍａｓ度は次式により算出され
る。
−（１）友だし、にＰ材及び粉塵を透過したβ細＊度Ｉ
：Ｐ材を透過したβ線強度 μ；質負吸収％ｌ！ （ｃｓ”／ １１ ）Ｘ：粉塵の
厚さ （＃／ａｎ”） また、被測定気体中の粉ｍａｓ度は次式により算出され
る。
Ｃ＝ 、 、 、 ｔｎ−ＴｓＬ゛＝ （２まただし
Ａ：捕集面積（ｃＭ鵞） ｑ −ｆ１過九倉（ｔｘ”７ｍ１ｎ） ｔ：捕集時間（ｍｉｎ ） Ｃ：粉塵濃度（１７ｃｍり よって、粉塵捕集前後の透過β線強度Ｉ。、■を測定す
ることによシ、（１） 、 （２）式を用いて粉塵濃度
を求めることができるものである。
Ａ：捕集面積（ｃＭ鵞） ｑ −ｆ１過九倉（ｔｘ”７ｍ１ｎ） ｔ：捕集時間（ｍｉｎ ） Ｃ：粉塵濃度（１７ｃｍり よって、粉塵捕集前後の透過β線強度Ｉ。、■を測定す
ることによシ、（１） 、 （２）式を用いて粉塵濃度
を求めることができるものである。
上記Ｎ理に基づくβ線透過式粉塵濃度計に用いられる検
出系としては、従来エネルギー分布に関しては考慮され
ていなかった。
出系としては、従来エネルギー分布に関しては考慮され
ていなかった。
しかし、本発明省らは粉ａ員度針の測定精度を向上させ
る目的で種々検討しているうちに、下記のようにエネル
ギー分布を適当に補正することによｐ、例えば温度特性
等を改善して測定ｆ＊度を向上せしめることに成功し友
。
る目的で種々検討しているうちに、下記のようにエネル
ギー分布を適当に補正することによｐ、例えば温度特性
等を改善して測定ｆ＊度を向上せしめることに成功し友
。
却ち、第１図はβ線源から放射されるβ線のエネルギー
を表わす波高値とカウント数との関係を一次式で近似さ
せて示したグラフで、（１）式の■。。
を表わす波高値とカウント数との関係を一次式で近似さ
せて示したグラフで、（１）式の■。。
■の調定は、前記グラフに示すように、β線のエネルギ
ースペクトルに対応し′ｆ！−波尚の高い・ぐルスはど
カウント数の少ない・はぼ直載的な傾謝の波凝分布をも
つランダムパルス列金有効にカウントすることにあシ、
このことは工。の測定においてはＭ＋１図における波高
Ｅ０から波高Ｅｄまでの間のノ４ルスを全部カウントす
ることに相当する。ここで、Ｅｏはβ線エネルギーの最
大値に対応し九パルス波高を、ま九Ｅｄはノイズ除去の
几めに測定器の増幅（ロ）路に設けられた波高弁別器の
設定レベルをそれぞれ示す。従って、工。は下記（３）
式で示される。
ースペクトルに対応し′ｆ！−波尚の高い・ぐルスはど
カウント数の少ない・はぼ直載的な傾謝の波凝分布をも
つランダムパルス列金有効にカウントすることにあシ、
このことは工。の測定においてはＭ＋１図における波高
Ｅ０から波高Ｅｄまでの間のノ４ルスを全部カウントす
ることに相当する。ここで、Ｅｏはβ線エネルギーの最
大値に対応し九パルス波高を、ま九Ｅｄはノイズ除去の
几めに測定器の増幅（ロ）路に設けられた波高弁別器の
設定レベルをそれぞれ示す。従って、工。は下記（３）
式で示される。
（３）式は検出される波高スペクトル自体のゆらぎ、検
出器で発生する雑音、増＠器の電子回路、時に電子回路
の初段で発生する雑音を無視して耐其したものであるが
、実際にはこれらの雑音は無視し得す、上記雑音の発生
は等倹約に第１図に示す波高弁別器の設定レベルＥｄの
変動に対応して考えることができ、この震ｗＪ暢を２■
ユとすると、雑音が発生している場合には波高弁別器の
設定レベルＥｄはＥｄ−１−Ｖ、とＥｄ−Ｖｎとの平均
で表わされるから、計算の結末、雑音を考慮した場合の
Ｃ材のみを透過し友β線強度■。′は（４）式となる。
出器で発生する雑音、増＠器の電子回路、時に電子回路
の初段で発生する雑音を無視して耐其したものであるが
、実際にはこれらの雑音は無視し得す、上記雑音の発生
は等倹約に第１図に示す波高弁別器の設定レベルＥｄの
変動に対応して考えることができ、この震ｗＪ暢を２■
ユとすると、雑音が発生している場合には波高弁別器の
設定レベルＥｄはＥｄ−１−Ｖ、とＥｄ−Ｖｎとの平均
で表わされるから、計算の結末、雑音を考慮した場合の
Ｃ材のみを透過し友β線強度■。′は（４）式となる。
ｘ′＝’Ａ＜Ｅｏ−ｙｉ：４）３＋茅ｖ♂＝１０＋夢■
ｎ′・・・（４）色−２ （４）式から明らかなように、検出信号に雑音が電α
２ なると１．／はＩｏよシも２ Ｖｎだけ大きくなり、こ
のように雑音に起因する等倹約設冗レベルの変動は検出
精度に大暑な悪影響を及ぼすものである。
ｎ′・・・（４）色−２ （４）式から明らかなように、検出信号に雑音が電α
２ なると１．／はＩｏよシも２ Ｖｎだけ大きくなり、こ
のように雑音に起因する等倹約設冗レベルの変動は検出
精度に大暑な悪影響を及ぼすものである。
上記７１項の生じる理由は、（３）式で示されるように
、度数分布曲線がＥの一次式として表現されているため
であり、数式的には槙分紹未が（”。
、度数分布曲線がＥの一次式として表現されているため
であり、数式的には槙分紹未が（”。
−（’１ｄ＝ｔ： Ｖｎ） ）”になることによる。そ
して、前記β縁厚さ計の原理を利用する粉塵濃度計を用
いて、力えば大気中の粉ｍ凝度を測定する場合には、大
気中の粉塵濃度は一般に小さいものであるので、大暑の
大気を地理してその中に浮遊している粉塵を捕集しても
、Ｉ、／Ｉの値は１に近いものでおる。
して、前記β縁厚さ計の原理を利用する粉塵濃度計を用
いて、力えば大気中の粉ｍ凝度を測定する場合には、大
気中の粉塵濃度は一般に小さいものであるので、大暑の
大気を地理してその中に浮遊している粉塵を捕集しても
、Ｉ、／Ｉの値は１に近いものでおる。
この几め、Ｉ０中に（４）式右辺第２項に示される、雑
音に起因する変動項ｇｖｎ！を正ｖＡ差として含むこと
は、粉塵ａｍ！度の測定精度を大きく低下させることに
なる。
音に起因する変動項ｇｖｎ！を正ｖＡ差として含むこと
は、粉塵ａｍ！度の測定精度を大きく低下させることに
なる。
本発明は・従来検出禾における雑ｔが単なるＳＡ比の問
題として片付けられていたのに対し、更に理論的に考察
することにより、雑音が原因となって雑音レベルの自乗
に比例する正誤差（（４）式ノ２ Ｖｎ” ）が測定
値に必ず付加されることを解明し・更に度数分布曲線を
第２図に示すような平坦領域を有する曲線に補正できる
場合には、ＩｏがＩ ｏ ２２ （Ｅ ｏ Ｅ ｂ）
”十α（Ｅｏ−Ｅｂ） （Ｅｂ−Ｅｄ ）となって理
−的にＶｎ′項が消滅することに想到し友。即ち、本発
明は上記理−に丞づいてなされたもので、度数分布曲線
がパルス阪南に関係なく平坦％ａを示すように検出糸を
構成すると共に、検出器に到達し友β融を検出して得ら
れる出力パルスを針側する波尚升別器の＠足弁別レベル
をパルスの度数分布がβ−エネルギに無関係に平坦な憤
域内にθ型することにより、−ｊ厘鞘度及び感度を同上
させ几β１１１１１１透過式粉墓幽度供］廷装置を提供
することを目的とするものでめる。
題として片付けられていたのに対し、更に理論的に考察
することにより、雑音が原因となって雑音レベルの自乗
に比例する正誤差（（４）式ノ２ Ｖｎ” ）が測定
値に必ず付加されることを解明し・更に度数分布曲線を
第２図に示すような平坦領域を有する曲線に補正できる
場合には、ＩｏがＩ ｏ ２２ （Ｅ ｏ Ｅ ｂ）
”十α（Ｅｏ−Ｅｂ） （Ｅｂ−Ｅｄ ）となって理
−的にＶｎ′項が消滅することに想到し友。即ち、本発
明は上記理−に丞づいてなされたもので、度数分布曲線
がパルス阪南に関係なく平坦％ａを示すように検出糸を
構成すると共に、検出器に到達し友β融を検出して得ら
れる出力パルスを針側する波尚升別器の＠足弁別レベル
をパルスの度数分布がβ−エネルギに無関係に平坦な憤
域内にθ型することにより、−ｊ厘鞘度及び感度を同上
させ几β１１１１１１透過式粉墓幽度供］廷装置を提供
することを目的とするものでめる。
以下１本発明の−＊ｈ例につき第３凶を参朋、して１曲
する。
する。
第３図中１は金属製肉厚円筒体の放射愈源容器で、その
−面の中央部に形成され友収納凹部２には１４７Ｐｍ由
来の円板状のβ線源３が装着されている。前記容器ｌの
一面にはジュラルミン等の金属製肉厚円筒体よシなるＭ
源コリメータ４がその軸線を容器１の軸線と一致させて
装着されている。
−面の中央部に形成され友収納凹部２には１４７Ｐｍ由
来の円板状のβ線源３が装着されている。前記容器ｌの
一面にはジュラルミン等の金属製肉厚円筒体よシなるＭ
源コリメータ４がその軸線を容器１の軸線と一致させて
装着されている。
この線源コリメータ４の内径は前記β線源３０面径より
も小径に形成されていると共に、その軸方向長さはβ線
源３から放射されるβ−のその材質中におけるｉ大飛程
の１／２以上に形成されてお９、この＊＃コリメータ４
を１脚源に積電することにより、β線源３と線源コリメ
ータ４との１なっているβ線源３０周縁部から放射され
るβ線はほとんどこのコリメータ４の筒壁によシ遁閉さ
れて外部に放射し得す、β線源の中央附近から放射され
るβ線のみが円筒状の線源コリメータ４の内部空間より
なる窓部５を通って前方に放射される。前記β線源３に
装着されたコリメータ４の窓部５の開口端にはアルミニ
ウム等の金属薄膜よシなる線源スクリーン６が前記窓部
５の開口端を榎うととく積重されており、前記窓部５を
通り抜けて外部に放射されるβ線のうちエネルギーの小
さいものが、このスクリーン６によって力、トされる。
も小径に形成されていると共に、その軸方向長さはβ線
源３から放射されるβ−のその材質中におけるｉ大飛程
の１／２以上に形成されてお９、この＊＃コリメータ４
を１脚源に積電することにより、β線源３と線源コリメ
ータ４との１なっているβ線源３０周縁部から放射され
るβ線はほとんどこのコリメータ４の筒壁によシ遁閉さ
れて外部に放射し得す、β線源の中央附近から放射され
るβ線のみが円筒状の線源コリメータ４の内部空間より
なる窓部５を通って前方に放射される。前記β線源３に
装着されたコリメータ４の窓部５の開口端にはアルミニ
ウム等の金属薄膜よシなる線源スクリーン６が前記窓部
５の開口端を榎うととく積重されており、前記窓部５を
通り抜けて外部に放射されるβ線のうちエネルギーの小
さいものが、このスクリーン６によって力、トされる。
７はロール状に巻き取られたｆ材で、このロール状１材
７から繰シ出され友ｒ材は捕集部（図示せず）に送られ
、ここで所定流量で送られる被測定気体をｒ遇せしめら
れて、これによｐｆｌ材表面に気体中の浮遊粉塵の沈着
層８が形成された後、前記窓部５の前号のβ騙放射路中
に送られる。
７から繰シ出され友ｒ材は捕集部（図示せず）に送られ
、ここで所定流量で送られる被測定気体をｒ遇せしめら
れて、これによｐｆｌ材表面に気体中の浮遊粉塵の沈着
層８が形成された後、前記窓部５の前号のβ騙放射路中
に送られる。
前記ロール状ｆ材７から送９出され、粉塵の沈着層８を
その表面に形成した後、窓部５の前方に送られたｅ材の
更に前方には、β−検出器９が配設されている。この検
出器９としては半導体検出器、シンチレーションカウン
タ、電離箱等が使用できるが、全空乏層型の半導体検出
器がＳ／Ｎ比の点で特に好ましい。この検出器９は前記
珈源コリメータ４とｔｌは同一の検出器コリメータ１０
がその検出面１１に装着されておシ、このコリメータ１
０の軸線と線源コリメータ４の軸線とははｔ”ｔ 一致
せしめられている。沈着層８を透過したβ線は、次いで
検出器コリメータｌＯの窓部１３を逼り抜けて検出器９
の検出面１１に入射され、ここにおいてβ線が検出され
てその強度に応じた電気１６号に変換され友後、得られ
た電気信号はグリアング及びリニアアングよりなる増幅
器１４に送られ、パルス信号として取シ出されて波高弁
別器１５に送られる。この弁別器１５は予め設定された
所定電圧レベル以上の入力信号のみを弁別して信号処理
部１６に送るもので、これにより所足パルス波為以上の
β線のみが弁別されて信号処理部１６に送られ、ここで
予め求めてるるｅ材のみの場合のβ−強度に対応する計
測値と、上す己礫作によシ粉塵を沈着させた場合に測定
されたβ線計測値とを用いて所定の演算が行なわれ、そ
の結果粉ｍ磯戻が記録部１７に表示される。
その表面に形成した後、窓部５の前方に送られたｅ材の
更に前方には、β−検出器９が配設されている。この検
出器９としては半導体検出器、シンチレーションカウン
タ、電離箱等が使用できるが、全空乏層型の半導体検出
器がＳ／Ｎ比の点で特に好ましい。この検出器９は前記
珈源コリメータ４とｔｌは同一の検出器コリメータ１０
がその検出面１１に装着されておシ、このコリメータ１
０の軸線と線源コリメータ４の軸線とははｔ”ｔ 一致
せしめられている。沈着層８を透過したβ線は、次いで
検出器コリメータｌＯの窓部１３を逼り抜けて検出器９
の検出面１１に入射され、ここにおいてβ線が検出され
てその強度に応じた電気１６号に変換され友後、得られ
た電気信号はグリアング及びリニアアングよりなる増幅
器１４に送られ、パルス信号として取シ出されて波高弁
別器１５に送られる。この弁別器１５は予め設定された
所定電圧レベル以上の入力信号のみを弁別して信号処理
部１６に送るもので、これにより所足パルス波為以上の
β線のみが弁別されて信号処理部１６に送られ、ここで
予め求めてるるｅ材のみの場合のβ−強度に対応する計
測値と、上す己礫作によシ粉塵を沈着させた場合に測定
されたβ線計測値とを用いて所定の演算が行なわれ、そ
の結果粉ｍ磯戻が記録部１７に表示される。
第４図は上記実施例装置（第３図の装置）におイテ、β
ＩＩｉ源３として８５ μｃｌの Ｐｍを、＋ｌｌ１ｉ
ｌ源コリメータ４として軸長１０■、内径５ｍのジュラ
ルミン製円筒を、検出器コリメータ１０として軸長２■
、内径５■のアルミニウム製円筒を、また波尚升ＢＩＪ
器１５０代９にマルチチャネルアナライデを用いて、β
線源３から放射されるβ線のスペクトルを求めた結果を
示すものである。図中、曲線８．Ｔ、Ｕ、Ｖはそれぞれ
線源スクリーン６として厚さ１０．２０．３０．５０μ
のアルミニウム箔を用いた場合を示すものである。また
、比較のために上記装置において線源コリメータ４及び
線源スクリーン６を取シ除いた場合、＋１１Ｊ源スクリ
ーン６及び検出器コリメータ１０を取り除いた場合、ｌ
ｌｌ３！源スクリーン６のみを取り除いた場合の検出ス
ペクトルをそれぞれ曲＠Ｐ、Ｑ、Ｒで示した。
ＩＩｉ源３として８５ μｃｌの Ｐｍを、＋ｌｌ１ｉ
ｌ源コリメータ４として軸長１０■、内径５ｍのジュラ
ルミン製円筒を、検出器コリメータ１０として軸長２■
、内径５■のアルミニウム製円筒を、また波尚升ＢＩＪ
器１５０代９にマルチチャネルアナライデを用いて、β
線源３から放射されるβ線のスペクトルを求めた結果を
示すものである。図中、曲線８．Ｔ、Ｕ、Ｖはそれぞれ
線源スクリーン６として厚さ１０．２０．３０．５０μ
のアルミニウム箔を用いた場合を示すものである。また
、比較のために上記装置において線源コリメータ４及び
線源スクリーン６を取シ除いた場合、＋１１Ｊ源スクリ
ーン６及び検出器コリメータ１０を取り除いた場合、ｌ
ｌｌ３！源スクリーン６のみを取り除いた場合の検出ス
ペクトルをそれぞれ曲＠Ｐ、Ｑ、Ｒで示した。
なお、カウント時間は１００秒間で、？ＩＭ源３と検出
器９の検出面１１との間の距嘔は２７ｍに保ち、また検
出器９には全空乏層型の半導体検出器を使用し几。比較
例の曲線Ｐ、Ｑ、Ｈにおいては、平坦部分が現われない
のに対し、線源コリメータ４゜線源スクリーン６、検出
器コリメータ１０を具備する場合のβ線検出スペクトル
曲線（Ｓ 、 Ｔ 、 Ｕ。
器９の検出面１１との間の距嘔は２７ｍに保ち、また検
出器９には全空乏層型の半導体検出器を使用し几。比較
例の曲線Ｐ、Ｑ、Ｈにおいては、平坦部分が現われない
のに対し、線源コリメータ４゜線源スクリーン６、検出
器コリメータ１０を具備する場合のβ線検出スペクトル
曲線（Ｓ 、 Ｔ 、 Ｕ。
■）には広い平坦部が現われる。このように、β線源３
に＋１１ｉ源コリメータ４及び線源スクリーン６を装着
すると共に、β線検出器９に検め器コリメータ１０を装
着することにより、β線源３から検出＠９に向けて放射
されるβ線のスイクトル曲線が確実に平坦部を有するよ
うになる。
に＋１１ｉ源コリメータ４及び線源スクリーン６を装着
すると共に、β線検出器９に検め器コリメータ１０を装
着することにより、β線源３から検出＠９に向けて放射
されるβ線のスイクトル曲線が確実に平坦部を有するよ
うになる。
本実施例の粉塵淡度−ｊ足装置においてはβ線源３に線
源コリメータ４及び線源スクリーン６を装着し、更に検
ｔｋ３器９に検出器コリメータ１０を装着することによ
り、β線源３から検出器９に向けて放射されるβ線のス
ペクトルＢ縁に平坦部を形成すると共に、波高弁別器１
５の設定レベルを前記平坦部領域内に定めて、この状態
で（２）式におけるＩ Ｉｔ−求め、これらから粉塵
の沈漕層８の厚さ１ を算出するようにし次ので、前述し九錐童に起因するＶ
♂ｆＪＬが現われず、このため工。、■の値を精度良く
求めることができる。従って、■０とＩとの他機小差も
肩章の値として取扱い得、粉塵ｔｓ度演）１足における
測定精度、感度及び長期１ｉ゛・に亘るこれらの安定性
は高いものでおる。
源コリメータ４及び線源スクリーン６を装着し、更に検
ｔｋ３器９に検出器コリメータ１０を装着することによ
り、β線源３から検出器９に向けて放射されるβ線のス
ペクトルＢ縁に平坦部を形成すると共に、波高弁別器１
５の設定レベルを前記平坦部領域内に定めて、この状態
で（２）式におけるＩ Ｉｔ−求め、これらから粉塵
の沈漕層８の厚さ１ を算出するようにし次ので、前述し九錐童に起因するＶ
♂ｆＪＬが現われず、このため工。、■の値を精度良く
求めることができる。従って、■０とＩとの他機小差も
肩章の値として取扱い得、粉塵ｔｓ度演）１足における
測定精度、感度及び長期１ｉ゛・に亘るこれらの安定性
は高いものでおる。
なお、本実施例においてはβ脚源３に Ｐｍを用いたが
、これに限られず、１４０．８５に、等ヲ用イることも
でき、また線源コリメータ４及び検出器コリメータ１０
を円筒形に形成したがこれに限られず各種形状のものに
形成でき、その他本発明の簀旨を逸脱しない範囲で種々
変形して差支えない。
、これに限られず、１４０．８５に、等ヲ用イることも
でき、また線源コリメータ４及び検出器コリメータ１０
を円筒形に形成したがこれに限られず各種形状のものに
形成でき、その他本発明の簀旨を逸脱しない範囲で種々
変形して差支えない。
而して、本発明はβ線源と、Ｐ材と、前記１材を透過し
て到達する１組源からのβ線強度を検出する検出器と、
検出した信号を増幅して出力する増幅器とからな９、前
記ｆ材で被測定気体をｒ過して被測定気体中の浮遊粉塵
をＰ材で捕集すると共に、前記捕集し九粉塵による透過
β線の減挾菫を前記検出器で検出し、これを前記増幅器
で壇輌して出力することによシ被測定気体中の浮遊粉塵
ｉｔを決定するβ線透過式粉塵濃度測定装置において、
β線源のβ線放射面に、β線放射面よりも小面積の窓部
を有しかつその材質中におけるβ蛛の最大飛株の１／２
以上の厚さを壱する線源コリメータ及び金属薄板よりな
る線源スクリーンを順次装着し、また検出器のβ線検出
面に祉β線源のβ線放射面よりも小面積の窓部を有しか
つその材質中におけるβ線の最大飛程の１／２以上の厚
さを有する検出器コリメータを装着して・ β線源コリ
メーー窓部及び線源スクリーンを透過して放射され几β
線を検出器コリメータ窓部を通して検出器で検出すると
共に、得られ皮検掲器のノＲルス出力を増レベルをＶｌ
ｉＬ足した波高弁別器に送９、前記設定し友弁別レベル
以上のノ臂ルス出力を計測するよう構成し九ので、従来
の装置において発生する■ｎ′項を確実に除去し得、そ
の測定鞘度、測定感度及び長期間に亘るこれらの安定性
の向上は着しいものである。
て到達する１組源からのβ線強度を検出する検出器と、
検出した信号を増幅して出力する増幅器とからな９、前
記ｆ材で被測定気体をｒ過して被測定気体中の浮遊粉塵
をＰ材で捕集すると共に、前記捕集し九粉塵による透過
β線の減挾菫を前記検出器で検出し、これを前記増幅器
で壇輌して出力することによシ被測定気体中の浮遊粉塵
ｉｔを決定するβ線透過式粉塵濃度測定装置において、
β線源のβ線放射面に、β線放射面よりも小面積の窓部
を有しかつその材質中におけるβ蛛の最大飛株の１／２
以上の厚さを壱する線源コリメータ及び金属薄板よりな
る線源スクリーンを順次装着し、また検出器のβ線検出
面に祉β線源のβ線放射面よりも小面積の窓部を有しか
つその材質中におけるβ線の最大飛程の１／２以上の厚
さを有する検出器コリメータを装着して・ β線源コリ
メーー窓部及び線源スクリーンを透過して放射され几β
線を検出器コリメータ窓部を通して検出器で検出すると
共に、得られ皮検掲器のノＲルス出力を増レベルをＶｌ
ｉＬ足した波高弁別器に送９、前記設定し友弁別レベル
以上のノ臂ルス出力を計測するよう構成し九ので、従来
の装置において発生する■ｎ′項を確実に除去し得、そ
の測定鞘度、測定感度及び長期間に亘るこれらの安定性
の向上は着しいものである。
【図面の簡単な説明】
第１図はβ線源から放射されるβ線の波高値とカウント
数との関係を示すグラフ、第２図は本発明測定装置の理
論を説明するために用いるグラフ、第３図は本発明の一
爽施例を示すｇ略構成図、第４図は同例において波高弁
別器の代りにマルチテヤゲネルアナライデを接続して各
棟廁定条件で演１１足した各チャｆネルに対するカウン
ト数の関係を不すグラフでめる０ ３・・・β線源、４・・・線源コリメータ、５・・・窓
部、６・・・線源スクリーン、７・・・ｆ材、８・・・
粉塵の沈着層、９・・・β線検出器、１０・・・検出器
コリメータ・１３・・・窓部、１４・・・増幅器、１５
・・・波高弁別器、１６・・・信号処理部。 出願人 電気化学計器株式会社 代理人 弁理士 高 畑 端 世 ｌ 弁理士 小 島 隆 司 カラ ト 叙 Ｅｄ −Ｖｎ Ｅｄ Ｅｄ＋Ｖｎ
Ｅ 。 波高値 （β線エネルギー）
数との関係を示すグラフ、第２図は本発明測定装置の理
論を説明するために用いるグラフ、第３図は本発明の一
爽施例を示すｇ略構成図、第４図は同例において波高弁
別器の代りにマルチテヤゲネルアナライデを接続して各
棟廁定条件で演１１足した各チャｆネルに対するカウン
ト数の関係を不すグラフでめる０ ３・・・β線源、４・・・線源コリメータ、５・・・窓
部、６・・・線源スクリーン、７・・・ｆ材、８・・・
粉塵の沈着層、９・・・β線検出器、１０・・・検出器
コリメータ・１３・・・窓部、１４・・・増幅器、１５
・・・波高弁別器、１６・・・信号処理部。 出願人 電気化学計器株式会社 代理人 弁理士 高 畑 端 世 ｌ 弁理士 小 島 隆 司 カラ ト 叙 Ｅｄ −Ｖｎ Ｅｄ Ｅｄ＋Ｖｎ
Ｅ 。 波高値 （β線エネルギー）
Claims (1)
- β線源と、ｆ材と、前に２Ｐ材を透過して到達するβ線
源からのβ線の強度を検出する検出器と、検出し友信号
を増幅して出力する増幅器とからなシ、前記ｒ材で被測
定気体をｆ過して被測定気体中の浮遊粉塵をｒ材で捕集
すると共に、前記抽来した粉塵による透過β線の減衰菫
を前記検出器で検出し、これを前記増幅器で増幅して出
力することによシ被測定気体中の浮遊物ｍｉｔを決定す
るβ線透過式粉塵濃度測定装置において、β線源のβ線
放射面に、β線放射面よりも小面積の窓Ｓを有しかつそ
の材質中におけるβ線の敢大飛程の１／２以上の厚さを
有する線源コリメータ及び金属博板よシなる麿源スクリ
ーンを編次ｉ看し、また検出器のβ線検出面には１Ｍ源
のβ線放射面よりも小面積の窓部を有しかつその材質中
におけるβ林の最大飛程の１／２以上の厚さを有する検
出器コリメータを装着して、β線源コリメータ窓部及び
線源スクリーンを順次透過して放射されたβ線を検出器
コリメータ窓部な通して検出器で検出すると共に、得ら
れた検出器のノヤルス出力を増幅器で増幅してこれを・
ｆルスの度数分布曲腺における・ンルスの度数分布が平
坦な領域内にその弁別レベルを設定し九波高弁別器に送
シ、紡配設定した弁別レベル以上のパルス出力を計測す
るよう１１成し几ことを％似−とするβ線透過式粉塵＃
度御」型装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57054119A JPS58171652A (ja) | 1982-04-01 | 1982-04-01 | β線透過式粉塵濃度測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57054119A JPS58171652A (ja) | 1982-04-01 | 1982-04-01 | β線透過式粉塵濃度測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58171652A true JPS58171652A (ja) | 1983-10-08 |
| JPH0249454B2 JPH0249454B2 (ja) | 1990-10-30 |
Family
ID=12961704
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57054119A Granted JPS58171652A (ja) | 1982-04-01 | 1982-04-01 | β線透過式粉塵濃度測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58171652A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP2063251A1 (en) * | 2007-07-03 | 2009-05-27 | Wuhan Tianhong Instruments Co., Ltd. | Beta-ray soot concentration direct readout monitor and method for determining effective sample |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS55162146U (ja) * | 1979-05-08 | 1980-11-20 |
-
1982
- 1982-04-01 JP JP57054119A patent/JPS58171652A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS55162146U (ja) * | 1979-05-08 | 1980-11-20 |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP2063251A1 (en) * | 2007-07-03 | 2009-05-27 | Wuhan Tianhong Instruments Co., Ltd. | Beta-ray soot concentration direct readout monitor and method for determining effective sample |
| JP2010531979A (ja) * | 2007-07-03 | 2010-09-30 | ウーハン・チャンホン・インスツルメンツ・カンパニー・リミテッド | β線煙塵濃度測定装置およびそれに用いられる試料の有効性確認方法 |
| EP2063251A4 (en) * | 2007-07-03 | 2014-12-03 | Wuhan Tianhong Instr Co Ltd | BETASTRAW SOUND CONCENTRATION MONITOR FOR DIRECT READING AND METHOD FOR DETERMINING AN EFFECTIVE SAMPLE |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0249454B2 (ja) | 1990-10-30 |
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