JPH06324156A - 放射性エーロゾルから放出されるベータ線、ｘ線光子、コンプトン分布を持ったガンマ放射線を検出する装置のエネルギー校正を行うための方法および装置 - Google Patents
放射性エーロゾルから放出されるベータ線、ｘ線光子、コンプトン分布を持ったガンマ放射線を検出する装置のエネルギー校正を行うための方法および装置Info
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- JPH06324156A JPH06324156A JP6077494A JP7749494A JPH06324156A JP H06324156 A JPH06324156 A JP H06324156A JP 6077494 A JP6077494 A JP 6077494A JP 7749494 A JP7749494 A JP 7749494A JP H06324156 A JPH06324156 A JP H06324156A
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/36—Measuring spectral distribution of X-rays or of nuclear radiation spectrometry
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-
- G—PHYSICS
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 放射性エーロゾルから放出されるベータ線お
よび／またはＸ放射線およびコンプトン分布のガンマ放
射線を弁別検出するための２つの同一チェーンを含む電
子装置のエネルギー校正方法を得る。 【構成】 本方法はアルファ線源を使用し、アルファ
線、ベータ線、および光子の２つの同一チェーンを用
い、光子スペクトルの”コンプトン分布”部分のみに敏
感なように十分薄い半導体検出器を含み、半導体検出器
の各々を、各々の線源に関して同一の既知エネルギーを
有する標準アルファ線源に曝して、対応する線源のアル
ファ粒子のスペクトルを各チェーンに記録し、各チェー
ンのエネルギー校正しきい値を標準線源のアルファ線ス
ペクトルのほとんど垂直な立ち下がり端に一致させるこ
とで２つのチェーンをエネルギー的に同一のものとす
る。
よび／またはＸ放射線およびコンプトン分布のガンマ放
射線を弁別検出するための２つの同一チェーンを含む電
子装置のエネルギー校正方法を得る。 【構成】 本方法はアルファ線源を使用し、アルファ
線、ベータ線、および光子の２つの同一チェーンを用
い、光子スペクトルの”コンプトン分布”部分のみに敏
感なように十分薄い半導体検出器を含み、半導体検出器
の各々を、各々の線源に関して同一の既知エネルギーを
有する標準アルファ線源に曝して、対応する線源のアル
ファ粒子のスペクトルを各チェーンに記録し、各チェー
ンのエネルギー校正しきい値を標準線源のアルファ線ス
ペクトルのほとんど垂直な立ち下がり端に一致させるこ
とで２つのチェーンをエネルギー的に同一のものとす
る。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、一般的に、放射性エー
ロゾルを検出し、それのベータ線およびコンプトン分布
を持つ光子（Ｘ線とガンマ線）放射能を決定することに
関する。
ロゾルを検出し、それのベータ線およびコンプトン分布
を持つ光子（Ｘ線とガンマ線）放射能を決定することに
関する。
【０００２】
【従来の技術】雰囲気中に放出された放射性エーロゾル
の存在を検出し調べるために、エーロゾル粒子が集めら
れたフィルターを通してその存在をモニターし、濾液を
特殊な計数装置に掛けることによって分析する方法が知
られている。このような放射性粒子は壊変し、壊変破片
であるアルファ線およびベータ線（電子）のいずれか、
またはＸ線電磁波およびガンマ光子を放射する。
の存在を検出し調べるために、エーロゾル粒子が集めら
れたフィルターを通してその存在をモニターし、濾液を
特殊な計数装置に掛けることによって分析する方法が知
られている。このような放射性粒子は壊変し、壊変破片
であるアルファ線およびベータ線（電子）のいずれか、
またはＸ線電磁波およびガンマ光子を放射する。
【０００３】アルファ粒子によって得られるエネルギー
スペクトルは、一般に、３ＭｅＶ以上にあって、従って
ベータ線のエネルギースペクトルおよび光子スペクトル
の”コンプトン分布”と容易に区別できる。光子スペク
トルの”コンプトン分布”は３ＭｅＶまでの中の、数十
ｋｅＶのエネルギーの与えられた領域に位置している。
このほか、アルファ粒子のスペクトルの特長は、高エネ
ルギー側で急峻に立ち下がるスペクトル形状を有してい
ることで、これはエネルギー／計数値のグラフでほとん
ど垂直に見える（図１）。
スペクトルは、一般に、３ＭｅＶ以上にあって、従って
ベータ線のエネルギースペクトルおよび光子スペクトル
の”コンプトン分布”と容易に区別できる。光子スペク
トルの”コンプトン分布”は３ＭｅＶまでの中の、数十
ｋｅＶのエネルギーの与えられた領域に位置している。
このほか、アルファ粒子のスペクトルの特長は、高エネ
ルギー側で急峻に立ち下がるスペクトル形状を有してい
ることで、これはエネルギー／計数値のグラフでほとん
ど垂直に見える（図１）。
【０００４】しかし、ベータ線と光子のスペクトルはエ
ネルギーが重なっており、分離することはより困難であ
る。
ネルギーが重なっており、分離することはより困難であ
る。
【０００５】ベータ粒子と光子（Ｘ線、ガンマ線）とを
別々に記録するために現在用いられている技術は、まず
ベータ線＋（Ｘ線、ガンマ線）の合計スペクトルを記録
しておき、次に、測定すべき放射性付着物と検出器との
間にベータ粒子を停止させるスクリーンを置いてスペク
トルを記録するものであり、これによって光子（Ｘ線、
ガンマ線）のみによる寄与を決定できる。ベータ線と
（Ｘ線、ガンマ線）の合計スペクトルから（Ｘ線、ガン
マ線）のスペクトルを単に差し引くことでベータ粒子だ
けのスペクトルを得ることができる。
別々に記録するために現在用いられている技術は、まず
ベータ線＋（Ｘ線、ガンマ線）の合計スペクトルを記録
しておき、次に、測定すべき放射性付着物と検出器との
間にベータ粒子を停止させるスクリーンを置いてスペク
トルを記録するものであり、これによって光子（Ｘ線、
ガンマ線）のみによる寄与を決定できる。ベータ線と
（Ｘ線、ガンマ線）の合計スペクトルから（Ｘ線、ガン
マ線）のスペクトルを単に差し引くことでベータ粒子だ
けのスペクトルを得ることができる。
【０００６】この引き算が最も優れた結果をもたらすよ
うにするため、２つの検出チェーンの各種放射物に対す
る”応答”が同一であることが本質的に重要である。こ
のためには２つの条件が要求される。すなわち、チェー
ンおよびそれらのエネルギー軸調節の同一性である。
うにするため、２つの検出チェーンの各種放射物に対す
る”応答”が同一であることが本質的に重要である。こ
のためには２つの条件が要求される。すなわち、チェー
ンおよびそれらのエネルギー軸調節の同一性である。
【０００７】このことを実現するために、２つの厳密に
同一である検出チェーンの助けを借りて各種のベータ線
および（Ｘ線、ガンマ線）スペクトルを記録することが
行われている。そのために、半導体検出器を互いに極め
て接近させて配置し、一方の検出器をベータ線＋（Ｘ
線、ガンマ線）の全検出に用い、他方の検出器をベータ
線を吸収するスクリーンを介して光子（Ｘ線、ガンマ
線）のみを検出するために用いる。
同一である検出チェーンの助けを借りて各種のベータ線
および（Ｘ線、ガンマ線）スペクトルを記録することが
行われている。そのために、半導体検出器を互いに極め
て接近させて配置し、一方の検出器をベータ線＋（Ｘ
線、ガンマ線）の全検出に用い、他方の検出器をベータ
線を吸収するスクリーンを介して光子（Ｘ線、ガンマ
線）のみを検出するために用いる。
【０００８】全体のスペクトルのうちで（Ｘ線、ガンマ
線）スペクトルの寄与を正確に知り、それによってベー
タ線スペクトルを正確に決定するために要求されるもう
１つの条件は、２つの計数チェーンのエネルギー軸を正
確に同じであるように調節することである。
線）スペクトルの寄与を正確に知り、それによってベー
タ線スペクトルを正確に決定するために要求されるもう
１つの条件は、２つの計数チェーンのエネルギー軸を正
確に同じであるように調節することである。
【０００９】従来技術に従えば、エネルギーの校正は標
準ベータ線源と標準ガンマ線源を用いて”イールド法”
によって行われる。その方法は、用いられるベータ線お
よびガンマ線の各々の標準線源に対して、特別の配置状
態において、特定されたエネルギー窓および位置におい
て単位時間当たりの特定のパルス数を記録するものであ
る。計数チェーンの利得を調節することによって、特定
された”エネルギー窓”において再調整が行われる。
準ベータ線源と標準ガンマ線源を用いて”イールド法”
によって行われる。その方法は、用いられるベータ線お
よびガンマ線の各々の標準線源に対して、特別の配置状
態において、特定されたエネルギー窓および位置におい
て単位時間当たりの特定のパルス数を記録するものであ
る。計数チェーンの利得を調節することによって、特定
された”エネルギー窓”において再調整が行われる。
【００１０】しかし、この校正はその標準線源のエネル
ギーに対応するエネルギーだけに対して有効である。第
２に、これらの”窓”は一定の幅を有し、従って、エネ
ルギー校正に関して何らかの不確定さを導入するものと
なる。
ギーに対応するエネルギーだけに対して有効である。第
２に、これらの”窓”は一定の幅を有し、従って、エネ
ルギー校正に関して何らかの不確定さを導入するものと
なる。
【００１１】本発明のエネルギー調節は、簡単な実行手
段を用いてそのような不確定さを排除できるものであ
る。
段を用いてそのような不確定さを排除できるものであ
る。
【００１２】
【発明の概要】本発明の目的は、放射性エーロゾルから
放射されるベータ線および／またはＸ線光子およびコン
プトン分布のガンマ放射線を電子的に検出するための、
一方は（ベータ線＋光子）のスペクトルを、他方は光子
のスペクトルを記録するためのものである２つの同一チ
ェーンを含む装置であって、各種指示データの差分を弁
別することのできる装置のエネルギー校正を行うための
方法を提供することであって、本方法は次のようなアル
ファ線源： −前記２つのアルファ線、ベータ線、および光子検出器
のチェーンが、同一のもので、光子スペクトルの”コン
プトン分布”の部分にのみ敏感なように十分薄い半導体
検出器の形態で提供されており、 −前記半導体検出器の各々が、それぞれ既知で各々の線
源に対して同一であるエネルギーを有する標準アルファ
線源に曝されて、対応する線源のアルファ粒子のスペク
トルが各々のチェーンに記録されるようになっており、 −各チェーンのエネルギー校正のしきい値が標準線源の
アルファ線スペクトルのほとんど垂直な立ち下がり端に
一致するようにされ、それによって２つのチェーンのエ
ネルギー軸が同じになるように調節される、を利用する
ことによって実現される。
放射されるベータ線および／またはＸ線光子およびコン
プトン分布のガンマ放射線を電子的に検出するための、
一方は（ベータ線＋光子）のスペクトルを、他方は光子
のスペクトルを記録するためのものである２つの同一チ
ェーンを含む装置であって、各種指示データの差分を弁
別することのできる装置のエネルギー校正を行うための
方法を提供することであって、本方法は次のようなアル
ファ線源： −前記２つのアルファ線、ベータ線、および光子検出器
のチェーンが、同一のもので、光子スペクトルの”コン
プトン分布”の部分にのみ敏感なように十分薄い半導体
検出器の形態で提供されており、 −前記半導体検出器の各々が、それぞれ既知で各々の線
源に対して同一であるエネルギーを有する標準アルファ
線源に曝されて、対応する線源のアルファ粒子のスペク
トルが各々のチェーンに記録されるようになっており、 −各チェーンのエネルギー校正のしきい値が標準線源の
アルファ線スペクトルのほとんど垂直な立ち下がり端に
一致するようにされ、それによって２つのチェーンのエ
ネルギー軸が同じになるように調節される、を利用する
ことによって実現される。
【００１３】本発明の原理は、既に述べた放射性エーロ
ゾルから放射されるアルファ放射線スペクトルの２つの
特徴点（３ＭｅＶを越えるエネルギー域と非常に急峻で
ほとんど垂直な、すなわち、単エネルギー的なスペクト
ル端）が、測定しようとしている放射線とは異なるであ
ろうアルファ線源の助けを借りれば、ベータ放射線測定
チェーンの校正を可能にするのではないかという偶然の
発見に基づいている。更に、ベータ放射線および光子は
エネルギー的に重なっているが、より高エネルギーであ
るアルファ放射線とは重なることがなく、このこともア
ルファ放射線との分離を容易にしている。最後に、アル
ファ線、ベータ線、および光子の検出器を十分薄い半導
体検出器という形態のものにとして、エネルギー光子の
ピークがその中を貫通できるようにし、そのスペクトル
のコンプトン分布部分のみに敏感なように選んだという
事実もまた、光子スペクトルの真に有効な部分のみを考
慮することを可能にしている。標準線源のアルファ線ス
ペクトルの２つの立ち下がり端エネルギーが同じ位置に
現れることは、それら２つのチェーンが分析すべき放射
線に関してエネルギー的に同じように振る舞うことを保
証することにつながる。
ゾルから放射されるアルファ放射線スペクトルの２つの
特徴点（３ＭｅＶを越えるエネルギー域と非常に急峻で
ほとんど垂直な、すなわち、単エネルギー的なスペクト
ル端）が、測定しようとしている放射線とは異なるであ
ろうアルファ線源の助けを借りれば、ベータ放射線測定
チェーンの校正を可能にするのではないかという偶然の
発見に基づいている。更に、ベータ放射線および光子は
エネルギー的に重なっているが、より高エネルギーであ
るアルファ放射線とは重なることがなく、このこともア
ルファ放射線との分離を容易にしている。最後に、アル
ファ線、ベータ線、および光子の検出器を十分薄い半導
体検出器という形態のものにとして、エネルギー光子の
ピークがその中を貫通できるようにし、そのスペクトル
のコンプトン分布部分のみに敏感なように選んだという
事実もまた、光子スペクトルの真に有効な部分のみを考
慮することを可能にしている。標準線源のアルファ線ス
ペクトルの２つの立ち下がり端エネルギーが同じ位置に
現れることは、それら２つのチェーンが分析すべき放射
線に関してエネルギー的に同じように振る舞うことを保
証することにつながる。
【００１４】本発明は以下の図面を参照した実施例に関
する非限定的な説明から、より明らかになるであろう。
する非限定的な説明から、より明らかになるであろう。
【００１５】
【実施例】本発明に従って、図２は厚い鉛の遮蔽２中に
収納された２個の同一の薄い半導体検出器４および６を
示しており、それらはアルファ粒子またはベータ粒子、
またはＸ線光子またはガンマ粒子の到来をパルスへ変換
することができる。半導体検出器４から得られる電荷は
電子チャンネル８へ送られ、半導体検出器６から得られ
るパルスは電子チャンネル１０へ送られる。ここで注意
しておくべきことは、薄い半導体検出器というのは光子
スペクトルのコンプトン分布部分を記録できるが、その
光子の光電ピークは記録できないものという意味である
ということである。これら２つの半導体検出器４および
６の下には、真空ポンプおよび流量調節器１６を備えた
排気チェンバー１４をフィルターサポート１２が封止し
ている。このグリル構造のフィルターサポート１２の前
にはフィルター１８があって連続的に移動しながら、調
べようとする雰囲気中に存在する放射性エーロゾルを集
めることができるようになっている。このフィルター１
８は巻き戻し器２０の制御下で自動的に巻き戻される。
本発明に従って、２つの半導体検出器４および６の間に
スクリーン２２が設けられ、フィルター１８上に放射性
エーロゾルを取り付けることによって放出されるアルフ
ァ粒子およびベータ粒子を吸収するようになっている。
このような特別な２つの半導体検出器４および６を用い
ることで、第１の検出器４は光子のみを検出し、第２の
検出器６がアルファ線、ベータ線、および光子放射線を
検出することができる。図１から明らかなように、アル
ファ放射線はここでも２ＭｅＶを越えるエネルギーを有
しているので、ベータ線および光子放射線のエネルギー
帯とは重ならない。このアルファ放射線は、従って適当
なエネルギー窓を通して容易に区別して取り出すことが
できる。従って、半導体検出器４と６の示すデータを差
し引くことで、ベータ放射線と光子放射線の強度に関す
る、求めていた情報が収集できる。
収納された２個の同一の薄い半導体検出器４および６を
示しており、それらはアルファ粒子またはベータ粒子、
またはＸ線光子またはガンマ粒子の到来をパルスへ変換
することができる。半導体検出器４から得られる電荷は
電子チャンネル８へ送られ、半導体検出器６から得られ
るパルスは電子チャンネル１０へ送られる。ここで注意
しておくべきことは、薄い半導体検出器というのは光子
スペクトルのコンプトン分布部分を記録できるが、その
光子の光電ピークは記録できないものという意味である
ということである。これら２つの半導体検出器４および
６の下には、真空ポンプおよび流量調節器１６を備えた
排気チェンバー１４をフィルターサポート１２が封止し
ている。このグリル構造のフィルターサポート１２の前
にはフィルター１８があって連続的に移動しながら、調
べようとする雰囲気中に存在する放射性エーロゾルを集
めることができるようになっている。このフィルター１
８は巻き戻し器２０の制御下で自動的に巻き戻される。
本発明に従って、２つの半導体検出器４および６の間に
スクリーン２２が設けられ、フィルター１８上に放射性
エーロゾルを取り付けることによって放出されるアルフ
ァ粒子およびベータ粒子を吸収するようになっている。
このような特別な２つの半導体検出器４および６を用い
ることで、第１の検出器４は光子のみを検出し、第２の
検出器６がアルファ線、ベータ線、および光子放射線を
検出することができる。図１から明らかなように、アル
ファ放射線はここでも２ＭｅＶを越えるエネルギーを有
しているので、ベータ線および光子放射線のエネルギー
帯とは重ならない。このアルファ放射線は、従って適当
なエネルギー窓を通して容易に区別して取り出すことが
できる。従って、半導体検出器４と６の示すデータを差
し引くことで、ベータ放射線と光子放射線の強度に関す
る、求めていた情報が収集できる。
【００１６】図１で明らかなように、グラフ（計数値対
エネルギー値）において立ち下がり端がほとんど垂直な
アルファ放射線の既知の形状は最大エネルギーＭｅにお
いて発生している。このアルファ放射線スペクトルはこ
こでも３ＭｅＶ以上に位置する領域中にエネルギー帯を
占めて現れている。
エネルギー値）において立ち下がり端がほとんど垂直な
アルファ放射線の既知の形状は最大エネルギーＭｅにお
いて発生している。このアルファ放射線スペクトルはこ
こでも３ＭｅＶ以上に位置する領域中にエネルギー帯を
占めて現れている。
【００１７】これまで説明してきた図２中の要素はこの
電子的検出装置に関する当該分野で一般的なものであ
る。本発明に従ってこの装置の原理的な校正方法を実現
するために、半導体検出器４および６に接近して標準ア
ルファ線源２６が配置されている。この線源２６は位置
ガイド２８中へ収納できるようになっている。例えば、
実際にはこれらの線源２６は位置ガイド２８中へスライ
ドできる収納式の針の先に取り付けられ、取り出された
位置においてはその線源２６が半導体検出器４および６
から見えるが、収納された位置では前記半導体検出器か
らマスクされる。
電子的検出装置に関する当該分野で一般的なものであ
る。本発明に従ってこの装置の原理的な校正方法を実現
するために、半導体検出器４および６に接近して標準ア
ルファ線源２６が配置されている。この線源２６は位置
ガイド２８中へ収納できるようになっている。例えば、
実際にはこれらの線源２６は位置ガイド２８中へスライ
ドできる収納式の針の先に取り付けられ、取り出された
位置においてはその線源２６が半導体検出器４および６
から見えるが、収納された位置では前記半導体検出器か
らマスクされる。
【００１８】図３は本発明の検出装置を構成する２つの
チェーンをどのようにエネルギー校正するかを示してい
る。アルファ線校正しきい値を線源２６からのアルファ
線標準スペクトル３２の垂直な端部２４によって定義す
るため、調べるべきことは各々のチェーンの応答３５お
よび３６がどこに現れるかを見い出すことと、従って単
に、前記２つのチェーンの実際の利得を調節してスペク
トル３３および３４の立ち下がり端を、校正に用いた線
源２６のアルファ線スペクトルの校正しきい値に対応す
る立ち下がり端２４と一致させることである。そうすれ
ば、この時点で、検出装置を構成する２つのチェーンが
同じエネルギー軸を有することが確かとなり、従って、
体系的な誤差を導入することなしにそれら２つの指示の
差分を求めてベータ線、ガンマ線、およびＸ線のそれぞ
れの放射線の計数レートを別々に得ることが可能とな
る。
チェーンをどのようにエネルギー校正するかを示してい
る。アルファ線校正しきい値を線源２６からのアルファ
線標準スペクトル３２の垂直な端部２４によって定義す
るため、調べるべきことは各々のチェーンの応答３５お
よび３６がどこに現れるかを見い出すことと、従って単
に、前記２つのチェーンの実際の利得を調節してスペク
トル３３および３４の立ち下がり端を、校正に用いた線
源２６のアルファ線スペクトルの校正しきい値に対応す
る立ち下がり端２４と一致させることである。そうすれ
ば、この時点で、検出装置を構成する２つのチェーンが
同じエネルギー軸を有することが確かとなり、従って、
体系的な誤差を導入することなしにそれら２つの指示の
差分を求めてベータ線、ガンマ線、およびＸ線のそれぞ
れの放射線の計数レートを別々に得ることが可能とな
る。
【００１９】図４は図２の測定ヘッドに付随する検出装
置部分の電子回路図を示す。この電子回路は既知の型の
回路であって、従って簡単に説明するにとどめる。
置部分の電子回路図を示す。この電子回路は既知の型の
回路であって、従って簡単に説明するにとどめる。
【００２０】この図は、既に図２で説明したチャンネル
８および１０に付随する半導体検出器４および６を示し
ている。
８および１０に付随する半導体検出器４および６を示し
ている。
【００２１】各チャンネル８および１０は電荷前置増幅
器３８、パルス整形回路４０、および各チェーンの校正
しきい値を正確にエネルギー調節するための利得調節回
路４２を含んでいる。この校正しきい値は４４に記録さ
れ、表示ランプ４６によって表示される。
器３８、パルス整形回路４０、および各チェーンの校正
しきい値を正確にエネルギー調節するための利得調節回
路４２を含んでいる。この校正しきい値は４４に記録さ
れ、表示ランプ４６によって表示される。
【００２２】対応する測定チェーンの正確なエネルギー
調節を確認するためには、表示ランプ４６のフラッシュ
の様子を制御するだけで十分である。
調節を確認するためには、表示ランプ４６のフラッシュ
の様子を制御するだけで十分である。
【００２３】３ＭｅＶを越えるエネルギーのアルファ線
のパルスは窓４８中で集計され、チャンネル１０のアル
ファ線、ベータ線、および光子のパルスと、チャンネル
８の光子のパルスとの間の引き算は窓５０（ベータ線）
および窓５２（光子）のレベルで行われる。
のパルスは窓４８中で集計され、チャンネル１０のアル
ファ線、ベータ線、および光子のパルスと、チャンネル
８の光子のパルスとの間の引き算は窓５０（ベータ線）
および窓５２（光子）のレベルで行われる。
【００２４】当業者は個々の特定な場合に応じて放射性
校正線源２６を校正する材料を選択することができ、例
えば、
校正線源２６を校正する材料を選択することができ、例
えば、
【外１】 のようなポロニウム線源、および
【外２】 のようなアメリシウム線源を使用することができる。こ
れらの線源はそれぞれ、立ち下がり端がポロニウムで
５．１１ＭｅＶ、アメリシウムで５．４７ＭｅＶのアル
ファ粒子を放射する。
れらの線源はそれぞれ、立ち下がり端がポロニウムで
５．１１ＭｅＶ、アメリシウムで５．４７ＭｅＶのアル
ファ粒子を放射する。
【図１】標準線源からのアルファ線スペクトルであり、
計数値をエネルギーの関数として直交座標で示してい
る。
計数値をエネルギーの関数として直交座標で示してい
る。
【図２】本発明の従う、ベータ線および／またはＸ線、
およびガンマ放射線を検出するための装置の測定ヘッド
の模式図。
およびガンマ放射線を検出するための装置の測定ヘッド
の模式図。
【図３】標準線源のアルファ線スペクトルと、エネルギ
ー校正を行った場合の本発明の装置の２つのチェーンの
校正しきい値付近のアルファ線スペクトルを、計数値を
エネルギーの関数として直交座標で示している。
ー校正を行った場合の本発明の装置の２つのチェーンの
校正しきい値付近のアルファ線スペクトルを、計数値を
エネルギーの関数として直交座標で示している。
【図４】前記ベータ線および／またはＸ線光子、および
ガンマ放射線検出装置の既知の電子回路部分を示す模式
図。
ガンマ放射線検出装置の既知の電子回路部分を示す模式
図。
２ 鉛遮蔽 ４、６ 半導体検出器 ８、１０ 電子チャンネル １２ フィルターサポート １４ 排気チェンバー １６ 真空ポンプおよび流量調節器 １８ フィルター ２０ 巻き戻し器 ２２ スクリーン ２４ 立ち下がり端 ２６ 標準アルファ線源 ２８ 位置ガイド ３２ 標準アルファ線スペクトル ３３、３４ スペクトル ３５、３６ 検出チェーンの応答 ３８ 電荷前置増幅器 ４０ パルス整形回路 ４２ 利得調節回路 ４４ 校正しきい値記録回路 ４６ 表示ランプ ４８ エネルギー窓 ５０、５２ エネルギー窓
Claims (2)
- 【請求項１】 放射性エーロゾルから放出されるベータ
放射線および／またはＸ線光子およびコンプトン分布を
持ったガンマ放射線を検出するための電子装置のエネル
ギー校正を行うための方法であって、前記電子装置は２
つの同一のチェーンを含み、その一方チェーンは（ベー
タ線＋光子）のスペクトルを、他方は光子のスペクトル
を記録するものであり、それらの指示の差分を弁別する
ことができるようになっており、前記校正の方法が次の
ようにアルファ線源の助けを借りて： −前記２つのアルファ線、ベータ線の検出器チェーンが
同一であって、光子スペクトルの”コンプトン分布”の
部分にのみ敏感であるように十分薄い半導体検出器の形
態で提供されており、 −前記半導体検出器の各々が、既知で各線源に対して同
一であるエネルギーを有する標準アルファ線源に曝さ
れ、その対応する線源のアルファ粒子のスペクトルが各
チェーンに記録されるようになっており、 −各チェーンのエネルギーの校正しきい値が標準線源の
アルファ線スペクトルのほとんど垂直な立ち下がり端に
一致するようにされ、それによって２つのチェーンがエ
ネルギー的に同一になるように調節される、方法。 - 【請求項２】 請求項第１項記載の校正方法を実施する
ための装置であって、前記２つのチェーンの検出器が２
つの隣接する薄い半導体検出器で構成され、それらの間
にはアルファ粒子およびベータ粒子を吸収するためのス
クリーンがフィルター上に吸着されたエーロゾルまたは
放射性塵の堆積物に接近して設置されており、前記２つ
の半導体検出器が、遮蔽された覆いの中へ収納できるよ
うになった少なくとも１つのアルファ線源の放射線に一
時的に曝すことができるようになっている装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| FR9304514 | 1993-04-16 | ||
| FR9304514A FR2704067B1 (fr) | 1993-04-16 | 1993-04-16 | Procédé et dispositif d'étalonnage en énergie d'un ensemble de détection électronique des rayonnements bêta et/ou photons X et gamma à distribution compton émis par un aérosol radioactif. |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06324156A true JPH06324156A (ja) | 1994-11-25 |
Family
ID=9446145
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6077494A Pending JPH06324156A (ja) | 1993-04-16 | 1994-04-15 | 放射性エーロゾルから放出されるベータ線、ｘ線光子、コンプトン分布を持ったガンマ放射線を検出する装置のエネルギー校正を行うための方法および装置 |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5489775A (ja) |
| EP (1) | EP0620452B1 (ja) |
| JP (1) | JPH06324156A (ja) |
| DE (1) | DE69420172T2 (ja) |
| ES (1) | ES2138056T3 (ja) |
| FR (1) | FR2704067B1 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012058097A (ja) * | 2010-09-09 | 2012-03-22 | Chiyoda Technol Corp | 放射線量（率）測定器の確認校正方法及び確認校正用治具 |
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|---|---|---|---|---|
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| JP4481464B2 (ja) * | 2000-09-20 | 2010-06-16 | 株式会社東芝 | 半導体記憶装置及びその製造方法 |
| WO2007093913A2 (en) * | 2006-02-17 | 2007-08-23 | Ge Healthcare Limited | Beta-radiation detector for blood flow and chromatography |
| JP4670704B2 (ja) * | 2006-03-31 | 2011-04-13 | 株式会社日立製作所 | エネルギー較正方法，エネルギー関心領域の設定方法、放射線検出装置及び核医学診断装置 |
| AT503562B1 (de) | 2006-05-03 | 2007-11-15 | Helmut Ing Bitt | Vorrichtung und verfahren zur automatischen und kontinuierlichen messung von alpha-, beta und gammastrahlen von natürlichen und künstlichen radioaktiven aerosolen |
| GB0809198D0 (en) * | 2008-05-21 | 2008-06-25 | Farnsworth Ag | A novel auto calibration technique for radiation detectors |
| GB2463707B (en) * | 2008-09-23 | 2011-06-01 | Symetrica Ltd | Gamma-ray spectrometry |
| CA2852981C (en) * | 2011-10-27 | 2023-03-07 | Atomic Energy Of Canada Limited / Energie Atomique Du Canada Limitee | Portable detection apparatus and method |
| ES2425801B1 (es) * | 2012-03-16 | 2014-08-14 | Universitat Rovira I Virgili | Estación de identificación y medida en tiempo real de la radiactividad ambiental gamma mediante espectrometría sobre filtro de papel |
| US10145967B2 (en) * | 2016-10-21 | 2018-12-04 | Perkinelmer Health Sciences, Inc. | Systems and methods for radiation detection with improved event type discrimination |
| CN106596600B (zh) * | 2016-12-26 | 2019-09-03 | 蔡银花 | 基于β射线吸收法电解电镀液离子浓度补偿在线测量设备 |
| WO2019055805A1 (en) | 2017-09-15 | 2019-03-21 | Perkinelmer Health Sciences, Inc. | SYSTEMS AND METHODS FOR EMULATING SCINTILLATION EVENTS USING AN ELECTRONIC TEST SOURCE |
| CN108663704B (zh) * | 2018-05-03 | 2021-08-06 | 中国工程物理研究院材料研究所 | 一种人工α放射性核素气溶胶浓度连续监测方法 |
| CN113917519B (zh) * | 2021-09-08 | 2024-02-02 | 中国船舶重工集团公司第七一九研究所 | 一种用于源检系统的在线校准方法 |
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|---|---|---|---|---|
| US3914602A (en) * | 1973-11-14 | 1975-10-21 | Westinghouse Electric Corp | Plutonium monitor |
| FR2516243A1 (fr) * | 1981-11-10 | 1983-05-13 | Novelec | Dispositif, ensemble et tete de detection des particules d'un aerosol presentant des proprietes radioactives |
| US4772792A (en) * | 1985-01-10 | 1988-09-20 | Harshaw/Filtrol Partnership | Pulser stabilized radiation detector |
| DE3734158A1 (de) * | 1987-10-09 | 1989-04-20 | Kugelfischer G Schaefer & Co | Verfahren und vorrichtung zum ermitteln der tatsaechlichen kuenstlichen alpha-aerosolaktivitaets-konzentration in der luft |
| GB8912812D0 (en) * | 1989-06-03 | 1989-07-19 | Nat Radiological Protection Bo | Radiation meter |
-
1993
- 1993-04-16 FR FR9304514A patent/FR2704067B1/fr not_active Expired - Fee Related
-
1994
- 1994-04-07 US US08/284,097 patent/US5489775A/en not_active Expired - Fee Related
- 1994-04-14 EP EP94400817A patent/EP0620452B1/fr not_active Expired - Lifetime
- 1994-04-14 ES ES94400817T patent/ES2138056T3/es not_active Expired - Lifetime
- 1994-04-14 DE DE69420172T patent/DE69420172T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1994-04-15 JP JP6077494A patent/JPH06324156A/ja active Pending
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012058097A (ja) * | 2010-09-09 | 2012-03-22 | Chiyoda Technol Corp | 放射線量（率）測定器の確認校正方法及び確認校正用治具 |
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|---|---|
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| EP0620452A1 (fr) | 1994-10-19 |
| DE69420172D1 (de) | 1999-09-30 |
| US5489775A (en) | 1996-02-06 |
| FR2704067B1 (fr) | 1995-06-02 |
| EP0620452B1 (fr) | 1999-08-25 |
| FR2704067A1 (fr) | 1994-10-21 |
| DE69420172T2 (de) | 2000-04-20 |
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