JPH0247504Y2 - - Google Patents
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- JPH0247504Y2 JPH0247504Y2 JP10022278U JP10022278U JPH0247504Y2 JP H0247504 Y2 JPH0247504 Y2 JP H0247504Y2 JP 10022278 U JP10022278 U JP 10022278U JP 10022278 U JP10022278 U JP 10022278U JP H0247504 Y2 JPH0247504 Y2 JP H0247504Y2
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 6
- 238000000034 method Methods 0.000 description 5
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 4
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 4
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 3
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 2
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 2
- 238000003869 coulometry Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
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- 239000012209 synthetic fiber Substances 0.000 description 1
- 229920002994 synthetic fiber Polymers 0.000 description 1
- 229920003002 synthetic resin Polymers 0.000 description 1
- 239000000057 synthetic resin Substances 0.000 description 1
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- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
この考案は、物質の静電気的性質を測定するた
めの電荷減衰度測定装置の帯電電圧校正装置に関
するものである。
めの電荷減衰度測定装置の帯電電圧校正装置に関
するものである。
近時、合成樹脂および合成繊維等の高分子物質
の開発にともない、静電気による種々の障害が発
生し、殊に製品の優良化と製作のスピード化が要
請されるため、帯電防止の対策研究が急務となつ
ている。この一つの方法として、試料の電荷を与
え、この電荷の減衰度を測定して試料の帯電に対
する特性を判別する電量減衰法と呼ばれるものが
ある。これについて、第１図〜第３図によつて説
明する。
の開発にともない、静電気による種々の障害が発
生し、殊に製品の優良化と製作のスピード化が要
請されるため、帯電防止の対策研究が急務となつ
ている。この一つの方法として、試料の電荷を与
え、この電荷の減衰度を測定して試料の帯電に対
する特性を判別する電量減衰法と呼ばれるものが
ある。これについて、第１図〜第３図によつて説
明する。
第１図は電量減衰法の等価回路図で、Vpは電
源で、スイツチSWを介して試料Ｓに電圧を印加
する。Rcは前記試料Ｓの漏れ抵抗、Ｃは同じく
静電容量、Ｍは電位計である。さて、試料Ｓに電
源Vpから電荷を与え、電荷の分布が定常状態に
なるのを待つて、電源Vpを試料Ｓから切りはな
す。この時の試料Ｓの電位をEpとすると、ｔ秒後
にはもれ電流による減少分だけ試料電位が降下す
るので、その時の電位Etは、試料Ｓの漏れ抵抗
Rcと静電容量Ｃによつて、 Ep−Epe -tRcC＝Et……(1) として与えられる。これを図示すれば第２図のよ
うになる。第１式からRcは、
Rc＝ｔ／C1nEo／Eo−Et ……(2) となる。こゝで試料Ｓの電荷の分布が定常状態に
なつた時の電位Ep，電源Vpを切り離してから Et＝Ep／２ になる迄の時間をtpとして測定すれば、 Rc＝ｔ／C1n2 ……(3) となるから、試料Ｓの静電容量Ｃをあらかじめ求
めておけばRcを求めることができる。
源で、スイツチSWを介して試料Ｓに電圧を印加
する。Rcは前記試料Ｓの漏れ抵抗、Ｃは同じく
静電容量、Ｍは電位計である。さて、試料Ｓに電
源Vpから電荷を与え、電荷の分布が定常状態に
なるのを待つて、電源Vpを試料Ｓから切りはな
す。この時の試料Ｓの電位をEpとすると、ｔ秒後
にはもれ電流による減少分だけ試料電位が降下す
るので、その時の電位Etは、試料Ｓの漏れ抵抗
Rcと静電容量Ｃによつて、 Ep−Epe -tRcC＝Et……(1) として与えられる。これを図示すれば第２図のよ
うになる。第１式からRcは、
Rc＝ｔ／C1nEo／Eo−Et ……(2) となる。こゝで試料Ｓの電荷の分布が定常状態に
なつた時の電位Ep，電源Vpを切り離してから Et＝Ep／２ になる迄の時間をtpとして測定すれば、 Rc＝ｔ／C1n2 ……(3) となるから、試料Ｓの静電容量Ｃをあらかじめ求
めておけばRcを求めることができる。
この時のシンクロスコープの波形を第３図に示
す。電位Epの大きさは試料Ｓの帯電電荷に比例し
た相対値であり、この高低は試料Ｓの漏れ電荷と
コロナ放電によつて供給される電荷がバランスし
たところで決まる。一般的に絶縁物に近い程Epが
高くなり、tpが大きくなる。
す。電位Epの大きさは試料Ｓの帯電電荷に比例し
た相対値であり、この高低は試料Ｓの漏れ電荷と
コロナ放電によつて供給される電荷がバランスし
たところで決まる。一般的に絶縁物に近い程Epが
高くなり、tpが大きくなる。
上記電荷減衰法を用いたこの考案の対象である
電荷減衰測定装置を第４図ａ，ｂに示す。
電荷減衰測定装置を第４図ａ，ｂに示す。
第４図において、１は筐体で、上面中央にター
ンテーブル２がモータ（図示せず）により一定速
度で回転できるように設けられる。ターンテーブ
ル２の周縁近くに試料おさえ３が設けられ、ター
ンテーブル２の中央の試料取付ハンドル４によつ
て試料Ｓの取付け、取外しが行えるようになつて
いる。筐体１の上面にはドライバーアーム５とレ
シーバーアーム６が固定される。ドライバーアー
ム５には水平方向に回動できる支持アーム７が取
り付けられ、その先端にドライバー（帯電電極）
８が取り付けられる。ドライバー８としては中心
電極とそれを取り囲むアース電極とがあり、両電
極間にコロナ放電を発生させ、試料Ｓに帯電させ
る。レシーバーアーム６には水平方向に回動でき
る支持アーム９が取り付けられ、その先端にはレ
シーバー１０が取り付けられ、試料Ｓの電位を測
定する。そしてドライバーアーム５，レシーバー
アーム６はそれぞれ上下ハンドル１１，１２によ
り上下動可能に調節でき、その調節量はそれぞれ
目盛板１３，１４により測定できるようになつて
いる。筐体１の前面には印加電圧計１５、電流計
１６をはじめ各種のつまみや出力端子類、スイツ
チ類が設けられる。
ンテーブル２がモータ（図示せず）により一定速
度で回転できるように設けられる。ターンテーブ
ル２の周縁近くに試料おさえ３が設けられ、ター
ンテーブル２の中央の試料取付ハンドル４によつ
て試料Ｓの取付け、取外しが行えるようになつて
いる。筐体１の上面にはドライバーアーム５とレ
シーバーアーム６が固定される。ドライバーアー
ム５には水平方向に回動できる支持アーム７が取
り付けられ、その先端にドライバー（帯電電極）
８が取り付けられる。ドライバー８としては中心
電極とそれを取り囲むアース電極とがあり、両電
極間にコロナ放電を発生させ、試料Ｓに帯電させ
る。レシーバーアーム６には水平方向に回動でき
る支持アーム９が取り付けられ、その先端にはレ
シーバー１０が取り付けられ、試料Ｓの電位を測
定する。そしてドライバーアーム５，レシーバー
アーム６はそれぞれ上下ハンドル１１，１２によ
り上下動可能に調節でき、その調節量はそれぞれ
目盛板１３，１４により測定できるようになつて
いる。筐体１の前面には印加電圧計１５、電流計
１６をはじめ各種のつまみや出力端子類、スイツ
チ類が設けられる。
使用に際しては、所要の直流高電圧をドライバ
ー８に印加してコロナ放電を起させる。一方、タ
ーンテーブル２は定速度で回転しているため、試
料Ｓが丁度ドライバーの直下にきたとき帯電が行
われ、それが所定時間経過後、レシーバー１０の
直下に来てその電位が測定される。帯電後はドラ
イバー８への直流高電圧の印加は断たれるが、レ
シーバー１０の下に試料Ｓが来る毎にその時の電
位が測定される。したがつて印加してからの減衰
量が測定でき、上述した原理によつて漏れ抵抗
Rcを求めることができる。
ー８に印加してコロナ放電を起させる。一方、タ
ーンテーブル２は定速度で回転しているため、試
料Ｓが丁度ドライバーの直下にきたとき帯電が行
われ、それが所定時間経過後、レシーバー１０の
直下に来てその電位が測定される。帯電後はドラ
イバー８への直流高電圧の印加は断たれるが、レ
シーバー１０の下に試料Ｓが来る毎にその時の電
位が測定される。したがつて印加してからの減衰
量が測定でき、上述した原理によつて漏れ抵抗
Rcを求めることができる。
ところで、このような従来の電荷減衰度測定装
置では、ドライバー８から印加する直流高電圧値
は既知であり、試料Ｓの減衰時間として減衰度曲
線は求められたが、試料Ｓ面上の電位は不明であ
つた。一方、減衰度の他に、試料Ｓへの実際に印
加電圧の絶対値を知りたいという要求が近時次第
に強くなつている。これは試料Ｓの帯電のし易さ
の目安等になるためと思われる。
置では、ドライバー８から印加する直流高電圧値
は既知であり、試料Ｓの減衰時間として減衰度曲
線は求められたが、試料Ｓ面上の電位は不明であ
つた。一方、減衰度の他に、試料Ｓへの実際に印
加電圧の絶対値を知りたいという要求が近時次第
に強くなつている。これは試料Ｓの帯電のし易さ
の目安等になるためと思われる。
この考案は上述の点にかんがみなされたもの
で、レシーバーの検出値を既知電圧に校正できる
ようにし、これにより試料面電位の近似値を知る
ことができるようにしたものである。以下この考
案について説明する。
で、レシーバーの検出値を既知電圧に校正できる
ようにし、これにより試料面電位の近似値を知る
ことができるようにしたものである。以下この考
案について説明する。
第５図はこの考案の一実施例を示すものであ
る。この図で、筐体１、ターンテーブル２、ドラ
イバーアーム５、レシーバーアーム６、レシーバ
ー１０等は第４図と同じである。２０は校正用ア
ームで、第４図のドライバーアーム５に取り付け
た支持アーム７を後方にずらし、ドライバーアー
ム５の上方に固定ねじ２１によつて取り付ける。
そして、アーム長調整ねじ２２により校正用アー
ム２０の長さは調整できるようになつている。タ
ーンテーブル２の中央には固定部２３が設けられ
る。固定部２３は第６図に示すように、上部がピ
ン状のオス金具２４が絶縁被覆体２５に埋め込ま
れ、オス金具２４は絶縁電線２６によつて校正用
電極２７に接続されている。校正用電極２７は、
側面および底面を有する絶縁物で形成した収容体
２８と、底面上に位置した金属板２９とからな
り、この校正用電極２７が第４図の試料おさえ３
に挾み込まれる。校正用アーム２０のベアリング
取付部３０に固定部２３の上部をはめ込み、オス
金具２４を校正用アーム２０に取り付けたメス金
具３１に嵌入する。３２はねじ込リング部で、校
正用アーム２０に取り付けられており、このねじ
込リング部３２に高圧コネクタ３３を挿入固定す
る。かくして、ターンテーブル２を回転させなが
ら常時校正用電極２７に高電圧を供給することが
できる。
る。この図で、筐体１、ターンテーブル２、ドラ
イバーアーム５、レシーバーアーム６、レシーバ
ー１０等は第４図と同じである。２０は校正用ア
ームで、第４図のドライバーアーム５に取り付け
た支持アーム７を後方にずらし、ドライバーアー
ム５の上方に固定ねじ２１によつて取り付ける。
そして、アーム長調整ねじ２２により校正用アー
ム２０の長さは調整できるようになつている。タ
ーンテーブル２の中央には固定部２３が設けられ
る。固定部２３は第６図に示すように、上部がピ
ン状のオス金具２４が絶縁被覆体２５に埋め込ま
れ、オス金具２４は絶縁電線２６によつて校正用
電極２７に接続されている。校正用電極２７は、
側面および底面を有する絶縁物で形成した収容体
２８と、底面上に位置した金属板２９とからな
り、この校正用電極２７が第４図の試料おさえ３
に挾み込まれる。校正用アーム２０のベアリング
取付部３０に固定部２３の上部をはめ込み、オス
金具２４を校正用アーム２０に取り付けたメス金
具３１に嵌入する。３２はねじ込リング部で、校
正用アーム２０に取り付けられており、このねじ
込リング部３２に高圧コネクタ３３を挿入固定す
る。かくして、ターンテーブル２を回転させなが
ら常時校正用電極２７に高電圧を供給することが
できる。
次に動作について説明する。ターンテーブル２
を回転させると、固定部２３はベアリング取付部
３０で機械的に支持されて回転し、電気的には高
圧コネクタ−３３−メス金具３１−オス金具２４
−絶縁電線２６−校正用電極２７の経路で高電圧
が校正用電極２７に印加される。この高電圧印加
は回転中同一値であるから、これがレシーバー１
０でどれだけの値になるか測定しておけば、試料
Ｓに電圧を印加して測定したとき、レシーバー１
０の検出値が同一であれば試料Ｓの帯電電圧（検
出時）は校正用電極２７の印加電圧と同じである
ことになる。このようにして試料Ｓの帯電電圧の
校正を行うことができる。
を回転させると、固定部２３はベアリング取付部
３０で機械的に支持されて回転し、電気的には高
圧コネクタ−３３−メス金具３１−オス金具２４
−絶縁電線２６−校正用電極２７の経路で高電圧
が校正用電極２７に印加される。この高電圧印加
は回転中同一値であるから、これがレシーバー１
０でどれだけの値になるか測定しておけば、試料
Ｓに電圧を印加して測定したとき、レシーバー１
０の検出値が同一であれば試料Ｓの帯電電圧（検
出時）は校正用電極２７の印加電圧と同じである
ことになる。このようにして試料Ｓの帯電電圧の
校正を行うことができる。
なお、上記によつて試料Ｓの帯電電圧は正確に
知ることができるが、さらに高流電圧発生部に残
留電荷を試料Ｓに供給しないようにすれば、より
正確な測定が可能である。これを第７図によつて
説明する。
知ることができるが、さらに高流電圧発生部に残
留電荷を試料Ｓに供給しないようにすれば、より
正確な測定が可能である。これを第７図によつて
説明する。
第７図において、３４はスライダツクで、昇圧
トランス３５の一次側に所要の電圧を供給する。
昇圧トランス３５の二次側は整流器３６で整流さ
れ、コンデンサ３７と抵抗器３８からなるフイル
ター回路３９を通つて、ドライバー８に直流高電
圧が供給されるが、途中に残留電荷放電装置４０
が設けてある。
トランス３５の一次側に所要の電圧を供給する。
昇圧トランス３５の二次側は整流器３６で整流さ
れ、コンデンサ３７と抵抗器３８からなるフイル
ター回路３９を通つて、ドライバー８に直流高電
圧が供給されるが、途中に残留電荷放電装置４０
が設けてある。
残留電荷放電装置４０は、高耐圧抵抗器４１と
高圧リレー４２とで構成される。
高圧リレー４２とで構成される。
その作用を説明すると、ドライバー８を介して
試料Ｓに直流高圧を一定時間印加した後、昇圧ト
ランス３５の一次側のスイツチングによつてドラ
イバー８に供給している直流高電圧をしや断して
いるが、フイルター回路３９のコンデンサ３７は
容量であるため、前記しや断後も回路の時定数に
より電荷を持ち続ける。ドライバー８は等価的に
高抵抗であるので、もし、残留電荷放電装置４０
がないと、コンデンサ３７の残留電荷は瞬時に放
電されないため、高電位が引続いて試料Ｓに供給
されることになり、減衰度の早い試料Ｓに対して
は測定誤差が大きく影響してしまう。
試料Ｓに直流高圧を一定時間印加した後、昇圧ト
ランス３５の一次側のスイツチングによつてドラ
イバー８に供給している直流高電圧をしや断して
いるが、フイルター回路３９のコンデンサ３７は
容量であるため、前記しや断後も回路の時定数に
より電荷を持ち続ける。ドライバー８は等価的に
高抵抗であるので、もし、残留電荷放電装置４０
がないと、コンデンサ３７の残留電荷は瞬時に放
電されないため、高電位が引続いて試料Ｓに供給
されることになり、減衰度の早い試料Ｓに対して
は測定誤差が大きく影響してしまう。
しかし、昇圧トランス３５の一次側をしや断す
ると同時に残留電荷放電装置４０の高圧リレー４
２を閉成させると、残留電荷は瞬時に放電され、
前述の誤差は除去される。かくしてより正確な測
定が可能となる。
ると同時に残留電荷放電装置４０の高圧リレー４
２を閉成させると、残留電荷は瞬時に放電され、
前述の誤差は除去される。かくしてより正確な測
定が可能となる。
以上詳細に説明したように、この考案は従来の
ターンテーブル式の電荷減衰度測定装置におい
て、ターンテーブルの中心に固定部を設け、試料
にかえて校正用電極を固定し、一方、ドライバー
アームに校正用アームを取り付け、これに高圧コ
ネクターを取り付けて固定部に高電圧を供給する
ようにしたので、ターンテーブルが回転中でも常
時校正用電極に既知の高電圧を供給でき、そのた
めレシーバーで得られる検知電圧から試料に実際
に印加されている印加電圧の絶対値を簡単に知る
ことができる利点がある。
ターンテーブル式の電荷減衰度測定装置におい
て、ターンテーブルの中心に固定部を設け、試料
にかえて校正用電極を固定し、一方、ドライバー
アームに校正用アームを取り付け、これに高圧コ
ネクターを取り付けて固定部に高電圧を供給する
ようにしたので、ターンテーブルが回転中でも常
時校正用電極に既知の高電圧を供給でき、そのた
めレシーバーで得られる検知電圧から試料に実際
に印加されている印加電圧の絶対値を簡単に知る
ことができる利点がある。
第１図は電量減衰法の等価回路図、第２図は減
衰曲線図、第３図は同じくシンクロスコープの波
形図、第４図ａ，ｂはこの考案の対象である電荷
減衰測定装置の平面図および正面図、第５図はこ
の考案の一実施例を示す正面図、第６図は第５図
の実施例における固定部と校正用電極とを示す説
明図、第７図は残留電荷放電装置の回路図であ
る。 図中、１は筐体、２はターンテーブル、３は試
料おさえ、５はドライバーアーム、６はレシーバ
ーアーム、７は支持アーム、８はドライバー、９
は支持アーム、１０はレシーバー、２０は校正用
アーム、２１は固定ねじ、２２はアーム長調整ね
じ、２３は固定部、２４はオス金具、２７は校正
用電極、３０はベアリング取付部、３１はメス金
具、３３は高圧コネクタである。
衰曲線図、第３図は同じくシンクロスコープの波
形図、第４図ａ，ｂはこの考案の対象である電荷
減衰測定装置の平面図および正面図、第５図はこ
の考案の一実施例を示す正面図、第６図は第５図
の実施例における固定部と校正用電極とを示す説
明図、第７図は残留電荷放電装置の回路図であ
る。 図中、１は筐体、２はターンテーブル、３は試
料おさえ、５はドライバーアーム、６はレシーバ
ーアーム、７は支持アーム、８はドライバー、９
は支持アーム、１０はレシーバー、２０は校正用
アーム、２１は固定ねじ、２２はアーム長調整ね
じ、２３は固定部、２４はオス金具、２７は校正
用電極、３０はベアリング取付部、３１はメス金
具、３３は高圧コネクタである。
Claims (1)
- ターンテーブルに試料おさえにより固定された
試料に、ドライバーアームに取り付けたドライバ
ーから直流高電圧を印加し、所定時間経過後にレ
シーバーにより前記試料の帯電電圧を検知して前
記試料の漏れ抵抗を測定する電荷減衰度測定装置
において、前記ドライバーアームに校正用アーム
を着脱自在に固定し、さらに前記試料おさえによ
り校正用電極を固定し、一方、前記ターンテーブ
ルの中心に回転自在、着脱自在で、かつ給電可能
に固定部を設け、この固定部に前記校正用電極を
接続するとともに、前記固定部に高電圧を供給す
る高圧コネクタを前記校正用アームに取り付けた
ことを特徴とする電荷減衰度測定装置の帯電電圧
校正装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10022278U JPH0247504Y2 (ja) | 1978-07-22 | 1978-07-22 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10022278U JPH0247504Y2 (ja) | 1978-07-22 | 1978-07-22 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5518127U JPS5518127U (ja) | 1980-02-05 |
| JPH0247504Y2 true JPH0247504Y2 (ja) | 1990-12-13 |
Family
ID=29037709
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10022278U Expired JPH0247504Y2 (ja) | 1978-07-22 | 1978-07-22 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0247504Y2 (ja) |
-
1978
- 1978-07-22 JP JP10022278U patent/JPH0247504Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5518127U (ja) | 1980-02-05 |
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