JPH04335168A - 粉体電荷計測器の校正装置 - Google Patents
粉体電荷計測器の校正装置Info
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- JPH04335168A JPH04335168A JP10539391A JP10539391A JPH04335168A JP H04335168 A JPH04335168 A JP H04335168A JP 10539391 A JP10539391 A JP 10539391A JP 10539391 A JP10539391 A JP 10539391A JP H04335168 A JPH04335168 A JP H04335168A
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- 239000000843 powder Substances 0.000 title claims abstract description 67
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 6
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 4
- 238000005070 sampling Methods 0.000 abstract 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 11
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 238000003908 quality control method Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000012827 research and development Methods 0.000 description 2
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- 239000012925 reference material Substances 0.000 description 1
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- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は，複写機等に用いる現像
剤の帯電電荷を測定する装置の測定誤差を修正するため
の校正装置に関する。
剤の帯電電荷を測定する装置の測定誤差を修正するため
の校正装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】粉体の帯電電荷量を測定する基本的な装
置として，図２に示すようなファラデーケージ１２があ
り，接地されたシールド導体６の中に導体容器７を絶縁
して置き，帯電した粉体２を導体容器７に投入したとき
の導体容器７の接地間電位を電位計８で測定するもので
ある。このファラデーゲージ１２を実用的な電荷測定装
置としたものとして，図５に示す吸引式ファラデーケー
ジ１０，あるいは図６に示すブローオフ装置１１がある
。
置として，図２に示すようなファラデーケージ１２があ
り，接地されたシールド導体６の中に導体容器７を絶縁
して置き，帯電した粉体２を導体容器７に投入したとき
の導体容器７の接地間電位を電位計８で測定するもので
ある。このファラデーゲージ１２を実用的な電荷測定装
置としたものとして，図５に示す吸引式ファラデーケー
ジ１０，あるいは図６に示すブローオフ装置１１がある
。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら，各測定
装置において機器構成の違いによって，測定値に誤差を
生じていながら，これまで良い校正手段が無かったため
に，電子写真におけるトナー等現像剤の研究開発や品質
管理の上で帯電量値を規格化として明示する上で不都合
があった。そのため，このような測定装置間の測定誤差
は現像剤等の品質の不安定性を招き，商品の品質の信頼
性を低下させていた。本発明は上記課題を解決するため
に，各粉体電荷計測装置の測定誤差を校正するための基
準値を設定する粉体電荷計測装置の校正装置を提供する
ことを目的とする。
装置において機器構成の違いによって，測定値に誤差を
生じていながら，これまで良い校正手段が無かったため
に，電子写真におけるトナー等現像剤の研究開発や品質
管理の上で帯電量値を規格化として明示する上で不都合
があった。そのため，このような測定装置間の測定誤差
は現像剤等の品質の不安定性を招き，商品の品質の信頼
性を低下させていた。本発明は上記課題を解決するため
に，各粉体電荷計測装置の測定誤差を校正するための基
準値を設定する粉体電荷計測装置の校正装置を提供する
ことを目的とする。
【０００４】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明は，接地導体でシールドされた導体容器内に帯
電した導電性粉体を投入して前記導体容器と接地間の投
入量当りの帯電量を測定する粉体電荷計測器に，所定量
の導電性粉体に所定の帯電量を与えて投入する粉体電荷
計測器の校正装置において，所定量の導電性粉体を入れ
る粉体受けと，該粉体受けに入れた導電性粉体を少量づ
つ投下させるための加振器と，前記粉体受けの投下口と
対極する近接位置に接地電極を設けて，該接地電極と粉
体受けとの間に所定電圧を印加する電源装置とを具備し
たことを特徴とする。
に本発明は，接地導体でシールドされた導体容器内に帯
電した導電性粉体を投入して前記導体容器と接地間の投
入量当りの帯電量を測定する粉体電荷計測器に，所定量
の導電性粉体に所定の帯電量を与えて投入する粉体電荷
計測器の校正装置において，所定量の導電性粉体を入れ
る粉体受けと，該粉体受けに入れた導電性粉体を少量づ
つ投下させるための加振器と，前記粉体受けの投下口と
対極する近接位置に接地電極を設けて，該接地電極と粉
体受けとの間に所定電圧を印加する電源装置とを具備し
たことを特徴とする。
【０００５】
【作用】本発明によれば，所定量の導電性粉体に，所定
量の電荷を与える電源装置を具備した校正装置から，校
正する粉体電荷計測装置に前記定量の導電性粉体に定量
の電荷を与えて供給できる。従って，そのときの被校正
装置の電荷量測定値を，基準とする例えばファラデーゲ
ージでの測定値と比較して，その誤差を測定装置毎に校
正しておけば，どの測定装置を用いて電荷量を測定して
も，正しい測定値が得られる。該校正装置に使用する導
電性粉体と，電源装置により所定電圧を与えられた電極
に接触することにより，電極と同電位となり，対向する
接地電極と所定電圧を与えられた電極との間に形成され
る一定電界中で，所定電圧を与えられた電極から解離す
ることによって，その粉体粒子の静電容量に見合った電
荷が与えられる。従って，上記定量の電荷が与えられた
導電性粉体を，校正する粉体電荷測定装置内へ落下させ
ることによって基準物質として使用することができる。
量の電荷を与える電源装置を具備した校正装置から，校
正する粉体電荷計測装置に前記定量の導電性粉体に定量
の電荷を与えて供給できる。従って，そのときの被校正
装置の電荷量測定値を，基準とする例えばファラデーゲ
ージでの測定値と比較して，その誤差を測定装置毎に校
正しておけば，どの測定装置を用いて電荷量を測定して
も，正しい測定値が得られる。該校正装置に使用する導
電性粉体と，電源装置により所定電圧を与えられた電極
に接触することにより，電極と同電位となり，対向する
接地電極と所定電圧を与えられた電極との間に形成され
る一定電界中で，所定電圧を与えられた電極から解離す
ることによって，その粉体粒子の静電容量に見合った電
荷が与えられる。従って，上記定量の電荷が与えられた
導電性粉体を，校正する粉体電荷測定装置内へ落下させ
ることによって基準物質として使用することができる。
【０００６】
【実施例】図１は本発明の一実施例校正装置の構成を示
す斜視図である。校正装置１は定量の導電性粉体２を入
れる粉体受け５と，導電性粉体２を投下する投下口４に
対向する位置に配置される接地電極３とで主構成されて
いる。粉体受け５と接地電極３との間には，図示しない
電源装置からの高圧電圧が印加されており，粉体受け５
から導電性粉体２を少量づつ投下させる際に，印加され
た高圧電圧により導電性粉体２は定量の電荷を帯びて落
下していく。粉体受け５に入れた定量の導電性粉体２を
少量づつ投下させるために，粉体受け１の所要部に振動
素子６が取付けられており，この振動素子６で粉体受け
５を加振して，その振動により導電性粉体２を少しづつ
投下口４から振い出す。このような校正装置１は基盤１
３上に直立する支柱１２に上下摺動可能に支持されてお
り，基盤１３上に校正する計測装置を設置して，その中
に定量の電化を帯びた導電性粉体２を投下するように構
成されている。図２は基準となるファラデーケージ６に
よる電荷量測定の構成を示し，校正装置１に貯えられた
定量の導電性粉体２に，所定の電荷を与えつつファラデ
ーケージ６内に投下して，そのときのファラデーケージ
６の導体容器７の接地間電位を電位計８で計測する。こ
のファラデーケージにより測定される導電性粉体２の単
位重量当りの電荷量と粉体受け５と接地電極３との間の
印加電圧との関係は，図３に示されるようになる。また
，ファラデーケージ６で測定された電荷量測定値Ｑと導
電性粉体２の投下量ｘとの関係は，図４に実線で示され
るようになる。投下量ｘがａであるときの電荷量測定値
をＱ１として，これを校正の基準値とする。
す斜視図である。校正装置１は定量の導電性粉体２を入
れる粉体受け５と，導電性粉体２を投下する投下口４に
対向する位置に配置される接地電極３とで主構成されて
いる。粉体受け５と接地電極３との間には，図示しない
電源装置からの高圧電圧が印加されており，粉体受け５
から導電性粉体２を少量づつ投下させる際に，印加され
た高圧電圧により導電性粉体２は定量の電荷を帯びて落
下していく。粉体受け５に入れた定量の導電性粉体２を
少量づつ投下させるために，粉体受け１の所要部に振動
素子６が取付けられており，この振動素子６で粉体受け
５を加振して，その振動により導電性粉体２を少しづつ
投下口４から振い出す。このような校正装置１は基盤１
３上に直立する支柱１２に上下摺動可能に支持されてお
り，基盤１３上に校正する計測装置を設置して，その中
に定量の電化を帯びた導電性粉体２を投下するように構
成されている。図２は基準となるファラデーケージ６に
よる電荷量測定の構成を示し，校正装置１に貯えられた
定量の導電性粉体２に，所定の電荷を与えつつファラデ
ーケージ６内に投下して，そのときのファラデーケージ
６の導体容器７の接地間電位を電位計８で計測する。こ
のファラデーケージにより測定される導電性粉体２の単
位重量当りの電荷量と粉体受け５と接地電極３との間の
印加電圧との関係は，図３に示されるようになる。また
，ファラデーケージ６で測定された電荷量測定値Ｑと導
電性粉体２の投下量ｘとの関係は，図４に実線で示され
るようになる。投下量ｘがａであるときの電荷量測定値
をＱ１として，これを校正の基準値とする。
【０００７】いま，図５に示す吸引式ファラデーケージ
１０（測定器Ａ）において，上記と同じ投下量ａの導電
性粉体２に同じ電荷量を与えて導電性粉体２を投下させ
たときの，電荷量測定値が図４の破線で示すようにＱ２
であったとき，この測定器Ａの校正値ＱＡは，ＱＡ＝（
Ｑ１／Ｑ２）Ｑａの校正式で表すことができ，測定値Ｑ
ａは基準ファラデーケージの測定値に校正される。測定
値Ｑａは図７に示すように，図５に示す吸引式ファラデ
ーケージ１０（測定器Ａ）を用い，実際に一成分現像剤
を用いた複写機の現像ローラ１４から一成分現像剤を吸
引し帯電量を測定した値である。また，測定器Ｂが図６
に示すようなブローオフ方式によるものであったとき，
その測定値Ｑｂが図４の一点鎖線で示されるようであっ
たときにも，上記と同様に基準値に対して校正する。こ
の測定器Ｂの校正値ＱＢは，ＱＢ＝（Ｑ１／Ｑ２）Ｑｂ
の校正式で表すことができ，測定値Ｑｂは図８に示すよ
うに，図６に示すブローオフ方式測定装置１１（測定器
Ｂ）を用い，実際に二成分現像剤を用いた複写機の現像
器内から二成分現像剤を取り出し測定した値である。従
って，どの測定装置を用いても同一の統一された測定結
果が得られるようになる。
１０（測定器Ａ）において，上記と同じ投下量ａの導電
性粉体２に同じ電荷量を与えて導電性粉体２を投下させ
たときの，電荷量測定値が図４の破線で示すようにＱ２
であったとき，この測定器Ａの校正値ＱＡは，ＱＡ＝（
Ｑ１／Ｑ２）Ｑａの校正式で表すことができ，測定値Ｑ
ａは基準ファラデーケージの測定値に校正される。測定
値Ｑａは図７に示すように，図５に示す吸引式ファラデ
ーケージ１０（測定器Ａ）を用い，実際に一成分現像剤
を用いた複写機の現像ローラ１４から一成分現像剤を吸
引し帯電量を測定した値である。また，測定器Ｂが図６
に示すようなブローオフ方式によるものであったとき，
その測定値Ｑｂが図４の一点鎖線で示されるようであっ
たときにも，上記と同様に基準値に対して校正する。こ
の測定器Ｂの校正値ＱＢは，ＱＢ＝（Ｑ１／Ｑ２）Ｑｂ
の校正式で表すことができ，測定値Ｑｂは図８に示すよ
うに，図６に示すブローオフ方式測定装置１１（測定器
Ｂ）を用い，実際に二成分現像剤を用いた複写機の現像
器内から二成分現像剤を取り出し測定した値である。従
って，どの測定装置を用いても同一の統一された測定結
果が得られるようになる。
【０００８】
【発明の効果】以上の説明のように本発明によれば，い
ずれの粉体電荷測定装置に対しても同一条件下で定量，
定電位の粉体を供給することができるので，各測定装置
の計測値を正確に校正することができる。本校正装置に
より各電荷量計測装置を校正することにより，校正した
測定装置を用いて測定された粉体の電荷量は互いに比較
して，粉体の性能比較等ができるようになるので，電子
写真等におけるトナーの研究開発や製品の品質管理等に
おいて，大なる貢献を奏することになる。また，トナー
等の粉体製品の品質の明示や規格化をすることもできる
効果も奏する。
ずれの粉体電荷測定装置に対しても同一条件下で定量，
定電位の粉体を供給することができるので，各測定装置
の計測値を正確に校正することができる。本校正装置に
より各電荷量計測装置を校正することにより，校正した
測定装置を用いて測定された粉体の電荷量は互いに比較
して，粉体の性能比較等ができるようになるので，電子
写真等におけるトナーの研究開発や製品の品質管理等に
おいて，大なる貢献を奏することになる。また，トナー
等の粉体製品の品質の明示や規格化をすることもできる
効果も奏する。
【図１】 本発明の一実施例装置の構成を示す斜視図
。
。
【図２】 実施例装置による校正方法を示す説明図。
【図３】 基準ファラデーケージによる測定例グラフ
。
。
【図４】 基準ファラデーケージと被校正装置との比
較測定例グラフ。
較測定例グラフ。
【図５】 吸引式ファラデーケージの構成図。
【図６】 ブローオフ方式測定装置の構成図。
【図７】 吸引式ファラーデケージによる実際の一成
成分現像剤の測定図。
成分現像剤の測定図。
【図８】 ブローオフ方式測定装置による実際の二成
成分現像剤の測定図。
成分現像剤の測定図。
１…校正装置
２…粉体
３…接地電極
４…投入口
５…振動素子（加振器）
Claims (1)
- 【請求項１】 接地導体でシールドされた導体容器内
に帯電した導電性粉体を投入して前記導体容器と接地間
の投入量当りの帯電量を測定する粉体電荷計測器に，所
定量の導電性粉体に所定の帯電量を与えて投入する粉体
電荷計測器の校正装置において，所定量の導電性粉体を
入れる粉体受けと，該粉体受けに入れた導電性粉体を少
量づつ投下させるための加振器と，前記粉体受けの投下
口と対極する近接位置に接地電極を設けて，該接地電極
と粉体受けとの間に所定電圧を印加する電源装置と，を
具備したことを特徴とする粉体電荷計測器の校正装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10539391A JPH04335168A (ja) | 1991-05-10 | 1991-05-10 | 粉体電荷計測器の校正装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10539391A JPH04335168A (ja) | 1991-05-10 | 1991-05-10 | 粉体電荷計測器の校正装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04335168A true JPH04335168A (ja) | 1992-11-24 |
Family
ID=14406399
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10539391A Pending JPH04335168A (ja) | 1991-05-10 | 1991-05-10 | 粉体電荷計測器の校正装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04335168A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010117227A (ja) * | 2008-11-12 | 2010-05-27 | Sumitomo Chemical Co Ltd | 粉体に起因する帯電の体感装置および粉体に起因する帯電の体感実験方法 |
| CN102279324A (zh) * | 2011-07-19 | 2011-12-14 | 兰州大学 | 颗粒摩擦带电量多因素分析仪 |
| CN102353854A (zh) * | 2011-07-19 | 2012-02-15 | 兰州大学 | 一种颗粒及颗粒流摩擦带电量测量装置 |
-
1991
- 1991-05-10 JP JP10539391A patent/JPH04335168A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010117227A (ja) * | 2008-11-12 | 2010-05-27 | Sumitomo Chemical Co Ltd | 粉体に起因する帯電の体感装置および粉体に起因する帯電の体感実験方法 |
| CN102279324A (zh) * | 2011-07-19 | 2011-12-14 | 兰州大学 | 颗粒摩擦带电量多因素分析仪 |
| CN102353854A (zh) * | 2011-07-19 | 2012-02-15 | 兰州大学 | 一种颗粒及颗粒流摩擦带电量测量装置 |
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