JPH0245775A - 電子機器用コネクタの試験方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ この発明は、電子機器用コネクタ接触子の腐食による接
触信頼性の影響を評価する試験方法、特に実使用状態を
模擬した電子機器用コネクタの試験方法に関する。

［従来の技術］ 電子機器用コネクタの試験方法として、ＪＩＳＣ５４０
２ｒ電子機器用コネクタ試験方法」、ＪＥＩＤＡ−３９
−１９８４ｒ電子機器用コネクタの二酸化硫黄試験方法
」　（日本電子工業振興会）等がある。後者は、二酸化
硫黄ガス中のコネクタの絶縁抵抗値や耐電圧あるいはコ
ネクタ接触子の接触抵抗値等を測定するもので、第４図
に示すブロック図に示す通り、特性測定用の結線（１）
を用意し、この結線（１）に接続された測定用供試品を
二酸化硫黄ガス１０ｐｐｍ濃度の容器内に収納してコネ
クタ接触子をガス腐食（２）し、一定時間後にそのコネ
クタをガス環境から取り出して特性測定（３）を行い、
この一定時間毎のＭ１定を繰り返すものであった。ここ
で、測定は静的な状態において行い、時間的には点測定
を行う。

［発明が解決しようとする課題］ 従来の電子機器用コネクタの試験方法は、以上のような
構成であったので、コネクタの着脱によって接触子のメ
ツキが摩耗した後の腐食が模擬できず、また接触子が腐
食した後に温度変化が加わった場合の接触の信頼性も評
価できないという問題があった。

この発明は、かかる問題点を解決することを課題として
なされたもので、コネクタ実使用状態の環境等の条件を
加速して与えて、接触の信頼性を簡便に評価できる試験
方法を得ることを目的とする。

［課題を解決するための手段］ この発明に係る電子機器用コネクタの試験方法は、コネ
クタ接触子相互を複数回挿抜してから腐食させ、更にこ
れを温度変化環境下で連続的に接触抵抗値を測定するこ
とにより、実使用状態を加速模擬して簡便に評価可能と
するものである。

［作用］ コネクタ接触子の複数回に及ぶ抜き挿しにより、接触子
表面のメツキ等が摩耗ないしは剥離し、その後の腐食に
よって実使用状態に近い腐食が加速提示される。

温度変化環境下の測定により、接触子相互が微小変位し
て実使用状態に近い接触状態を提示し、連続測定により
、温度変化中の接触抵抗の変化を観察することができる
。

［実施例］ 次に、第１図、第２図および第３図に示す実施例によっ
てこの発明を更に詳細に説明する。

この発明による試験方法によれば、例えば第１図のブロ
ック図に示す通り、接触抵抗測定用結線（１）を準備し
てから電子機器用コネクタ（以下、コネクタと称す）の
接触子相互の挿抜（４）を行い、この挿抜（４）によっ
て表面の荒れた接触子にガス腐食（２）によって腐食を
進行させ、その後に、表面が荒れた接触子表面を更に腐
食させた状態のコネクタを温度変化環境下において連続
的接触抵抗測定（５）するものである。

ここで、コネクタ接触子の挿抜（４）は、第２図に示す
ように、雌形コネクタ半休（６）の雌形接触子（７）に
、雌形コネクタ半休（８）のピン形接触子（９）を複数
回矢線方向に抜き挿しすることによって行われる。この
抜き挿しの回数は、接触子（７）、（９）のメツキ材質
、メッキ厚、使用条件等に従って任意に定めることがで
きる。

このようにして表面部が荒れた接触子（７）、（９）は
更に、公知のガス腐食容器内にコネクタごと一定時間入
れておくか、あるいは接触子（７）、（９）表面部に塩
水や他の腐食性液を噴霧する、あるいは温度と湿度を加
えて酸化腐食させる等の手段によって腐食を進行させら
れて、加速的に実使用状態が模擬される。

その後、表面部に腐食を進行させた接触子を有するコネ
クタは、温度変化環境下において接触抵抗を連続的に測
定されるのであるが、その測定回路は第３図の結線図の
ものとすることができる。

第３図において、直流電源（１ｏ）は極性切換器（１１
）を介して分圧抵抗器（１２）と可変抵抗器（１３）と
の直列回路に接続されている。この分圧抵抗器（１２）
と供試品接続端子（１４）との間には、並列に電圧計（
１５）　、直列に電流計（１６）と可変抵抗器（１７）
が接続され、前記接続端子（１４）には、供試品（１８
）と接触電圧測定用の微小電圧計（１９）とが並列接続
されている。この測定回路によって、供試品（１８）の
温度変化環境下における接触抵抗値変化が連続的に測定
される。

上記のこの発明による試験方法によれば、コネクタの接
触子を腐食させ、もしくは腐食環境に置く前に、接触子
の挿抜を行うので、コネクタ接触子表面のメツキの摩耗
や剥離等により表面部が荒された後に腐食が進行した状
態を模擬することができ、より実使用状態に近いものと
することができる。

また、接触抵抗値の測定は、温度変化環境下において連
続的に行うので、コネクタが実使用時において受ける温
度変化状態での接触信頼性を評価することができる。す
なわち、温度変化がコネクタ接触子等に加わった場合、
コネクタ構造物の熱膨脹係数の違いにより、接触子は微
小変位すると考えられるが、この時、接触子表面部に生
成した腐食部分に相手の接触子が乗り上げて接触障害を
生来するか否かの確率等を評価できるものとなる。

なお、上記の実施例では、最初に測定回路の結線を行う
場合が示されているが、挿抜の後に結線、ガス腐食等と
平行して結線、あるいはガス腐食等の後に結線としても
良い。また、腐食環境中で温度変化を加えるものであっ
ても良く、要は、接触子の挿抜と腐食に続く温度変化環
境下での連続的接触抵抗値測定の行程を含むものであれ
ば、この発明の目的が達せられるものである。

［発明の効果］ この発明は、以上説明したとおり、コネクタ接触子の腐
食進行前に、コネクタ接触子の挿抜を行い、温度変化環
境下で接触子間の接触抵抗値を連続的に測定するものと
したので、接触子挿抜後の腐食が模擬でき、更に腐食後
温度変化が加わった場合のコネクタ接触子の接触信頼性
を評価できる効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明の一実施例による試験行程のブロック
図、第２図はコネクタ接触子の挿抜を説明する斜視図、
第３図は接触抵抗値測定回路の結線図、第４図は従来の
試験行程を示すブロック図である。 図において、（１）は結線、（２）はガス腐食、（４）
は挿抜、（５）は温度変化環境下の接触抵抗の連続測定
、（７）は雌形接触子、（９）はビン形接触子、（１０
）は直流電源、（１８）は供試品、（１９）は微小電圧
計である。 なお、図中、同一符号は同一、又は相当部分を示す。 代理人　弁理士　大　岩　増　雄 （外２名） 失施イ列ｔｑ７−ａ７７図 第１図 旧：Ａ叉口入品 １９゛植馴・電圧計 祷即１代の直更沃叫経・、を恥を泉図 第３図 ３更３社へ了丁＋ＬｓＬＣフ゛ロック図第４図 第２図 手 続 補 正 書 （自発） ５、補正の対象 明細書の発明の詳細な説明、図面の簡単な説明の欄及び
図面。 ６、補正の内容 ２、発明の名称 電子機器用コネクタの試験方法 ３、補正をする者 事件との関係　特許出願人 住　所　　　　東京都千代田区丸の内二丁目２番３号名
　称　　（６０１）三菱電機株式会社代表者志岐守哉 以上 ４、代 理人

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. コネクタ接触子相互を複数回挿抜した後、これらの接触
   子に腐食を進行させ、その後に温度変化環境下において
   接触子間の接触抵抗値を連続的に測定する行程を含む電
   子機器用コネクタの試験方法。