JPH0244209Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0244209Y2 JPH0244209Y2 JP1981081884U JP8188481U JPH0244209Y2 JP H0244209 Y2 JPH0244209 Y2 JP H0244209Y2 JP 1981081884 U JP1981081884 U JP 1981081884U JP 8188481 U JP8188481 U JP 8188481U JP H0244209 Y2 JPH0244209 Y2 JP H0244209Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ultrasonic
- ultrasonic probe
- probes
- specimen
- transducer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 49
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 13
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 5
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 238000002604 ultrasonography Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2291/00—Indexing codes associated with group G01N29/00
- G01N2291/04—Wave modes and trajectories
- G01N2291/044—Internal reflections (echoes), e.g. on walls or defects
Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
- Transducers For Ultrasonic Waves (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
この考案は超音波を用いて被検材中の欠陥を検
出するための超音波探傷装置に使用される超音波
探触子装置の改良に関する。
出するための超音波探傷装置に使用される超音波
探触子装置の改良に関する。
まず従来のこの種装置について第１図、第２図
を用いて説明する。
を用いて説明する。
第１図は従来の探触子装置の上面図、第２図は
従来の探触子装置を用いた時の被検材中の超音波
ビームを示す断面図である。
従来の探触子装置を用いた時の被検材中の超音波
ビームを示す断面図である。
図において１ａ〜１ｄは同一仕様の超音波探触
子、２ａ〜２ｄは超音波を送受するための振動
子、３は接触媒体、４は被検材、５は被検材４の
端部の傾斜部、６ａ〜６ｄは超音波探触子１ａ〜
１ｄより放射された超音波ビーム、７は超音波探
触子の配置により生じた未探傷領域である。
子、２ａ〜２ｄは超音波を送受するための振動
子、３は接触媒体、４は被検材、５は被検材４の
端部の傾斜部、６ａ〜６ｄは超音波探触子１ａ〜
１ｄより放射された超音波ビーム、７は超音波探
触子の配置により生じた未探傷領域である。
ところで従来の超音波探触子装置においては被
検材４を全面にわたり超音波探傷検査を行なう場
合には比較的大きな寸法（例えば20mm以上）の振
動子２ａ〜２ｄを具備する超音波探触子１ａ〜１
ｄを配列する事により超音波探触子１ａ〜１ｄの
数量を削減していたが、このような超音波探触子
１ａ〜１ｄでは特に被検材４端部に多く見られる
傾斜部５において接触媒体３内で超音波の位相干
渉が生じたり被検材４内部への超音波入射効率が
低下するなどの条件が重なり受信される超音波信
号レベルが著しく低下する欠点があつた。又、超
音波探触子１ａ〜１ｄの振動子２ａ〜２ｄから放
射された超音波ビーム６ａ〜６ｄはそれの特性上
近距離音場限界距離付近では振動子２ａ〜２ｄの
寸法よりかなり狭くなつてしまうため被検材４の
深さ方向において未探傷領域７が大きく生じる欠
点があつた。
検材４を全面にわたり超音波探傷検査を行なう場
合には比較的大きな寸法（例えば20mm以上）の振
動子２ａ〜２ｄを具備する超音波探触子１ａ〜１
ｄを配列する事により超音波探触子１ａ〜１ｄの
数量を削減していたが、このような超音波探触子
１ａ〜１ｄでは特に被検材４端部に多く見られる
傾斜部５において接触媒体３内で超音波の位相干
渉が生じたり被検材４内部への超音波入射効率が
低下するなどの条件が重なり受信される超音波信
号レベルが著しく低下する欠点があつた。又、超
音波探触子１ａ〜１ｄの振動子２ａ〜２ｄから放
射された超音波ビーム６ａ〜６ｄはそれの特性上
近距離音場限界距離付近では振動子２ａ〜２ｄの
寸法よりかなり狭くなつてしまうため被検材４の
深さ方向において未探傷領域７が大きく生じる欠
点があつた。
この考案はこのような従来の欠点を大幅に改善
し、被検材表面の傾斜部でも超音波探傷検査を十
分可能にし、かつ未探傷領域を狭くした超音波探
触子装置を提供するものである。
し、被検材表面の傾斜部でも超音波探傷検査を十
分可能にし、かつ未探傷領域を狭くした超音波探
触子装置を提供するものである。
以下この考案の一実施例について第３図、第４
図を用いて詳述する。
図を用いて詳述する。
第３図はこの考案による超音波探触子装置の上
面図、第４図はこの考案による超音波探触子装置
を用いた時の被検材中の超音波ビームを示す断面
図である。
面図、第４図はこの考案による超音波探触子装置
を用いた時の被検材中の超音波ビームを示す断面
図である。
図において、１ａ〜１ｄは同一仕様の第１の超
音波探触子、２ａ〜２ｄは第１の超音波探触子１
ａ〜１ｄに具備された振動子、３は接触媒体、４
は被検材、５は被検材４の端部の傾斜部、６ａ〜
６ｄは第１の超音波探触子より放射された超音波
ビーム、７は未探傷領域、８は第２の超音波探触
子、９は第２の超音波探触子８に具備された振動
子、１０は第２の超音波探触子より放射された超
音波ビームである。
音波探触子、２ａ〜２ｄは第１の超音波探触子１
ａ〜１ｄに具備された振動子、３は接触媒体、４
は被検材、５は被検材４の端部の傾斜部、６ａ〜
６ｄは第１の超音波探触子より放射された超音波
ビーム、７は未探傷領域、８は第２の超音波探触
子、９は第２の超音波探触子８に具備された振動
子、１０は第２の超音波探触子より放射された超
音波ビームである。
この考案による超音波探触子装置においては被
検材４の端部側に配置される第２の超音波探触子
８の振動子９を、被検材５の中央部側に配置され
る同一仕様の複数の第１の超音波探触子１ａ〜１
ｄの振動子２ａ〜２ｄより寸法を小さくするか、
あるいは周波数を下げるか、あるいは寸法を小さ
くする事と周波数を下げる事の両方を施してい
る。このような第２の超音波探触子８においては
第１の超音波探触子１ａ〜１ｄに比較し超音波の
指向特性が鈍くなつたり、あるいは波長が長くな
つたりするために被検材４の表面の傾斜の影響を
受けにくくなり超音波探傷検査が十分に可能とな
る。
検材４の端部側に配置される第２の超音波探触子
８の振動子９を、被検材５の中央部側に配置され
る同一仕様の複数の第１の超音波探触子１ａ〜１
ｄの振動子２ａ〜２ｄより寸法を小さくするか、
あるいは周波数を下げるか、あるいは寸法を小さ
くする事と周波数を下げる事の両方を施してい
る。このような第２の超音波探触子８においては
第１の超音波探触子１ａ〜１ｄに比較し超音波の
指向特性が鈍くなつたり、あるいは波長が長くな
つたりするために被検材４の表面の傾斜の影響を
受けにくくなり超音波探傷検査が十分に可能とな
る。
又、第２の超音波探触子８の振動子９の選択に
よつては近距離音場限界距離を被検材４表面近傍
にする事ができ、超音波指向特性上、近距離音場
限界距離以遠では超音波が拡散し裾広がりの超音
波ビーム１０を形成させる事が可能となり、第１
の超音波探触子１ａ〜１ｄで形成する超音波ビー
ム６ａ〜６ｄとは逆の形とする事により未探傷領
域７を減少させる事も可能となる。
よつては近距離音場限界距離を被検材４表面近傍
にする事ができ、超音波指向特性上、近距離音場
限界距離以遠では超音波が拡散し裾広がりの超音
波ビーム１０を形成させる事が可能となり、第１
の超音波探触子１ａ〜１ｄで形成する超音波ビー
ム６ａ〜６ｄとは逆の形とする事により未探傷領
域７を減少させる事も可能となる。
以上述べたようにこの考案は被検材中央部に配
置される超音波探触子の振動子よりも寸法を小さ
くするか、あるいは周波数を下げるか、あるいは
周波数を下げるか、または寸法を小さくする事と
周波数を下げる事の両方をほどこした振動子を具
備させた超音波探触子を被検材端部側に配置する
事により被検材傾斜部の超音波探傷不可の問題、
未探傷領域の増大の欠点を解決する実用的な超音
波探触子装置を得ることができる。
置される超音波探触子の振動子よりも寸法を小さ
くするか、あるいは周波数を下げるか、あるいは
周波数を下げるか、または寸法を小さくする事と
周波数を下げる事の両方をほどこした振動子を具
備させた超音波探触子を被検材端部側に配置する
事により被検材傾斜部の超音波探傷不可の問題、
未探傷領域の増大の欠点を解決する実用的な超音
波探触子装置を得ることができる。
尚、実施例では垂直探触子４〜５個を用いた例
で示してあるが、斜角探触子や他の探触子で数量
が被検材寸法に応じて４〜５個以上の複数個の場
合でもこの考案を適用できる事は言うまでもな
い。
で示してあるが、斜角探触子や他の探触子で数量
が被検材寸法に応じて４〜５個以上の複数個の場
合でもこの考案を適用できる事は言うまでもな
い。
第１図は従来の超音波探触子装置の上面図、第
２図は従来の超音波探触子装置を用いた時の被検
材中の超音波ビームを示す断面図、第３図はこの
考案による超音波探触子装置の上面図、第４図は
この考案による超音波探触子装置を用いた時の被
検材中の超音波ビームを示す断面図である。 図において１ａ〜１ｄは同一仕様の第１の超音
波探触子、２ａ〜２ｄは第１の超音波探触子に具
備された振動子、３は接触媒体、４は被検材、５
は被検材の端部の傾斜部、６ａ〜６ｄは第１の超
音波探触子の超音波ビーム、７は未探傷領域、８
は第２の超音波探触子、９は第２の超音波探触子
に具備された振動子、１０は第２の超音波探触子
の超音波ビームである。尚、図中同一あるいは相
当部分には同一符号を付して示してある。
２図は従来の超音波探触子装置を用いた時の被検
材中の超音波ビームを示す断面図、第３図はこの
考案による超音波探触子装置の上面図、第４図は
この考案による超音波探触子装置を用いた時の被
検材中の超音波ビームを示す断面図である。 図において１ａ〜１ｄは同一仕様の第１の超音
波探触子、２ａ〜２ｄは第１の超音波探触子に具
備された振動子、３は接触媒体、４は被検材、５
は被検材の端部の傾斜部、６ａ〜６ｄは第１の超
音波探触子の超音波ビーム、７は未探傷領域、８
は第２の超音波探触子、９は第２の超音波探触子
に具備された振動子、１０は第２の超音波探触子
の超音波ビームである。尚、図中同一あるいは相
当部分には同一符号を付して示してある。
Claims (1)
- 超音波探触子を４個以上の組合せにより被検材
を探傷する超音波探触子装置において、被検材の
端部側に配置される単一の超音波探触子の振動子
を、被検材の中央部側に配置される同一仕様の複
数の超音波探触子の振動子に対して寸法、共振周
波数のどちらか一方または両方を小さくしたこと
を特徴とする超音波探触子装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1981081884U JPH0244209Y2 (ja) | 1981-06-03 | 1981-06-03 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1981081884U JPH0244209Y2 (ja) | 1981-06-03 | 1981-06-03 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS57194061U JPS57194061U (ja) | 1982-12-09 |
| JPH0244209Y2 true JPH0244209Y2 (ja) | 1990-11-22 |
Family
ID=29877377
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1981081884U Expired JPH0244209Y2 (ja) | 1981-06-03 | 1981-06-03 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0244209Y2 (ja) |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS50109788A (ja) * | 1974-01-30 | 1975-08-29 | ||
| JPS55163041A (en) * | 1979-06-05 | 1980-12-18 | Tokyo Shibaura Electric Co | Ultrasonic probe |
-
1981
- 1981-06-03 JP JP1981081884U patent/JPH0244209Y2/ja not_active Expired
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS50109788A (ja) * | 1974-01-30 | 1975-08-29 | ||
| JPS55163041A (en) * | 1979-06-05 | 1980-12-18 | Tokyo Shibaura Electric Co | Ultrasonic probe |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS57194061U (ja) | 1982-12-09 |
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