JPH0242422B2 - - Google Patents

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JPH0242422B2
JPH0242422B2 JP58051782A JP5178283A JPH0242422B2 JP H0242422 B2 JPH0242422 B2 JP H0242422B2 JP 58051782 A JP58051782 A JP 58051782A JP 5178283 A JP5178283 A JP 5178283A JP H0242422 B2 JPH0242422 B2 JP H0242422B2
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JP
Japan
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preform
fiber
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lens
cladding layer
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JP58051782A
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JPS58178239A (ja
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/41Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length
    • G01N21/412Index profiling of optical fibres

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  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Optical Couplings Of Light Guides (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Light Guides In General And Applications Therefor (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 技術分野 本発明は、光フアイバならびにフアイバプリフ
オームのような透明棒の内部構造を検査する方法
に関する。
発明の背景 光フアイバならびにフアイバプリフオームの内
部構造を定量的に評価する技術は、米国特許第
4161656号ならびに同第4181433号に記載されてい
る。これらの技術、及び以下に述べるべきものと
が光フアイバとフアイバプリフオームとの両者に
対して等しく適用可能な技術であるので、光フア
イバ、あるいはフアイバプリフオームと云う術語
のうちのいずれかを、両者を指すのに使うことに
する。
上記第4161656号の明細書においては、屈折率
プロフアイルを傾斜させるのに使用する屈折率変
更のための添加剤により生起する蛍光を測定して
いる。これと交互に、蛍光生起の紫外線(UV)
の添加物による吸収も測定している。第4181433
号の明細書においては、フアイバプリフオームコ
ア領域により焦点を結んだような入射光の強度分
布を測定している。
解決すべき問題 正確な結果を得るためには、これらの技術にお
いてはいずれも、フアイバプリフオームのコアに
入射する幅射光はよりコリメートされた一様な波
でなければならない。しかしながら、囲んでいる
クラツド層の強力な焦点作用ゆえに、照射光ビー
ムの平面性を保持するため、ならびにコア領域全
体を観察するために屈折率整合用流体
(indexingmatching tluid)中にフアイバプリフ
オームを浸漬する必要があると考えられていた。
斯かる浸漬なしには、クラツド層の強い焦点作用
があると、コアを横切る尖鋭に発散した光を合理
的な大きさの観察レンズで集光するのはほとんど
不可能である。
整合用流体(matching tluid)の使用に関連し
た問題は、高屈折率(すなわち1.6以上)を有す
る使用上便利な低損失流体が得難いことである。
問題は、必要な高屈折率を有する重い流体が有毒
である傾向にあり、それゆえ取扱いが困難なこと
である。最後に、必要な整合流体が得られる場合
でさえも、不便なばかりでなく、プリフオームに
引つかき傷を作る可能性が常にあり、さらに流体
で清浄されている場合にはプリフオームを損傷さ
せる可能性が常にある。
発明の要約 本願発明においては、屈折率整合用流体の必要
性がダイバージングビーム(diverging beam)
でロツド(例えばフアイバプリフオーム)を照射
することにより除かれる。
実施例の説明 図面の参照すれば、第1図は低屈折率材料の外
側クラツド層12により取り囲まれた内側コア領
域11を含む光フアイバプリフオーム10の断面
を示す図である。(プリフオームのなかには2層
以上のクラツドで作られているものもある。しか
しながら、本発明を説明するためには単一クラツ
ド形プリフオームを図示してある。)コアは一定
の屈折率を有する一様な材料で作ることができ
る。また、コアはステツプインデツクス形または
グレードインデツクス形のプリフオームを生成す
るための同一、あるいは異なつた屈折率を有する
複数の材料層を蒸着することにより製造すること
もできる。
プリフオームを形成するのに如何なるプロセス
が使用されていようとも、引抜くことができるフ
アイバはプリフオームそれ自身より品質が勝るこ
とはない。従つて、フアイバを引抜く前にプリフ
オームを検査しその内部構造を決定することが本
質的に重要である。これは上記特許明細書に記載
してあるような、種々の方法により実施できる。
典型的にはコアとクラツド層との屈折率の最大の
相違量はわずか数百分の1%にすぎなく、コアと
クラツド層との境界における屈折は非常に小さ
い。しかしながら、クラツド層の空気のようなク
ラツドを取巻く大気との間では屈折率にかなりの
相違が存在する。シリカのプリフオームに対し
て、クラツド層の屈折率は1.46である。それゆ
え、空気とクラツド層との間の境界においてかな
りの屈折がある。これは第1図に示してある。第
1図は、プリフオーム10に入射する平面波と、
クラツド層が平行光線13に与える影響を示すも
のである。図から明らかなように、入射光は空気
とクラツド層との境界で屈折し、その結果、強く
収斂したビームとしてコアに入射する。これは、
コアのプロフアイルを正確に測定する上で不適当
である。
通常、屈折率整合用流体を使用して、外側の境
界で光の屈折を避ける。第2図に示す構成におい
ては、発散性ビーム(diverging beam)を使つ
てプリフオームを照射する、プリフオーム10の
対応する部分は第1図と同一の番号を用いて第2
図にプリフオームに照射される発散光14を示し
ている。この構成においては、入射光線がコア領
域内で並行となるように、空気とクラツド層との
間の境界で発散光を屈折させる。半径Rのプリフ
オームと、屈折率とに対して、点光源15がプ
リフオームの中心から下記の距離Dの点に置かれ
ている場合には斯かる並行光が発生する。すなわ
ち、 D=n/n−1・R (1) 第3図に示すように、そのような点光源と等価
な光源は、従来、距離Sの点でプリフオームの長
手軸Z′−Z′に並行に長手軸Z−Zが整列している
円形の円筒ロツドレンズを用いて便宜的に得られ
ている。レンズ30の半径及び屈折率とプリフオ
ーム31の半径及び屈折率をR1、n1及びR2、n2
とそれぞれ表わしプリフオーム内の入射光32の
角度αは以下の式で表わされる。
α=Y1/R1R2[2S(n1−1)(n2−1)/n1n2−R1n2
1/n2 −2R2n1−1/n1] こゝで、 Y1はひとつの入射光と、軸Z−Z、Z′−Z′によ
り規定された平面との間の距離である。プレフオ
ームの内部でコリメートされるべき光線に対して
は、αは零に等しくなり、そこで S=n1R1(n2−1)+2n2R2(n1−1)/2(n1−1)
(n2−1)(3) レンズとプレフオームとが同一材料(n1=n2
n)で作られているような特殊な場合には、式(3)
は S=n(R1+2R2)/2(n−1)(4) となる。
もしレンズとプレフオームとが同一の半径を有
しR1=R2=Rであるならば、 S=3R/2(n/n−1) (5) が得られる。
不幸にして、円形レンズは良好に規定された単
一の焦点を有していないという意味では良好なレ
ンズではない。これを第4図に図示するが、第4
図は整合レンズ(matching lens)40が入射光
ビームに与える焦点効果を示すものである。図か
ら明らかなように、収斂光線(convergin rays)
は単一の点で交差せず、その代りに区間41にわ
たつて交差している。さらに、入射光を受けるこ
とができず、それゆえこの技術により観ることが
できないプレフオーム42の部分44,44′が
ある。その理由を調べるために、プレフオームに
接する光線45を考えてみる。光線は小さな入射
角でプリフオームに入ることができるが、大きな
入射角では入ることができない。それゆえ、影を
領域44,44′は照射されないでいる。さらに、
比較的大きいこれらの入射角で入射する光線は角
度α=0でプレフオームを横切らない。これらの
理由により、外側のクラツド層の半径R2に比べ
て小さなコア半径rcを有するプレフオームとフア
イバとに対して、この技術を使用するように制限
を加えることは有利である。実際の制限は rc<R2/2 (6) により与えられる。
この領域の範囲内で、プリフオーム軸の近傍で
は、ビームは良好にコリメートされ、コアはさえ
ぎられた領域44,44′から良好に取除かれる。
実施例 第5図〜第8図は、種々の相対寸法と間隙とを
有する整合レンズとプリフオームとに対して計算
した光線の軌跡を示す図である。屈折率n1及びn2
はすべての場合に等しく、1.46に等しい。
第5図の実施例において、半径R1=R2=R及
び間隙SはS/R=4.78である。この場合に対し
て、光軸O−Oの近傍で光線は、プリフオームに
おいて良好にコリメートされているとみられる。
この条件は、第6図ならびに第7図に示すよう
に、プリフオーム半径よりもレンズ半径が大きい
か、あるいは小さい場合に対しても得ることがで
きる。
対称的に、第8図はプリフオームの内部でわず
かに光線が発散する条件を導くような不満足なパ
ラメータ選択を示すものである(不満足ではある
が有用である)。
これらの幾つかの実施例は、本発明によりプリ
フオームの内部で良好にコリメートされた光ビー
ムを得るために採用することができる種々のレン
ズ寸法と間隙とを図示するものである。
本発明の原理を示すために単純なロツドレンズ
を使用したとは云え、他のレンズ構造も容易に採
用できるものと認識されよう。ロツドレンズの原
理的な利点はその単純さを容易に入手できる点で
ある。
発明の効果 不便な屈折率整合用流体の必要性が除去されて
いる。
【図面の簡単な説明】
第1図は典型的な光フアイバプリフオームの断
面と、横切る方向の光ビーム上で生成された焦点
効果とを示す図;第2図は、第1図のプリフオー
ムによる光ビームの発散により生成された効果を
示す図;第3図は説明のために描いた図であり、
円形の円筒形整合レンズとプレフオームとを光が
横切るのに伴う任意の光線の通路を示す説明図;
第4図〜第8図は、レンズとプリフオームとの
種々の実施例の構成図である。 〔主要部分の符号の説明〕、プリフオーム……
12、コア……11、発散光ビーム……14。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 光フアイバプリフオーム12または光フアイ
    バのコア11の構造を検査する方法であつて、 照射光線が該コア領域で実質的に平行になるよ
    うにしてプリフオームまたはフアイバをある長さ
    にわたつて横方向から照射する工程を含み、 該照射光線はプリフオームまたはフアイバに入
    射する際は発散しており、プリフオームまたはフ
    アイバの表面における屈折により実質的に平行に
    されることを特徴とするコア構造検査法。 2 特許請求の範囲第1項記載の方法において、 発散する光ビームが棒形レンズにより発生され
    ることを特徴とするコア構造検査法。
JP58051782A 1982-03-29 1983-03-29 コア構造検査法 Granted JPS58178239A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US362961 1982-03-29
US06/362,961 US4492463A (en) 1982-03-29 1982-03-29 Method for inspecting multilayer transparent rods

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Publication Number Publication Date
JPS58178239A JPS58178239A (ja) 1983-10-19
JPH0242422B2 true JPH0242422B2 (ja) 1990-09-21

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JP58051782A Granted JPS58178239A (ja) 1982-03-29 1983-03-29 コア構造検査法

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JP (1) JPS58178239A (ja)
CA (1) CA1206350A (ja)
DE (1) DE3311472A1 (ja)
FR (1) FR2524146B1 (ja)
GB (1) GB2117512B (ja)
IT (1) IT1173657B (ja)
NL (1) NL189154C (ja)

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