JPH0239452U - - Google Patents
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- JPH0239452U JPH0239452U JP11791988U JP11791988U JPH0239452U JP H0239452 U JPH0239452 U JP H0239452U JP 11791988 U JP11791988 U JP 11791988U JP 11791988 U JP11791988 U JP 11791988U JP H0239452 U JPH0239452 U JP H0239452U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample chamber
- electron microscope
- mirror
- lamp
- heating lamp
- Prior art date
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- Pending
Links
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- 239000005357 flat glass Substances 0.000 claims description 3
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims 1
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Description
第１図は本考案の一実施例の電子顕微鏡試料室
の横断面図、第２図は同実施例の縦断面図である
。 １…鏡筒、２…試料室、３…対物レンズ、４…
励磁コイル、５…スペーサ、６…案内部材、７…
試料ホルダ、８…挿入孔、９…覗き孔、１０…試
料、１１…加熱ランプ、１２…反射板、１３…電
子線、１４…ミラー、１５…窓ガラス。
の横断面図、第２図は同実施例の縦断面図である
。 １…鏡筒、２…試料室、３…対物レンズ、４…
励磁コイル、５…スペーサ、６…案内部材、７…
試料ホルダ、８…挿入孔、９…覗き孔、１０…試
料、１１…加熱ランプ、１２…反射板、１３…電
子線、１４…ミラー、１５…窓ガラス。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 １ 電子顕微鏡の試料室内に加熱ランプを設け、
当ランプで試料室内部の加熱を行う電子顕微鏡に
おいて、試料室に試料室内部を覗く窓ガラスを設
け加熱ランプの電圧、電流を可変できるように構
成して加熱ランプの光度を調整する事により照明
ランプとして兼用し、窓ガラスから試料室内部を
観察できるようにした事を特徴とする電子顕微鏡
。 ２ 試料室内部にミラーを設置した事を特徴とす
る請求の範囲第１項に記載された電子顕微鏡。 ３ ミラーは金属からなり表面を鏡面仕上とした
事を特徴とする請求の範囲第１項に記載された電
子顕微鏡。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11791988U JPH0239452U (ja) | 1988-09-09 | 1988-09-09 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11791988U JPH0239452U (ja) | 1988-09-09 | 1988-09-09 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0239452U true JPH0239452U (ja) | 1990-03-16 |
Family
ID=31361805
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11791988U Pending JPH0239452U (ja) | 1988-09-09 | 1988-09-09 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0239452U (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010103072A (ja) * | 2008-10-21 | 2010-05-06 | Hironari Miyazaki | 電子顕微鏡試料室用ベーキング機構 |
-
1988
- 1988-09-09 JP JP11791988U patent/JPH0239452U/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010103072A (ja) * | 2008-10-21 | 2010-05-06 | Hironari Miyazaki | 電子顕微鏡試料室用ベーキング機構 |
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