JPH0239035A

JPH0239035A - Ｘ線診断装置

Info

Publication number: JPH0239035A
Application number: JP1149300A
Authority: JP
Inventors: Herbert Kuhn; ヘルベルト、クーン
Original assignee: Siemens AG
Current assignee: Siemens AG
Priority date: 1988-06-16
Filing date: 1989-06-12
Publication date: 1990-02-08
Also published as: EP0346722B1; EP0346722A1; DE3820582A1; DE58900276D1; US4950907A

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】〔産業上の利用分野〕本発明は、担持体によって分離された２つのメモリ層を
有しその都度のＸ線像を潜在的に記憶するためのメモリ
螢光板と、Ｘ線像を作成するためのＸ線盪影装置と、像
再生のために点状光源により面状走査を行うことによっ
てメモリ螢光板を発光のために像点毎に励起する２つの
メモリ要用の読取装置と、メモリ螢光板から放出された
光を検出するための検出器装置と、像再生装置とを備え
たＸ線診断装置に関する。

〔従来の技術〕

特開昭６２−４５２６９号公報には、光刺激可能なメモ
リ発光材料から成るメモリ螢光板が感光変換器としてＸ
線を照射され、それによりメモリ螢光機内に正孔が作ら
れて、この正孔が電位降下部（トラップ）内に蓄積され
るようにしたこの種のＸ線診断装置が記載されている。

読取装置においてはこのメモリ螢光板の全面が補助光源
、例えばレーザによって像点毎に走査され、それにより
、トラップに蓄積された電子が励起されて再結合部へ戻
され、その際エネルギー差が光量子の形態で放射される
。これによって、このようにして記憶されたＸ線像をメ
モリ螢光板から読取ることが可能になる。

メモリ螢光板は光を透過させない層によって分離された
２つの発光材料層を存しており、これらの発光材料層は
面状走査を行うために例えばミラーによって垂直方向へ
偏向され、その際ビームスプリッタ−によって光線が分
割され、それにより同時に再発光材料層が走査される。

偏向によって、メモリ螢光板上に位置する全像点は連続
して走査される０列状走査線に対して垂直にメモリ螢光
板を運動させることによって、全ての面が走査される。

メモリ発光材料層から放出された光は２つの光学的捕集
器によって検出され、２つの検出器の感光入射面に結像
される０両検出器の出力信号はモニターにＸ線像を再生
するために例えばテレビジョン系に供給され、その際雨
検出器の出力信号は纏められて合成される。

しかしながら、レーザ光線を２つに分割する代わりに、
再発光材料層の独立走査を行う２つの光源を使用するこ
ともできる０両走査ビームを偏向する際に同期が取られ
、それにより両メモリ発光材料に属する像点は同時に読
取られる。しかしながら、同期は検出器の後に接続され
た処理装置において電子的方法により行うこともできる
。

メモリ螢光板として２つのメモリ層を使用することによ
り、確かに発光材料層の厚さの増加に応じてより多くの
Ｘ線を吸収するようになるので効率が改善されるが、し
かしながら像は不鮮明になり、それゆえ微細な部分はも
はや充分良好に表示され得ない１両発光材料層を使用し
かつこの再発光材料層に対して別々の読取りを行うこと
により効率が大きくなり、像はさらに充分に鮮明になる
。

しかしながら、２つの走査装置を設けることは費用が嵩
むという欠点がある。

ドイツ連邦共和国特許第２９５１５０１号明細書には、
１つの発光材料層を備えたメモリ螢光板が１つの走査ビ
ームによって走査され、一方そのメモリ螢光板の両側に
はそれぞれ検出器が配置され、これらの検出器が上方へ
放出された光と下方へ放出された光とを受信するように
したＸ線診断装置が記載されている。これによって受光
量が高まり、明・暗コントラストが改善される。

〔発明が解決しようとする課題〕

しかしながら、この公知のＸ線診断装置においては、発
光材料層は従来と全く同じ厚さであるのでＸ線の吸収量
は同じであるか、または、発光材料層をより厚くした場
合には鮮明度、従って像の品質が低下する。

そこで本発明は、両メモリ層の走査を簡単かつ像点精度
良く行うことができるような冒頭で述べた種類のＸ線診
断装置を提供することを課題とする。

〔課題を解決するための手段〕

このような課題を解決するために、本発明は、担持体は
走査用光源の光は透過させるが、メモリ螢光板から放出
された光は透過させず、走査用光源はメモリ螢光板を一
方の側からのみ走査することを特徴とする。

〔作用および発明の効果〕

このような本発明によれば、走査ビームを分割すること
、及びこの分割された走査ビームを相応して案内するこ
と、並びに２つの独立したレーザ光線の偏向を同期させ
ることを行わなくてもよい。

しかも、メモリ層の放出光は他方のメモリ層に影響せず
、それゆえ各検出器にはこの検出器の所属するメモリ層
の光しか供給されないので、解像度が高まる。

本発明は、面状受光器の場合に像の品質は主としてＳ／
Ｎ比（信号−雑音比）によって規定されるという認識に
基づいている。高感度装置の場合には特に量子雑音によ
って構成されるこのような雑音は、吸収されるＸ線量子
の個数が増加すると、即ち有効層厚が増大すると低減す
る。さらに、その場合にはかかる装置の感度が増大し、
それゆえ患者線量を少なくすることができる。走査の際
には独立して作用する２つの層に発光材料層を分割する
ことにより、像の鮮明度が維持される。１つの走査ビー
ムによって両メモリ層を同時に走査することにより、両
走査の同期化が簡単に得られ、それゆえ読取られた両（
８号値は確実に像点毎に調和が図られる。

検出器装置がそれぞれ１つのメモリ層に所属する２つの
検出器を有するようにすると、Ｓ／Ｎ比が改善される。

これによって、両メモリ層を同時に読取ることができる
ようになる。Ｘ線と光源の走査ビームとに面する第１の
メモリ層がＸ線と光源の走査ビームとは反対側に位置す
る第２のメモリ層よりも薄く形成されると、種々異なっ
た解像度を有する撮影を行うことができる。

〔実施例〕

次に、本発明の実施例を図面に基づいて詳細に説明する
。

第１図は本発明によるメモリ螢光板を備えたＸ線診断装
置の逼影部を示す概略図、第２図は本発明によるＸ線診
断装置の再生部を示す概略図である。

第１図にはＸ線管２に給電する高電圧発生器ｌが示され
ており、Ｘ線管２は患者３を透過するＸ線を放射する。

患者３を透過することによりそのその透明度に応じて減
衰されたＸ線はルミネッセンス・メモリ螢光板４に入射
する。この入射Ｘ線像はメモリ螢光板４内に既に述べた
ように正孔を作り、この正孔がメモリ発光材料の電位ト
ラップに蓄積される。それによりメモリ螢光板４内には
潜像が記憶される。

本発明によれば、このメモリ螢光板４は担持体６によっ
て第２のメモリ層７から分離されている第１のメモリ層
５によって構成されている。Ｘ線管２側に位置する第１
のメモリＩＩＪ５は第２のメモリ層７よりも薄く形成さ
れている。担持体６はＸ線の透過に影響しないかまたは
影響しても無視し得る程度である。

記憶された潜像を再生するために、第２図に示したよう
に、メモリ螢光板４は光源、例えばレーザ８によって励
起される。レーザ８には偏向装置９が直列接続され、こ
の偏向装置９によって走査ビーム１０がメモリ螢光板４
上に列状に偏向される。偏向装置９は例えば垂直偏向を
行うための垂直偏向ミラーによって構成することができ
る。水平偏向を行うためにはメモリ螢光板４を矢印１８
に沿って移動させればよい。

走査ビーム１０は第１のメモリ層５内のメモリ発光材料
を像点毎に励起して担持体６を透過し、それゆえ例えば
厚く形成された第２のメモリ層７のメモリ発光材料にお
いても同一像点の励起が行われる。担持体６はその場合
には走査ビーム１０の波長の光を透過させる。メモリ層
５．７内に含まれるメモリ発光材料はその照射に応じて
異なった波長の光を放出するが、担持体６はこの波長の
光を透過させない、これによって、第１のメモリＮ５か
ら放出された光は第１の光導体１１によってのみ検出さ
れ、第１の検出器１３に導かれる。

第２のメモリ層７から放出された光は第２の光導体１２
によって検出され、第２の検出器１４に供給される。

これらの検出器１３．１４は走査された像の明るさを検
出し、これを電気信号に変換して再生回路１５に供給す
る。再生回路１５は検出器１３．１４の個別アナログ信
号を受取って合成し、このアナログ信号をモニター１６
に表示するための共通ビデオ信号に変換する。制御装置
１７は再生の際に偏向装置ｔ９と、再生回路１５と、モ
ニター１６とを同期させる。再生回路１５は公知のよう
に加算回路と、像メモリと、処理回路と、変換器とを有
している。

メモリ螢光板４は例えば、レーザ光が６３３０ｍの波長
を有するＨ　ｅ　−Ｎ　ｅレーザによって走査すること
ができる０例えば９ａＦＢｒ形のメモリ発光材料を使用
すると、放出光の最大波長は約４００ｎｍになる。担持
体６の層内に例えばコダック・ラッテｙ（Ｋｏｄａｋ　
　Ｗｒａｔｔｅｎ）のＮｏ、８の光学フィルタを使用す
ると、レーザ光は透過し、一方、放出光は阻止される。

同一の走査ビーム１０により両メモリ層５．７を同時に
刺激することによって、各メモリ層５．７の読取信号値
に対して画素の精度上の調和が自動的に図られる。再生
回路１５に与えられた信号値を加算することによって、
信号が単一メモリ層の場合の信号の２倍の大きさとなる
合成像が得られる。一方、擾乱ノイズは４倍にしかなら
ない、即ち、働者の線量が同一の場合には、合成像によ
れば像の品質が改善される。

この種のメモリ螢光板４においては、図示したように、
両メモリ層５．７は異なった厚さを有することができる
。第１のメモリ層５でのＸｖＡ吸収を考慮して、後側の
第２のメモリ層７を前側の第１のメモリ層５よりも厚く
形成することは有意義である。

しかしながら、この種のメモリ螢光板４は、１つのメモ
リ層しか読取ることのできない、即ち１つの検出器しか
育していない走査器においても使用することができる。

かかるメモリ螢光板４のメモリ層５．７が大きく異なっ
た厚さを有する場合には、薄い第１のメモリ層の像分解
能は厚い第２のメモリ層の像分解能よりも良い０両メモ
リ層５．７のどちらが走査器で読取られるかに応じて、
この種のメモリ螢光板４は精密画像シートとしてもまた
高感度シートとしても使用することができる。

このためには勿論Ｘ線撮影の際にメモリ螢光板は読取り
に供されるべきメモリ層が前側層となるようにカセツテ
内に設置される。これによって、Ｘ線科では目的に応じ
て、精密画像シートとして、高感度シートとして、また
は２層シートとして読取られる標準のメモリ螢光板を使
用することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明によるメモリ螢光板を備えたＸ線診断装
置の盪影部を示す概略図、第２図は本発明によるＸ線診
断装置の再生部を示す概略図である。１・・・高電圧発生器２・・・Ｘ線管３・・・患者４・・・メモリ螢光板５・・・第１のメモリ層６・・・担持体７・・・第２のメモリ層８・・・レーザ９・・・偏向装置１０・・・走査ビーム１１．１２・・・光導体１３．１４・・・検出器１５・・・再生回路１６・・・モニター１７・・・制御装置ＩＧ　２

Claims

【特許請求の範囲】１）担持体（６）によって分離された２つのメモリ層（
５、７）を有しその都度のＸ線像を潜在的に記憶するた
めのメモリ螢光板（４）と、前記Ｘ線像を作成するため
のＸ線撮影装置（１、２）と、像再生のために点状光源
（８）により面状走査を行うことによって前記メモリ螢
光板（４）を発光のために像点毎に励起する２つのメモ
リ層（５、７）用の読取装置（８〜１７）と、前記メモ
リ螢光板（４）から放出された光を検出するための検出
器装置（１３、１４）と、像再生装置（１６）とを備え
たＸ線診断装置において、前記担持体（６）は前記光源
（８）の光は透過させるが、前記メモリ螢光板（４）か
ら放出された光は透過させず、前記光源（８）は前記メ
モリ螢光板（４）を一方の側からのみ走査することを特
徴とするＸ線診断装置。２）検出器装置（１３、１４）はそれぞれ１つのメモリ
層（５、７）に所属する２つの検出器（１３、１４）を
有することを特徴とする請求項１記載のＸ線診断装置。３）Ｘ線と光源（８）の走査ビーム（１０）とに面する
第１のメモリ層（５）は前記Ｘ線と光源（８）の走査ビ
ームとは反対側に位置する第２のメモリ層（７）よりも
薄く形成されていることを特徴とする請求項１または２
記載のＸ線診断装置。