JPH0237310U - - Google Patents

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JPH0237310U
JPH0237310U JP11614988U JP11614988U JPH0237310U JP H0237310 U JPH0237310 U JP H0237310U JP 11614988 U JP11614988 U JP 11614988U JP 11614988 U JP11614988 U JP 11614988U JP H0237310 U JPH0237310 U JP H0237310U
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JP
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light
optical fiber
doppler shift
interference
signal
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JP11614988U
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Description

【図面の簡単な説明】
第１図は第１の考案に係わる光フアイバ干渉計
のセンサ部の実施例で、Ａは平面図、Ｂは正面図
、Ｃは右側面図、第２図はコーナーキユーブプリ
ズム内での信号光の光路を示す図、第３図は第２
の考案に係わる光フアイバ干渉計の実施例を示す
ブロツク図、第４図は第３の考案に係わるセンサ
部の実施例を示す図、第５図は従来の光フアイバ
干渉計を示すブロツク図である。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 周波数差ｆを有する第１および第２の光を
    導く第１、第２の光フアイバと、前記第１の光フ
    アイバからの出射光をドツプラーシフトを受ける
    第１信号とドツプラーシフトを受けない第１参照
    光に分け、前記第２の光フアイバからの出射光を
    ドツプラーシフトを受ける第２信号光とドツプラ
    ーシフトを受けない第２参照光に分け、前記第１
    信号光と第２参照光を干渉させ第１干渉光を得、
    前記第２信号光と第１参照光を干渉させ第２干渉
    光を得るセンサ部と、前記第１干渉光を導く第３
    光フアイバと、前記第２干渉光を導く第４光フア
    イバと、前記第１、第２干渉光を検出する第１、
    第２光電変換器とから成り、前記センサ部は第１
    、第２光ビームスプリツタを有し、その第１光ビ
    ームスプリツタと結合して前記第１、第２の光フ
    アイバが上下に配され、前記第２光ビームスプリ
    ツタと結合して前記第３、第４の光フアイバが上
    下に配されてなる光フアイバ干渉計。 (2) 周波数差ｆを有する第１および第２の光を
    導く第１、第２の光フアイバと、前記第１の光フ
    アイバからの出射光をドツプラーシフトを受けて
    第２の光フアイバに入射する第１信号光と、ドツ
    プラーシフトを受けずに再び第１の光フアイバに
    戻る第１参照光に分け、前記第２の光フアイバか
    らの出射光をドツプラーシフトを受けて第１の光
    フアイバに入射する第２信号光と、ドツプラーシ
    フトを受けずに再び第２の光フアイバに戻る第２
    参照光に分け、前記第１信号光と第２参照光を干
    渉させて第１干渉光を得、前記第２信号光と第１
    参照光を干渉させて第２干渉光を得るセンサ部と
    、前記第１、第２干渉光を検出する第１、第２光
    電変換器とから成る光フアイバ干渉計。 (3) 周波数差ｆを有する第１および第２の光を
    導く第１、第２の光フアイバと、前記第１の光フ
    アイバからの出射光をドツプラーシフトを受けず
    第２の光フアイバに入射する第１参照光と、ドツ
    プラーシフトを受けて再び第１の光フアイバに入
    射する第１信号光に分け、前記第２の光フアイバ
    からの出射光をドツプラーシフトを受けずに第１
    の光フアイバに入射する第２参照光と、ドツプラ
    ーシフトを受け再び第２の光フアイバに入射する
    第２信号光に分け、前記第１信号光と第２参照光
    を干渉させて第１干渉光を得、前記第２信号光と
    第１参照光を干渉させて第２干渉光を得るセンサ
    部と、前記第１、第２干渉光を検出する第１、第
    ２光電変換器とから成る光フアイバ干渉計。
JP11614988U 1988-09-02 1988-09-02 Pending JPH0237310U (ja)

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JPH0237310U true JPH0237310U (ja) 1990-03-12

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ID=31358422

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JP11614988U Pending JPH0237310U (ja) 1988-09-02 1988-09-02

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JP (1) JPH0237310U (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015528575A (ja) * 2012-09-19 2015-09-28 ハルビン インスティテュート オブ テクノロジーＨａｒｂｉｎ Ｉｎｓｔｉｔｕｔｅ Ｏｆ Ｔｅｃｈｎｏｌｏｇｙ 高速且つ高解像度のヘテロダイン干渉測定方法及びシステム

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015528575A (ja) * 2012-09-19 2015-09-28 ハルビン インスティテュート オブ テクノロジーＨａｒｂｉｎ Ｉｎｓｔｉｔｕｔｅ Ｏｆ Ｔｅｃｈｎｏｌｏｇｙ 高速且つ高解像度のヘテロダイン干渉測定方法及びシステム

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