JPH0233372U - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0233372U JPH0233372U JP11175988U JP11175988U JPH0233372U JP H0233372 U JPH0233372 U JP H0233372U JP 11175988 U JP11175988 U JP 11175988U JP 11175988 U JP11175988 U JP 11175988U JP H0233372 U JPH0233372 U JP H0233372U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- test device
- load test
- inductance load
- circuit
- sample
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 239000013256 coordination polymer Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Description
第１図ａ，ｂは本考案の一実施例を示す測定回
路構成図、第２図ａ，ｂは従来の測定回路構成図
、第３図、第４図は試料に流れる電流、電圧の波
形図である。 １……Ｖｃ電源、２……インダクタンス（Ｌ）
、３……クランプ回路、４……試料、５……ＩＢ
電源、６……電流検出抵抗、７……電流検出回路
、８……ＩＣＰ設定回路、９……比較回路、１０
……ＩＢ制御回路、１１……ピークホールド回路
、１２，１３……演算回路、１４……−１０％Ｉ
ＣＰ設定回路、１５……切換スイツチ。
路構成図、第２図ａ，ｂは従来の測定回路構成図
、第３図、第４図は試料に流れる電流、電圧の波
形図である。 １……Ｖｃ電源、２……インダクタンス（Ｌ）
、３……クランプ回路、４……試料、５……ＩＢ
電源、６……電流検出抵抗、７……電流検出回路
、８……ＩＣＰ設定回路、９……比較回路、１０
……ＩＢ制御回路、１１……ピークホールド回路
、１２，１３……演算回路、１４……−１０％Ｉ
ＣＰ設定回路、１５……切換スイツチ。
Claims (1)
- トランジスタの逆バイアス安全動作領域を測定
するインダクタンス負荷試験装置において、測定
する試料のターンオフ特性の遅れによる電流の増
加分を補正する補正回路を設けたことを特徴とす
るインダクタンス負荷試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11175988U JPH0233372U (ja) | 1988-08-25 | 1988-08-25 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11175988U JPH0233372U (ja) | 1988-08-25 | 1988-08-25 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0233372U true JPH0233372U (ja) | 1990-03-02 |
Family
ID=31350093
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11175988U Pending JPH0233372U (ja) | 1988-08-25 | 1988-08-25 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0233372U (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US9057756B2 (en) | 2010-12-15 | 2015-06-16 | Advantest Corporation | Test apparatus |
-
1988
- 1988-08-25 JP JP11175988U patent/JPH0233372U/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US9057756B2 (en) | 2010-12-15 | 2015-06-16 | Advantest Corporation | Test apparatus |