JPH023173A - 半導体回路 - Google Patents
半導体回路Info
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- JPH023173A JPH023173A JP63102548A JP10254888A JPH023173A JP H023173 A JPH023173 A JP H023173A JP 63102548 A JP63102548 A JP 63102548A JP 10254888 A JP10254888 A JP 10254888A JP H023173 A JPH023173 A JP H023173A
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
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- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 3
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 2
- 230000008054 signal transmission Effects 0.000 description 2
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- Logic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、論理及びメモリLSI(高集積回路)の半導
体回路に係り、特に配線長が大きくそれに伴う浮遊容量
の大きな信号線の高速駆動に好適な半導体回路に関する
。
体回路に係り、特に配線長が大きくそれに伴う浮遊容量
の大きな信号線の高速駆動に好適な半導体回路に関する
。
従来の論理及びメモリLSIで、信号の伝達に広く用い
られている回路に第3図に示す電流切換回路C8Cとエ
ミッタホロアを組合せた回路がある。この回路は、浮遊
容量Cwの大きい信号線をエミッタホロアQ8G、 Q
31で駆動する回路であり。
られている回路に第3図に示す電流切換回路C8Cとエ
ミッタホロアを組合せた回路がある。この回路は、浮遊
容量Cwの大きい信号線をエミッタホロアQ8G、 Q
31で駆動する回路であり。
信号の立ち上り時には、エミッタホロアでCwを高速に
充電し、立ち下り時には、常時流し続ける電流(エミッ
タホロア電流)工δo、 Islで高速に放電すること
に特徴がある。
充電し、立ち下り時には、常時流し続ける電流(エミッ
タホロア電流)工δo、 Islで高速に放電すること
に特徴がある。
しかし上記従来技術では、浮遊容量の大きな信号線を比
較的大きな電圧振幅(論理信号振幅)で駆動するため、
特に立ち下り時の遅延時間の高速化が難かしく、論理及
びメモリLSIの高速化を図るうえでの課題となってい
る。
較的大きな電圧振幅(論理信号振幅)で駆動するため、
特に立ち下り時の遅延時間の高速化が難かしく、論理及
びメモリLSIの高速化を図るうえでの課題となってい
る。
本発明の目的は、信号線長が大きくなり浮遊容量が増加
しても、遅延時間の増加が小さくて済む半導体回路を提
供することにある。
しても、遅延時間の増加が小さくて済む半導体回路を提
供することにある。
尚、この種の回路に関連するものに、例えば、特許公報
昭60−34249号に記載のような半導体回路がある
。
昭60−34249号に記載のような半導体回路がある
。
上記目的は、浮遊容量の大きい信号線の論理信号振幅を
極力小さくすることにより、充放電に要する遅延時間の
増大を軽減し高速化を図ることにより達成される。
極力小さくすることにより、充放電に要する遅延時間の
増大を軽減し高速化を図ることにより達成される。
すなわち、浮遊容量の大きい信号線にエミッタを接続し
たベース接地動作をするトランジスタを設け、このトラ
ンジスタのコレクタから信号を取り出すことにより、上
記信号線の論理信号振幅は小さくても、上記トランジス
タのコレクタ部で得られる論理信号振幅を次段の論理回
路へ伝達することができる。これにより信号伝達時の動
作余裕度を減することなく高速化が可能である。
たベース接地動作をするトランジスタを設け、このトラ
ンジスタのコレクタから信号を取り出すことにより、上
記信号線の論理信号振幅は小さくても、上記トランジス
タのコレクタ部で得られる論理信号振幅を次段の論理回
路へ伝達することができる。これにより信号伝達時の動
作余裕度を減することなく高速化が可能である。
以下、本発明の一実施例を第2図により説明する。この
回路は、トランジスタQ 1 o t Q 11及び電
流源1taで構成された電流切換回路と、ベース接地ト
ランジスタQzo、 Qxzを主に構成された検出回路
SAと、エミッタホロアを主に構成された出力回路OB
とからなっている。
回路は、トランジスタQ 1 o t Q 11及び電
流源1taで構成された電流切換回路と、ベース接地ト
ランジスタQzo、 Qxzを主に構成された検出回路
SAと、エミッタホロアを主に構成された出力回路OB
とからなっている。
電流切換回路では、入力信号DINと参照電圧Vass
とが比較され、トランジスタQIO及びQttのうち、
ベースが高電位に駆動されたトランジスタから駆動電流
110が流れる。この電流は、検出回路SAのトランジ
スタQxoを介して負荷抵抗Rxoに論理信号振幅を生
ずる。すなわち負荷抵抗Rhoには駆動電流ILOとバ
イアス電流Izoが流れ。
とが比較され、トランジスタQIO及びQttのうち、
ベースが高電位に駆動されたトランジスタから駆動電流
110が流れる。この電流は、検出回路SAのトランジ
スタQxoを介して負荷抵抗Rxoに論理信号振幅を生
ずる。すなわち負荷抵抗Rhoには駆動電流ILOとバ
イアス電流Izoが流れ。
負荷抵抗Rztにはバイアス電流Laxのみが流れそれ
ぞれの値に対応した信号振幅が負荷抵抗に生ずる。この
信号を出力回路OBのエミッタホロアで出力信号Dou
r及びD OUTとして取り出すことにより、次段の回
路へ信号を伝達することが可能となる。この時検出回路
SA及び出力回路OBを次段の回路に接近させてレイア
ウトすることにより。
ぞれの値に対応した信号振幅が負荷抵抗に生ずる。この
信号を出力回路OBのエミッタホロアで出力信号Dou
r及びD OUTとして取り出すことにより、次段の回
路へ信号を伝達することが可能となる。この時検出回路
SA及び出力回路OBを次段の回路に接近させてレイア
ウトすることにより。
エミッタホロア出力部の浮遊容量を小さくすることがで
きるので、エミッタホロア電流I30及びI31は比較
的小さな電流で充分高速化が可能である。またベース接
地トランジスタの作用により、信号線5Gxo及び5G
IIの電位変化は、電流変化分に相当するベース・エミ
ッタ順方向電圧VBHの変化分のみであり数10mV程
度となる。このため浮遊容JiCwの充放電が小さくな
り高速化できる。以上は論理信号を次段に伝達する半導
体回路に本発明を適用した場合について述べた。
きるので、エミッタホロア電流I30及びI31は比較
的小さな電流で充分高速化が可能である。またベース接
地トランジスタの作用により、信号線5Gxo及び5G
IIの電位変化は、電流変化分に相当するベース・エミ
ッタ順方向電圧VBHの変化分のみであり数10mV程
度となる。このため浮遊容JiCwの充放電が小さくな
り高速化できる。以上は論理信号を次段に伝達する半導
体回路に本発明を適用した場合について述べた。
次に本実施例のラッチ回路化について述べる。
この回路をラッチするためには、出力信号D OUT
tl)ouTをトランジスタQIOI Qttで構成す
る電流切換回路に、再び配線長の大きい信号線を介して
戻す必要がある。この繁雑さを回避する為の本発明のも
う1つの実施例を第1図に示す。
tl)ouTをトランジスタQIOI Qttで構成す
る電流切換回路に、再び配線長の大きい信号線を介して
戻す必要がある。この繁雑さを回避する為の本発明のも
う1つの実施例を第1図に示す。
検出回路SA及び出力回路OBの構成及びその動作は第
2図と同様であるが、電流切換回路C8の構成が次の様
に第2図と異なっている。
2図と同様であるが、電流切換回路C8の構成が次の様
に第2図と異なっている。
ラッチ用の同期信号(以下クロック信号と呼ぶ)は、第
2の参照電圧VBB+と比較され、クロック信号CLK
が高電位時、駆動電流11GはトランジスタQ14を流
れる。従って入力信号I)rsが有効となり、出力信号
DOυ丁及びD OUTは、入力信号orsにより決ま
るとともに、入力信号の変化に対応して変化する。この
状態を一般にラッチ・スルー状態と呼ぶ、一方クロック
信号CLKが低電位に変化すると、駆動電流Iloはト
ランジスタQ13から流れる様になる。この時電流切換
回路を構成するトランジスタQlxとQlsのいづれが
導通するかは、入力信号DINの状態によって決る6す
なわち[)rNが高電位時には、駆動電流Itoは抵抗
Rt。
2の参照電圧VBB+と比較され、クロック信号CLK
が高電位時、駆動電流11GはトランジスタQ14を流
れる。従って入力信号I)rsが有効となり、出力信号
DOυ丁及びD OUTは、入力信号orsにより決ま
るとともに、入力信号の変化に対応して変化する。この
状態を一般にラッチ・スルー状態と呼ぶ、一方クロック
信号CLKが低電位に変化すると、駆動電流Iloはト
ランジスタQ13から流れる様になる。この時電流切換
回路を構成するトランジスタQlxとQlsのいづれが
導通するかは、入力信号DINの状態によって決る6す
なわち[)rNが高電位時には、駆動電流Itoは抵抗
Rt。
より流れていたため、トランジスタQL2のベース電位
は、トランジスタQzsのベース電位より低くなってい
る。このためトランジスタQ16に切換った駆動電流1
10は、トランジスタQssから流れる。
は、トランジスタQzsのベース電位より低くなってい
る。このためトランジスタQ16に切換った駆動電流1
10は、トランジスタQssから流れる。
トランジスタQ1gのコレクタは、抵抗RIOに接続さ
れているため、駆動電流は、トランジスタQ14からQ
18へと切り換っても、トランジスタQ1sを介して再
び抵抗RIOから流れる。その後入力信号DINが変化
しても、駆動電流はすでにトランジスタQ1Bから流れ
ているため、出力信号の状態は保持されるにの状態をラ
ッチ状態と呼ぶ。
れているため、駆動電流は、トランジスタQ14からQ
18へと切り換っても、トランジスタQ1sを介して再
び抵抗RIOから流れる。その後入力信号DINが変化
しても、駆動電流はすでにトランジスタQ1Bから流れ
ているため、出力信号の状態は保持されるにの状態をラ
ッチ状態と呼ぶ。
この時、ベース接地トランジスタQxo及びQ21の作
用により、信号線5Glo及び5Gtzの電位変化は小
さくて済むため、第2回と同様の高速化が期待できる。
用により、信号線5Glo及び5Gtzの電位変化は小
さくて済むため、第2回と同様の高速化が期待できる。
この回路で抵抗RIGとトランジスタQxxのベース及
び抵抗R11とトランジスタQ1δのベース間は直接結
線しても、動作可能であるが、出力回路OBと同様のレ
ベルシフト回路LSを挿入しても良い。
び抵抗R11とトランジスタQ1δのベース間は直接結
線しても、動作可能であるが、出力回路OBと同様のレ
ベルシフト回路LSを挿入しても良い。
ここに抵抗R1o及びRxzは、浮遊容量の小さい抵抗
であることが好ましく、例えば、ポリシリコン抵抗ある
いはn形拡散抵抗が好適である。
であることが好ましく、例えば、ポリシリコン抵抗ある
いはn形拡散抵抗が好適である。
次にもう1つのラッチ回路に本発明を適用した例を第4
図に示す、検出回路SA及び出力回路OBの構成及びそ
の動作は、第2図の実施例と同様であるが、電流切換回
路O8の構成が次の様に第2図と異なっている。この回
路は、トランジスタQzt及びQ 41のベース電位を
高、中間及び低電位の3値に駆動することに特徴があり
、その詳細は、特開昭61−29213号に開示されて
いる。入力信号DrNは駆動電流I40を切換えるトラ
ンジスタQ40とQ 4 tで構成される電流切換回路
へも供給される。
図に示す、検出回路SA及び出力回路OBの構成及びそ
の動作は、第2図の実施例と同様であるが、電流切換回
路O8の構成が次の様に第2図と異なっている。この回
路は、トランジスタQzt及びQ 41のベース電位を
高、中間及び低電位の3値に駆動することに特徴があり
、その詳細は、特開昭61−29213号に開示されて
いる。入力信号DrNは駆動電流I40を切換えるトラ
ンジスタQ40とQ 4 tで構成される電流切換回路
へも供給される。
この電流切換回路の出力は、トランジスタQ47゜Q4
δ及びダイオードD40. D41を介して、クロック
信号CLKを入力とし、トランジス50口〜Q 411
で構成される電流切換回路へと供給される。
δ及びダイオードD40. D41を介して、クロック
信号CLKを入力とし、トランジス50口〜Q 411
で構成される電流切換回路へと供給される。
この回路でCLKが低電位時には、トランジスタQ4B
を介して、トランジスタQ11及びQ41のベースには
、参照電圧VBBとして中間電位が供給される。この中
間電位は入力信号DI11の高電位と低電位の中間に設
定されるため、出力信号DOυ丁及びD outはDr
Nに依存する。(ラッチスルー状態)今DINが高電位
を保ったまま、クロック信号CLKが高電位に変化した
時、VaBは高電位に変化する。この高電位を入力信号
DXNの高電位より更に高く設定することにより、その
後Dxsが低電位に変化しても出力信号D 00丁及び
DOυ丁は保持される(ラッチ状態)、−カス力信号D
rNが低電位時に、クロック信号CLKが高電位に変化
した時、参照電圧VaaはDINの低電位より更に低い
低電位に駆動されるため、その後、D■sが変化しても
出力信号が保持される。この例でも信号線5GIO及び
5Gttの電位変化を小さく抑えることができるため、
高速化が可能である。
を介して、トランジスタQ11及びQ41のベースには
、参照電圧VBBとして中間電位が供給される。この中
間電位は入力信号DI11の高電位と低電位の中間に設
定されるため、出力信号DOυ丁及びD outはDr
Nに依存する。(ラッチスルー状態)今DINが高電位
を保ったまま、クロック信号CLKが高電位に変化した
時、VaBは高電位に変化する。この高電位を入力信号
DXNの高電位より更に高く設定することにより、その
後Dxsが低電位に変化しても出力信号D 00丁及び
DOυ丁は保持される(ラッチ状態)、−カス力信号D
rNが低電位時に、クロック信号CLKが高電位に変化
した時、参照電圧VaaはDINの低電位より更に低い
低電位に駆動されるため、その後、D■sが変化しても
出力信号が保持される。この例でも信号線5GIO及び
5Gttの電位変化を小さく抑えることができるため、
高速化が可能である。
以上の実施例では、ベース接地トランジスタのベースは
共通に接続され、一定の電圧が印加される例について述
べてきた。しかし雑音耐性を考えると次の点から両トラ
ンジスタのベースを分離し、別々の電源回路で駆動する
のが好ましい。すなわち信号線5Gzoの電位変化が、
トランジスタQ20のベース・エミッタ間容量を介して
バイアス電圧VB20に電位変化(ノイズ電圧)を生ず
る。このノイズ電圧によりVBEが変化するためそれに
応じトランジスタQztのエミッタ電流が変化し、本来
一定である1)ot+tにノイズ電圧を生ずる。一方上
記実施例では両ベースが同一電位で駆動されているため
、駆動電流が流れた時VBBが数10mV程度増大する
。これに伴い浮遊容量Cwの充放電が必要である。従っ
てvBEの変化分をも補償することにより更に高速化が
可能となる。
共通に接続され、一定の電圧が印加される例について述
べてきた。しかし雑音耐性を考えると次の点から両トラ
ンジスタのベースを分離し、別々の電源回路で駆動する
のが好ましい。すなわち信号線5Gzoの電位変化が、
トランジスタQ20のベース・エミッタ間容量を介して
バイアス電圧VB20に電位変化(ノイズ電圧)を生ず
る。このノイズ電圧によりVBEが変化するためそれに
応じトランジスタQztのエミッタ電流が変化し、本来
一定である1)ot+tにノイズ電圧を生ずる。一方上
記実施例では両ベースが同一電位で駆動されているため
、駆動電流が流れた時VBBが数10mV程度増大する
。これに伴い浮遊容量Cwの充放電が必要である。従っ
てvBEの変化分をも補償することにより更に高速化が
可能となる。
第5図にベース接地トランジスタのベース電位を補償す
る実施例を示す。第2図に示した駆動電流110がトラ
ンジスタQzoから流れた場合についてこの回路動作を
説明する。丁loのために、トランジスタQzoのVB
Bが増大し始めると、トランジスタQzzのベース電位
が参照電圧Vaasよりも低くなる。このため、バイア
ス電流Izzの分流比に変化が起り、信号線5GIOの
電位がVaaと等しくなる様にトランジスタQxxから
の電流は減少し。
る実施例を示す。第2図に示した駆動電流110がトラ
ンジスタQzoから流れた場合についてこの回路動作を
説明する。丁loのために、トランジスタQzoのVB
Bが増大し始めると、トランジスタQzzのベース電位
が参照電圧Vaasよりも低くなる。このため、バイア
ス電流Izzの分流比に変化が起り、信号線5GIOの
電位がVaaと等しくなる様にトランジスタQxxから
の電流は減少し。
トランジスタQxsからの電流が増加する。この結果信
号線5G1oの電位変化をより小さくすることが可能と
なり、浮遊容量Cwの充放電にる遅延時間の増加を小さ
くすることができる。
号線5G1oの電位変化をより小さくすることが可能と
なり、浮遊容量Cwの充放電にる遅延時間の増加を小さ
くすることができる。
抵抗RXX及びRzsは、バイアス電流により、トラン
ジスタQ20及びQxsのベースを駆動するための負荷
抵抗である。また第2図に示した駆動電流110がトラ
ンジスタQzzから流れた場合、バイアス電流I!gの
、トランジスタQzaとQzllの分流比を変化させる
ことによりQztのベース電圧を補償している0以上は
バイアス電流Iz2及びI2δを負荷抵抗IRzz及び
Rzsに流すことによりトランジスタQzo及びQxx
のベース電位を補償しているが抵抗Rzz及びRzsの
代りにダイオードを用いても同様の効果が得られる。
ジスタQ20及びQxsのベースを駆動するための負荷
抵抗である。また第2図に示した駆動電流110がトラ
ンジスタQzzから流れた場合、バイアス電流I!gの
、トランジスタQzaとQzllの分流比を変化させる
ことによりQztのベース電圧を補償している0以上は
バイアス電流Iz2及びI2δを負荷抵抗IRzz及び
Rzsに流すことによりトランジスタQzo及びQxx
のベース電位を補償しているが抵抗Rzz及びRzsの
代りにダイオードを用いても同様の効果が得られる。
以上の実施例ではすべて、差動の出力信号を例に述べて
きたが、差動が不必要な時は、例えば、負荷抵抗R21
を省略し、出力信号D ourのみを用いることも可能
である。
きたが、差動が不必要な時は、例えば、負荷抵抗R21
を省略し、出力信号D ourのみを用いることも可能
である。
また入力信号DIN及びクロック信号CLKは全て単一
の信号で説明してきたが、参照電圧VBBI及びVna
zに代えてDrN及びCLKを用いる。すなわち差動入
力とすることも容易に可能である。
の信号で説明してきたが、参照電圧VBBI及びVna
zに代えてDrN及びCLKを用いる。すなわち差動入
力とすることも容易に可能である。
更にα線等による論理回路特にラッチ回路が誤動作する
、いわゆるソフトエラーを防止するための実施例につい
て説明する。一般にバイポーラトランジスタは第6図に
示すデバイス構造から構成されている。そしてコレクタ
Cはn形埋込層N+BL層でP基板と接している。この
ためα線によりP基板内で発生した雑音電荷(電子)は
N+BT、層に吸収される。すなわちコレクタCからノ
イズ電流が流れ出すことになる。このノイズ電流がラッ
チ回路動作に与える影響について第1図の実施例で説明
する。
、いわゆるソフトエラーを防止するための実施例につい
て説明する。一般にバイポーラトランジスタは第6図に
示すデバイス構造から構成されている。そしてコレクタ
Cはn形埋込層N+BL層でP基板と接している。この
ためα線によりP基板内で発生した雑音電荷(電子)は
N+BT、層に吸収される。すなわちコレクタCからノ
イズ電流が流れ出すことになる。このノイズ電流がラッ
チ回路動作に与える影響について第1図の実施例で説明
する。
トランジスタQIOにα線が入射した場合、ノイズ電流
は、コレクタに接続された負荷RIOから流れるため、
トランジスタQhxのベース電位は本来の電位より低い
電位となる。この時トランジスタQxxのベース電位が
トラジスタQ1δのベース電位よりも高い状態を保つこ
とができれば、ラッチ回路が誤動作することがない。し
かしノイズ電流により、Qxzのベース電位がQ13の
ベース電位より低くなると、駆動電流Izoはトランジ
スタQ13を介して抵抗RIOより流れ、出力信号の反
転が起る。
は、コレクタに接続された負荷RIOから流れるため、
トランジスタQhxのベース電位は本来の電位より低い
電位となる。この時トランジスタQxxのベース電位が
トラジスタQ1δのベース電位よりも高い状態を保つこ
とができれば、ラッチ回路が誤動作することがない。し
かしノイズ電流により、Qxzのベース電位がQ13の
ベース電位より低くなると、駆動電流Izoはトランジ
スタQ13を介して抵抗RIOより流れ、出力信号の反
転が起る。
すなわちソフトエラーを起してしまう。これを防止する
には、例えばエミッタEを抵抗RIOと接続、コレクタ
CをトランジスタQL4のコレクタに接続し、P基板内
で発生した雑音電荷によるノイズ電流が直接、論理信号
振幅を決める抵抗R10から流れない様にすることであ
る。
には、例えばエミッタEを抵抗RIOと接続、コレクタ
CをトランジスタQL4のコレクタに接続し、P基板内
で発生した雑音電荷によるノイズ電流が直接、論理信号
振幅を決める抵抗R10から流れない様にすることであ
る。
これを可能にするには1.トランジスタ特性として逆方
向特性が順方向特性に近い良好な特性を有していること
が望ましい。
向特性が順方向特性に近い良好な特性を有していること
が望ましい。
以上述べた如く本発明によれば、−4,遊客量の大きい
信号線の論理振幅を小さくし、同容量の充放電に要する
時間を短縮できるので、論理信号を高速に伝達すること
ができる。本発明を例えばメモリLSI適用すれば、ア
クセス時間を短縮できる効果がある。
信号線の論理振幅を小さくし、同容量の充放電に要する
時間を短縮できるので、論理信号を高速に伝達すること
ができる。本発明を例えばメモリLSI適用すれば、ア
クセス時間を短縮できる効果がある。
特に、配線長が長くなる入力回路と内部回路間の信号線
及び内部回路と出力回路間の信号線に本発明を適用すれ
ば効果的である。
及び内部回路と出力回路間の信号線に本発明を適用すれ
ば効果的である。
以上1本発明の実施例をバイポーラトランジスタのみを
用いて説明したが、MO8形トランジスタを回路の一部
に使用しても同一の効果が得られる。特に効果的なのは
、例えば第2図のトランジスタQ s o 、 Q 1
1及び電流源Itoで構成する電流切替回路をMO8形
トランジスタで構成する方法である。
用いて説明したが、MO8形トランジスタを回路の一部
に使用しても同一の効果が得られる。特に効果的なのは
、例えば第2図のトランジスタQ s o 、 Q 1
1及び電流源Itoで構成する電流切替回路をMO8形
トランジスタで構成する方法である。
第1図は一実施例のラッチ回路図、第2図は本発明の実
施例の論理回路図、第3図は従来例の論理回路図、第4
図は、他の実施例のラッチ回路図。 第5図は、バイアス電位を発生する回路図、第6図はト
ランジスタの断面図である。 Q10”Q21・・・ベース接地動作をするトランジス
タ、S G 10− S G sx=・信号線、R10
−Rsx・=抵抗、C8・・・電流切替回路、SA・・
・検出回路、OB・・・出弄 園
施例の論理回路図、第3図は従来例の論理回路図、第4
図は、他の実施例のラッチ回路図。 第5図は、バイアス電位を発生する回路図、第6図はト
ランジスタの断面図である。 Q10”Q21・・・ベース接地動作をするトランジス
タ、S G 10− S G sx=・信号線、R10
−Rsx・=抵抗、C8・・・電流切替回路、SA・・
・検出回路、OB・・・出弄 園
Claims (1)
- 1、ベース接地動作をするトランジスタのエミッタが信
号線に接続され、その信号線に流れる電流値に応じた信
号振幅を上記トランジスタのコレクタから取り出す回路
に於いて、その電流値の切替え又は駆動がラッチ機能を
有する回路によつて行われることを特徴とする半導体回
路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63102548A JP2680030B2 (ja) | 1988-04-27 | 1988-04-27 | 半導体回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63102548A JP2680030B2 (ja) | 1988-04-27 | 1988-04-27 | 半導体回路 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH023173A true JPH023173A (ja) | 1990-01-08 |
JP2680030B2 JP2680030B2 (ja) | 1997-11-19 |
Family
ID=14330299
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63102548A Expired - Lifetime JP2680030B2 (ja) | 1988-04-27 | 1988-04-27 | 半導体回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2680030B2 (ja) |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57103189A (en) * | 1980-12-19 | 1982-06-26 | Fujitsu Ltd | Semiconductor memory |
JPS60217588A (ja) * | 1984-04-13 | 1985-10-31 | Hitachi Ltd | 半導体記憶装置 |
JPS613389A (ja) * | 1984-06-15 | 1986-01-09 | Hitachi Ltd | 記憶装置 |
JPS61190788A (ja) * | 1985-02-20 | 1986-08-25 | Hitachi Ltd | 半導体集積回路装置 |
-
1988
- 1988-04-27 JP JP63102548A patent/JP2680030B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57103189A (en) * | 1980-12-19 | 1982-06-26 | Fujitsu Ltd | Semiconductor memory |
JPS60217588A (ja) * | 1984-04-13 | 1985-10-31 | Hitachi Ltd | 半導体記憶装置 |
JPS613389A (ja) * | 1984-06-15 | 1986-01-09 | Hitachi Ltd | 記憶装置 |
JPS61190788A (ja) * | 1985-02-20 | 1986-08-25 | Hitachi Ltd | 半導体集積回路装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2680030B2 (ja) | 1997-11-19 |
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