JPH02310493A - 移動ステージ装置 - Google Patents

移動ステージ装置

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JPH02310493A
JPH02310493A JP13155389A JP13155389A JPH02310493A JP H02310493 A JPH02310493 A JP H02310493A JP 13155389 A JP13155389 A JP 13155389A JP 13155389 A JP13155389 A JP 13155389A JP H02310493 A JPH02310493 A JP H02310493A
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JP
Japan
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sample
probe
stage
fixing
moving
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Pending
Application number
JP13155389A
Other languages
English (en)
Inventor
Hiroyasu Nose
博康 能瀬
Toshimitsu Kawase
俊光 川瀬
Toshihiko Miyazaki
俊彦 宮崎
Takahiro Oguchi
小口 高弘
Akihiko Yamano
明彦 山野
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Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、走査型トンネル顕微鏡、精密測定機器、半導
体製造装置等において試料台の位置決めを行なう移動ス
テージ装置に関するものである。
[従来の技術] 近年、原子、分子オーダーの分解能を有する走査型トン
ネル顕微鏡が開発され、表面構造解析、表面粗さ計測な
どに応用されている。
この走査型トンネル顕@鏡は、導電性試料と導電性探針
の間に電圧を印加してinn程度の距離まで接近させて
トンネル電流を流した場合、その距離によりトンネル電
流が指数関数的に変化することを利用したものである。
すなわち、その探針として先端を電解研摩等で非常に先
鋭に仕上げたものを用い、導電性物質からなる試料表面
との距離を一定に保ちながら2次元的に走査すると、試
斜面の原子配列または凹凸の形状によりトンネル電流が
変化するので、これにより試料の表面像を得ることがで
きる(「固体物理J Vol、22 N’o、3198
7  f’P17B−188)。
そして走査型トンネル顕I!鏡はこの原理を利用したも
のとして、表面粗さ計、3次元測定機、線幅測定機など
への応用が試みられており、これらによってシリコンウ
ェハ、超平面などの試料表面の観察が行なわれている。
このように比較的大きな試料例えば6〜8インチ程度の
シリコンウェハを観察するときには、その試料内の任意
の部分を観察する必要があり、試料を載せる移動ステー
ジは試料の最大長さ以上のストロークが必要とされる。
¥S5図はこのような走査型トンネル顕微鏡の原理を応
用した従来の8動ステージを示す。同図において、1は
タングステン、ptなとの金属からなる先鋭な探針、2
は探針1を2次元的に走査しまたは試料3に接近させる
探針駆動機構であり、固定フレーム6に固定されている
。また、4は試料3を載せる移動台、5はその移動台を
案内する直線案内機構であり、その両端は固定フレーム
6に固定されている。
このような装置で試料3の表面の任意の部分を観察する
場合、移動台4によって観察部分が探針1の真下にくる
ように位置決めし、そして探針1を探針駆動機構2によ
って接近させてから探針1で2次元的に走査して観察を
行なう。
このように微小部分を高分解能で測定する装置において
は、探針1と試料3間の剛性すなわち、探針1を支持す
る探針駆動機構2、これを固定する固定フレーム6、こ
れに固定された直線案内機構5、およびその上の移動台
4という構造物の総合的剛性が高いことが外部振動によ
る影響を防ぐのに非常に有効である。すなわち、探針1
と試料3間の機械的な共振周波数が高ければ高いほど外
部の振動の伝達率を小さくすることができ、振幅を圧縮
することができる。
[発明が解決しようとする課題] しかしながら上記従来例では、試料が大きいため、その
任意の部分を観察しようとすると直線案内機構の長さは
試料の最大長さの倍以上も必要であり、またそれに伴な
い、固定フレームのスパンも同程度の長さを必要とし、
したがって探針と試料間の剛性は極端に小さくなり外部
振動の影響を受は易いという欠点があった。
本発明の目的は、このような従来技術の問題点に鑑み、
移動ステージにおいて、探針と試料間の剛性を高め、外
部振動の影響を受は難くすることにある。
[課題を解決するための手段] 上記目的を達成するため本発明では、試料を保持するス
テージ手段を備え、ステージ手段を穆動させることによ
りステージ手段上に保持された試料を対象物に対し位置
合せする8動ステージ装置において、対象物が固定され
ている部材とステージ手段の一部とを対象物の近傍にお
いて係合させて固定する手段を具備するようにしている
通常は、ステージ手段は前記ステージ手段の一部を対象
物に対して近接させる手段を備える。ス −テージ手段
はまた、試料を微動させて対象物に対し微小な位置決め
を行なう微動手段を備え、試料はこの微動手段を介して
ステージ手段に保持される。
[作用] この構成において、試料を対象物に対して位置合せする
には、まず、通常、比較的長いストロークの案内手段お
よび駆動手段によって比較的粗い精度でステージ手段を
駆動させ位置合せを行なう。そしてこの後、試料と対象
物とを近接させてから必要に応じて微動手段によフて微
小な位置決めを行なうのであるが、この微小位置決めに
先立ち、対象物が固定されている部材とステージ手段と
が電磁力や減圧による吸着などによって固定され、対象
物と試料間の剛性が高められる。したがって、装置外部
からの振動による有意な影響を受けずに微小位置決めや
その後の対象物すなわち探針などによる試料の走査や検
査が行なわれる。
[実施例] 以下、図面を用いて本発明の詳細な説明する。
第1図は本発明の一実施例に係る移動ステージを備えた
走査型トンネル顕微鏡の説明図である。
同図に示すように、この移動ステージは、移動台4と昇
降台8を含むステージ手段を備え、ステージ手段を移動
させることによりステージ手段上に載置された試料3を
探針1に対し位置合せするようになっており、ざらに探
針1が固定されている固定フレーム6と昇降台8とを固
定する固定機構7を備える。
探針1は探針駆動機構2を介して固定フレーム6に固定
されている。探針1はトンネル電流検出回路11に接続
され、試料3にはバイアス電源13よりバイアス電圧が
与えられる。探針1は探針駆動回路12、探針駆動機構
2により駆動され探針−試料間の距1lIIli(Z方
向)をトンネル電流が一定になるように制御する。この
とき、探針駆動回路12、探針駆動機構2により探針1
を試料3の平面に沿ってX、Y方向に走査して、探針1
のZ方向の駆動電圧の変化分をモニタ一手段14でモニ
ターすることにより試料3の表面形状(凹凸)の像を得
ることができる。移動台4は直線案内機構5によって案
内・保持されて移動できるようになっており、直線案内
機構5の両端は、固定フレーム6に固定されている。移
動台4上には昇降台8が両端固定の平行ばね9により傾
かないように支持され、昇降台8の中心部には昇降台8
を移動台4に対して上下に駆動するための圧電素子11
が組み込まれており、これらによって移動台4と探針1
とを近接させる手段を構成している。さらに昇降台8の
上には、シリコンウェハなどの試料3を載せて微動させ
る微動機構10が配置されており、微動機構10の周辺
部には、固定フレーム6と係合する固定機構7が設けら
れている。固定フレーム6の固定機構7に対向する面は
平滑に仕上げられている。
次に動作を説明する。試料3の任意の部分を観察するに
はまず、移動台4を、直線案内機構5に沿って移動させ
、試料3の観察したい部分が探針1の直下にく゛るよう
にして停止させる。そして、その状態で昇降台8を圧電
素子11により上昇させて固定機構7を固定フレーム6
に軽く押し当て、固定機構7により昇降台8と固定フレ
ーム6とを係合する。その後、探針1を探針駆動機構2
により試料3の表面まで接近させ、2次元的に探針1を
走査させて観察する。その際、微小な位置合せが必要な
ときに微動機構10を用いる。観察後は探針1を試料3
の表面から離し、固定機構7を解除して昇降台8を下降
させ、移動台4を再び観察したい位置まで移動させる。
このように本実施例においては探針の位置になるべく近
い場所で試料を固定機構により固定しているため、探針
と試料間の、これらを支持する構造物のパスは短く、探
針と試料間の剛性は非常に向上しており、したがって外
部振動の影響を受けにくい。
次に、第2図を用いて固定機構7について詳細に説明す
る。
第2図(A)の固定機構は電磁石を用いたもので、図中
、21は昇降台8に固定された強磁性体からなるヨーク
、22はコイルであり、固定時にはコイル22に電流を
流し、強磁性体からなる固定フレーム6の面に吸引固定
する。
第2図(B)の固定機構は静電力を利用したものであり
、図中、23はA1203などの絶縁層、24は昇降台
8に固定されたMOlWなどからなる電極である。固定
時には電極24と固定フレーム6間に電圧を印加し、静
電力により吸引固定を行なう。
そして、第2図(、C)は真空チャックを利用したもの
を示し、その固定機構は、穴25とその各々の穴を連通
ずる穴を有した部材26を備え、外部からその連通穴を
負圧に保つことにより、固定フレーム6の面に吸引固定
するものである。
以上のような固定機構によれば、任意の位置において容
易に固定および解除の動作ができるという効果がある。
次に、第3図によって示される、昇降台8を昇降させる
機構の他の例を説明する。
これは、インチウオームの原理を用いたもので、昇降台
8の部分8aおよび部分8b間は昇降用の圧電素子33
で接続されており、固定時には圧電素子31.32によ
り各々ロックされている。上昇時には、部分8bはロッ
クしたままで圧電素子31による部分8aのロックを解
除してから昇降用の圧電素子33を伸ばし、その状態で
圧電素子31により部分8aをロックする。次に、圧電
素子32を解除して、圧電素子33を収縮させ、その状
態で再び圧電素子32により部分8bをロックする。こ
の動作を繰り返すことにより次々と昇降台8を上に送る
ことができる。
次に、第4図により微動機構10の説明をする。
固定機構7で昇降台8を固定フレーム6に固定した後、
昇降台8上において試料3を探針1に対し微小に位置合
せする必要がある場合があり、その位置合せを微動機構
10により行なう、@動機構10は同図に示すように、
試料3を載置して微動する微動ステージ43および微動
ステージ43を微動させる圧電素子41a、41bを備
える。
微動ステージ43は弾性支柱42により2次元的に移動
可能なように昇降台8上に弾性支持されている。圧電素
子41a、41bはそれぞれ一端を昇降台8に固定され
、それぞれ他端で微動ステージ43をXおよびy方向に
押圧しており、それらの伸縮により微動ステージ8をx
、y方向に微動させ、部材3の微小な位置決めを容易に
行なえるようになっている。
以上、走査型トンネル顕微鏡を例として、探針と試料と
の位置決めを行なう移動ステージについて説明したが、
同様の機構は、他の精密測定機器、半導体製造装置など
にも応用できる。例えば、試料としてシリコンなどのウ
ェハ、位置決めする対象物としてマスクを考えたときも
同様の移動ステージを用いることができ、その場合にお
いても同様に外部振動を受は難いという効果がある。
[発明の効果] 以上説明したように本発明によれば、移動ステージ装置
において、対象物が固定されている部材とステージ手段
とを固定する手段を設けたため、試料と対象物の間の支
持構造物の総合剛性を高くすることができ、したがって
外部の振動の影響を受は難く、対象物と試料間の安定し
た位置合せや対象物すなわち検出部などによる試料の走
査や検査が行なえる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の一実施例に係る移動ステージを備え
た走査型トンネル顕微鏡の説明図、第2図(A)〜(C
)は、第1図の装置の固定機構の斜視図、 第3図は、第1図の装置の昇降台の説明図、第4図は、
第1図の装置の微動機構の説明図、そして 第5図は、従来例の説明図である。 1:探針、2:探針駆動機構、3:試料、4:移動台、
5:直線案内機構、 6:固定フレーム、7:固定機構、 8:昇降台、10:微動機構。 特許出願人   キャノン株式会社 代理人 弁理士   伊 東 哲 也 代理人 弁理士   伊 東 辰 雄 第2図 第4図

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)試料を保持するステージ手段を備え、ステージ手
    段を対象物に対しステージ手段と対象物の間に設けられ
    た駆動手段によって移動させることによりステージ手段
    上に保持された試料を対象物に対し位置合せする移動ス
    テージ装置において、対象物が固定されている部材とス
    テージ手段の一部とを駆動手段を介さずに直接係合させ
    て固定する手段を具備することを特徴とする移動ステー
    ジ装置。
  2. (2)ステージ手段は前記ステージ手段の一部を対象物
    に対して近接させる手段を備える、請求項1記載の移動
    ステージ装置。
  3. (3)ステージ手段は試料を微動させて対象物に対し微
    小な位置決めを行なう微動手段を備え、試料はこの微動
    手段を介してステージ手段に保持される、請求項1記載
    の移動ステージ装置。
JP13155389A 1989-05-26 1989-05-26 移動ステージ装置 Pending JPH02310493A (ja)

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JP13155389A JPH02310493A (ja) 1989-05-26 1989-05-26 移動ステージ装置

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JP (1) JPH02310493A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109140148A (zh) * 2018-09-05 2019-01-04 三英精控(天津)仪器设备有限公司 一种串联压电驱动纳米定位平台

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