JPH02309264A - 回路素子測定装置 - Google Patents

回路素子測定装置

Info

Publication number
JPH02309264A
JPH02309264A JP13105089A JP13105089A JPH02309264A JP H02309264 A JPH02309264 A JP H02309264A JP 13105089 A JP13105089 A JP 13105089A JP 13105089 A JP13105089 A JP 13105089A JP H02309264 A JPH02309264 A JP H02309264A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
circuit
frequency
terminal
lines
voltage
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP13105089A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2957596B2 (ja
Inventor
Shinya Goto
信也 後藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hewlett Packard Japan Inc
Original Assignee
Yokogawa Hewlett Packard Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Yokogawa Hewlett Packard Ltd filed Critical Yokogawa Hewlett Packard Ltd
Priority to JP13105089A priority Critical patent/JP2957596B2/ja
Publication of JPH02309264A publication Critical patent/JPH02309264A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2957596B2 publication Critical patent/JP2957596B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の技術分野] 本発明は回路素子測定装置に関し、特に広帯域に渉って
安定で精度の高い測定が可能であるものに関する。
[従来技術とその問題点コ 回路素子の高精度測定を行う要求は近年増々高A、 4
275AマルチフリケンシLCRメーターがあり、それ
等は四端子対測定を行っている。
第7図は、従来技術の四端子対測定を行う回路素子測定
装置の概略回路図である。
四端子対を構成する4本の線路、CL、 、CL、、C
L3、CL、により被測定回路素子(以下DUTとも呼
称する)zXを測定器を構成する信号源S81電圧計V
M、電流計AM、零検出増幅器Aに接続する。
被測定回路素子ZXを以下において素子Zxと呼称し、
そのインピーダンス値をもZxで表わす。
線路CL、 SCL、 、CL、 、CL、はそれに限
定するものではないが同軸ケーブルとするのが一般的で
あり、それらの外被の素子Zx側端末gxsg2+、g
sIsgs+、は互いに接続され基準電位にある。
線路CL、 、CL2の中心導体の素子Zx側端末11
、。
121は素子Zxの一方の端子に接続される。線路CL
、、CL、の中心導体の素子Zx側端末131.141
、は素子zXの他方の端子に接続される。
線路CL、 、CL2、CL、 、CL、の中心φ導体
と外被の素子zxと反対側(測定器)端末は、それぞれ
端末2重2・g +2・j! 22・gz2zllyx
・g 32・142・g42、である。
端末1,2、grz、間には信号源SSと信号源抵抗R
3の直列回路が接続される。
端末β22、g2z間には電圧計VMが接続される。
端末132、g、2はそれぞれ零検出増幅器への反転入
力端子と非反転入力端子に接続される。零検出増幅器A
の反転入力端子と出力端子間には帰還抵抗R3が接続さ
れる。その出力は狭帯域増幅/位相補償増幅器NBA 
(以下NBAとのみ呼称する)に導入され、最終的に電
圧制御電流源VCCの出力電流(複素電流)を制御する
。NBAは入夫!42.542間には抵抗Reと電流計
及び電圧制御電流計vCCの直列回路が並列接続される
。なお電圧制御電流源VCC1抵抗RC1電流計AMを
テブナン等価な電圧制御電圧源、抵抗、電圧計で置き換
えてもよい。
第7図の回路では、端末I13□、gsz間電圧電圧質
的に零、即ちβ32を流れる電流が実質的に零とられる
。さらに素子Zxを流れる電流工、は電流計AMの指示
として得られる。電圧計VM、電流計A、 Mは信号S
Sの検出力を基準として複素電圧士歩会裔キ任又は複素
電流を測定するから、Z8は複素値で下式に従って求め
られる。
Zx ”’Vx / I x 複素電圧、電流の測定法については周知であり、測定器
全体の動作とともに、例えば前掲4274A 。
4275Aに開示されている。校正は、被測定素子を短
絡、開放(さらに既知の第3インピーダンスを用いるこ
ともある)で置換えて周知の方法で行われる。
以上詳述した回路素子測定装置は、低周波においては非
常に良好に動作するが、信号周波数が高くなるに従い、
以下に述べる問題点が明らかになってくる。まず前提を
述べ、問題点を次に述べる。
まず、第8図を参照して、線路CL (特性インビニ 一ダンスZ。、線路長11伝搬定数\)の伝達性は下式
で与えられる。
端末i工、gt間の電圧をV 、、端子β2.82間の
電圧をV2とし、受信端の終端インピーダンスを22と
すると、 又端末β3、glから線路CL側をみたインビーダンス
はそれを21すると、 第7図の線路のCL2において、電圧計VMの指示電圧
VI2は、上記V、の式からZ2=■とおき、端子β1
1、g+0間電圧V++から、V +2= V ++/
 coshT ll +となる。但し、β1、T1は線
路CL、の線路長と伝撤定数である。
又、上記Zl相当するインピーダンスZt+はCL。
において、 Z z=Zo Co5hTl 1 r /5inhr 
l 11となる。
線路が無損失であればT、は純虚数となり、又無損失に
近ければ、I!、が管内波長の174のとき(線路は共
振し)V+□は非常に大きくなり、又22は0に近くな
る。従って、第7図の回路は不安定不正確になる。時に
はll工が非常に小さくなり、素子Zxに電圧が印加さ
れなくなる。同様の考察により、線路CL、において線
路長が、CL3の管内波長の174になると、線路CL
、に流れ込む電流は非常に小さくなり、NBAを含む帰
還回路のループゲインは極端に小さくなる。従って第7
図の回路の動作は不安定となり、正確な測定が困難末技
術では、この欠点を解消するために、四端子対測定を行
う際に被測定素子を測定する線路をその特性インピーダ
ンスで整合させることによって、広帯域にわたって安定
な測定を実現する方法が提案されている。
しかしこの方法では、整合抵抗によって電圧測定回路の
入力インピーダンス及び電流測定回路の人力インピーダ
ンスが低くなるので、被測定素子と測定線路の中心導体
間の接触抵抗との組合せによって測定精度が悪化し、低
周波域においては従来技術よりも精度が劣ってしまう。
この欠点を補うために前記特願昭63−167061の
第3図即ち第9図に示されるように、さらに電圧測定回
路、電流測定回路の整合用抵抗にそれぞれコンデンサを
直列に挿入している。このことにより、低周波域におい
て電圧測定回路、電流測定回路側入力端子のインピーダ
ンスを高くして、低周波域における測定精度を改善させ
ている。第10図は特願昭63−167061の第3図
の電圧測定回路を抜き出したものである。第10図の回
路で例えば、線路長2mの測定線路でR1=50Ω、C
1=15θOpFとしカットオフ周波数を21JHzに
設定することによって、電圧伝送特性のりプルを±1d
B以内に抑えることができる。
伝送特性(a)、インピーダンスZ1の周波特性(a)
である。第11図に示される通り、電圧伝送特性のりプ
ルは±1dB以内である。しかし、第12図に示される
ように電圧測定回路のインピーダンスz1はIMllz
において100Ωであり、素子Z8の接触抵抗等の影響
により測定精度が十分とれない。つまり、安定性を確保
するためにはR+ C+直列回路の01を大きくしなけ
ればならず、低い周波数で十分に高いインピーダンスに
ならないので、整合しないで測定する方式に比べ測定精
度が悪くなる。
また、同じことが電流測定回路についてもいえる。
[発明の目的] 本発明の目的は前記の欠点を解消し、高い周波数で安定
であり低い周波数においても精度劣化の少ないことを特
徴に持つ、回路素子測定装置を提供することである。
[発明の概要] 本発明の一実施例によれば、線路の整合インピーダンス
と直列に並列共振回路とスイッチの直列回路、あるいは
、直列共振回路とスイッチの並列回路が接続される。ス
イッチは、共振回路の共振周波数と測定信号周波数の大
小関係により、その状態を変える。
並列共振回路とスイッチの直列回路では高周波において
スイッチを開放し、低周波において閉成する。
直列共振回路とスイッチの並列回路では、高周波におい
てスイッチを開成し、低周波によって開放する。
簡略化回路では、並列共振回路を短絡し、直列共振回路
を開放することができる。
種々の線路長に対応するため、複数の共振回路を順次切
り換えて用いることもできる。
スイッチの使用により、低周波における精度劣化が防止
され、広帯域回路素子測定が可能となる。
[発明の実施例] 第1図に本発明の一実施例を示す。
SSは測定信号源でH6端子から測定信号を供給し、V
Mはベクトル電圧計でH4端子の電圧すなわちDUTZ
Xにかかる電圧を、測定する、NBAを含むループによ
ってり、、’Lcの電位を0にする。AMはベクトル電
流計でDUTZ、を流れる電流を測定する。
R1、R2、R3、R4、Rs 、Rp sは整合用抵
抗で路線の特性インピーダンスに等しくする。
また力?)オフ周波数ω。を適当な値(線路を整合しな
いで使用しても安定であるできるだけ高い周波数)に決
め、J(Ll・C1)=J(H2・C2)=r(H4・
C4)=1/ω。にする。ωOより低いか等しい測定周
波数ではスイッチSW1、SW3、は閉じスイッチSW
2、SW4、は開き、ω。より高い測定周波数ではスイ
ッチSW2、SW4は閉じスイッチswi、SW3は開
く、十分低い周波数において21、Z3はケーブルの特
性インピーダンスと等しく、Z2、Z4は非常に高いイ
ンピーダンスである。Llと01は並列共振回路を形成
しており、H2とC2およびH4とC4は直列共振回路
を形成している。したがって、周波数がω。に近づくと
21は急速に大きくなり、Z2、z4は特性インピーダ
ンスに近づく、測定周波数がω。になると、zlは無限
大になり、22、Z4は特性インピーダンスと一致する
測定周波数がω。より少し高くなると、スイッチSW2
、SW4は閉じ、スイッチSWI、SW3は開くが、も
ともと、それぞれのLC共振回路が共振しているときに
、スイッチSWを切り替えるので、Zl、Z2、Z4の
インピーダンスが測定周波数ω。の前後でほとんど変化
することはない。
つまり、電圧計、電流計、信号源への各々の端子、H,
、LcXHcを見込んだインピーダンスは周波数に対し
てなめらかに変化する。したがって、電圧測定回路や電
流測定回路のゲインの、測定線路(およびHPLCとD
UTとの接触インピーダンス)に対する変化の割合(素
子感度)が、周波数の変化に対して滑らかであるので、
あらかじめ校正された(補正された)ときに比べて線路
等が変化したときに測定値の周波数特性が飛び値をとる
ことがない。また、信号源への端子H6と電圧C計への
端子H6の並列回路は定抵抗回路を形成しているので、
DUTZX側から見込んだ測定信号源のインピーダンス
は周波数によらず一定である。
回路の安定性については、ω。より高い周波数において
電圧計、電流計回路の人力部がケーブルの特性インピー
ダンスで整合されるので、電圧測定、測定回路のゲイン
の周波数特性は平坦になる。
また、L、端子も整合されているのでNBAを含むルー
プの振幅特性は周波数によらず一定に保たれ、ループの
安定が保たれる。
そして、本発明では電圧計回路、電流計回路の入力イン
ピーダンスが低周波領域において高くなるように工夫し
ているので、低周波領域における測定精度の改善がなさ
れている。これはLC直列共振回路が共振周波数(すな
わちω。)付近でインピーダンスが激しく変化すること
を利用している。
以上述べた通り、特願昭63−167061で提案され
ている方式の安定性を確保しつつ、低い周波数において
は電圧計回路、電流回路の人力インピーダンスを高くす
ることによって測定精度を改善した測定装置が実現でき
る。
一例として先の発明での電圧計回路の特性と本発明での
それとを比較する。第2図は本発明の測定回路である。
測定ケーブルの特性インピーダンスが50Ωで長さが2
mのときには、ω。/2π=5  Ml(zとしR2=
500、L2=6.8μHSC2= 300pFとすれ
ばよい。第11図に示される通りら)、このときの電圧
伝送特性のりプルは±1clB以内であり、第10図の
回路の特性(a)と大差ない、一方、第12図に示され
るように22のインピーダンス特性(6)は低周波にお
いて21の特性(a)より約5倍高く改善されているこ
とがわかる。
本発明の思想を生かして、種々の変形が考えられる。以
下にそれらのうちのいくつかを示す。
■ LC共振回路を省略する。
整合回路2..22.2.を第3図の(A>、(B)、
(C)のようにLC回路を省略したちとしても、安定性
、測定精度は悪化しない。これはLC回路のQ値を無限
大にした時と同等の特性が得られるからである。
■ それぞれのスイッチ抵抗を付加する。
第4図の(A)、(B)に示すようにそれぞれのスイッ
チに抵抗を付加すると、スイッチを切り替えたときの整
合インピーダンスの変化を小さく抑えることができる。
これによってスイッチの切り替え周波数を厳密にω。に
合わせる必要性がなくなる。SWI SW3に並列に接
続ア する抵抗は整合抵抗の倍数にSW2、SW4に直列に接
続する抵抗は整合抵抗の数分の1に選べばよい。
■ 数種の線路に対応するために、多数のLC共振回路
をスイッチで切り替える。
測定線路長を数種類に対応させるために、第5図のよう
に、それぞれのケーブル長に最適な共振周波数をもつL
C共振回路を用意しておきスイッチで切り替える。S 
W nl= S W nmのうち一つだけを閉じ、対応
するスイッチSWII−SW1mのうちの一つだけを開
くことによって第1図の基本構成例のω0の値を切り替
えることができる。
■ 共振周波数の。の正確な値を測定によって求め、そ
の周波数で切り替える。、 LC共振回路はLやCのばらつきによってω。
の機体差が生じる。そこで、製造した各機種のω。の正
確な値を測定し、その周波数でスイッチを切り替えるこ
とによって、整合インピーダンスがスイッチの切り替え
によって変化する量を最小にすることができる。この目
的のために電圧計回路と電流計回路のスイッチの切り替
え周波数をあえて同じにしない方法も考えられる。
ω。を測定するには種々の方法があるが、測定器外部に
適当な回路を付加して各スイッチをON、OFF Lな
がら周波数を変えて電圧、電流を測定し、ON、OFF
による測定値の変化が最も小さい周波数としてω。求め
るのも一つの方法である。
■ 信号源H0回路の簡略化 H6回路は測定精度に直接関係しないので整合回路を簡
略化することも考えられる。
■ H1回路に周波数特性を持たせる り、回路は測定精度に直接関係なく、また簡略化した回
路でもNBAを含むループの安定性をそれど損なうこと
がないので、第1図に示す通りLC共振回路を省略した
が、H(回路と同等の並列共振回路を用いることにより
Lc回路と定抵抗回路を形成すればループの安定度がよ
り増す。また、第1図の21を抵抗ではなくて周波数特
性を持つ1端子対回路で置き換えるとループの振幅周波
数特性を補正することができる。
例えば第1図のし1回路を第6図のように置き換えると
安定度が増し、かつループの振幅周波数特性が平坦な装
置が得られる。スイッチSW3とS W 3 Sは連動
して切り替えられる。またRp /R3=R3sSL−
C3=L35C3Sである。
■ Hp整合回路の22に並列にCR直列回路を挿入す
る 電圧測定回路は前述した通りフラットな周波数が低く 
SW2が開いているときは、高い周波数でゲインが非常
に大きくなる。このため測定信号に高周波の雑音が含ま
れていることが電圧計VM端子で強調され、電圧測定を
妨げる場合がある。これを回避するために22に並列に
比較的小さなCと比較的大きなRの直列回路を挿入する
ことにより、ω。より低い周波数で測定しているときに
VMの端子で高周波成分が強調されるのを防ぐ。
また、各LC共振周波数を必ずしも等しくする必要はな
い。
[発明の効果] 本発明の実施により、つぎの効果が得られる。
高周波において整合終端を実現できるので、測定路が取
り除かれるので、回路インピーダンスが上昇し、測定電
流に起因する接触抵抗等による誤差が低減される。
また、スイッチは並列共振回路と直列に、あるいは直列
共振回路と並列にされ、それら随伴する回路の共振周波
数近傍にて切り換えを行うようにして、スイッチ切り換
′えの影響を少なくした。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の一実施例の回路素子測定装置の概略
回路図、第2図は第1図の実施例の電圧測定回路部分の
概略回路図、第3図は、整合回路の簡略化したものを示
す回路図、第4図はスイッチの影響を軽減するため抵抗
を付加したスイッチ回路図、第5図は、種々の線路に対
応できるように、多数の整合回路を備えた整合回路の概
略図、第6図は零検出回路に共振回路を導入した一実施
例の回路図、第7図は従来例の回路素子測定装器の概略
図、第8図は第7図の電圧測定部分を取り出した概略回
路図、第9図は従来技術の別の実施例の概略回路図、第
10図は第9図の電圧測定部分の概略回路図、第11図
は第2図と、第10図の回路の電圧伝送特性を示すグラ
フ、第12図は第2図と第10図における整合回路のイ
ンピーダンスの周波数特性を示すグラフである。 回路、電流計への接続線路 CL、 、CLz 、CL3 、CL、のDUT側端末
SS:信号源 VM:(*素)電圧計 NBA :狭帯域増幅/位相補償増幅器VCC:電圧抑
制電流源 AMP(複素)電流計 A:電検出増幅器 第1図 第2図 第3図 (A)      (B)      (C)第4区 (A) 11荀 第8図 第10図 第11図 周波数[Hzl 第12図 周波数[Hzl

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、被測定素子(DUTと呼称する)の一方の端子に測
    定電圧を印加するために、該一方の端子と信号源を結ぶ
    第1の線路と、前記測定電圧を測定するため前記一方の
    端子と電圧計とを接続するための第2の線路と、前記D
    UTの他方の端子の電圧を検出するために該他方の端子
    と零検出増幅器とを結ぶ第3の線路と、前記零検出増幅
    器の出力に応じて前記DUTを流れる電流を吸引して前
    記他方の端子の電圧を零にするための電圧制御電流源を
    前記他方の端子に接続するための第4の線路とを有し、
    前記第1、第2、第3、第4の線路のそれぞれがそれぞ
    れの2端子受動素子とリレーの直列回路で終端されたこ
    とを特徴とする四端子対測定を行なうための回路素子測
    定置。 2、前記2端子受動素子がそれぞれの前記線路の特性イ
    ンピーダンスである請求項1記載の回路素子測定装置。 3、前記第1、第3の線路を終端する前記2端子受動素
    子の少なくとも一方が、終端される前記線路の特性イン
    ピーダンスと並列共振回路の直列接続である請求項1記
    載の回路素子測定装置。 4、前記第2、第4の線路を終端するそれぞれの前記2
    端子受動素子に接続されるそれぞれのリレーの少くとも
    一方に並列に直列共振回路が接続された請求項1または
    請求項2記載の回路素子測定装置。 5、前記リレーが該リレーと接続する前記並列共振回路
    の共振周波数以下で開放となり、該共振周波数以上で閉
    成するようにした請求項3記載の回路素子測定装置。 6、前記リレーが該リレーを接続する前記直列共振回路
    の共振周波数以下では閉成し、該共振周波数以上で開放
    となるようにした請求項4記載の回路素子測定装置。
JP13105089A 1989-05-24 1989-05-24 回路素子測定装置 Expired - Fee Related JP2957596B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP13105089A JP2957596B2 (ja) 1989-05-24 1989-05-24 回路素子測定装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP13105089A JP2957596B2 (ja) 1989-05-24 1989-05-24 回路素子測定装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH02309264A true JPH02309264A (ja) 1990-12-25
JP2957596B2 JP2957596B2 (ja) 1999-10-04

Family

ID=15048843

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP13105089A Expired - Fee Related JP2957596B2 (ja) 1989-05-24 1989-05-24 回路素子測定装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2957596B2 (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013104663A (ja) * 2011-11-10 2013-05-30 Hioki Ee Corp 回路基板検査装置
JP2015132585A (ja) * 2014-01-15 2015-07-23 中国電力株式会社 歪測定装置
CN113075456A (zh) * 2021-03-18 2021-07-06 常州同惠电子股份有限公司 高精度交流阻抗测试系统及其测试方法

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013104663A (ja) * 2011-11-10 2013-05-30 Hioki Ee Corp 回路基板検査装置
JP2015132585A (ja) * 2014-01-15 2015-07-23 中国電力株式会社 歪測定装置
CN113075456A (zh) * 2021-03-18 2021-07-06 常州同惠电子股份有限公司 高精度交流阻抗测试系统及其测试方法
CN113075456B (zh) * 2021-03-18 2023-06-23 常州同惠电子股份有限公司 高精度交流阻抗测试系统及其测试方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP2957596B2 (ja) 1999-10-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3110827B2 (ja) インピーダンス・メータ
US5561378A (en) Circuit probe for measuring a differential circuit
US3800218A (en) R. f. impedance bridge for measuring reflection coefficient
US8126670B2 (en) Method and device for calibrating a network analyzer for measuring at differential connections
US5495173A (en) Method and apparatus for characterizing a differential circuit
US7518385B2 (en) Probe using high pass ground signal path
US5818243A (en) Impedance meter
EP0661548B1 (en) Impedance meter
JPH02309264A (ja) 回路素子測定装置
JP2698615B2 (ja) 回路素子測定装置
US5321363A (en) Two-terminal circuit element measuring apparatus for performing contact checks
US7282903B2 (en) Longitudinal balance measuring bridge circuit
US7769555B2 (en) Method for calibration of a vectorial network analyzer
US5216373A (en) Circuit element measuring apparatus and method for measuring a parameter of a DUT including a compensation network having an admittance characteristic
JP3976866B2 (ja) ハイブリッドトランスの校正方法及び校正装置
JP2975389B2 (ja) 回路素子測定装置
Giblin et al. Automation of a coaxial bridge for calibration of ac resistors
JPH08184620A (ja) 電磁誘導式プローブの補正方法
JPH1010170A (ja) インピーダンス測定装置
JP3350586B2 (ja) 回路定数測定装置の校正方法
Yonekura et al. High-Frequency Impedance Analyzer
GB2259992A (en) Checking connections
Winkel et al. An On-Wafer Deembedding Procedure for Devices under Measurement with Error-Networks Containing Arbitrary Line Lengths
Marks et al. Accuracy of lumped-element calibrations for four-sampler vector network analyzers
JPH09166641A (ja) Sパラメータ測定装置

Legal Events

Date Code Title Description
S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees