JPH02304378A - バーンイン装置 - Google Patents

バーンイン装置

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JPH02304378A
JPH02304378A JP12510889A JP12510889A JPH02304378A JP H02304378 A JPH02304378 A JP H02304378A JP 12510889 A JP12510889 A JP 12510889A JP 12510889 A JP12510889 A JP 12510889A JP H02304378 A JPH02304378 A JP H02304378A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
fin
module
burn
fins
temperature
Prior art date
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Pending
Application number
JP12510889A
Other languages
English (en)
Inventor
Minoru Senda
稔 千田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP12510889A priority Critical patent/JPH02304378A/ja
Publication of JPH02304378A publication Critical patent/JPH02304378A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2855Environmental, reliability or burn-in testing
    • G01R31/286External aspects, e.g. related to chambers, contacting devices or handlers
    • G01R31/2862Chambers or ovens; Tanks

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Environmental & Geological Engineering (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔概要〕 IC等のデバイスのバーンイン装置に関し。
バーンイン時のIC温度を均一にし、バーンイン精度を
向上することを目的とし。
(1)デバイスを装着するバーンインボードと、流体を
循環させる流路を構成する温度制御用のモジュールと、
該モジュール内に配置され且つ延長部が該モジュールを
貫通して該デバイスに接触するフィンと、該フィンが該
流体の流れの方向に対して任意の角度がとれるように回
転調節可能な手段とを有するように構成する。
(2)デバイスを装着するバーンインボードと、流体を
循環させる流路を構成する温度制御用のモジュールと、
該モジュール内に配置され且つ延長部が該モジュールを
貫通して該デバイスに接触するフィンと、該フィンに接
触しながら移動できるフインカバーと、該フィンカバー
を移動する手段とを有し、該フィンカバーの移動により
フィンの表面積を変化させるように構成する。
〔産業上の利用分野〕
本発明はIC等のデバイスのバーンイン装置に関する。
バーンイン装置はデバイス製造後、出荷前の初期不良の
除去や信頼性予測等のために広く用いられている。
〔従来の技術〕
従来装置では、バーンイン時の個々のICの温度のバラ
ツキは現実に大きく、バーンイン精度を上げるためにこ
れを少なく抑える必要がある。
従来のバーンイン装置におけるICの温度制御は装置内
部に流体を循環させて全体のICの温度を制御している
この方法では、装置内での冷却流体の温度上昇等の原因
によりIC全体の温度精度は必ずしも良くなかった。
〔発明が解決しようとする課題] 従って、従来装置では個々のIC温度のバラツキは大き
くなり均一性は良くなかった。
本発明はバーンイン時のIC温度を均一にし、バーンイ
ン精度を向上することを目的とする。
〔課題を解決するための手段〕
上記課題の解決は、デバイスを装着するバーンインボー
ドと、流体を循環させる流路を構成する温度制t2[1
用のモジュールと、該モジュール内に配置され且つ延長
部が該モジュールを貫通して該デバイスに接触するフィ
ンと、該フィンが該流体の流れの方向に対して任意の角
度がとれるように回転調節可能な手段とを有するバーン
イン装置、或いはデバイスを装着するバーンインボード
と、流体を循環させる流路を構成する温度制御用のモジ
ュールと、該モジエール内に配置され且つ延長部が該モ
ジュールを貫通して該デバイスに接触するフィンと、該
フィンに接触しながら移動できるフィンカバーと、該フ
ィンカバーを移動する手段とを有し、該フィンカバーの
移動によりフィンの表面積を変化させるようにしたバー
ンイン装置により達成される。
〔作用〕
本発明は温度制御用のモジュール内にある個々のフィン
(このフィンはモジュールの外側にある個々のICに接
触している)を次のようにすることにより8個々のフィ
ンから流体への熱伝達率を調節できるようにして、rC
全体の温度の均一化をはかったものである。
本発明では個々のフィンから流体への熱伝達率を調節す
る方法として ■ フィンを回転させる ■ フィンにカバーを設けこれを移動させる以上の2種
類の構造を提案する。
〔実施例] 第1図(1)〜(3)は第1の発明の一実施例を説明す
る平面図と断面図である。
図において、ICIはバーンインボード3に装着され、
温度制御用のモジュール4内に回転可能なフィン2  
(2A、 2B、 2C,・・・、2P)が流路に沿っ
て配列され、フィン2の回転軸はモジュール4の両側を
貫通して片側はICIに接触し1反対側で回転角を調節
し固定できるようになっている。
流体は導入口5よりモジュール4に流入し、排出口6よ
り流出して循環して再び導入口5に戻される。
流体は1例えば水を用いる。
IC1とフィン2の接触片間にはサーマルコンパウンド
等を塗布し、第4図の固定具等を利用して接触圧を高め
て接触熱抵抗を下げている。
フィン2は前記のようにモジュール4の外側から回転角
を調節でき、任意の角度で固定できるようにする。
モジュール4内には矢印のように流体を循環させる。流
体の温度と流量は外部装置により調節可能であり、バー
ンイン時には一定にする。
その際、フィン2A〜2Pの位置において、モジュール
内の循環流体の温度は2A→2Pに従って上昇し。
又流速はフィンによる損失のため2A→2Pに従って低
下する。これらの変化に応じて、各々の位置におけるフ
ィンの角度を基本的には2A→2Pに従って増大させる
ように調節する。
これにより、フィンと流体との熱伝達率が2A→2Pに
従って増大され、槽内の流体温度や流速の変化に依存し
ないで、各々の位置におけるICからの熱伝達量を一定
にでき、バーンインボード上に装着さたICの温度を均
一にできる。
フィンの流れに対する角度の変化による熱伝達量の変化
は次のようにして求められる。
フィンから流体への熱伝達率αはヌッセルト数Nuに比
例する。
α−(λ/いNu  ・ ・ ・ ・(1)ここで、λ
は流体の熱伝導率1Lは流れを特徴づける代表的な長さ
である。
従って、フィンより流体に熱伝達される熱IQは Q =α ・^・ Δt ・ ・ ・ ・(2)で表さ
れる。
ここで、Aはフィンの表面積、Δtはフィンと十分に遠
方の流体との温度差である。
一方、ヌッセルト数Nuはレイノズル数Reが10 <
Re<lQ’の範囲内で Nu−0,59Re” ” Pr” 3B(Pr/Pr
、)” zs φ。
10ゴ<Re<10’の範囲内で Nu=0.21 Re”2Pr”’(Pr/Pr、)”
’ φ。
で表される8)。
ここで。
Prはフィンから十分遠方の温度における流体のプラン
トル数。
Prwはフィン壁温における流体のプラントル数である
又、補正係数φはフィンと流れのなす角θの関数でフィ
ンが1枚のときは第3図(1)に、複数枚のときは第3
図(2)に示される目。
1)千坪 著、伝熱計算法、工学図書 発行以上の関係
より、フィンから流体へ熱伝達される熱IQはθを大き
くするほど増加する関係にあることがわかる。
ここで、熱伝達量口に影響するフィンの表面積Aはモジ
ュール内には粘性の大きな流体1例えば水が流れている
ため角度θに対して変化は少ない。従って熱量Ωを一定
にするには、モジュール内の流体の温度変化に応じて、
角度θを調整すればよい。
第2図(1)〜(3)は第2の発明の一実施例を説明す
る平面図と断面図である。
図において、ICIはバーンインボード3に装着され、
モジュール4内にフィン2 (2A、 2B、 2C,
・・・、2L)が流路に沿って配列され、各フィンには
移動可能なフィンカバー7が被せられ移動によりフィン
の表面積が調節可能になっている。
フィン2はモジュール4を貫通してICIに接触し、フ
ィンカバー7は直線移動により外部から調節でき、固定
できるようになっている。
フィンカバー7は断熱性の高い、浸透性の小さい材料1
例えば樹脂等で作成する。
流体は導入口5よりモジュール4に流入し、排出口6よ
り流出して循環して再び導入口5に戻される。
モジュール4内には矢印のように流体を循環させる。流
体の温度と流量は外部装置により調節可能であり、バー
ンイン時には一定にする。
その際、フィン2A〜2Lの位置において、モジュール
内の循環流体の温度は2A→2Lに従って上昇し。
又流速はフィンによる損失のため2A→2Lに従って低
下する。これらの変化に応じて、各々の位置におけるフ
ィンカバーを基本的には静→2Pに従ってフィンより引
き離し2表面積を増大させるように調節する。
これにより、モジュール内の流体温度や流速の変化に依
存しないで、各々の位置におけるICからの熱伝達量を
一定にでき、バーンインボード上に装着さたICの温度
を均一にできる。
フィンの表面積の変化による熱伝達量の変化は(2)式
において3表面積Aがフィンカバーの移動により太き(
なると、熱伝達IQが大きくなる。
従ってフィンから流体への熱伝達IQを各フィンごとに
一定にするには、モジュール内の流体の温度変化に応じ
て、フィンの表面積を変化するようにフィンカバーの移
動量を調整すればよい。
第4図はICの固定方法の一例を示す断面図である。
図において、 ICソケット21はバーンインボード3
に固定され、 rc iを装着する。爪8はモジュール
4に支点を有し、その楔状の先端をICソケット21の
側面の凹部に押し込むことにより、 rc 1はフィン
2の接触部21に密着して固定される。
実施例によれば個々のIC温度を独立して調節できるた
め、従来困難であった±3°C以下の均一性が得られた
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明によれば、バーンイン時のI
C温度を均一にでき、バーンイン精度を向上することが
できる。
【図面の簡単な説明】
第1図(1)〜(3)は第1の発明の一実施例を説明す
る平面図と断面図。 第2図(1)〜(3)は第2の発明の一実施例を説明す
る平面図と断面図。 第3図(1)、 (2)は角度θに対する補正係数φの
関係図。 第4図はICの固定方法の一例を示す断面図である。 図において。 1はIC。 2 (2A、 2B、 2C,・ ・ ・)はフィン。 3はバーンインボード。 4は温度制御用のモジュール。 5は流体の導入口。 6は流体の排出口。 7はフィンカバー

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)デバイスを装着するバーンインボードと、流体を
    循環させる流路を構成する温度制御用のモジュールと、
    該モジュール内に配置され且つ延長部が該モジュールを
    貫通して該デバイスに接触するフィンと、該フィンが該
    流体の流れの方向に対して任意の角度がとれるように回
    転調節可能な手段とを有することを特徴とするバーンイ
    ン装置。
  2. (2)デバイスを装着するバーンインボードと、流体を
    循環させる流路を構成する温度制御用のモジュールと、
    該モジュール内に配置され且つ延長部が該モジュールを
    貫通して該デバイスに接触するフィンと、該フィンに接
    触しながら移動できるフィンカバーと、該フィンカバー
    を移動する手段とを有し、 該フィンカバーの移動によりフィンの表面積を変化させ
    るようにしたことを特徴とするバーンイン装置。
JP12510889A 1989-05-18 1989-05-18 バーンイン装置 Pending JPH02304378A (ja)

Priority Applications (1)

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JP12510889A JPH02304378A (ja) 1989-05-18 1989-05-18 バーンイン装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP12510889A JPH02304378A (ja) 1989-05-18 1989-05-18 バーンイン装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH02304378A true JPH02304378A (ja) 1990-12-18

Family

ID=14902048

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP12510889A Pending JPH02304378A (ja) 1989-05-18 1989-05-18 バーンイン装置

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JP (1) JPH02304378A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5000803B2 (ja) * 1998-07-14 2012-08-15 デルタ・デザイン・インコーポレイテッド 電子デバイスの速応温度反復制御を液体を利用して広範囲に行うための装置、方法

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5000803B2 (ja) * 1998-07-14 2012-08-15 デルタ・デザイン・インコーポレイテッド 電子デバイスの速応温度反復制御を液体を利用して広範囲に行うための装置、方法

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