JPH0229965B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0229965B2 JPH0229965B2 JP59088888A JP8888884A JPH0229965B2 JP H0229965 B2 JPH0229965 B2 JP H0229965B2 JP 59088888 A JP59088888 A JP 59088888A JP 8888884 A JP8888884 A JP 8888884A JP H0229965 B2 JPH0229965 B2 JP H0229965B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- measurement
- displacement
- approach
- ball
- axis
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 73
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims description 33
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 28
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 9
- 239000002131 composite material Substances 0.000 claims 2
- 239000000700 radioactive tracer Substances 0.000 description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 238000000465 moulding Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B21/00—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant
- G01B21/22—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring angles or tapers; for testing the alignment of axes
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
- Machine Tool Copy Controls (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
イ 産業上の利用分野
本発明は三次元自由曲面の座標値測定における
角度検出方法に関し、さらに詳しくは、三次元自
由曲面の座標値測定に於いて、倣い工作機の自動
アプローチ機能を用いた場合に起こる測定球と被
測定物との接触点での摩擦を低減させて高精度な
角度検出を行う角度検出方法である。
角度検出方法に関し、さらに詳しくは、三次元自
由曲面の座標値測定に於いて、倣い工作機の自動
アプローチ機能を用いた場合に起こる測定球と被
測定物との接触点での摩擦を低減させて高精度な
角度検出を行う角度検出方法である。
ロ 従来技術
最近の傾向として切削加工から成形加工へと需
要が変化してきており、しかも、ますます高精度
で、かつ、短納期が要求されるようになつてきて
いる。そして成形加工の中でも、特に三次元自由
曲面を持つ金型の高精度の外形測定は三次元測定
機以外では計測が困難である。しかし、三次元測
定機は高価で、中小企業の多い金型メーカーでは
経済的な面で入手できない。
要が変化してきており、しかも、ますます高精度
で、かつ、短納期が要求されるようになつてきて
いる。そして成形加工の中でも、特に三次元自由
曲面を持つ金型の高精度の外形測定は三次元測定
機以外では計測が困難である。しかし、三次元測
定機は高価で、中小企業の多い金型メーカーでは
経済的な面で入手できない。
上記の事情から、簡易的に倣い工作機のトレー
サを用いてオン・ザ・マシンで高精度な計測の可
能性を検討した。公知の倣い工作機の三次元座標
測定原理は１軸固定自動アプローチ機能を用い、
被測定物に対してアプローチをかけ、アプローチ
終了点における測定の合成変位のベクトルから、
測定球と被測定面との接触点での角度を算出し、
アプローチ終了時のＸ、Ｙ、Ｚ軸方向の座標と、
測定球径及び演算によつて得られた角度により、
Ｘ、Ｙ、Ｚ軸方向の座標を補正し、被測定物と測
定球との接触点の座標を得るものである。
サを用いてオン・ザ・マシンで高精度な計測の可
能性を検討した。公知の倣い工作機の三次元座標
測定原理は１軸固定自動アプローチ機能を用い、
被測定物に対してアプローチをかけ、アプローチ
終了点における測定の合成変位のベクトルから、
測定球と被測定面との接触点での角度を算出し、
アプローチ終了時のＸ、Ｙ、Ｚ軸方向の座標と、
測定球径及び演算によつて得られた角度により、
Ｘ、Ｙ、Ｚ軸方向の座標を補正し、被測定物と測
定球との接触点の座標を得るものである。
第１図は、測定球中心Ｏと被測定物２と測定球
１との接触点Ｔを含む平面で切つたものである。
第１図において、測定球１はXY軸を固定してＺ
軸方向に下降し、はじめT′点で被測定物２に接
触、この時の球心位置をO′とする。さらに測定
球１はアプローチを続け、仮想球中心O″の位置
まで下降して停止する。実際には、被測定物と接
触することにより、接触点Ｔを含む被測定物表面
の法線上、点Ｏに測定球中心が移動することにな
る。は測定球径に対応した変位量であり、
OO″が測定球の実際の変位量として検出される。
仮想球中心点O″の座標値を（Ｘ、Ｙ、Ｚ）とし
たとき、測定球と被測定物との接触点Ｔの座標値
を求めるには（Ｘ、Ｙ、Ｚ）から、斜線部で示し
た補正量（Hx、Hy、Hz）を減算してやればよ
い。補正量は測定球半径をＲとして で求められる。
１との接触点Ｔを含む平面で切つたものである。
第１図において、測定球１はXY軸を固定してＺ
軸方向に下降し、はじめT′点で被測定物２に接
触、この時の球心位置をO′とする。さらに測定
球１はアプローチを続け、仮想球中心O″の位置
まで下降して停止する。実際には、被測定物と接
触することにより、接触点Ｔを含む被測定物表面
の法線上、点Ｏに測定球中心が移動することにな
る。は測定球径に対応した変位量であり、
OO″が測定球の実際の変位量として検出される。
仮想球中心点O″の座標値を（Ｘ、Ｙ、Ｚ）とし
たとき、測定球と被測定物との接触点Ｔの座標値
を求めるには（Ｘ、Ｙ、Ｚ）から、斜線部で示し
た補正量（Hx、Hy、Hz）を減算してやればよ
い。補正量は測定球半径をＲとして で求められる。
但し、Ex：Ｘ軸方向の変位量
Ey：Ｙ軸方向の変位量
Ez：Ｚ軸方向の変位量
第２図は、上記の性能を満足するトレーサヘツ
ドの基本構造で、測定球が平滑な被測定面に対し
法線方向に変位し停止させるには、測定球を三次
元方向に自由支持し、Ｘ、Ｙ、Ｚ方向とも変位一
荷重特性（バネ常数）が等しいことが必要であ
る。
ドの基本構造で、測定球が平滑な被測定面に対し
法線方向に変位し停止させるには、測定球を三次
元方向に自由支持し、Ｘ、Ｙ、Ｚ方向とも変位一
荷重特性（バネ常数）が等しいことが必要であ
る。
第２図において、測定球１は円筒状に分布した
複数の弾性リボン３とそれに直角なフランジ５で
支持される。弾性リボンでXY平面内の動作、フ
ランジ５とトレーサ軸８との間のリニアボール６
でＺ軸方向の動作を保証し、トレーサ軸は常に垂
直方向を保ち平行移動式で弾性変位する機構であ
る。変位の検出はＸ、Ｙ、Ｚ軸方向にそれぞれ差
動トランス７を設けて検出する。４は重量調整器
である。
複数の弾性リボン３とそれに直角なフランジ５で
支持される。弾性リボンでXY平面内の動作、フ
ランジ５とトレーサ軸８との間のリニアボール６
でＺ軸方向の動作を保証し、トレーサ軸は常に垂
直方向を保ち平行移動式で弾性変位する機構であ
る。変位の検出はＸ、Ｙ、Ｚ軸方向にそれぞれ差
動トランス７を設けて検出する。４は重量調整器
である。
ところで、上記の計測方法は、第３図に示す様
に、倣い工作物の同時１軸自動アプローチ機能を
用いて角度θを検出し、接触点の座標を算出して
いる。この同時１軸自動アプローチは測定球１が
被測定物２と接触し、軸方向変位量Ex、Ey、Ez
を入力しながら測定球１が被測定物２に沿つて移
動し、合成変位量（Ｅ＝√2＋2＋2）が予
め設定された基準変位値に達した時終了する。と
ころが、この時アプローチ方向による被測定物２
と測定球１との間の摩擦力ｆの影響によつて測定
球１の被測定物２による抗力Ｎが測定点Ｔでの面
法線方向を向かない。この為、軸方向変位（Ex、
Ey、Ez）から算出される測定点の角度θは実際
の値とは異なるものとなり、この角度から求めら
れる測定点の座標は測定球径に比例した誤差が介
入する。
に、倣い工作物の同時１軸自動アプローチ機能を
用いて角度θを検出し、接触点の座標を算出して
いる。この同時１軸自動アプローチは測定球１が
被測定物２と接触し、軸方向変位量Ex、Ey、Ez
を入力しながら測定球１が被測定物２に沿つて移
動し、合成変位量（Ｅ＝√2＋2＋2）が予
め設定された基準変位値に達した時終了する。と
ころが、この時アプローチ方向による被測定物２
と測定球１との間の摩擦力ｆの影響によつて測定
球１の被測定物２による抗力Ｎが測定点Ｔでの面
法線方向を向かない。この為、軸方向変位（Ex、
Ey、Ez）から算出される測定点の角度θは実際
の値とは異なるものとなり、この角度から求めら
れる測定点の座標は測定球径に比例した誤差が介
入する。
ハ 発明の目的
本発明は倣い工作機のトレーサを用い、測定球
と被測定物との間の摩擦力の影響を除去して角度
検出精度を向上させて高精度な三次元座標値測定
を行うことである。
と被測定物との間の摩擦力の影響を除去して角度
検出精度を向上させて高精度な三次元座標値測定
を行うことである。
ニ 発明の構成
上記目的の達成手段として本発明は、自動アプ
ローチ機能、及び同時３軸制御機能を有する倣い
工作機の主軸に、三次元方向に自由支持され、
XYZ方向とも等しい変位−荷重特性を有する測
定球を装着して被測定面の角度検出手段を構成
し、前記測定球を被測定物に接触させ、前記被測
定面に沿つて移動させることによつて、１軸固定
で自動アプローチをかけ、合成変位量（Ｅ＝√
E2 X＋E2 Y＋E2 Z）を測定し、この合成変位量が予
め設定された基準値に達したときに前記自動アプ
ローチを停止させ、この自動アプローチ終了点に
おける変位量からNCの内部演算によつて接触点
の斜面からの抗力の方向ベクトルを求め、続いて
この抗力ベクトルの方向に対する摩擦力の影響を
排除するため、前記測定球と斜面とが完全に離れ
る距離だけ測定球を同時３軸NC自動送りによつ
て移動させる第１の測定手順と、前記摩擦力が生
じない方向から同時３軸NC自動送りによつて測
定球を前記第１の測定手順で求めた前回のアプロ
ーチ終了点へ位置決めし、再び変位量の読み取
り、この変位量からNCの内部演算によつて斜面
からの抗力の方向ベクトルを求め、この後、同時
３軸自動送りによつて、この抗力ベクトル方向に
測定球と斜面とが完全に離れる迄測定球を移動さ
せる第２の測定手順と、前回のアプローチ終了時
の変位量と今回のアプローチ終了時の変位量を比
較してその差が前以て設定された一定の範囲内に
入る迄前記第２の測定手順を繰り返し、最終的な
アプローチ終了時の変位量を取り込む第３の測定
手順と、上記第３の測定手順で得た最終のアプロ
ーチ終了時の変位量からNCの内部演算によつて
接触点の角度を求め、かつ、求められた角度と測
定球の径とによつて接触点の座標を算出する第４
の測定手順からなる三次元座標測定における高精
度角度検出方法を提供するものである。
ローチ機能、及び同時３軸制御機能を有する倣い
工作機の主軸に、三次元方向に自由支持され、
XYZ方向とも等しい変位−荷重特性を有する測
定球を装着して被測定面の角度検出手段を構成
し、前記測定球を被測定物に接触させ、前記被測
定面に沿つて移動させることによつて、１軸固定
で自動アプローチをかけ、合成変位量（Ｅ＝√
E2 X＋E2 Y＋E2 Z）を測定し、この合成変位量が予
め設定された基準値に達したときに前記自動アプ
ローチを停止させ、この自動アプローチ終了点に
おける変位量からNCの内部演算によつて接触点
の斜面からの抗力の方向ベクトルを求め、続いて
この抗力ベクトルの方向に対する摩擦力の影響を
排除するため、前記測定球と斜面とが完全に離れ
る距離だけ測定球を同時３軸NC自動送りによつ
て移動させる第１の測定手順と、前記摩擦力が生
じない方向から同時３軸NC自動送りによつて測
定球を前記第１の測定手順で求めた前回のアプロ
ーチ終了点へ位置決めし、再び変位量の読み取
り、この変位量からNCの内部演算によつて斜面
からの抗力の方向ベクトルを求め、この後、同時
３軸自動送りによつて、この抗力ベクトル方向に
測定球と斜面とが完全に離れる迄測定球を移動さ
せる第２の測定手順と、前回のアプローチ終了時
の変位量と今回のアプローチ終了時の変位量を比
較してその差が前以て設定された一定の範囲内に
入る迄前記第２の測定手順を繰り返し、最終的な
アプローチ終了時の変位量を取り込む第３の測定
手順と、上記第３の測定手順で得た最終のアプロ
ーチ終了時の変位量からNCの内部演算によつて
接触点の角度を求め、かつ、求められた角度と測
定球の径とによつて接触点の座標を算出する第４
の測定手順からなる三次元座標測定における高精
度角度検出方法を提供するものである。
ホ 実施例
第４図乃至第８図において、斜線部分は測定斜
面１１を示し、円は倣い工作機の測定球１２を示
し、一点鎖線Ｃは測定点Ｔでの面法線を示し、矢
印Ｄは測定球の運動方向を示し、矢印Ｎは演算結
果による抗力ベクトルの方向を示す。
面１１を示し、円は倣い工作機の測定球１２を示
し、一点鎖線Ｃは測定点Ｔでの面法線を示し、矢
印Ｄは測定球の運動方向を示し、矢印Ｎは演算結
果による抗力ベクトルの方向を示す。
以下、第４図乃至第８図によつて本発明による
三次元測定における角度検出方法を説明する。
三次元測定における角度検出方法を説明する。
第１の測定手順
測定球１２を被測定物１１に対し、Ｘ、Ｙ、Ｚ
軸のうち１軸固定で自動アプローチさせ、第９図
に示すように自動アプローチ終了点、即ち測定点
Ｔにおける変位量Ex、Ey、Ezを電気的に検出し
て読み取り、NCの内部演算によつて測定点Ｔの
斜面からの抗力の方向ベクトルを求める（第４
図）。この演算によつて求められた抗力の方向ベ
クトルは、理論的には第１図のＴ−Ｏ線の方向に
向いている筈であるが、現実的には摩擦力ｆの存
在によつて、測定点Ｔでの法線より若干反時計方
向、例えば矢印Ｎで示す方向に向いている（第５
図）。そこでNCの内部演算による上記抗力の方
向ベクトルの算出に際し、摩擦力ｆの影響を排除
するため、測定球１２と斜面が完全に離れる距離
だけ、測定球１２を同時３軸NC自動送りによつ
て移動させ（第６図）、この後摩擦力ｆが生じな
い方向Ｄから測定球１２を再プローチさせる。
軸のうち１軸固定で自動アプローチさせ、第９図
に示すように自動アプローチ終了点、即ち測定点
Ｔにおける変位量Ex、Ey、Ezを電気的に検出し
て読み取り、NCの内部演算によつて測定点Ｔの
斜面からの抗力の方向ベクトルを求める（第４
図）。この演算によつて求められた抗力の方向ベ
クトルは、理論的には第１図のＴ−Ｏ線の方向に
向いている筈であるが、現実的には摩擦力ｆの存
在によつて、測定点Ｔでの法線より若干反時計方
向、例えば矢印Ｎで示す方向に向いている（第５
図）。そこでNCの内部演算による上記抗力の方
向ベクトルの算出に際し、摩擦力ｆの影響を排除
するため、測定球１２と斜面が完全に離れる距離
だけ、測定球１２を同時３軸NC自動送りによつ
て移動させ（第６図）、この後摩擦力ｆが生じな
い方向Ｄから測定球１２を再プローチさせる。
第２の測定手順
第１の測定手順で求めたアプローチ終了点へ同
時３軸NC自動送りによつて測定球１２を位置決
めし（第７図）、再び変位量Ex′、Ey′、Ez′を読
み取り、この状態での斜面からの抗力の方向ベク
トルを第１の測定手順と同様の測定手順に従つて
求め、続いて同時３軸NC自動送りによつて上記
抗力の方向ベクトルにそつて、測定球１２が斜面
から完全に離れるまで移動させる。
時３軸NC自動送りによつて測定球１２を位置決
めし（第７図）、再び変位量Ex′、Ey′、Ez′を読
み取り、この状態での斜面からの抗力の方向ベク
トルを第１の測定手順と同様の測定手順に従つて
求め、続いて同時３軸NC自動送りによつて上記
抗力の方向ベクトルにそつて、測定球１２が斜面
から完全に離れるまで移動させる。
第３の測定手順
第１の測定手順によるアプローチ終了点の変位
量と第２の測定手順によるアプローチ終了点の変
位量とを比較し、その差が一定範囲内に入るま
で、上記第２の測定手順を繰り返す（第８図）。
量と第２の測定手順によるアプローチ終了点の変
位量とを比較し、その差が一定範囲内に入るま
で、上記第２の測定手順を繰り返す（第８図）。
第４の測定手順
第３の測定手順によつて最終的なアプローチ終
了時の変位量を取り込み、NCの内部演算によつ
て接触点の角度を求める。そして求められた角度
と測定球径とによつて接触点の座標を算出する。
了時の変位量を取り込み、NCの内部演算によつ
て接触点の角度を求める。そして求められた角度
と測定球径とによつて接触点の座標を算出する。
ヘ 発明の効果
上記の第１から第４の測定手順において、第３
の測定手順によつてアプローチ方向が原因で生じ
る摩擦を減び、斜面からの抗力を接触点の面法線
方向へ近づけることが可能となる。
の測定手順によつてアプローチ方向が原因で生じ
る摩擦を減び、斜面からの抗力を接触点の面法線
方向へ近づけることが可能となる。
本発明は同時３軸制御機能及び自動アプローチ
機能を備えた倣い工作機のトレーサを用いた測定
のみでなく、アナログ式三次元座標測定機にも応
用できる。
機能を備えた倣い工作機のトレーサを用いた測定
のみでなく、アナログ式三次元座標測定機にも応
用できる。
第１図は倣い工作機のトレーサによる三次元座
標測定原理図、第２図はトレーサの内部構造を示
す図面、第３図は自動アプローチ終了点での測定
球と斜面間の力関係を示す図面であり、第４図乃
至第８図は本発明の測定手順の説明図である。ま
た、第９図は変位量の読み取り状態の説明図であ
る。 １１…測定斜面、１２…測定球、Ｔ……測定
点、Ｃ…測定点Ｔでの面法線、Ｎ…演算結果によ
る抗力ベクトルの方向。
標測定原理図、第２図はトレーサの内部構造を示
す図面、第３図は自動アプローチ終了点での測定
球と斜面間の力関係を示す図面であり、第４図乃
至第８図は本発明の測定手順の説明図である。ま
た、第９図は変位量の読み取り状態の説明図であ
る。 １１…測定斜面、１２…測定球、Ｔ……測定
点、Ｃ…測定点Ｔでの面法線、Ｎ…演算結果によ
る抗力ベクトルの方向。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 自動アプローチ機能、及び同時３軸制御機能
を有する倣い工作機の主軸に、三次元方向に自由
支持され、XYZ方向とも等しい変位−荷重特性
を有する測定球を装着して被測定面の角度検出手
段を構成し、前記測定球を被測定物に接触させ、
前記被測定面に沿つて移動させることによつて、
１軸固定で自動アプローチをかけ、合成変位量
（Ｅ＝√2 X＋2 Y＋2 Z）を測定し、この合成変位
量が予め設定された基準値に達したときに前記自
動アプローチを停止させ、この自動アプローチ終
了点における変位量からNCの内部演算によつて
接触点の斜面からの抗力の方向ベクトルを求め、
続いてこの抗力ベクトルの方向に対する摩擦力の
影響を排除するため、前記測定球と斜面とが完全
に離れる距離だけ測定球を同時３軸NC自動送り
によつて移動させる第１の測定手順と、 前記摩擦力が生じない方向から同時３軸NC自
動送りによつて測定球を前記第１の測定手順で求
めた前回のアプローチ終了点へ位置決めし、再び
変位量を読み取り、この変位量からNCの内部演
算によつて斜面からの抗力の方向ベクトルを求
め、この後、同時３軸自動送りによつて、この抗
力ベクトル方向に測定球と斜面とが完全に離れる
迄測定球を移動させる第２の測定手順と、 前回のアプローチ終了時の変位量と今回のアプ
ローチ終了時の変位量を比較してその差が前以て
設定された一定の範囲内に入る迄前記第２の測定
手順を繰り返し、最終的なアプローチ終了時の変
位量を取り込む第３の測定手順と、 上記第３の測定手順で得た最終のアプローチ終
了時の変位量からNCの内部演算によつて接触点
の角度を求め、かつ、求められた角度と測定球の
径とによつて接触点の座標を算出する第４の測定
手順からなる三次元座標測定における高精度角度
検出方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8888884A JPS60233512A (ja) | 1984-05-02 | 1984-05-02 | 三次元座標値測定における高精度角度検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8888884A JPS60233512A (ja) | 1984-05-02 | 1984-05-02 | 三次元座標値測定における高精度角度検出方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60233512A JPS60233512A (ja) | 1985-11-20 |
| JPH0229965B2 true JPH0229965B2 (ja) | 1990-07-03 |
Family
ID=13955508
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8888884A Granted JPS60233512A (ja) | 1984-05-02 | 1984-05-02 | 三次元座標値測定における高精度角度検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60233512A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008268113A (ja) * | 2007-04-24 | 2008-11-06 | Makino Milling Mach Co Ltd | 形状測定方法及び装置 |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH07111339B2 (ja) * | 1986-11-20 | 1995-11-29 | 株式会社ミツトヨ | 測定方法 |
| KR100457315B1 (ko) * | 2002-07-08 | 2004-11-16 | 현대자동차주식회사 | 기계가공 부품용 검사장치 |
| JP5201871B2 (ja) * | 2007-04-24 | 2013-06-05 | 株式会社牧野フライス製作所 | 形状測定方法及び装置 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5943308A (ja) * | 1982-09-03 | 1984-03-10 | Tokyo Seimitsu Co Ltd | 三次元形状の検出方法と装置 |
-
1984
- 1984-05-02 JP JP8888884A patent/JPS60233512A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5943308A (ja) * | 1982-09-03 | 1984-03-10 | Tokyo Seimitsu Co Ltd | 三次元形状の検出方法と装置 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008268113A (ja) * | 2007-04-24 | 2008-11-06 | Makino Milling Mach Co Ltd | 形状測定方法及び装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS60233512A (ja) | 1985-11-20 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5501096A (en) | Calibration method for determining and compensating differences of measuring forces in different coordinate directions in a multi-coordinate scanning system | |
| US10209107B2 (en) | Geometric error identification method of multi-axis machine tool and multi-axis machine tool | |
| JP3932502B2 (ja) | 触針式形状測定センサとこれを用いたｎｃ加工装置および形状測定方法 | |
| US3840994A (en) | Method and device of automatic measurement for use with a numerically-controlled lathe | |
| JPS63182509A (ja) | 座標測定機を較正する方法および装置 | |
| US20050055839A1 (en) | Probe head for coordinate measuring machines | |
| JPS5973704A (ja) | 多座標−感知ヘツド | |
| EP0568120B1 (en) | Position sensing probe | |
| JP2542631B2 (ja) | 非接触ならい方法 | |
| GB2163256A (en) | Surface tracer | |
| JP5201871B2 (ja) | 形状測定方法及び装置 | |
| CN113733102B (zh) | 一种用于工业机器人的误差标定装置 | |
| JPH0229965B2 (ja) | ||
| Guo et al. | Continuous measurements with single setup for position-dependent geometric errors of rotary axes on five-axis machine tools by a laser displacement sensor | |
| JP2002267438A (ja) | 自由曲面形状測定方法 | |
| JP3394972B2 (ja) | 自動工作機械 | |
| CN114782513B (zh) | 一种基于平面的点激光传感器安装位姿标定方法 | |
| JP2628523B2 (ja) | 表面形状測定用トレーサ | |
| JPH04178509A (ja) | 座標測定機の測定方法 | |
| JP2651151B2 (ja) | 工具径測定方法 | |
| JPH02281102A (ja) | ボールエンドミルの真球度測定方法 | |
| JP2579726B2 (ja) | 接触式プローブ | |
| JPH0366549A (ja) | 真直度補正方法 | |
| JPH04140691A (ja) | 位置決め装置 | |
| JPH06137852A (ja) | 直線運動体の運動誤差測定装置 |