JPH02297332A - 生体眼の寸法測定装置 - Google Patents
生体眼の寸法測定装置Info
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- JPH02297332A JPH02297332A JP1118267A JP11826789A JPH02297332A JP H02297332 A JPH02297332 A JP H02297332A JP 1118267 A JP1118267 A JP 1118267A JP 11826789 A JP11826789 A JP 11826789A JP H02297332 A JPH02297332 A JP H02297332A
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Landscapes
- Eye Examination Apparatus (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、干渉縞を観察することにより生体眼の第1測
定対象面から第2測定対象面までの寸法としての眼軸長
、前房深さ、水晶体厚さ等を非接触で測定することので
きる生体眼の寸法測定装置の改良に関する。
定対象面から第2測定対象面までの寸法としての眼軸長
、前房深さ、水晶体厚さ等を非接触で測定することので
きる生体眼の寸法測定装置の改良に関する。
〈従来の技術)
従来から、生体眼の第1測定、対象面から第2測定対象
面までの寸法としての眼軸長、前房深さ、水晶体厚さ等
を測定する生体眼の寸法測定装置としては、超音波を用
いて眼の前方から投射した超音波の角膜前面、水晶体前
面、水晶体後面、眼底表面における反射波をブラウン管
」二に描き出し、そのブラウン管上に描き出されたエコ
ーグラムを撮影して計測するものが知られている。
面までの寸法としての眼軸長、前房深さ、水晶体厚さ等
を測定する生体眼の寸法測定装置としては、超音波を用
いて眼の前方から投射した超音波の角膜前面、水晶体前
面、水晶体後面、眼底表面における反射波をブラウン管
」二に描き出し、そのブラウン管上に描き出されたエコ
ーグラムを撮影して計測するものが知られている。
(発明が解決しようとする課題)
しかしながら、この従来の生体眼の寸法測定装置は、測
定精度が±0. 2mm程度であり、たとえば、測定の
結果得られた眼軸長を用いてl0L(Intraocu
lar Lens)のパワーを決定するには、その眼軸
長の測定精度が不十分であるという問題点かある。
定精度が±0. 2mm程度であり、たとえば、測定の
結果得られた眼軸長を用いてl0L(Intraocu
lar Lens)のパワーを決定するには、その眼軸
長の測定精度が不十分であるという問題点かある。
また、この従来の超音波による生体眼の寸法測定装置は
、測定に際して生体眼にプローブを接触させなければな
らないために、感染等の予防措置を構じなければならな
いという面倒もある。
、測定に際して生体眼にプローブを接触させなければな
らないために、感染等の予防措置を構じなければならな
いという面倒もある。
そこで、近年、干渉縞を観察することにより眼軸長、前
房深さ、水晶体厚さ等を非接触で測定することのできる
生体眼の寸法測定装置が提案されている。
房深さ、水晶体厚さ等を非接触で測定することのできる
生体眼の寸法測定装置が提案されている。
第8図に示す生体眼の寸法測定装置は、眼軸長を測定す
るために用いる装置の一例を示すもので、A、F、Fe
rcher et al、 (0PTIC3LETTE
RVOL、13 No。
るために用いる装置の一例を示すもので、A、F、Fe
rcher et al、 (0PTIC3LETTE
RVOL、13 No。
3 PP、186−188 (March 1988)
0ptical 5ociety ofAmeric
a)に記載されている技術である。
0ptical 5ociety ofAmeric
a)に記載されている技術である。
この第8図に示す生体眼の寸法測定装置は、半導体レー
ザー1、コリメートレンズ2、二枚の平行平面板3.4
、ビームスプリッタ5、集光レンズ6、撮像カメラ7か
ら概略構成されている。半導体レーザー1から出射され
たレーザー光はコリメートレンズ2によって平行光束と
され、二枚の平行平面板3.4に導かれる。二枚の平行
平面板3.4を通過した平行光束(光束■という)はビ
ームスプリッタ5を介して生体眼8の眼底9に収束光と
して導かれ、眼底9で反射されて略平行光束(平面波)
として生体眼8から出射され、ビームスプリッタ5の反
射面10によって集光レンズ6の存在する方向に反射さ
れ、集光レンズ6により集光されて撮像カメラ7に導か
れる。また、平行平面板3を通過した平行光束の一部は
平行平面板4により反射されて反射光束(光束■という
)は平行平面板3に戻り、この平行平面板3により再び
反射されて平行平面板4を通過し、ビームスプリッタ5
を通過して生体眼8の角膜11に導かれる。
ザー1、コリメートレンズ2、二枚の平行平面板3.4
、ビームスプリッタ5、集光レンズ6、撮像カメラ7か
ら概略構成されている。半導体レーザー1から出射され
たレーザー光はコリメートレンズ2によって平行光束と
され、二枚の平行平面板3.4に導かれる。二枚の平行
平面板3.4を通過した平行光束(光束■という)はビ
ームスプリッタ5を介して生体眼8の眼底9に収束光と
して導かれ、眼底9で反射されて略平行光束(平面波)
として生体眼8から出射され、ビームスプリッタ5の反
射面10によって集光レンズ6の存在する方向に反射さ
れ、集光レンズ6により集光されて撮像カメラ7に導か
れる。また、平行平面板3を通過した平行光束の一部は
平行平面板4により反射されて反射光束(光束■という
)は平行平面板3に戻り、この平行平面板3により再び
反射されて平行平面板4を通過し、ビームスプリッタ5
を通過して生体眼8の角膜11に導かれる。
この角膜11により反射された反射光は、発散光(球面
波)としてビームスプリッタ5に導かれ、その反射面1
0で集光レンズ6の存在する方向に反射され、集光レン
ズ6により集光されてカメラ7に導かれる。なお、第8
図において、12は半導体レーザー1の光量モニター用
の受光センサである。
波)としてビームスプリッタ5に導かれ、その反射面1
0で集光レンズ6の存在する方向に反射され、集光レン
ズ6により集光されてカメラ7に導かれる。なお、第8
図において、12は半導体レーザー1の光量モニター用
の受光センサである。
この従来のものにおいては、平行平面板3と平行平面板
4との距離9を可変とし、平行平面板3と平行平面板4
との間に存在する物質の屈折率をn、眼内物質の屈折率
をN、測定によって得られる眼軸長(角膜11の頂点か
ら眼底9までの距M)をXとして、 n 11 =NX の等式を満足するように、平行平面板3と平行平面板4
との距離9を調節すると、光束■と光束■とが等光路長
となり、カメラ7により干渉縞が観察される。
4との距離9を可変とし、平行平面板3と平行平面板4
との間に存在する物質の屈折率をn、眼内物質の屈折率
をN、測定によって得られる眼軸長(角膜11の頂点か
ら眼底9までの距M)をXとして、 n 11 =NX の等式を満足するように、平行平面板3と平行平面板4
との距離9を調節すると、光束■と光束■とが等光路長
となり、カメラ7により干渉縞が観察される。
したがって、この干渉縞が観察されたときの平行平面板
9を測定値として得ることにより、眼軸長Xを求めるこ
とができる。
9を測定値として得ることにより、眼軸長Xを求めるこ
とができる。
とこ°ろが、この干渉縞を観察することにより眼軸長を
測定する生体眼の寸法測定装置は、角膜表面からの反射
光束がほぼ球面波であるのに対して眼底面からの反射光
束がほぼ平面波であるので、角膜頂点から周辺部に離れ
るに従って干渉縞の本数が非常に多くなる。従って、干
渉縞の観察を良好に行うことができない。また、このも
のは、集光レンズ6、カメラ7の光軸を生体眼8に対し
て正確にアライメントしなければならないのであるが、
このアライメントがきわめて面倒であるという問題点も
ある。
測定する生体眼の寸法測定装置は、角膜表面からの反射
光束がほぼ球面波であるのに対して眼底面からの反射光
束がほぼ平面波であるので、角膜頂点から周辺部に離れ
るに従って干渉縞の本数が非常に多くなる。従って、干
渉縞の観察を良好に行うことができない。また、このも
のは、集光レンズ6、カメラ7の光軸を生体眼8に対し
て正確にアライメントしなければならないのであるが、
このアライメントがきわめて面倒であるという問題点も
ある。
本発明は上記の事情に鑑みて為されたもので、その目的
とするところは、干渉縞の観察が容易でかつ測定精度の
向上を期待できる生体眼の寸法測定装置を提供すること
にある。
とするところは、干渉縞の観察が容易でかつ測定精度の
向上を期待できる生体眼の寸法測定装置を提供すること
にある。
(課題を解決するための手段)
本発明に係わる生体眼の寸法測定装置は、上記の目的を
達成するため、生体眼にコヒーレンス長の短い光束を投
光して、該生体眼の第1測定対象面からの反射光束と第
2測定対象面からの反射光束との干渉に基づき前記第1
測定対象面から前記第2測定対象面までの寸法を測定す
る生体眼の寸法測定装置において、 前記第1測定対象面からの反射光束の波面形状と前記第
2測定対象面からの反射光束の波面形状とがほぼ同一と
なるように前記コヒーレンス長の短い光束を前記生体眼
に投光する光束投光手段を備えたことを特徴とする。
達成するため、生体眼にコヒーレンス長の短い光束を投
光して、該生体眼の第1測定対象面からの反射光束と第
2測定対象面からの反射光束との干渉に基づき前記第1
測定対象面から前記第2測定対象面までの寸法を測定す
る生体眼の寸法測定装置において、 前記第1測定対象面からの反射光束の波面形状と前記第
2測定対象面からの反射光束の波面形状とがほぼ同一と
なるように前記コヒーレンス長の短い光束を前記生体眼
に投光する光束投光手段を備えたことを特徴とする。
(作用)
本発明に係わる生体眼の寸法測定装置によれば、第1測
定対象面からの反射光束の波面形状と第2測定対象面か
らの反射光束の波面形状とをほぼ同一にするための光束
投光手段を備えているので、干渉縞の本数が少なくなり
、観察が容易となる。
定対象面からの反射光束の波面形状と第2測定対象面か
らの反射光束の波面形状とをほぼ同一にするための光束
投光手段を備えているので、干渉縞の本数が少なくなり
、観察が容易となる。
(実施例1)
第1図は本発明に係わる生体眼の寸法測定装置の第1実
施例の光学系を示すもので、生体眼の寸法としての眼軸
長の測定に用いられ、この第1図において、20は半導
体レーザー、21はコリメートレンズ、22.23はビ
ームスプリッタである。半導体レーザー20にはコヒー
レント長が0. 1mm程度の比較的コヒーレンス長の
短いものを用いる。これは、コヒーレント長の長いもの
を用いると、光路差が大きくずれていても干渉縞が得ら
れて、眼軸長の測定精度が低下するからである。また、
コヒーレント長の極端に短いものを用いると光路差がほ
んの少しずれていても干渉縞が得られず、なかなか干渉
縞が得られないことになって、測定に時間がかかること
になるからである。
施例の光学系を示すもので、生体眼の寸法としての眼軸
長の測定に用いられ、この第1図において、20は半導
体レーザー、21はコリメートレンズ、22.23はビ
ームスプリッタである。半導体レーザー20にはコヒー
レント長が0. 1mm程度の比較的コヒーレンス長の
短いものを用いる。これは、コヒーレント長の長いもの
を用いると、光路差が大きくずれていても干渉縞が得ら
れて、眼軸長の測定精度が低下するからである。また、
コヒーレント長の極端に短いものを用いると光路差がほ
んの少しずれていても干渉縞が得られず、なかなか干渉
縞が得られないことになって、測定に時間がかかること
になるからである。
半導体レーザー20から出射されたレーザー光は、コリ
メートレンズ21により平行光束とされる。その平行光
束は光束分割部材としてのビームスプリッタ22の反射
面24によりビームスプリッタ23に導かれる平行光束
P+と、光路長変更部材25に導かれる平行光束P2と
に分割される。光路長変更部材25は反射面26.27
を有している。この光路長変更部材25は矢印方向に可
動されて、平行光束P2の光路長を変更する機能を有す
る。光路長変更部材25を矢印方向にΔL/2だけ移動
させると、平行光束P2の光路長はずれ量ΔLだけ変化
する。
メートレンズ21により平行光束とされる。その平行光
束は光束分割部材としてのビームスプリッタ22の反射
面24によりビームスプリッタ23に導かれる平行光束
P+と、光路長変更部材25に導かれる平行光束P2と
に分割される。光路長変更部材25は反射面26.27
を有している。この光路長変更部材25は矢印方向に可
動されて、平行光束P2の光路長を変更する機能を有す
る。光路長変更部材25を矢印方向にΔL/2だけ移動
させると、平行光束P2の光路長はずれ量ΔLだけ変化
する。
ビームスプリッタ23は反射面28を有し、光路合成部
材として機能する。このビームスプリッタ23と光路長
変更部材25との間には結像レンズ29が設けられてい
る。結像レンズ29は反射面27により反射された平行
光束P2を収束光束P 2−とじてビームスプリッタ2
3の反射面28に導く機能を有する。
材として機能する。このビームスプリッタ23と光路長
変更部材25との間には結像レンズ29が設けられてい
る。結像レンズ29は反射面27により反射された平行
光束P2を収束光束P 2−とじてビームスプリッタ2
3の反射面28に導く機能を有する。
反射面28により反射された収束光束Pe−とビームス
プリッタ23を通過した平行光束P1とはハーフミラ−
30を介して生体眼31に導かれる。生体眼31は赤外
LED32によりアライメントされる。
プリッタ23を通過した平行光束P1とはハーフミラ−
30を介して生体眼31に導かれる。生体眼31は赤外
LED32によりアライメントされる。
CCDカメラ34は前眼部観察用として用いられる。赤
外LH[132から出射された赤外光はハーフミラ−3
3により反射され、ショートパスフィルター36に導か
れる。このショートパスフィルタ36は半導体レーザー
20のレーザー光を透過可能で、赤外LED32の赤外
光を反射する機能を有する。赤外光はこのショートパス
フィルター36により反射されてレンズ37に導かれ、
このレンズ37により平行光束とされる。 平行光束と
された赤外光はハーフミラ−30により反射されて生体
眼31に導かれる。
外LH[132から出射された赤外光はハーフミラ−3
3により反射され、ショートパスフィルター36に導か
れる。このショートパスフィルタ36は半導体レーザー
20のレーザー光を透過可能で、赤外LED32の赤外
光を反射する機能を有する。赤外光はこのショートパス
フィルター36により反射されてレンズ37に導かれ、
このレンズ37により平行光束とされる。 平行光束と
された赤外光はハーフミラ−30により反射されて生体
眼31に導かれる。
→−
この赤外光は生体眼310角膜38により反射され、再
びハーフミラ−30により反射されて、赤外反射光束と
してレンズ37を介してショートパスフィルター36に
導かれ、そのショートパスフィルター36により反射さ
れ、レンズ35、ハーフミラ−33を介してCCDカメ
ラ34に導かれる。、CCDカメラ34は後述するモニ
ターに接続されている。生体眼31に対する光学系のア
ライメントは、そのモニターに写し出された赤外反射光
束の反射輝点を観測して行うもので、光学系の光軸方向
に直交する平面内で上下左右方向に光学系を動かすこと
により、角膜頂点Pに対する光学系の光軸01の位置合
わせが行われる。
びハーフミラ−30により反射されて、赤外反射光束と
してレンズ37を介してショートパスフィルター36に
導かれ、そのショートパスフィルター36により反射さ
れ、レンズ35、ハーフミラ−33を介してCCDカメ
ラ34に導かれる。、CCDカメラ34は後述するモニ
ターに接続されている。生体眼31に対する光学系のア
ライメントは、そのモニターに写し出された赤外反射光
束の反射輝点を観測して行うもので、光学系の光軸方向
に直交する平面内で上下左右方向に光学系を動かすこと
により、角膜頂点Pに対する光学系の光軸01の位置合
わせが行われる。
収束光束P2−が生体眼31の角膜38の焦点39(角
膜曲率中心40の1/2に等しい)に向かって入射する
ように、生体眼31に対する光学系の光軸方向のアライ
メント距離が設定されると、第2図に示すように、収束
光束P a−は角膜38により反射されて、その反射光
束P3は平面波となる。一方、生体眼31に導かれる平
行光束P+は角膜38及び水晶体41により収束光束と
して眼底42に導かれる。生体眠31が正視眼の場合、
眼底42にスポットが形成される。そして、この眼底4
2により反射された反射光束P4は再び水晶体41及び
角膜38を通過して平面波として出射される。従って、
角膜38により反射された反射光束psの波面形状と眼
底42により反射された反射光束P4の波面形状とがほ
ぼ同一となり、よって、半導体レーザー20、集光レン
ズ21、ビームスプリッタ22.23、光路長変更部材
25、レンズ29は生体眠の第1測定対象面からの反射
光束の波面形状と第2測定対象面からの反射光束の波面
形状とがほぼ同一となるようにコヒーレンス長の短い光
束を生体眠31に投光する光束投光手段として機能する
。
膜曲率中心40の1/2に等しい)に向かって入射する
ように、生体眼31に対する光学系の光軸方向のアライ
メント距離が設定されると、第2図に示すように、収束
光束P a−は角膜38により反射されて、その反射光
束P3は平面波となる。一方、生体眼31に導かれる平
行光束P+は角膜38及び水晶体41により収束光束と
して眼底42に導かれる。生体眠31が正視眼の場合、
眼底42にスポットが形成される。そして、この眼底4
2により反射された反射光束P4は再び水晶体41及び
角膜38を通過して平面波として出射される。従って、
角膜38により反射された反射光束psの波面形状と眼
底42により反射された反射光束P4の波面形状とがほ
ぼ同一となり、よって、半導体レーザー20、集光レン
ズ21、ビームスプリッタ22.23、光路長変更部材
25、レンズ29は生体眠の第1測定対象面からの反射
光束の波面形状と第2測定対象面からの反射光束の波面
形状とがほぼ同一となるようにコヒーレンス長の短い光
束を生体眠31に投光する光束投光手段として機能する
。
眼底42からの反射光束P4と角膜38からの反射光束
P3とはハーフミラ−30によって反射され、レンズ3
7により集光され、ショートバスフィルター36を通過
してCCDカメラ43に導かれる。そのCCDカメラ4
3はCCDカメラと共にテレビモニター44に接続され
ている。
P3とはハーフミラ−30によって反射され、レンズ3
7により集光され、ショートバスフィルター36を通過
してCCDカメラ43に導かれる。そのCCDカメラ4
3はCCDカメラと共にテレビモニター44に接続され
ている。
この生体眠の寸法測定装置の測定は以下に説明するよう
にして行う。
にして行う。
まず、既知の基準の眼軸長をXsとする。この基準眼軸
長Xsには、生体眠31の平均眼軸長(22mm〜24
mm)を用いる。 ここで、この平均眼軸長を有する模
型眼を所定位置に配置し、光路長変更部材25を矢印方
向に動かしたとき、光路長変更部材25の矢印方向の所
定位置で、干渉縞がテレビモニター44に写し出された
とする。このときの平行光束Piに対する平行光束P2
の光路差を基準光路差Laと定義する。今、平行光束P
1が点に1から点に2に至るまでの光路長をK IK
2とし、平行光束P2が点に1で反射され、光路長変更
部材25を経由して点に2に至るまでの光路長をK +
K s + K 3K a + K 4 K 2とす
ると、基準光路差L11は、 L LI= K + K s + K s K a +
K a K 2K + K 2である。
長Xsには、生体眠31の平均眼軸長(22mm〜24
mm)を用いる。 ここで、この平均眼軸長を有する模
型眼を所定位置に配置し、光路長変更部材25を矢印方
向に動かしたとき、光路長変更部材25の矢印方向の所
定位置で、干渉縞がテレビモニター44に写し出された
とする。このときの平行光束Piに対する平行光束P2
の光路差を基準光路差Laと定義する。今、平行光束P
1が点に1から点に2に至るまでの光路長をK IK
2とし、平行光束P2が点に1で反射され、光路長変更
部材25を経由して点に2に至るまでの光路長をK +
K s + K 3K a + K 4 K 2とす
ると、基準光路差L11は、 L LI= K + K s + K s K a +
K a K 2K + K 2である。
なお、基準光路差L@であるときの光路長変更部材25
の所定位置を基準位置とする。
の所定位置を基準位置とする。
基準光路差L@と基準眼軸長X11との間には、生休眠
31の平均屈折率をNとすると、基準眼軸長Xθに基づ
く光路差はN−X sであるので、L@=2N・X@
・・・ ・・・■ の関係式が成立する。
31の平均屈折率をNとすると、基準眼軸長Xθに基づ
く光路差はN−X sであるので、L@=2N・X@
・・・ ・・・■ の関係式が成立する。
次に、未知の眼軸長Xを有する生体眠31に対して光学
系をアライメントする。このとき、テレビモニター44
に干渉縞が写し出されなかったとする。
系をアライメントする。このとき、テレビモニター44
に干渉縞が写し出されなかったとする。
そこで、光路長変更部材25を矢印方向に可動させる。
光路長変更部材25を基準位置から(ΔL/2)だけ移
動させたとき、にテレビモニター44に干渉縞が写し出
されたとする。
動させたとき、にテレビモニター44に干渉縞が写し出
されたとする。
眼軸長Xに基づく光路長はN−Xであり、これが基準光
路差Leとずれ量ΔLとの和に等しいとき干渉縞が得ら
れるのであるから、 2・N−X=Ls+ΔL ・・・■ よって、未知の眼軸長Xは、■式を0式に代入して変形
することにより、 X=Xs+(ΔL/2N) として、求められる。
路差Leとずれ量ΔLとの和に等しいとき干渉縞が得ら
れるのであるから、 2・N−X=Ls+ΔL ・・・■ よって、未知の眼軸長Xは、■式を0式に代入して変形
することにより、 X=Xs+(ΔL/2N) として、求められる。
ところで、テレビモニター44に写し出された干渉縞は
、眼底42からの反射光束P4の光量と角膜3Bからの
反射光束Psの光量とが著しく異なると、そのコントラ
ストが低くなる。というのは、干渉縞のコントラストは
互いに干渉される光束同士の光量が等しいときに最良と
なるからである。そこで、この光学系ではビームスプリ
ッタ22の反射面24の反射率を調節して角膜38から
の反射光束P8の光量と眼底42からの反射光束P4の
光量とをほぼ等しくするために、ビームスプリッタ22
を通過するレーザー光の透過光量に対してビームスプリ
ッタ22により反射されるレーザー光の反射光量が少な
くなるように設計しである。しかし、生体眠31に個体
差があるため、眼底42からの反射光束P4の光量が個
体差に伴って変わる場合がある。そこで、この実施例で
はビームスプリッタ22とビームスプリッタ23との間
に、温度可変フィルター45が設けられている。干渉縞
のコントラストが低いときは、この濃度可変フィルター
45を回転させて眼底42からの反射光束P4の光量と
角膜38からの反射光束P8の光量とがほぼ同一となる
ように調節し、コントラストの良好な干渉縞が得られる
ようにする。
、眼底42からの反射光束P4の光量と角膜3Bからの
反射光束Psの光量とが著しく異なると、そのコントラ
ストが低くなる。というのは、干渉縞のコントラストは
互いに干渉される光束同士の光量が等しいときに最良と
なるからである。そこで、この光学系ではビームスプリ
ッタ22の反射面24の反射率を調節して角膜38から
の反射光束P8の光量と眼底42からの反射光束P4の
光量とをほぼ等しくするために、ビームスプリッタ22
を通過するレーザー光の透過光量に対してビームスプリ
ッタ22により反射されるレーザー光の反射光量が少な
くなるように設計しである。しかし、生体眠31に個体
差があるため、眼底42からの反射光束P4の光量が個
体差に伴って変わる場合がある。そこで、この実施例で
はビームスプリッタ22とビームスプリッタ23との間
に、温度可変フィルター45が設けられている。干渉縞
のコントラストが低いときは、この濃度可変フィルター
45を回転させて眼底42からの反射光束P4の光量と
角膜38からの反射光束P8の光量とがほぼ同一となる
ように調節し、コントラストの良好な干渉縞が得られる
ようにする。
なお、前房の深さや水晶体の厚みを測定する場合、ビー
ムスプリッタ22.23の間に高屈折率の光路長差変更
部材50が挿入され、光束PIとP2との間の光路長差
を短縮して測定を行なう。
ムスプリッタ22.23の間に高屈折率の光路長差変更
部材50が挿入され、光束PIとP2との間の光路長差
を短縮して測定を行なう。
(実施例2)
第3図は本発明に係わる生体銀の寸法測定装置の第2実
施例を示す図で、干渉状態を電気的に検出して、未知の
眼軸長Xを求めることとしたものであり、この第3図に
示す寸法測定装置の光学系では、CODカメラ43を設
ける代わりに、マスクパターン46とホトディテクタ4
7とが設けられている。
施例を示す図で、干渉状態を電気的に検出して、未知の
眼軸長Xを求めることとしたものであり、この第3図に
示す寸法測定装置の光学系では、CODカメラ43を設
ける代わりに、マスクパターン46とホトディテクタ4
7とが設けられている。
そのマスクパターン46には、その中央に円形光学開口
47が設けられている。この円形光学開口47の代わり
にスリット孔、クロススリットをマスクパターン46に
設けてもよい。つまり、後述する干渉検出信号のピーク
が適度となるように選択する。
47が設けられている。この円形光学開口47の代わり
にスリット孔、クロススリットをマスクパターン46に
設けてもよい。つまり、後述する干渉検出信号のピーク
が適度となるように選択する。
このマスクパターン46を通過した反射光束P4はホト
ディテクタ48に入射される。
ディテクタ48に入射される。
このものでは、第1実施例と同様に光路長変更部材25
を既知の基準眼軸長X@を用いて調節する。
を既知の基準眼軸長X@を用いて調節する。
この既知の基準眼軸長Xsを得たときの光路長変更部材
25の基準位置を第1実施例と同様にあらかじめ求めて
おく。
25の基準位置を第1実施例と同様にあらかじめ求めて
おく。
次に、基準の眼軸長X@に対して未知の眼軸長Xを有す
る生体銀31をセットする。そして、光路長変更部材2
5を第3図に矢印で示す方向に移動させる。その光路長
変更部材25の移動に応じてホトディテクタ48は、第
4図に示すような干渉検出信号Sを出力する。
る生体銀31をセットする。そして、光路長変更部材2
5を第3図に矢印で示す方向に移動させる。その光路長
変更部材25の移動に応じてホトディテクタ48は、第
4図に示すような干渉検出信号Sを出力する。
すなわち、未知の眼軸長Xに対応する光路長NXと平行
光束PIに対する平行光束P2の光路差との差がゼロに
近づくに従って、ホトディテクタ48から変化のある干
渉検出信号Sの出力が開始され、未知の眼軸長Xに対応
する光路長NXと平行光束P1に対する平行光束P2の
光路差との差がゼロに近ツけば近づくほど、干渉検出信
号Sのピークが大きくなる。そして、更に、光路長変更
部材25を同方向に可動させる。すると、未知の眼軸長
Xに16一 対応する光路長NXと平行光束P1に対する平行光束P
2の光路差との差が大きくなり、干渉検出信号Sのピー
クが小さくなり、やがて干渉検出信号Sの変化が検出さ
れなくなる。
光束PIに対する平行光束P2の光路差との差がゼロに
近づくに従って、ホトディテクタ48から変化のある干
渉検出信号Sの出力が開始され、未知の眼軸長Xに対応
する光路長NXと平行光束P1に対する平行光束P2の
光路差との差がゼロに近ツけば近づくほど、干渉検出信
号Sのピークが大きくなる。そして、更に、光路長変更
部材25を同方向に可動させる。すると、未知の眼軸長
Xに16一 対応する光路長NXと平行光束P1に対する平行光束P
2の光路差との差が大きくなり、干渉検出信号Sのピー
クが小さくなり、やがて干渉検出信号Sの変化が検出さ
れなくなる。
今、干渉検出信号Sの変化の現れ始めた時刻をtl、干
渉検出信号Sの変化の終了時刻をt2として、たとえば
、時刻t1と時刻t2との中間で眼軸長Xの測定値を得
ることにすると、tm= (t++t2)/2の時刻の
ときに基準光路差Laからの光路長変更部材25のずれ
量ΔL(基準位置からの移動距離に等しい)を検出し、
下記の式に基づく演算ヲ行えば、未知の眼軸長Xを求め
ることができる。
渉検出信号Sの変化の終了時刻をt2として、たとえば
、時刻t1と時刻t2との中間で眼軸長Xの測定値を得
ることにすると、tm= (t++t2)/2の時刻の
ときに基準光路差Laからの光路長変更部材25のずれ
量ΔL(基準位置からの移動距離に等しい)を検出し、
下記の式に基づく演算ヲ行えば、未知の眼軸長Xを求め
ることができる。
2 N X = L s十ΔL = L e+ΔL(t
m)X=(L@+ΔL)/2N =X@+ΔL72 N なお、干渉検出信号Sにゆらぎが生じているのは以下の
理由からである。
m)X=(L@+ΔL)/2N =X@+ΔL72 N なお、干渉検出信号Sにゆらぎが生じているのは以下の
理由からである。
マスクパターン46を介して反射光束P3、P4がホト
ディテクタ48の所定の領域に導かれるため、このホト
ディテクタ48の所定の領域に干渉縞の明るい箇所が位
置すれば、干渉検出信号Sが正のピークとなり、干渉縞
の暗い箇所が位置すると負のピークとなる。
ディテクタ48の所定の領域に導かれるため、このホト
ディテクタ48の所定の領域に干渉縞の明るい箇所が位
置すれば、干渉検出信号Sが正のピークとなり、干渉縞
の暗い箇所が位置すると負のピークとなる。
この第2実施例によれば、電気的検出手段に基づいて第
1測定対象面である角膜38からの反射光束と第2測定
対象面である眼底42からの反射光束との干渉状態を検
出できるので、生体銀31の寸法を迅速にかつ正確に行
うことができる。
1測定対象面である角膜38からの反射光束と第2測定
対象面である眼底42からの反射光束との干渉状態を検
出できるので、生体銀31の寸法を迅速にかつ正確に行
うことができる。
なお、この第2実施例では、赤外LED32を用いて生
体銀31に対する光学系のアライメントを行うことにし
たが、眼底42からの反射光束P4の光量が充分に大き
いときは、ショートパスフィルター36の代わりにハー
フミラ−を設け、かつ、赤外LED32を省略して角膜
38により反射された反射光束P3を用いて、生体銀3
1に対するアライメントを行うようにしてもよい。この
ときには、眼底及び角膜輝点は共役となるため、COD
カメラをそれらと共役な位置に置き換えれば干渉縞とア
ライメント輝点が同時にモニターで観察できるので、テ
レビモニター44に写し出された干渉縞のコントラスト
が低いとき、温度可変フィルター45を用いて調節する
ことができる。
体銀31に対する光学系のアライメントを行うことにし
たが、眼底42からの反射光束P4の光量が充分に大き
いときは、ショートパスフィルター36の代わりにハー
フミラ−を設け、かつ、赤外LED32を省略して角膜
38により反射された反射光束P3を用いて、生体銀3
1に対するアライメントを行うようにしてもよい。この
ときには、眼底及び角膜輝点は共役となるため、COD
カメラをそれらと共役な位置に置き換えれば干渉縞とア
ライメント輝点が同時にモニターで観察できるので、テ
レビモニター44に写し出された干渉縞のコントラスト
が低いとき、温度可変フィルター45を用いて調節する
ことができる。
(実施例3)
第5図はビームスプリッタ22とビームスプリッタ23
との間に合焦光学系49を設けて、生体眠31の個体差
に基づく屈折力に応じて、眼底42に平行光束P+によ
る小スポットが形成されるようにすると共に、レンズ2
9を合焦レンズ49の移動に連動させて移動させること
にして、角膜38からの反射光束P8を眼底42からの
反射光束P3の波面形状により良好に合致させるように
したものである。この実施例による場合、生体眠31に
対する光学系の光軸方向のアライメント距離に変化がな
いことを確認するために、赤外LED32から出射され
て角膜38により反射された赤外反射光束を監視する必
要がある。
との間に合焦光学系49を設けて、生体眠31の個体差
に基づく屈折力に応じて、眼底42に平行光束P+によ
る小スポットが形成されるようにすると共に、レンズ2
9を合焦レンズ49の移動に連動させて移動させること
にして、角膜38からの反射光束P8を眼底42からの
反射光束P3の波面形状により良好に合致させるように
したものである。この実施例による場合、生体眠31に
対する光学系の光軸方向のアライメント距離に変化がな
いことを確認するために、赤外LED32から出射され
て角膜38により反射された赤外反射光束を監視する必
要がある。
すなわち、生体眠31が正視眼でないときは、生体眠3
1の屈折力に応じて、眼底からの反射光束P4が平面波
からずれ、眼底42からの反射光束P4の液面形状と角
膜38からの反射光束P3の波面形状とが同一でなくな
る。そこで、合焦レンズ49に連動してレンズ29を移
動させ、角膜38に向かって収束する収束光束P2−の
収束位置を変更する。たとえば、第6図に示すように、
収束光束P 2−が角膜38の曲率中心40よりも後方
に収束するようにレンズ29を移動させると、収束光束
P2は発散光束(球面波)となり、また、第7図に示す
ように、収束光束P 2”が角膜曲率中心40よりも前
方に入射するようにレンズ29を移動させると、収束光
束P2−は角膜38により反射されて凹面波となる。
1の屈折力に応じて、眼底からの反射光束P4が平面波
からずれ、眼底42からの反射光束P4の液面形状と角
膜38からの反射光束P3の波面形状とが同一でなくな
る。そこで、合焦レンズ49に連動してレンズ29を移
動させ、角膜38に向かって収束する収束光束P2−の
収束位置を変更する。たとえば、第6図に示すように、
収束光束P 2−が角膜38の曲率中心40よりも後方
に収束するようにレンズ29を移動させると、収束光束
P2は発散光束(球面波)となり、また、第7図に示す
ように、収束光束P 2”が角膜曲率中心40よりも前
方に入射するようにレンズ29を移動させると、収束光
束P2−は角膜38により反射されて凹面波となる。
従って、眼底42からの反射光束P4の波面形状が平面
波、凸面波、球面波のいずれであっても、角膜38から
の反射光束P3の波面形状をその眼底42からの反射光
束P4の波面形状に合致させることができる。
波、凸面波、球面波のいずれであっても、角膜38から
の反射光束P3の波面形状をその眼底42からの反射光
束P4の波面形状に合致させることができる。
以上、実施例について説明したが、基準光路差L・を水
晶体41の前面から後面までの水晶体J!7.さに対応
させて設定すれば、生体眠31の寸法としての水晶体厚
さを測定でき、基準光路差Laを角膜38から水晶体4
1の前面までの前房深さに対応させて設20一 定すれば、その前房深さを測定できる。
晶体41の前面から後面までの水晶体J!7.さに対応
させて設定すれば、生体眠31の寸法としての水晶体厚
さを測定でき、基準光路差Laを角膜38から水晶体4
1の前面までの前房深さに対応させて設20一 定すれば、その前房深さを測定できる。
(効果)
本発明に係わる生体眠の寸法測定装置は以上説明したよ
うに、角膜からの反射光束の波面形状と眼底からの反射
光束の波面形状とをほぼ合致させることにしたので、干
渉縞の本数が粗くなり、干渉縞の観測が容易となる。
うに、角膜からの反射光束の波面形状と眼底からの反射
光束の波面形状とをほぼ合致させることにしたので、干
渉縞の本数が粗くなり、干渉縞の観測が容易となる。
第1図は本発明に係わる生体眠の寸法測定装置の第1実
施例の光学系を示す図、 第2図は第1図に示す生体眠からの反射光束を示す図、 第3図は本発明に係わる生体眠の寸法測定装置の第2実
施例の光学系を示す図、 第4図は第3図に示すホトディテクタから出力された干
渉検出信号の説明図、 第5図は本発明に係わる生体眠の寸法測定装置の第3実
施例の光学系を示す図、 第6、第7図はその第3実施例の作用を説明するための
説明図、 第8図は従来の生体眠の寸法測定装置の光学系を示す図
、 である。 20・・・半導体レーザー、21・・・集光レンズ22
.23・・・ビームスプリッタ 25・・・光路長変更部材、29・・・レンズ31・・
・生体眠、38・・・角膜 42・・・眼底、44・・・テレビモニター48・・・
ホトディテクタ
施例の光学系を示す図、 第2図は第1図に示す生体眠からの反射光束を示す図、 第3図は本発明に係わる生体眠の寸法測定装置の第2実
施例の光学系を示す図、 第4図は第3図に示すホトディテクタから出力された干
渉検出信号の説明図、 第5図は本発明に係わる生体眠の寸法測定装置の第3実
施例の光学系を示す図、 第6、第7図はその第3実施例の作用を説明するための
説明図、 第8図は従来の生体眠の寸法測定装置の光学系を示す図
、 である。 20・・・半導体レーザー、21・・・集光レンズ22
.23・・・ビームスプリッタ 25・・・光路長変更部材、29・・・レンズ31・・
・生体眠、38・・・角膜 42・・・眼底、44・・・テレビモニター48・・・
ホトディテクタ
Claims (3)
- (1)生体眼にコヒーレンス長の短い光束を投光して、
該生体眼の第1測定対象面からの反射光束と第2測定対
象面からの反射光束との干渉に基づき前記第1測定対象
面から前記第2測定対象面までの寸法を測定する生体眼
の寸法測定装置において、 前記第1測定対象面からの反射光束の波面形状と前記第
2測定対象面からの反射光束の波面形状とがほぼ同一と
なるように前記コヒーレンス長の短い光束を前記生体眼
に投光する光束投光手段を備えたことを特徴とする生体
眼の寸法測定装置。 - (2)前記第1測定対象面からの反射光束と前記第2測
定対象面からの反射光束との干渉状態を電気的に検出す
る検出手段を備えていることを特徴とする請求項1に記
載の生体眼の寸法測定装置。 - (3)前記光束投光手段は光路長変更部材を備え、前記
検出手段は干渉検出信号を出力するホトディテクタを備
え、干渉検出信号と前記光路長変更部材の位置とに基づ
き生体眼の寸法を測定することを特徴とする請求項2に
記載の生体眼の寸法測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1118267A JP2723967B2 (ja) | 1989-05-11 | 1989-05-11 | 生体眼の寸法測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1118267A JP2723967B2 (ja) | 1989-05-11 | 1989-05-11 | 生体眼の寸法測定装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02297332A true JPH02297332A (ja) | 1990-12-07 |
JP2723967B2 JP2723967B2 (ja) | 1998-03-09 |
Family
ID=14732407
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1118267A Expired - Fee Related JP2723967B2 (ja) | 1989-05-11 | 1989-05-11 | 生体眼の寸法測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2723967B2 (ja) |
Cited By (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007010589A (ja) * | 2005-07-01 | 2007-01-18 | Nidek Co Ltd | 物体測定装置 |
JP2007508879A (ja) * | 2003-10-23 | 2007-04-12 | カール ツァイス メディテック アクチエンゲゼルシャフト | 感度を高めた、眼軸の長さの干渉測定装置 |
US7370968B2 (en) | 2006-05-29 | 2008-05-13 | Nidek Co., Ltd. | Ocular depth dimension measurement apparatus |
JP2009112430A (ja) * | 2007-11-02 | 2009-05-28 | Nidek Co Ltd | 眼寸法測定装置 |
JP2010026657A (ja) * | 2008-07-16 | 2010-02-04 | Toyota Motor Corp | 運転者状態検出装置 |
JP2010184050A (ja) * | 2009-02-12 | 2010-08-26 | Nidek Co Ltd | 眼寸法測定装置 |
EP2229874A1 (en) | 2009-02-12 | 2010-09-22 | Nidek Co., Ltd. | Apparatus for measuring a distance between eye components |
JP2011115302A (ja) * | 2009-12-02 | 2011-06-16 | Nidek Co Ltd | 眼寸法測定装置 |
US8294971B2 (en) | 2008-12-18 | 2012-10-23 | Bausch • Lomb Incorporated | Apparatus comprising an optical path delay scanner |
US9044164B2 (en) | 2008-12-23 | 2015-06-02 | Carl Zeiss Meditec Ag | Device for swept source optical coherence domain reflectometry |
US9186059B2 (en) | 2007-12-21 | 2015-11-17 | Bausch & Lomb Incorporated | Ophthalmic instrument alignment apparatus and method of using same |
-
1989
- 1989-05-11 JP JP1118267A patent/JP2723967B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007508879A (ja) * | 2003-10-23 | 2007-04-12 | カール ツァイス メディテック アクチエンゲゼルシャフト | 感度を高めた、眼軸の長さの干渉測定装置 |
JP2007010589A (ja) * | 2005-07-01 | 2007-01-18 | Nidek Co Ltd | 物体測定装置 |
US7370968B2 (en) | 2006-05-29 | 2008-05-13 | Nidek Co., Ltd. | Ocular depth dimension measurement apparatus |
JP2009112430A (ja) * | 2007-11-02 | 2009-05-28 | Nidek Co Ltd | 眼寸法測定装置 |
US9186059B2 (en) | 2007-12-21 | 2015-11-17 | Bausch & Lomb Incorporated | Ophthalmic instrument alignment apparatus and method of using same |
JP2010026657A (ja) * | 2008-07-16 | 2010-02-04 | Toyota Motor Corp | 運転者状態検出装置 |
US8294971B2 (en) | 2008-12-18 | 2012-10-23 | Bausch • Lomb Incorporated | Apparatus comprising an optical path delay scanner |
US9044164B2 (en) | 2008-12-23 | 2015-06-02 | Carl Zeiss Meditec Ag | Device for swept source optical coherence domain reflectometry |
JP2010184050A (ja) * | 2009-02-12 | 2010-08-26 | Nidek Co Ltd | 眼寸法測定装置 |
EP2229874A1 (en) | 2009-02-12 | 2010-09-22 | Nidek Co., Ltd. | Apparatus for measuring a distance between eye components |
US7883209B2 (en) | 2009-02-12 | 2011-02-08 | Nidek Co., Ltd. | Apparatus for measuring a distance between eye components |
JP2011115302A (ja) * | 2009-12-02 | 2011-06-16 | Nidek Co Ltd | 眼寸法測定装置 |
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JP2723967B2 (ja) | 1998-03-09 |
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