JPH02294914A - Thin film magnetic head - Google Patents

Thin film magnetic head

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JPH02294914A
JPH02294914A JP11490989A JP11490989A JPH02294914A JP H02294914 A JPH02294914 A JP H02294914A JP 11490989 A JP11490989 A JP 11490989A JP 11490989 A JP11490989 A JP 11490989A JP H02294914 A JPH02294914 A JP H02294914A
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JP
Japan
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hole
core
gap
width
magnetic
Prior art date
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Pending
Application number
JP11490989A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Masakatsu Saito
斉藤 正勝
Shigeo Aoki
青木 茂夫
Ritsuo Fukaya
律雄 深谷
Masaaki Kurebayashi
榑林 正明
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP11490989A priority Critical patent/JPH02294914A/en
Publication of JPH02294914A publication Critical patent/JPH02294914A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PURPOSE:To attain track width control with high accuracy by enlarging the angle of a taper in a part near a gap surface, which appears on the medium sliding surface of a through hole, rather than the angle of the taper in the direction of a magnetic path orthogonal to the medium sliding surface of the through hole. CONSTITUTION:An upper magnetic core 6 is joined through a gap material 3 to a lower core 2 in the part of a through hole 10 in front side and a magnetic gap is formed. In the part of a through hole in rear side, the upper core 6 is connected to the lower core 2 and thus, an interstage magnetic path is composed of the lower core 2 and upper core 6. For the through hole 10 in the front side of a coil insulating film 5, a taper angle beta on both side surfaces to appear on the sliding surface is made larger than a taper angle alpha in the direction of the magnetic path, namely, formed to be sharp and prepared so that a position can be matched with the lower core 2. It is preferable to set the taper angle alpha to the degree of 30-50 deg. and to set the taper angle beta to be sharp as much as possible more than 40 deg.. Thus, while maintaining the accuracy of track width, the leak of a magnetic flux is reduced in the taper part of the through hole 10 and performance degradation such as adjacent track disturbance, etc., is improved.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、ビデオテープレコーダ(V’I”R)’Jの
磁気記録媒体と相対接触走行するタイプの磁気記録再生
装置に用いられる薄膜磁気ヘッiくに関する。
Detailed Description of the Invention [Field of Industrial Application] The present invention relates to a thin film magnetic recording and reproducing device used in a type of magnetic recording and reproducing device that runs in relative contact with a magnetic recording medium of a video tape recorder (V'I''R)'J. Regarding head.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

VTRなどのように、磁気記録媒体と磁気ヘッドとが相
対接触走行するタイプの磁気記録再生装置においては、
磁気ヘッドの摩耗寿命確保という課題があり、薄膜磁気
八ノj一を該種磁気記録再生装置に適用するにはギャッ
プ深さの大きいものを作製する必要がある。そのために
は、ギャップ先端まで磁束を誘導するため途中の磁気コ
アが飽和しないようにコア厚を厚くしなけれはならず、
走行寿命確保に必要なギャップ深さ10〜15μmを実
現するには、磁気コア厚として20μm程度の厚みを必
要とする。
In a type of magnetic recording/reproducing device, such as a VTR, in which a magnetic recording medium and a magnetic head run in relative contact with each other,
There is a problem of ensuring the wear life of the magnetic head, and in order to apply the thin film magnetic head to this type of magnetic recording/reproducing device, it is necessary to fabricate one with a large gap depth. To achieve this, in order to guide the magnetic flux to the tip of the gap, the core thickness must be increased to prevent the magnetic core in the middle from becoming saturated.
In order to achieve a gap depth of 10 to 15 μm, which is necessary to ensure a long running life, a magnetic core thickness of approximately 20 μm is required.

しかし、このような厚みの大きな磁性1模を高精度に加
工することは容易ではない。何とな,hは、薄膜磁気ヘ
ッドは磁性膜の加工方法としてイオンエッチングが一般
的に用いられるが、この方法はエッチング選択性に乏し
いという欠点があり、加工時に用いるホトレジス1〜は
磁性膜以上の膜厚を必要とし、精度的に問題かある。特
にイオンエッチング法には周知のようにエツチンク中に
レジス1〜の肩が斜めに削られていくという現象かある
ため、1〜ラック幅が狭まくなるにつ扛てレジス1−の
・3 ・ 4 ・ 実効的なエッチング速度が早くなり、その分膜厚を厚く
しなけれはならず、精度的には一層困難な状況になる。
However, it is not easy to process such a thick magnetic piece with high precision. By the way, h is that ion etching is generally used as a method for processing the magnetic film in thin-film magnetic heads, but this method has the drawback of poor etching selectivity, and the photoresist 1~ used during processing is It requires a thick film, and there may be problems with accuracy. In particular, in the ion etching method, as is well known, there is a phenomenon in which the shoulders of resists 1~ are shaved diagonally during etching, so as the rack width becomes narrower, the shoulders of resists 1~, 3, 4 - The effective etching speed becomes faster, and the film thickness must be increased accordingly, making the situation even more difficult in terms of accuracy.

上述したように、所定ギャップ深さを確保するため必要
な20μm程度の膜厚をもつ磁気コアを、高精度にエッ
チングしてトラック幅を制御することは難しい。そこで
、この点に対処するため、例えば特開11] 6 1 
− 2 5 5 5 1 4号公報に記載されているよ
うに、コイル絶縁膜にテーパエッチングによるスルーホ
ールを設け、とのスルーホール幅で1−ラック幅を規制
するようにしたものがある。
As described above, it is difficult to control the track width by etching a magnetic core with a film thickness of about 20 μm, which is necessary to ensure a predetermined gap depth, with high precision. Therefore, in order to deal with this point, for example, JP-A-11]61
As described in Japanese Patent No. 255514, there is a coil insulating film in which a through hole is formed by taper etching, and the width of the through hole is used to regulate the width of one rack.

また、特開昭60−50711号公報に記載されている
ように、下部磁気コアのフロント部に突起を設け、この
突起幅でトラック幅を規制するようにしたものがある。
Furthermore, as described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 60-50711, there is a device in which a protrusion is provided on the front portion of the lower magnetic core, and the track width is regulated by the width of the protrusion.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

ところが、上記した前者の先願のスルーホールによるト
ラック幅制御手法においては、スルーホールのテーパ角
についての配慮がなされておらず、摺動面両側テーパ部
での磁束漏洩による効率低下や隣接1・ランク妨害等の
問題があった。また、後者の先願の下部コアに突起を設
ける手法においては、突起以外の部分の下部コア形状に
対する配慮か欠けており、ギャップ面と平行な部分が擬
似ギャップとなってしまうという問題がある。また、前
記した2つの先願の技術を組合わせることも考えられる
が、その場合でも突起とスルーホールの位置ズレの問題
も加わり、やはり同様の問題が生しる。
However, in the track width control method using through holes of the former application mentioned above, no consideration is given to the taper angle of the through holes, resulting in decreased efficiency due to magnetic flux leakage at the tapered portions on both sides of the sliding surface, and There were problems such as rank interference. Further, in the latter method of providing a protrusion on the lower core of the prior application, consideration is not given to the shape of the lower core in parts other than the protrusion, and there is a problem that the part parallel to the gap surface becomes a pseudo gap. It is also possible to combine the techniques of the two prior applications described above, but even in that case, the problem of misalignment between the protrusion and the through hole is also added, and the same problem still occurs.

本発明は上記の点に鑑みなされたもので、その目的とす
るところは、1・ラック幅を規制するスルーホールテー
パ部での磁束漏洩や隣接1−ラック妨害等の問題がなく
、高精度のトラック幅制御が可能な薄膜磁気ヘッドを提
供することにある。
The present invention has been made in view of the above points, and its purpose is to eliminate problems such as magnetic flux leakage at the taper part of the through-hole that regulates the rack width and interference with adjacent racks, and to achieve high precision. An object of the present invention is to provide a thin film magnetic head capable of controlling track width.

〔課題を解決するための手段〕[Means to solve the problem]

本発明の上記した目的は、基板上に下部コア、ギャップ
材、コイル導体、コイル絶縁膜、」二部コア等の薄膜を
積層し、ギャップ形成面上の上記コイル絶縁膜に設けた
フロント側コア接合用のスルーホール幅によって1・ラ
ック幅を規制するようにした薄膜磁気ヘッドにおいて、
上記スルーホールの媒体摺動而に現われる少くどもギャ
ップ面近傍の部分のテーパ角か、該スルーホールの媒体
摺動面と直交する磁路方向のテーバ角よりも大きくする
(急峻とする)構成によって達成される。
The above-mentioned object of the present invention is to laminate thin films such as a lower core, a gap material, a coil conductor, a coil insulating film, and a two-part core on a substrate, and a front side core provided on the coil insulating film on the gap forming surface. In a thin film magnetic head in which the rack width is regulated by the width of the through hole for bonding,
By making the taper angle of the through-hole near the gap surface, which appears in the medium sliding motion, larger (steeper) than the taper angle in the magnetic path direction perpendicular to the medium sliding surface of the through-hole. achieved.

また、本発明においては好ましくは、媒体摺動面に現わ
れる下部コアは、ギャップ面近傍の部分が略1一ラック
幅に等しい幅で急傾斜を有し、ギャップ面から厚み方向
に離れるにつれてそのコア幅か広がる形状をなし、この
下部コアと前記スルーホールとを位置合わせして形成す
ることによって1−ラック幅を決めるように構成される
Further, in the present invention, preferably, the lower core appearing on the medium sliding surface has a steep slope with a width approximately equal to the width of the rack in the vicinity of the gap surface, and as it moves away from the gap surface in the thickness direction, the lower core It has a shape with a wider width, and is configured to determine the 1-rack width by aligning and forming the lower core and the through hole.

〔作用〕[Effect]

摺動面両側のスルーホールの傾斜を急にし(テーバ角を
犬き<シ)、また、下部コアのギャップ近傍の傾斜を急
にすることによって、磁気ギャソプ以外の上部コアと下
部コアとの距離を大きくし、また、上部,下部コアとも
そのコアの広がりを必要最小限に抑えられ、磁束漏洩や
隣接1・ラック妨害等か改善される。
By making the through-holes on both sides of the sliding surface steeper (the Taber angle is inverted), and by making the slope near the gap in the lower core steeper, the distance between the upper core and the lower core other than the magnetic gasop can be reduced. In addition, the spread of both the upper and lower cores can be suppressed to the necessary minimum, and magnetic flux leakage and interference with adjacent 1/racks can be improved.

〔実施例〕〔Example〕

以下本発明を第1図〜第9図に示した各実施例によって
説明する。第1図は、本発明の第]実施例による薄膜磁
気ヘツ1へに係り、同図(a)は磁路方向に沿った断面
図、同図(b)はヘソ1・括1動面を示す正面図である
The present invention will be explained below with reference to the embodiments shown in FIGS. 1 to 9. FIG. 1 shows a thin film magnetic heel 1 according to the first embodiment of the present invention, in which (a) is a cross-sectional view along the magnetic path direction, and (b) is a cross-sectional view of the heel 1 and the heel 1 moving surface. FIG.

第1図において、1は非磁性基板、2は非磁性基板1の
溝内に形成された下部(磁気)コアで、そのフロント部
における両側面は、ギャップ面近傍か急傾斜でギャップ
面からコア厚み方向にNLれるにつれてコア幅か広かり
、且つコア両側面にギャップ而と平行部分かないように
作成されている。
In Fig. 1, 1 is a non-magnetic substrate, 2 is a lower (magnetic) core formed in the groove of the non-magnetic substrate 1, and both sides of the front part are near the gap surface or steeply inclined from the gap surface to the core. The core width increases as it goes in the thickness direction, and the core is made so that there are no gaps or parallel parts on both sides of the core.

8は非磁性絶縁材(下部コア埋込み材)で、−1〜部コ
ア2を面一に埋込んでいる。4はコイル導体、5はコイ
ル導体4を埋設したコイル絶縁膜で、フロント側(ギャ
ノプ面側)とリア側にスルーホール10,]1がそれぞ
れ形成されている。6は上部(磁気)コアで、フロン1
へ側のスルーホール」−〇部分てギャップ材3を介して
下部コア2に接合さ祉て磁気(作動)ギャップを形成し
ていると・ 7 ・ ・ 8 ・ 共に、リア側のスルーホール11部分で下部コア2に接
続され、これによって下部コア2と上部コア6とで閉磁
路を構成している。なお、7は保護膜である。
8 is a non-magnetic insulating material (lower core embedding material), which embeds the core 2 flush with -1. 4 is a coil conductor, 5 is a coil insulating film in which the coil conductor 4 is buried, and through holes 10 and 1 are formed on the front side (Gannop surface side) and rear side, respectively. 6 is the upper (magnetic) core, Freon 1
The through hole on the rear side is connected to the lower core 2 via the gap material 3, thereby forming a magnetic (operation) gap. and is connected to the lower core 2, whereby the lower core 2 and the upper core 6 form a closed magnetic path. Note that 7 is a protective film.

上記コイル絶縁膜5のフロン1へ側のスルーホール10
は、磁路方向のテーパ角αよりも、摺動面に現れる両側
面のテーパ角βの方を大きく(急峻に)形成されていて
、前記下部コア2と位置合わせして作成されている。上
記テーパ角αはテーパ部でのコア断面積やステップカバ
レジを考慮して30〜50゜程度、他方のテーパ角βは
40’以上で出来る限り急峻な方が好ましい。斯様な購
造とすることによって、1−ラック幅精度は維持しなが
ら、スルーホール10のテーパ部での磁束漏洩を低減し
、隣接トラック妨害等の性能劣化を改善しうる。なお、
第1図(b)では下部コア2とスルーホール10とに位
置スレがない例を示したか、多少の位置ズレのある場合
にも上述の効果が充分得られることは勿論である。
Through-hole 10 on the side of the coil insulating film 5 to the freon 1
is formed so that the taper angle β of both side surfaces appearing on the sliding surface is larger (steeper) than the taper angle α in the magnetic path direction, and is aligned with the lower core 2. It is preferable that the taper angle α is about 30 to 50 degrees, taking into account the core cross-sectional area and step coverage at the taper part, and the other taper angle β is 40' or more and as steep as possible. By purchasing in this way, it is possible to reduce magnetic flux leakage at the tapered portion of the through hole 10 while maintaining the 1-rack width accuracy, and improve performance deterioration such as interference with adjacent tracks. In addition,
Although FIG. 1(b) shows an example in which there is no positional deviation between the lower core 2 and the through hole 10, it goes without saying that the above-mentioned effects can be sufficiently obtained even when there is some positional deviation.

?ッドの摺動面を示す正面図であり、磁路方向断面は図
示していないが前記第1実施例と同等である。該実施例
においては、コイル絶縁1模5のフロント側のスルーホ
ール10の摺動而両側のテーバ形状が2段(テーパ角β
■、テーパ角β2)となっており、ギャップ面に近いテ
ーパ角β1か急峻に作られている。この実施例のように
、急峻なテーパ角β1の部分を短かくすると磁性膜(上
部コア6)形成に有利で、前記第1実施例より急峻な部
分の角度を大きくし易く、従って下部コア2とスルーホ
ール10の位置ズレ発生時の改善効果も大きい。
? FIG. 3 is a front view showing the sliding surface of the pad, and although the cross section in the magnetic path direction is not shown, it is equivalent to the first embodiment. In this embodiment, the through hole 10 on the front side of the coil insulation 1 model 5 has a tapered shape on both sides of the sliding body in two steps (taper angle β).
(2) The taper angle is β2), and the taper angle β1, which is close to the gap surface, is steep. As in this embodiment, shortening the portion of the steep taper angle β1 is advantageous for forming the magnetic film (upper core 6), and it is easier to increase the angle of the steep portion than in the first embodiment. The effect of improving the positional deviation of the through hole 10 is also large.

次に第3図〜第G図によって、コイル絶縁膜5へのスル
ーホール10の形成方法について説明する。
Next, a method for forming the through hole 10 in the coil insulating film 5 will be explained with reference to FIGS. 3 to 3G.

一般に反応性イオンエッチングやイオンミリンク等のド
ライエッチングaミによるテーバエソチングにおいては
、ボス1〜ベークによって得られるレジス1・端のゆる
い傾斜を或る程度転写する形で行なわれる。この時のレ
シス1〜端の傾斜Oは、第3図(a)に示すホトレジス
トパターン9のレジス1・膜厚tとレジス1〜幅℃の関
係に依存して変化し、第3図(b)にその1例を示すよ
うに90〜30゜程度の範囲は容易に変化できる。
In general, in Taber etching using dry etching methods such as reactive ion etching and ion milling, the gentle slope of the edge of the resist 1 obtained by baking the boss 1 is transferred to some extent. At this time, the slope O of the resist 1 to edge changes depending on the relationship between the resist 1 film thickness t and the resist 1 width C of the photoresist pattern 9 shown in FIG. 3(a). ) The angle can be easily changed within a range of about 90 to 30 degrees, as shown in one example.

従って上記した関係を使って、第4図に示すように、コ
イル絶縁膜5のフロント側(摺動面側)のスルーホール
10端辺とコイル絶縁膜5の端辺との間の距wILを、
フロント側のスルーホール10端辺とリア側のスルーホ
ール11端辺との間の距1[t I, oよりも短かく
設定することによって、前記第1実施例の如く、スルー
ホール10の摺動面両側のテーパ角βを磁路方向のテー
パ角αよりも大きく急峻にすることが出来る。
Therefore, using the above relationship, as shown in FIG. ,
By setting the distance 1 [t I, o between the edge of the front through hole 10 and the edge of the rear side through hole 11 to be shorter than The taper angle β on both sides of the moving surface can be made larger and steeper than the taper angle α in the magnetic path direction.

また、他の手法として第5図示のような方法もある。エ
ッチング方法として反応性ガスを用いる場合には、エッ
チング選択性が充分に大きなマスク材を選定することが
出来る。例えば、コイル絶縁膜5がSi○2である場合
、CF,やCHF3などの反応性ガスでほとんどエッチ
ングされないCr.,Cu等の金属材料や、ステアタイ
1−,フォルステライ1一等の絶縁材料がある。これら
の反応性ガスに対してエッチング選択性が充分に大きな
材料を、第5図に示すように第1のマスク材12として
、コイル絶i fIIA5上の前記スルーホール10形
成予定部位のテーバ角を急峻にしたい2辺に配置・形成
し、テーバ角をゆるくしたい辺にはホトレジス1〜より
なる第2のマスク材13を配置・形成して、上記のよう
な反応性ガスでドライエッチングを行う。これにより、
第1のマスク材12を配置した部位のコイル絶縁膜5は
急峻に刻設され、第2のマスク材13を配置した部位の
コイル維縁膜5はゆるやかに刻設される(テーバエッチ
ングされる)。従って、この第5図に示した方a1によ
っても、前記第1実施例の如く、スルーホール10の摺
動而両側のテーバ角βを磁路方向のテーバ角αよりも大
きく急峻にすることが出来る。
Further, there is also a method as shown in FIG. 5 as another method. When using a reactive gas as an etching method, a mask material with sufficiently high etching selectivity can be selected. For example, when the coil insulating film 5 is made of Si○2, Cr is hardly etched by reactive gases such as CF and CHF3. , Cu, etc., and insulating materials such as Steartie 1-, Forsterei 1-1, etc. A material having sufficiently high etching selectivity with respect to these reactive gases is used as the first mask material 12 as shown in FIG. A second mask material 13 made of photoresist 1 is placed and formed on the two sides where it is desired to have a steeper Taber angle, and dry etching is performed using a reactive gas as described above. This results in
The coil insulating film 5 in the area where the first mask material 12 is placed is steeply etched, and the coil fiber membrane 5 in the area where the second mask material 13 is placed is gently etched (Taber etching). ). Therefore, even with the direction a1 shown in FIG. 5, it is possible to make the Taber angle β on both sliding sides of the through hole 10 larger and steeper than the Taber angle α in the magnetic path direction, as in the first embodiment. I can do it.

次に、前記第2実施例(第2図)のスルーホール10形
状の形成手法を第6図によって説明する。
Next, a method of forming the shape of the through hole 10 of the second embodiment (FIG. 2) will be explained with reference to FIG. 6.

上述した第3,4図示もしくは第5図示の手法てに再度
ホ1〜レジス1・13を全面に塗布した後、同図(b)
のようにドライエッチングで所定時間全面エッチングし
て、コイル絶縁膜5の急峻なテーパ部分の肩部をゆるや
かに整形し、然る後、同図(c)に示すようにホl−レ
ジスト13を除去すれは、摺動面両側のテーバ形状が、
急峻なテーパ角β1とこれに連らなるゆるやかなテーパ
角β2とをもつスルーホール10が得られることになる
After coating the entire surface of Ho 1 to Resist 1 and 13 again using the method shown in Figures 3 and 4 or Figure 5, as shown in Figure (b).
The entire surface is dry-etched for a predetermined period of time as shown in FIG. For removal, the tapered shape on both sides of the sliding surface is
A through hole 10 having a steep taper angle β1 and a gentle taper angle β2 connected thereto is obtained.

次に前述したフロント部形状をもつ下部コア2の形成方
法を第7図によって説明する。
Next, a method for forming the lower core 2 having the above-mentioned front shape will be explained with reference to FIG.

まず、第7図(a)に示すように前記非磁性基板1の所
定部位に溝1aを形成し、次に同図(b)に示すように
、該溝1a内に磁性膜14(下部コア2)を所定厚みに
被着した後エッチングし、然る後、同図(c)に示すよ
うに、前記非磁性維縁材8を形成し、これを平坦化処理
する。続いて、同図(d)に示すように、磁性膜14の
所定部分をマスキングしてエッチングし、磁性膜14の
フロント部分(ギャップ形成部)の眉部、非磁性基板1
、非磁性絶縁材8をエッチングし、この後、同図(e)
に示すように、再び非磁性絶縁材8を形成し、これを平
坦化処理する。これにより、第1図(b)に示したよう
にギャップ近傍が急峻で、ギャップからコア厚み方向に
離れるにつれてコア幅が広がったフロント部分をもつ下
部コア2が得られる。なお、」二記した同図(d)の2
度口のエッチング工程で、下部コア2のフロント部両側
のテーパ角を制御するには、イオンエッチングのビーム
入射角を適当に選択すれば良く、これによって、下部コ
ア2の側面にギャップ面と平行な部分を作らないように
することが出来る。ここで、第7図に示した例では磁性
膜を2度エッチングする工程を説明したが、第7図(0
)に示す工程終了時の下部コアの形状でも良いことは言
うまでもない。
First, as shown in FIG. 7(a), a groove 1a is formed in a predetermined portion of the non-magnetic substrate 1, and then, as shown in FIG. 7(b), a magnetic film 14 (lower core 2) is deposited to a predetermined thickness and then etched, and then, as shown in FIG. 3(c), the non-magnetic fiber material 8 is formed and flattened. Subsequently, as shown in FIG. 2D, predetermined portions of the magnetic film 14 are masked and etched to remove the eyebrows of the front portion (gap forming portion) of the magnetic film 14 and the non-magnetic substrate 1.
, the non-magnetic insulating material 8 is etched, and then the same figure (e) is etched.
As shown in FIG. 2, a non-magnetic insulating material 8 is formed again, and is planarized. As a result, as shown in FIG. 1(b), a lower core 2 is obtained which has a front portion which is steep near the gap and whose core width increases as the distance from the gap increases in the core thickness direction. In addition, 2 in the same figure (d) marked ``2''
In order to control the taper angle on both sides of the front part of the lower core 2 in the double etching process, it is only necessary to appropriately select the beam incidence angle of the ion etching. You can avoid creating such parts. Here, in the example shown in FIG. 7, the process of etching the magnetic film twice was explained, but in the example shown in FIG.
It goes without saying that the shape of the lower core at the end of the process shown in ) may also be used.

ところで、前記上部コア6のフロン+一部のコア幅は、
前記スルーホール10の幅で規制されるため狭1・ラッ
ク幅化に対応し易いが、第7図に示した下部コア2の形
成方法では、前記従来技術で述べたように狭1・ラック
llli,j化には限界がある。第8図及び第9図はそ
れぞれ下部コア2の一層の狭トランク幅化が可能な方法
を示しており、第8図は製造手法の概念を示す平面図、
第9図(a)〜(■1)は第8図のB−B線断面で示さ
れる各工程の説明図である。
By the way, Freon + part of the core width of the upper core 6 is:
Since it is regulated by the width of the through hole 10, it is easy to adapt to narrower rack widths, but the method for forming the lower core 2 shown in FIG. , there are limits to j conversion. 8 and 9 each show a method of making the trunk width of the lower core 2 even narrower, and FIG. 8 is a plan view showing the concept of the manufacturing method;
FIGS. 9(a) to (1) are explanatory diagrams of each process shown in the cross section taken along the line B--B in FIG. 8.

第8,9図に示した下部コア2の作成方法においては、
ます、溝1aを形成した非磁性基板1(第9図(a))
の該溝1a内に磁性膜14(下部コア)を被着充填して
平坦化し(同図(b))、次にホ1ヘレジス1〜13に
よって磁性膜14を選択的に覆って(同図(c)).こ
の状態で」回目のエッチングを施こした後(第8図で実
線で囲んだ部分をエツチンタ)、ホ1・レジス1〜13
を除去する(同図(d))。これによって、磁性膜]4
における1一ラノタ幅を規定する一方の辺が形づくられ
る。続いて、非磁性維縁材8を形成してこれを平坦化処
理し(同図(c))、然る後、再びホトレシス1−13
によって磁性膜14を選択的に覆って(同図(f))、
この状態で2回目のエッチングを施こした後(第8図で
点線で囲んだ部分をエソチンタ)、ホ1〜レシスI−1
3を除去する(同巨I(g))。こ才しによって、磁4
生膜」4、すなわち下部コア2におけるI−ラソク幅を
規定する他力の辺が形づくられ、この後、非磁性絶縁材
8を形成してこれを−tlZ坦化処理するようにされる
(同レ1(e))。
In the method for creating the lower core 2 shown in FIGS. 8 and 9,
First, a non-magnetic substrate 1 with grooves 1a formed therein (FIG. 9(a))
A magnetic film 14 (lower core) is deposited and filled into the groove 1a and flattened (FIG. 1(b)), and then the magnetic film 14 is selectively covered with hole resists 1 to 13 (FIG. 1(b)). (c)). After performing the second etching in this state (etching is done on the part surrounded by the solid line in Fig. 8),
((d) in the same figure). By this, the magnetic film]4
One side defining the width of 1-1 is formed. Subsequently, a non-magnetic fiber material 8 is formed and flattened (FIG. 1(c)), and then photoresis 1-13 is performed again.
selectively covering the magnetic film 14 ((f) in the same figure),
After performing the second etching in this state (etching the area surrounded by the dotted line in Fig. 8),
3 (Giant I(g)). Thanks to your talent, magnetic 4
The raw film 4, that is, the external force side that defines the width of the I-lasock in the lower core 2, is formed, and then a non-magnetic insulating material 8 is formed and this is subjected to a -tlZ planarization process ( 1(e)).

斯様な製造工程によって形成された下部コア2は、エツ
チンク工程を2回に分けて下部コア2を所望形状に仕上
げているので、従来のようにホ1一レジス1への幅を1
−ラック幅相当分の微細幅にし且つレジス1一膜厚を厚
くする必要がないため、狭1一ラック幅化か容易で,1
〜ラック幅精度も良好なものとなる。
The lower core 2 formed by such a manufacturing process has the etching process divided into two steps to finish the lower core 2 into the desired shape.
- It is easy to narrow the width of the rack because it has a fine width equivalent to the rack width and there is no need to increase the thickness of the resist 1.
- Rack width accuracy is also good.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上のように本発明によれば、1・ラック幅を規制する
スルーホールテーバ部での磁束漏洩による効率低下や隣
接1−ラック妨害等の問題かなく、11゛6精度の1−
ラック幅制御か可能な薄膜磁気ヘソ1〜を提供でき、そ
の産業的価値は多大である。
As described above, according to the present invention, there is no problem such as reduced efficiency due to magnetic flux leakage at the through-hole taper portion that regulates the rack width or interference with adjacent racks, and there is no problem such as interference with adjacent racks.
It is possible to provide a thin film magnetic belly button 1 which allows rack width control, and its industrial value is great.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

・ 15・ ・ 16・ 図面はいすれも本発明の実施例に係り、第1図(a)は
本発明の第1実施例による薄膜磁気ヘッドの磁路方向に
沿った断面図、同図(b)は同薄膜磁気ヘノ1・の摺動
面を示す正面図、第2図は本発明の第2実施例による薄
膜磁気ヘッドの摺動面を示す正面図、第3図(a)はホ
1・レジス1−パターンの断面を示す説明図、同図(1
))はレジスト幅Ω/レジスl・膜厚tとレジスト端の
傾斜Oとの関係を示すグラフ図、第4図は第3図の関係
を用いて第1実施例のスルーホールを形成するためのコ
イル絶縁膜の所定部分の距離関係を示す説明図、第5図
(.)は第1実施例のスルーホールを形成するための他
の手法を示す要部平面図、同図(b)は同図(a)のA
−A線断面図、第6図は第2実施例のスルーホールを形
成するための手法を示ず工程説明図、第7図は下部コア
を形成するための1つの手法を示す工程説明図、第8図
は下部コアを形成するための他の手法の概念を示す要部
平面図、第9図は第8図のB − 13線断面でそれぞ
れ示される工程説明図である。 ■・非磁性基板、2 下部コア、 3・・ギャップ材、4・コイル導体、 5・・コイル絶縁膜、6 上部コア、7 保護膜、8・
・非磁性絶縁材(下部コア埋込み材)、9・ホ1−レジ
ス1ヘパターン、 ]−〇・フロント側のスルーホール、 コ−1・・リア側のスルーホール、 12・・第1のマスク材、 13・・第2のマスク材(ホ1−レシス1〜)、14 
磁性膜。 じ\ 0) レ) 00 レ) \ \0 / 第 図
・ 15 ・ 16 ・ The drawings all relate to embodiments of the present invention, and FIG. ) is a front view showing the sliding surface of the same thin film magnetic head 1, FIG. 2 is a front view showing the sliding surface of the thin film magnetic head according to the second embodiment of the present invention, and FIG.・Explanatory diagram showing the cross section of resist 1-pattern, same figure (1
)) is a graph showing the relationship between the resist width Ω/resist l/film thickness t and the slope O of the resist edge, and Figure 4 is for forming the through hole of the first embodiment using the relationship in Figure 3. FIG. 5(.) is a plan view of the main part showing another method for forming the through hole of the first embodiment, and FIG. A in figure (a)
-A sectional view, FIG. 6 is a process explanatory diagram showing a method for forming the through hole of the second embodiment, and FIG. 7 is a process explanatory diagram showing one method for forming the lower core. FIG. 8 is a plan view of a main part showing the concept of another method for forming the lower core, and FIG. 9 is a process explanatory diagram shown in a cross section taken along line B-13 in FIG. 8. ■・Nonmagnetic substrate, 2. Lower core, 3.. Gap material, 4. Coil conductor, 5.. Coil insulation film, 6. Upper core, 7. Protective film, 8.
・Non-magnetic insulating material (lower core embedding material), 9. Hole 1 - pattern to resist 1, ]-〇. Front side through hole, Co-1... Rear side through hole, 12.. First mask material , 13...Second mask material (hole 1-resis 1~), 14
magnetic film. \\\\\\\\\\\\\\\\\\\\/Fig.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1、基板上に下部コア、ギャップ材、コイル導体、コイ
ル絶縁膜、上部コア等の薄膜を積層し、ギャップ形成面
上の上記コイル絶縁膜に設けたフロント側コア接合用の
スルーホール幅によってトラック幅を規制するようにし
た薄膜磁気ヘッドにおいて、上記スルーホールの媒体摺
動面に現われる少くともギャップ面近傍の部分のテーパ
角が、該スルーホールの媒体摺動面と直交する磁路方向
のテーパ角よりも大きい(急峻である)ことを特徴とす
る薄膜磁気ヘッド。 2、請求項1記載において、前記媒体摺動面に現われる
前記スルーホールのテーパは、ギャップ面近傍の急峻な
テーパ角部分と、該急峻なテーパ角部分と連続する比較
的ゆるやかなテーパ角部分とを有していることを特徴と
する薄膜磁気ヘッド。 3、請求項1記載において、前記媒体摺動面に現われる
前記下部コアは、ギャップ面近傍の部分が略トラック幅
に等しい幅で急傾斜を有し、ギャップ面から厚み方向に
離れるにつれてそのコア幅が広がる形状をなし、この下
部コアと前記スルーホールとを位置合わせして形成する
ことによってトラック幅を決めるようにしたことを特徴
とする薄膜磁気ヘッド。 4、請求項1記載において、前記ギャップ形成面上のコ
イル絶縁膜に形成した前記スルーホールを含み且つ媒体
摺動面と平行な断面における前記コイル絶縁膜の片側の
幅が、前記ギャップ形成面上のフロント側コア接合用の
スルーホールの端辺からリア側コア接続用のスルーホー
ルの端辺までの距離よりも短いことを特徴とする薄膜磁
気ヘッド。 5、請求項1記載において、前記ギャップ形成面上のコ
イル絶縁膜に形成されたスルーホールは、コイル絶縁膜
上に、媒体摺動面と直交し且つトラック幅を規制する2
辺を位置決めするため設けたコイル絶縁膜に対してエッ
チング選択比が充分とれるマスク材と、媒体摺動面と平
行なスルーホールの他の1辺を位置決めするため設けた
ホトレジストよりなるマスク材とが被着された状態で、
反応性ガスを用いたドライエッチングによってコイル絶
縁膜を刻設することによって作成されたことを特徴とす
る薄膜磁気ヘッド。 6、請求項1記載において、前記下部コアの少くとも略
トラック幅相当のコア幅となるフロント部分は、該コア
部分の両辺を、それぞれ別のエッチング工程で形づくら
れたことを特徴とする薄膜磁気ヘッド。
[Claims] 1. Thin films such as a lower core, a gap material, a coil conductor, a coil insulating film, and an upper core are laminated on a substrate, and the front side core bonding is provided on the coil insulating film on the gap forming surface. In a thin film magnetic head in which the track width is regulated by the width of the through hole, the taper angle of at least a portion near the gap surface appearing on the medium sliding surface of the through hole is perpendicular to the medium sliding surface of the through hole. A thin film magnetic head characterized by having a taper angle larger (steeper) than the taper angle in the direction of the magnetic path. 2. In claim 1, the taper of the through hole appearing on the medium sliding surface includes a steep taper angle portion near the gap surface and a relatively gentle taper angle portion continuous with the steep taper angle portion. A thin film magnetic head characterized by having: 3. In claim 1, the lower core appearing on the medium sliding surface has a steep slope with a width approximately equal to the track width in a portion near the gap surface, and the core width increases as the distance from the gap surface increases in the thickness direction. 1. A thin film magnetic head, characterized in that the lower core and the through hole are aligned and formed to determine the track width. 4. In claim 1, the width of one side of the coil insulating film in a cross section including the through hole formed in the coil insulating film on the gap forming surface and parallel to the medium sliding surface is on the gap forming surface. A thin film magnetic head characterized in that the distance is shorter than the distance from the edge of the through hole for connecting the front side core to the edge of the through hole for connecting the rear side core. 5. In claim 1, the through hole formed in the coil insulating film on the gap forming surface is perpendicular to the medium sliding surface and regulates the track width.
A mask material having a sufficient etching selectivity with respect to the coil insulating film provided for positioning the side, and a mask material made of photoresist provided for positioning the other side of the through hole parallel to the medium sliding surface. In the attached state,
A thin film magnetic head characterized in that it is manufactured by etching a coil insulating film by dry etching using a reactive gas. 6. The thin film magnetic material according to claim 1, wherein the front portion of the lower core has a core width that is at least approximately equivalent to the track width, and both sides of the core portion are formed by separate etching processes. head.
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04111213A (en) * 1990-08-31 1992-04-13 Sanyo Electric Co Ltd Thin-film magnetic head and production thereof
JPH0628626A (en) * 1992-02-28 1994-02-04 Internatl Business Mach Corp <Ibm> Thin-film magnetic head and its manufacture
US5406434A (en) * 1990-11-06 1995-04-11 Seagate Technology, Inc. Thin film head with contoured pole face edges for undershoot reduction
JPH07296328A (en) * 1994-04-19 1995-11-10 Internatl Business Mach Corp <Ibm> Thin-film magnetic write head and manufacture thereof

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