JPH02293983A - Eliminating method for fine grain in binary image - Google Patents
Eliminating method for fine grain in binary imageInfo
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
この発明は、映像信号に混入した雑音成分のうち、微粒
子状のものく以下、微粒子と称する)を除去する2値画
像における微粒子の除去方法に関するものである。[Detailed Description of the Invention] [Industrial Application Field] This invention provides a method for removing particulates in a binary image, which removes particulate matter (hereinafter referred to as particulates) from noise components mixed into a video signal. It is related to.
[従来の技術]
−aに、アナログ信号の画像をデジタル信号に変換して
メモリに取り込む場合、そのアナログ信号を2値化する
ことによってデジタル信号に変換し、それを収り込んで
いるが、2値化する時点で微粒子が発生し易い,この微
粒子成分は周囲に信号がないところに点状に発生したり
、面状に表示されている部分の一部に穴が空いたように
表示される.このような微粒子をリアルタイムに除去で
きると、その後の処理速度を早くすることができる。[Prior art] -a, when converting an image of an analog signal into a digital signal and importing it into a memory, the analog signal is converted into a digital signal by binarizing it and stored. Fine particles are likely to be generated at the time of binarization.These fine particle components may appear as dots in areas where there is no signal around, or may appear as holes in parts of areas that are displayed in a planar manner. Ru. If such particles can be removed in real time, subsequent processing speed can be increased.
そのエラーによって発生した大きさ1の点や穴をハード
ウェアで除去するものとして、3画素×3画素(以下、
3X3,n×n,rnXm,m×n等の表記方法をとる
)のマスクで2値画像を走査して、リアルタイムに除去
する方法が提案されている。As a method to remove points or holes of size 1 caused by the error using hardware, a 3 pixel x 3 pixel (hereinafter referred to as
A method has been proposed in which a binary image is scanned with a mask of 3×3, n×n, rnXm, m×n, etc., and removed in real time.
[発明が解決しようとする課題〕
しかしながらそれ以上の大きさのものではハードウエア
で膨張、収縮を繰り返したり、ソフトウエアでラベリン
グしてから大きさを判定して除去する等の方法をとらな
ければならないので、リアルタイムでの除去は難しかっ
た。[Problem to be solved by the invention] However, if the size is larger than that, it is necessary to use methods such as repeatedly expanding and contracting with hardware or labeling with software and then determining the size and removing it. Therefore, it was difficult to remove it in real time.
[課題を解決するための手段]
このような課題を解決するためにこの発明は、(m−t
−2)X(n±2)画素で構成される検査範囲のそれぞ
れの4隅から伸びその検査範囲の中央部において相互に
重なる重複部分を有する4つのマスクを設定し、重複部
分のうち任意の1画素を基準画素に設定し、いずれのマ
スクも基準画素から外周までの連結性がないときに,中
央部のm×nの範囲の画素を連結性のある状態に変換す
るようにしたものである。[Means for Solving the Problems] In order to solve these problems, the present invention provides (m-t
-2) Set four masks that extend from each of the four corners of the inspection range consisting of One pixel is set as a reference pixel, and when there is no connectivity from the reference pixel to the outer periphery in any mask, the pixels in the m x n range in the center are converted to a state with connectivity. be.
[作用]
各マスクとも周囲の画素とのデータ連結性がないと判断
されたときは基準画素を中心とするm×nの範囲は2値
化によって発生した緻粒子と判断する。このため、その
部分を連結性のある状態に変換することによって大きさ
m×n以内の微粒子が除去される。[Operation] When it is determined that each mask has no data connectivity with surrounding pixels, the m×n range centered on the reference pixel is determined to be fine particles generated by binarization. Therefore, by converting that portion into a connected state, fine particles having a size of m×n or less are removed.
[実施例]
第1図はこの発明を適用した装置の回路図、第2図は第
1図に記号3で表される遅延回路Bの内部横成を示す回
路図、第3図は第1図に記号41〜48で表される遅延
回路Cの内部構成を示す回路図である。第4図はこの装
置で微粒子除去を判断する範囲を説明するための図で、
一例として5×5の範囲を示している。この画像に対し
て座標C3の位置にある画素を基準画素として、その基
準画素から外周部まで同じデータ(Lまたは0)が連結
しているか否かを判定する。このため、第5図〜第8図
に示すように、座標C3を含む3×3のマスク■〜Mを
4隅に設定し、その範囲についてそれぞれ別個に調査す
る。すなわちマスク■ではA行からC行の範囲でかつ,
1列から3列までの範囲について連結しているか否かを
調べる。[Example] Fig. 1 is a circuit diagram of a device to which the present invention is applied, Fig. 2 is a circuit diagram showing the internal configuration of delay circuit B denoted by symbol 3 in Fig. FIG. 2 is a circuit diagram showing the internal configuration of a delay circuit C represented by symbols 41 to 48 in the figure. Figure 4 is a diagram to explain the range of particulate removal determination with this device.
A 5×5 range is shown as an example. With respect to this image, the pixel located at the coordinate C3 is used as a reference pixel, and it is determined whether the same data (L or 0) is connected from the reference pixel to the outer periphery. For this reason, as shown in FIGS. 5 to 8, 3×3 masks ① to M including the coordinate C3 are set at the four corners, and each of the ranges is investigated separately. In other words, in mask ■, the range is from row A to row C, and
Check whether columns 1 to 3 are connected.
第9図は例えばマスクIにおける連結している状態を示
す図であり、第10図は連結していない状態を示す図で
ある.図において座標C3に対しての連結性を論じてお
り、座標C3からA行または1列まで、同じデータが連
結している場合を連結している状態と定義し、そうでな
い場合を連結していない状態と定義する。第9図(a>
は座aC3−83−A3あるいは、CB−C2−82−
A2の経路で連続している。第9図(b)はCB−83
−82−B LあるいはC3−C2−B2−B 1の経
路で連続している。第10図はA行および1列の何れに
も連続していない例である。FIG. 9 is a diagram showing, for example, a state in which masks I are connected, and FIG. 10 is a diagram showing a state in which they are not connected. In the figure, connectivity with respect to coordinate C3 is discussed, and the case where the same data is connected from coordinate C3 to A row or column 1 is defined as connected, and the case where it is not connected is defined as connected. Defined as a state in which there is no Figure 9 (a>
is locus aC3-83-A3 or CB-C2-82-
It is continuous on route A2. Figure 9(b) shows CB-83
-82-B L or C3-C2-B2-B Continuous on the path 1. FIG. 10 is an example in which the lines are not continuous in either row A or column 1.
連結しているか否かは各マスク毎に判断するが、この判
断は3×3の画素データをそれぞれのマスク毎に用意さ
れた、例えばROM等で構成された判定部に供給する。Whether or not they are connected is determined for each mask, and this determination is made by supplying 3×3 pixel data to a determination unit prepared for each mask, for example, composed of a ROM or the like.
判定部は3X3の範囲内の各画素の状態を512通り記
憶しており、入力データがアドレス信号としてその判定
部に供給されることによって、そのアドレス信号によっ
て読み出されたデータとの比較が行われ、連結するかし
ないかの判断結果を出力するようになっている。したが
って第9図(a)〜(C)のような画素データが供給さ
れたときはいずれも連結するとの判断を下し、第10図
(a)〜(C)のようなデータが供給されたときは連結
しないとの判断を下すようになっている。The determination unit stores 512 states of each pixel within a 3×3 range, and when input data is supplied to the determination unit as an address signal, comparison with data read out using the address signal is performed. It is designed to output the judgment result of whether to concatenate or not. Therefore, when pixel data such as those shown in Figures 9 (a) to (C) are supplied, it is determined that they are all connected, and data such as those shown in Figures 10 (a) to (C) are supplied. In some cases, the decision is made not to connect.
このようにしてマスク■から■までの判断結果が得られ
たら、次にその判断結果のアンド処理を行う。判断結果
の内一つでも連結する場合、座標C3の画像データは外
周、すなわちA行、E行、1列、5列の内どれかと連結
していることになり、正規のデータであるとみなせる,
また、連結していないとの結果が出れば、座標C3のデ
ータはエラーの可能性がある。このため4つのマスクが
全て連結していないと判断された場合で、座標C3のレ
ベルが「IJのとき、5×5の中央の3×3の画素は全
て「O」レベルに変えてしまう。反対に座標C3のレベ
ルが「0」のときは、同様にして「1」レベルに変えて
しまうようになっている。Once the judgment results for masks ① to ① are obtained in this way, the judgment results are then subjected to AND processing. If even one of the judgment results is connected, the image data at coordinate C3 is connected to the outer periphery, that is, row A, row E, column 1, or column 5, and can be considered to be regular data. ,
Furthermore, if the result is that they are not connected, there is a possibility that the data at coordinate C3 is an error. Therefore, when it is determined that all four masks are not connected and the level of the coordinate C3 is "IJ", all the 3x3 pixels in the center of the 5x5 are changed to the "O" level. Conversely, when the level of the coordinate C3 is "0", it is changed to the "1" level in the same way.
この処理によって3×3以内の大きさの点や穴の除去が
完成する。This process completes the removal of points and holes within the size of 3×3.
?し、除去と穴埋めを同時に行う場合、第11図に示す
ように座漂C3の部分が孤立点になると、その部分を除
去するか穴埋めするかの判断が不能になる。この場合は
事前にその画素のみの処理を先に行わなければならない
。全ての画素はマスク■を通過してシフトされるので、
この処理機能をマスク■に持たせれば、判断に迷う状態
は発生しない。? However, when removing and filling the holes at the same time, if the stranded portion C3 becomes an isolated point as shown in FIG. 11, it becomes impossible to judge whether to remove that portion or fill the holes. In this case, only that pixel must be processed in advance. All pixels are shifted through the mask ■, so
If this processing function is provided to the mask (■), there will be no need to make a decision.
以上の動作を行うためのハードウェアの一例が第1図で
ある。図において、■は画像データが供給される入力端
子、遅延Aと記載された記号2■〜2、6はクロック信
号(図示していない)に同期して入力信号を1ビットだ
け収り込み一時記憶するシフトレジスタである(以下、
遅延回路Aと称する)。遅延Bと記載された記号3の回
路は第2図のように、インバータ3■、アンド回路3■
、オア回路3,、レジスタ34から構成され、第11図
で前述したように判断不能の孤立点の除去を行うための
回路として作用する(以丁、′ii延回路Bと称する)
.遅延Cと記載された記号41〜48?回路は第3図に
示すように、インバータ5、、アンド回路52、オア回
路53、レジスタ54から構成され、クロック信号に同
期して入力信号を1ビットだけ取り込むと共に、前述し
たようにマスク1〜マスク■の判断結果にしたがって、
5×5の中央に位置する3×3の画素全体をr .I
Jレベルに変えるか、「0」レベルに変えるかの制御を
行うものである(以下、遅延回路Cと称する》。FIG. 1 shows an example of hardware for performing the above operations. In the figure, ■ is an input terminal to which image data is supplied, and symbols 2■ to 2 and 6 labeled as delay A are input terminals that temporarily converge the input signal by one bit in synchronization with a clock signal (not shown). It is a shift register that stores data (hereinafter referred to as
(referred to as delay circuit A). As shown in Figure 2, the circuit with symbol 3 labeled as delay B includes an inverter 3■, an AND circuit 3■
, an OR circuit 3, and a register 34, and acts as a circuit for removing undeterminable isolated points as described above in FIG. 11 (hereinafter referred to as extension circuit B).
.. Symbols 41-48 written as delay C? As shown in FIG. 3, the circuit is composed of an inverter 5, an AND circuit 52, an OR circuit 53, and a register 54, and it takes in only one bit of the input signal in synchronization with the clock signal, and as described above, it takes in only one bit of the input signal. According to the judgment result of mask ■,
The entire 3x3 pixel located in the center of 5x5 is r. I
It controls whether to change to the J level or to the "0" level (hereinafter referred to as delay circuit C).
なお、各遅延回路に記載れさているローマ数字丁〜■は
その遅延回路出力がそのローマ数字に対応するマスクに
供給されることを示している。すなわち丁はマスク■に
供給されることを示していおり、この接続を具体的に表
すものがその出力に記載されている*印である.
6.〜64は走査線方向のデータを一時記憶する1ライ
ンメモリ、7■〜74は前述したように、各マスクに供
給される9ビットのデータが連結しているか否かを判断
するマスクである。各マスクは座標C3の画素と連結し
ている状態のとき座標C3のレベルいかんにかかわらず
端子a,b共「?」レベルの信号を出力する。Incidentally, the Roman numerals D to ■ written on each delay circuit indicate that the output of the delay circuit is supplied to the mask corresponding to the Roman numeral. In other words, this indicates that D is supplied to mask ■, and the * mark written in the output specifically represents this connection. 6. -64 are 1-line memories for temporarily storing data in the scanning line direction, and 7-74 are masks for determining whether or not the 9-bit data supplied to each mask is connected, as described above. When each mask is connected to the pixel at coordinate C3, both terminals a and b output signals at the "?" level regardless of the level at coordinate C3.
しかし連結していないときは、座標C3のレベルが「1
」であれば、端子aから「11レベルの信号を出力し、
端子bから「0ノレベルの信号を出力するようになって
いる。また連結していないときで座標C3のレベルがr
■,であれば、端子aから「0」レベルの信号を出力し
、端子bがら「1」レベルの信号を出力するようになっ
ている。However, when it is not connected, the level of coordinate C3 is "1".
”, output an 11-level signal from terminal a,
Terminal b outputs a signal with a level of 0.Also, when not connected, the level at coordinate C3 is r.
(2), a "0" level signal is output from terminal a, and a "1" level signal is output from terminal b.
この他、マスクlでは中央の画素データが「0」で周囲
の画素データが全て「1」のとき、端子Cから「1」レ
ベルの信号を出力し,逆のときrQ,レベルの信号を出
力するようになっており、その条件を満たさない場合、
端子Cは前段の出力信号、すなわちマスクfの中央部分
の画素信号がそのまま出力されるようになっている。記
号8、,8■はアンド回路、9は出力端子である。In addition, in mask l, when the center pixel data is "0" and all the surrounding pixel data are "1", a signal of "1" level is output from terminal C, and when the opposite is the case, a signal of level rQ is output. If the conditions are not met,
The output signal of the previous stage, that is, the pixel signal of the center portion of the mask f, is output to the terminal C as is. Symbols 8, , 8■ are AND circuits, and 9 is an output terminal.
以上の機能を整理すると、マスク■からマスク■(マス
ク■の端子Cを除いたもの)の機能は第1表のようにな
る。If the above functions are summarized, the functions of masks 2 to 2 (mask 2 excluding terminal C) are as shown in Table 1.
第1表
マスク■の端子Cは中心画素とそれに隣接する周囲の画
素レベルが同一のとき中心画素のレベルがそのまま出力
されるが、レベルが相違するとき第2表のようになる。When the level of the center pixel and the surrounding pixels adjacent thereto are the same, the level of the center pixel is output as is from the terminal C of mask (2) in Table 1, but when the levels are different, the output is as shown in Table 2.
第2表
このように構成された装置の動作は次の通りである。入
力端子1に供給された画像信号はクロック信号に同期し
て各遅延回路に取り込まれるが、全ての遅延回路にデー
タが取り込まれたとして説明する。Table 2 The operation of the device thus constructed is as follows. The image signal supplied to the input terminal 1 is taken into each delay circuit in synchronization with a clock signal, and the explanation will be given assuming that data is taken into all the delay circuits.
各遅延回路出力はそれぞれ所定のマスクに洪給されてい
る。このとき、遅延回路出力を各マスクに供給する基準
は、各遅延回路の配列と第5図〜第8図が対応している
。すなわち第1図の左隅付近の9つの遅延回路2t〜2
,.26,3,4.,28 .43+ 44はマスク■
に対応し、池のマスクも同様である。Each delay circuit output is applied to a predetermined mask. At this time, the reference for supplying the delay circuit output to each mask corresponds to the arrangement of each delay circuit in FIGS. 5 to 8. In other words, the nine delay circuits 2t to 2 near the left corner of FIG.
、. 26, 3, 4. , 28. 43+ 44 is a mask■
The same goes for the pond mask.
マスクf〜マスク■は基本的にはいずれも同じ機能を有
しており,マスク■だけは孤立点処理機能も有している
が、それについては後述する。遅延回路Bのレジスタ3
4の出力はマスク■に供給されるが、孤立点がないとす
るとその信号はマスク■の出力端子Cからそのまま出力
されるので、遅延Bは遅延Cと同一の動作をすることに
なる。Masks f to mask (2) basically all have the same function, and only mask (2) also has an isolated point processing function, which will be described later. Register 3 of delay circuit B
The output of mask (2) is supplied to the mask (2), but if there is no isolated point, the signal is output as is from the output terminal (C) of the mask (2), so the delay B operates in the same way as the delay C.
次に各状態毎の動作を説明する。Next, the operation in each state will be explained.
A.マスク■から■にどれかに連結性のあるときの動作
。A. Behavior when there is connectivity between masks ■ and ■.
このとき、4つのマスクの出力の中で1つは第1表から
分かる通り、座標C3のレベルいかんにかかわらず端子
a,bの出力信号は「0」レベルとなっている。このた
め各マスクの端子a,bから出力された信号はそれぞれ
アンド回路8,9に供給されるが、供給される信号のう
ち最低1つは「0」レベルであるからアンド回路8,9
の出力信号はいずれも「0」レベルとなっている。この
ため第2図、第3図のアンド回路32 、52はレジス
タ34あるいは54の出力がそのまま出力されることに
なる。したがって各マスクのうち1つでも連結性がある
ときは而段からの信号がそのまま出力される。At this time, as can be seen from Table 1, one of the outputs of the four masks is at the "0" level regardless of the level of the coordinate C3. For this reason, the signals output from terminals a and b of each mask are supplied to AND circuits 8 and 9, respectively, but since at least one of the supplied signals is at "0" level, AND circuits 8 and 9
Both output signals are at the "0" level. Therefore, the AND circuits 32 and 52 in FIGS. 2 and 3 output the output of the register 34 or 54 as is. Therefore, if even one of the masks has connectivity, the signal from the second stage is output as is.
B.全てのマスクに連結性がないときの動作。B. Behavior when all masks have no connectivity.
画像データは一般に不連続である確率は少ないので、4
つのマスクの全てに連結性がないときには、座標C3は
微粒子とみなせる。このときの処理は座標C3のデータ
が「1」レベルのときと[0』レベルのときとに分けて
処理される。Image data generally has a low probability of being discontinuous, so 4
When all of the two masks have no connectivity, the coordinate C3 can be regarded as a particle. The processing at this time is performed separately for when the data at the coordinate C3 is at the "1" level and when it is at the "0" level.
Bl.座標C3のデータが「1」レベルのときの動作
このときは各マスクの端子aから「1」レベル、端子b
から「0」レベルの信号が出力される。このためアンド
回路8、は「1」レベルの信号を出力するが、アンド回
路82は「O」レベルの信号を出力する。この信号のう
ち、[11レベルの信号は各遅延回路の端子bに、「0
」レベルの信号は端子Cに供給される。この結果、第2
図および第3図のアンド回路32 、52は「0」レベ
ルの信号を出力するので、第2図,第3図の端子dがら
「0」レベルの信号が出力されることになる。Bl. Operation when the data at coordinate C3 is at "1" level In this case, each mask's terminal a to "1" level, terminal b
A signal of "0" level is output from. Therefore, the AND circuit 8 outputs a signal at the "1" level, but the AND circuit 82 outputs a signal at the "O" level. Among these signals, the [11 level signal is connected to terminal b of each delay circuit as "0".
” level signal is supplied to terminal C. As a result, the second
Since AND circuits 32 and 52 in FIGS. 2 and 3 output "0" level signals, terminals d in FIGS. 2 and 3 output "0" level signals.
すなわち、遅延回路B,Cは全て「0」レベルの信号を
出力することになる。したがって座標C3のデータが「
1」レベルで、マスク■〜Mのいずれもこのデータと連
結していないと判断したときはきは、座標C3のデータ
と周囲のデータとの関連性はないと判断する。周囲との
関連性がないということは座標C3は2値化したときの
雑音であり、5×5のうちの中央部の3×3の部分は全
て「01レベルに変換する。つまり、2値化によって発
生した微粒子は除去されたことになる。That is, delay circuits B and C all output "0" level signals. Therefore, the data at coordinate C3 is “
1'' level, when it is determined that none of the masks 2 to M are connected to this data, it is determined that there is no relationship between the data at the coordinate C3 and the surrounding data. The fact that there is no relation to the surroundings means that the coordinate C3 is noise when converted into a binary value, and the central 3x3 part of the 5x5 is all converted to 01 level.In other words, it is a binary value. This means that the fine particles generated by oxidation have been removed.
B2.座WC3のデータが「0」レベルのときの動作。B2. Operation when the data of seat WC3 is "0" level.
?のとき、各マスクは端子aから「0」レベル、端子b
から「1」レベルの信号が出力されているので、アンド
回路8lは「0」レベルの信号を出力し、アンド回路8
2は「1」レベルの信号を出力することになる。アンド
回路8■から出力された信号は第2図、第3図の端子C
に供給されるので、第2図および第3図の端子dは無条
件に「1」レベルの信号を出力する。このことは5×5
の中央部である3×3の部分が全て「1」レベルに変え
られたことになる。すなわち座標C3のデータが「0」
レベルで周囲と連結性がないならば、3×3の部分が2
値化したとき消失した可能性が高いのでその部分を穴埋
めすれば、2値化時の微粒子は除去されたことになる。? When , each mask has a "0" level from terminal a, and a "0" level from terminal b.
Since a "1" level signal is output from the AND circuit 8l, the AND circuit 8l outputs a "0" level signal.
2 outputs a "1" level signal. The signal output from the AND circuit 8■ is the terminal C in Figures 2 and 3.
Therefore, the terminal d in FIGS. 2 and 3 unconditionally outputs a "1" level signal. This means 5×5
This means that the entire 3x3 area in the center of is changed to the "1" level. In other words, the data at coordinate C3 is "0"
If there is no connectivity with the surroundings at the level, the 3 x 3 part is 2
Since there is a high possibility that the particles were lost during digitization, if that part is filled in, the particulates during binarization will have been removed.
C.孤立点のあるときの動作。C. Behavior when there is an isolated point.
孤立点とは萌述した通り、第11図の太線で示すように
、ある画素のデータがその周囲の画素とは異なる状態と
なっているものである。この場合、太枠内で座標C3を
囲む画素は全て「0」または「1」となっている。孤立
点の説明として第11図では5×5の中央部であるC3
について説明しているが、座lfic3のデータは第1
図の回路において、入力信号が順次シフトされた結果、
その位置までシフトされたものである。このため、第1
1図の03のデータは座標B2を通過した時期もあった
はずである。このため孤立点のあるときは、第11図の
太線の状態のデータがマスク■の位置を通過するとき、
そのマスク■の中央部の座標B2のデータをその画素を
収り囲む画素のデータと同一となるように書き換えて置
けば、そのデータがシフトされC3の位置にきても、孤
立点は発生しないことになる。As mentioned above, an isolated point is one in which the data of a certain pixel is in a different state from that of the surrounding pixels, as shown by the thick line in FIG. In this case, all pixels surrounding the coordinate C3 within the thick frame are "0" or "1". As an explanation of the isolated point, in Fig. 11, C3, which is the center of 5 x 5,
However, the data for locus lfic3 is the first
In the circuit shown in the figure, as a result of sequentially shifting the input signals,
It has been shifted to that position. For this reason, the first
There must have been a time when the data 03 in Figure 1 passed through the coordinate B2. Therefore, when there is an isolated point, when the data in the state indicated by the thick line in Fig. 11 passes through the position of the mask ■,
If the data at the coordinate B2 in the center of the mask ■ is rewritten so that it is the same as the data for the pixels surrounding that pixel, no isolated point will occur even if the data is shifted to the position C3. It turns out.
マスク■に供給される座標B2のデータは他の座標と異
なり、第2図のレジスタ34の出力信号である,一方、
マスク■において孤立点が発生したとき例えば、座標B
2のデータが「0」レベルで、その周囲のが全て「1」
レベルのときは、マスク■の端子Cから「1」レベルの
信号を出力する。この出力信号は第2図の端子fに供給
されるので、レジスタ34から「0」レベルの信号が供
給されたにもかかわらず、アンド回路52には「1」レ
ベルの信号が供給されることになる。ここから先の動作
は第3図のものと同一である。したがって座1fiB2
のデータは実際には「O」レベルにもかかわらず、アン
ド回路3zは「1」レベルとして処理し、処理結果を次
段に渡す。このことは座標B2の孤立点が除去されたこ
とになる。また、座標B2のデータが「1」レベルのと
きは端子Cから「0」レベルの信号が出力されるのでこ
れがアンド回路32に供給され同様に孤立点が除去され
る。The data of the coordinate B2 supplied to the mask 2 is different from the other coordinates and is the output signal of the register 34 in FIG.
For example, when an isolated point occurs in the mask ■, the coordinates B
The data of 2 is at the "0" level, and all surrounding data are "1"
When the level is high, a "1" level signal is output from the terminal C of the mask ■. Since this output signal is supplied to the terminal f in FIG. 2, even though a "0" level signal is supplied from the register 34, a "1" level signal is supplied to the AND circuit 52. become. The operations from here on are the same as those in FIG. Therefore, locus 1fiB2
Although the data is actually at the "O" level, the AND circuit 3z processes it as a "1" level and passes the processing result to the next stage. This means that the isolated point at coordinate B2 has been removed. Furthermore, when the data at the coordinate B2 is at the "1" level, a signal at the "0" level is output from the terminal C, so this is supplied to the AND circuit 32 and the isolated points are similarly removed.
以上の実施例において、全体の画素を5×5で説明した
ので、孤立点は1画素だけであったが、画素のサイズが
変わると孤立点となる画素サイズも第3表のように変化
する。In the above example, the entire pixel was explained as 5×5, so there was only one isolated pixel, but if the size of the pixel changes, the pixel size of the isolated point also changes as shown in Table 3. .
第3表
?たがって実際には全体の画素サイズに応じて孤立点を
処理できるようにしておく必要がある.このため、第1
図の例では遅延回路Bを1個しか設けていないが、第3
表の孤立点サイズと適合する数だけ遅延回路Bを設けれ
ば良い。例えば除去するサイズ4x3の場合、孤立点は
2×1になるので、第1図の例では遅延回路3および遅
延回路4■の両方を遅延回路Bにしておけば良い(但し
第1図は全体サイズが5×5であるから、全体サイズを
6×5に変更させる必要もある》。Table 3? Therefore, in reality, it is necessary to be able to process isolated points according to the overall pixel size. For this reason, the first
In the example shown in the figure, only one delay circuit B is provided, but the third
The number of delay circuits B that matches the size of the isolated point in the table may be provided. For example, if the size to be removed is 4x3, the isolated point will be 2x1, so in the example of Figure 1, both delay circuit 3 and delay circuit 4■ may be set as delay circuit B (However, Figure 1 shows the entire Since the size is 5×5, it is also necessary to change the overall size to 6×5.
なお、マスクr〜Mにおいて、例えばマスク■を基準と
すると、マスク■と『は3列目の座徨を境に線対象、マ
スク■と■は座標C3の画素を境に点対象となる。この
ことはマスクは1種類用意し、例えばマスク1を基準に
して、それに対象となる状態でデータをマスクに入力す
ることもできる。例えばマスク■とマスク■について説
明すると、マスクIでは入力端子1から9について、順
次At,A2,A3,Bl,B2,B3,CL,C2,
C3の画素データを供給したとき、マスク■では入力端
子1から9にA5,A4,A3,B5,B4,83,C
5,C4,C3の画素データを供給すれば良い。このよ
うにすればマスクデータの種類を減らすことができる。In the masks r to M, for example, when mask ■ is used as a reference, masks ■ and ``are line symmetrical with the border of the third column as a boundary, and masks ■ and ■ are point symmetrical with the boundary of the pixel at coordinate C3. This means that one type of mask can be prepared, and data can be input into the mask using mask 1 as a reference, for example. For example, to explain the mask ■ and mask ■, in mask I, input terminals 1 to 9 are sequentially At, A2, A3, Bl, B2, B3, CL, C2,
When pixel data of C3 is supplied, in mask ■, A5, A4, A3, B5, B4, 83, C
It is sufficient to supply pixel data of 5, C4, and C3. In this way, the types of mask data can be reduced.
以上の実施例は3×3画素の範囲で説明したが、要は検
査範囲のそれぞれの4隅から伸びその検査範囲の中央部
において相互に重なる重複部分を有するマスクを設定し
、重複部分のうち任意め1画素を基準画素に設定し、い
ずれのマスクも基準画素から外周までの連結性がないと
きに,中央部のm×nの範囲の画素を連結性のある状態
に変換すれば良い。The above embodiment has been explained in terms of a 3 x 3 pixel range, but the point is that a mask is set that extends from each of the four corners of the inspection range and has overlapping parts that overlap each other in the center of the inspection range, and One arbitrary pixel is set as a reference pixel, and when there is no connectivity from the reference pixel to the outer periphery in any mask, pixels in an m×n range at the center may be converted to a state with connectivity.
[発明の効果1
以上説明したようにこの発明は、中央部分から外周部分
への連結性を調べ、連結性がないとき所定範囲の画素を
連結性がある状態に変更するようにしたので、2値化等
による微粒子がハードウエアで除去でき、その後の処理
の高速性を確保できるという効果を有する。[Effect of the invention 1 As explained above, this invention examines the connectivity from the central part to the outer peripheral part, and when there is no connectivity, changes the pixels in a predetermined range to a state where there is connectivity. This has the effect that fine particles caused by digitization can be removed by hardware, and subsequent processing can be performed at high speed.
第1図はこの発明の一実施例を示すブロック図、第2図
は第1図の遅延回路Bの詳細と示す回路図、第3図は第
1図の遅延回路Cの詳細を示す回路図、第4図は5×5
の画素を示す図、第5図から第8図は5×5の画素とマ
スク■から■の関係を示す図、第9図はマスク■につい
て連結している状悪を示す図、第10図は連結していな
い状態を示す図、第11図は孤立点を示す図である.1
・・・・入力端子、2・・・・遅延回路A、3・・・・
遅延回路B、4・・・・遅延回路C、6・・・・1ライ
ンメモリ、7・・・・マスク、8・アンド回路、
出力端子。FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a circuit diagram showing details of delay circuit B in FIG. 1, and FIG. 3 is a circuit diagram showing details of delay circuit C in FIG. 1. , Figure 4 is 5×5
Figures 5 to 8 are diagrams showing the relationship between 5 x 5 pixels and masks ■ to ■. Figure 9 is a diagram showing the connection of masks ■, and Figure 10. is a diagram showing an unconnected state, and FIG. 11 is a diagram showing an isolated point. 1
...Input terminal, 2...Delay circuit A, 3...
Delay circuit B, 4...Delay circuit C, 6...1 line memory, 7...Mask, 8...AND circuit, output terminal.
Claims (1)
における微粒子の除去方法において、m、nを整数とし
たとき(m+2)×(n+2)画素で構成される検査範
囲があり、 検査範囲のそれぞれの4隅から伸びその検査範囲の中央
部において相互に重なる重複部分を有する4つのマスク
を設定し、 重複部分のうち任意の1画素を基準画素に設定し、 いずれのマスクも基準画素から外周までの連結性がない
ときに、中央部のm×nの範囲の画素を連結性のある状
態に変換することを特徴とする2値画像における微粒子
の除去方法。[Claims] In a method for removing fine particles in a binary image that removes fine particles when an image signal is binarized, an inspection consisting of (m+2)×(n+2) pixels, where m and n are integers. There is a range, and four masks are set that extend from each of the four corners of the inspection range and have overlapping parts that overlap each other in the center of the inspection range, and any one pixel of the overlap part is set as the reference pixel, and eventually A method for removing particulates in a binary image, characterized in that when the mask also has no connectivity from a reference pixel to the outer periphery, pixels in an m×n range in the center are converted to a state with connectivity.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1113797A JP2598323B2 (en) | 1989-05-08 | 1989-05-08 | Method for removing fine particles from binary image |
Applications Claiming Priority (1)
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JP1113797A JP2598323B2 (en) | 1989-05-08 | 1989-05-08 | Method for removing fine particles from binary image |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02293983A true JPH02293983A (en) | 1990-12-05 |
JP2598323B2 JP2598323B2 (en) | 1997-04-09 |
Family
ID=14621324
Family Applications (1)
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JP (1) | JP2598323B2 (en) |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62145380A (en) * | 1985-12-17 | 1987-06-29 | インタ−ナショナル ビジネス マシ−ンズ コ−ポレ−ション | Removal of noise in black/white picture element image |
-
1989
- 1989-05-08 JP JP1113797A patent/JP2598323B2/en not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JPS62145380A (en) * | 1985-12-17 | 1987-06-29 | インタ−ナショナル ビジネス マシ−ンズ コ−ポレ−ション | Removal of noise in black/white picture element image |
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