JPH02289934A - 情報記録媒体 - Google Patents
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- JPH02289934A JPH02289934A JP1126372A JP12637289A JPH02289934A JP H02289934 A JPH02289934 A JP H02289934A JP 1126372 A JP1126372 A JP 1126372A JP 12637289 A JP12637289 A JP 12637289A JP H02289934 A JPH02289934 A JP H02289934A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の分野]
本発明は、レーザー光により情報の古き込みおよび/ま
たは読み取りか可能な情報が記録された情報記録媒体に
関するものである。
たは読み取りか可能な情報が記録された情報記録媒体に
関するものである。
[発明の技術的背景]
近年において、レーザー光等の高エネルギー密度のビー
ムを用いる情報記録媒体が開発され、実用化されている
。この情報記録媒体は光ディスクと称され、ビデオ・デ
ィスク、オーディオ・ディスク、さらには大容量静止画
像ファイルおよび大容量コンピュータ用ディスク・メモ
リーとして使用さわうるものである。これらの情報記録
媒体のうちで、音楽等のオーディオ再生用としてコンパ
クトディスク(CD)が広く実用化されている。
ムを用いる情報記録媒体が開発され、実用化されている
。この情報記録媒体は光ディスクと称され、ビデオ・デ
ィスク、オーディオ・ディスク、さらには大容量静止画
像ファイルおよび大容量コンピュータ用ディスク・メモ
リーとして使用さわうるものである。これらの情報記録
媒体のうちで、音楽等のオーディオ再生用としてコンパ
クトディスク(CD)が広く実用化されている。
通常のD R A W ( Direct Read
After Writ.e、書き込み可能)型の情報記
録媒体は、基本構造として、プラスチック、ガラス等か
らなる円盤状の透明基板と、この」一に設けられたBi
.Sn、In.Te等の金属または半金属からなる記録
層とを存する。光ディスクへの情報の書き込みは、たと
えばレーザービームな光ティスクに照射することにより
行なわれ、記録層の照射部分がその光を吸収して局所的
に温度上昇する粘゛果、ビット形成等の物理的変化ある
いは相変化等の化学的変化を生してその光学的特性を変
えることにより情報が記録される。光ディスクからの情
報の読み取りもまた、レーザービームを光ディスクに照
射することなどにより行なわれ、記録層の光学的特性の
変化に応じた反射光または透過光を検出することにより
情報が再生される。
After Writ.e、書き込み可能)型の情報記
録媒体は、基本構造として、プラスチック、ガラス等か
らなる円盤状の透明基板と、この」一に設けられたBi
.Sn、In.Te等の金属または半金属からなる記録
層とを存する。光ディスクへの情報の書き込みは、たと
えばレーザービームな光ティスクに照射することにより
行なわれ、記録層の照射部分がその光を吸収して局所的
に温度上昇する粘゛果、ビット形成等の物理的変化ある
いは相変化等の化学的変化を生してその光学的特性を変
えることにより情報が記録される。光ディスクからの情
報の読み取りもまた、レーザービームを光ディスクに照
射することなどにより行なわれ、記録層の光学的特性の
変化に応じた反射光または透過光を検出することにより
情報が再生される。
このようなDRAW型の光ディスクは、一般に記録感度
および読取精度か高いことが望まれている。すなわち、
低いレーザーバワーで記録することができ、そしてその
記録された信号を再生した際、高いC/Nを有する信号
が得ることができること、且つ再生時において信号が記
録された所定位置を辿ることができる性質である、トラ
ッキング性が良好であることが望まれている。このよう
なトラッキングを行なうためのトラ・ンキングサーポ方
式としては、1ビームで装置の構成が簡単なプッシュブ
ル法が、DRAW型光ディスクにおいては広く用いられ
ている。
および読取精度か高いことが望まれている。すなわち、
低いレーザーバワーで記録することができ、そしてその
記録された信号を再生した際、高いC/Nを有する信号
が得ることができること、且つ再生時において信号が記
録された所定位置を辿ることができる性質である、トラ
ッキング性が良好であることが望まれている。このよう
なトラッキングを行なうためのトラ・ンキングサーポ方
式としては、1ビームで装置の構成が簡単なプッシュブ
ル法が、DRAW型光ディスクにおいては広く用いられ
ている。
例えば、主としてDRAW型に用いられる、記録感度お
よび読取精度が高い情報記録媒体として、SeおよびT
eからなる記録層を有する情報記録媒体(特公昭59−
35356号公報)か知られている。さらに、優れた記
録特性に加えて基板との接着性の向上を目的とした、5
〜200Xの層厚のCu,Ag.Auなどからなる中間
材料層、および100〜400Xの層厚のSeTe,A
s−Teなどからなる記録層から構成される情報記録媒
体(特開昭56−71834号公報)が提案されている
。また、感度を向上させるために、記録層と基板との間
にボリ弗化ボリオレフィン等の高分子化合物の層を設け
て熱伝導を防止することにより、これを達成しようとす
る試みもなされている(特開昭62−219244号公
報)。
よび読取精度が高い情報記録媒体として、SeおよびT
eからなる記録層を有する情報記録媒体(特公昭59−
35356号公報)か知られている。さらに、優れた記
録特性に加えて基板との接着性の向上を目的とした、5
〜200Xの層厚のCu,Ag.Auなどからなる中間
材料層、および100〜400Xの層厚のSeTe,A
s−Teなどからなる記録層から構成される情報記録媒
体(特開昭56−71834号公報)が提案されている
。また、感度を向上させるために、記録層と基板との間
にボリ弗化ボリオレフィン等の高分子化合物の層を設け
て熱伝導を防止することにより、これを達成しようとす
る試みもなされている(特開昭62−219244号公
報)。
しかしながら、これらの情報記録媒体は記録感度につい
ては比較的優れたものであるが、上記再生時のC/Nが
高く且つプッシュブル法によるトラッキング性が充分に
優れたものであるとは言うことはてきない。従って、高
C/Nで且つトラッキング性の充分に優れた情報記録媒
体はまだ得ら打ていない。
ては比較的優れたものであるが、上記再生時のC/Nが
高く且つプッシュブル法によるトラッキング性が充分に
優れたものであるとは言うことはてきない。従って、高
C/Nで且つトラッキング性の充分に優れた情報記録媒
体はまだ得ら打ていない。
[発明の目的]
本発明は、記録感度が高く、そして再生時のC/Nが高
く且つプッシュブル法によるトラッキング性が優れた情
報記録媒体を提供することを目的とする。
く且つプッシュブル法によるトラッキング性が優れた情
報記録媒体を提供することを目的とする。
[発明の要旨]
本発明は、基板上に、
(1)Au,Ta,T i.Cr.Ni,Ag、Pt,
An、C,W,Mo.Nb,V.Fe、CoおよびSi
かうなる群より選ばれる少なくとも一種の金属または半
金属を含み、平均層厚が10〜100又の範囲で設けら
れた金属層、(2)高分子化合物からなる中間層、およ
び(3)レーザー光により情報の書き込みおよび/また
は読み取りが可能なTeとSeとを含む記録層がこの順
で積層されてなる情報記録媒体にある。
An、C,W,Mo.Nb,V.Fe、CoおよびSi
かうなる群より選ばれる少なくとも一種の金属または半
金属を含み、平均層厚が10〜100又の範囲で設けら
れた金属層、(2)高分子化合物からなる中間層、およ
び(3)レーザー光により情報の書き込みおよび/また
は読み取りが可能なTeとSeとを含む記録層がこの順
で積層されてなる情報記録媒体にある。
−F記本発明の情報記録媒体の好ましい態様は以下の通
りである。
りである。
1)該金属層が、上記金属を30原子数%以上含むこと
を特徴とする」=記情報記録媒体。
を特徴とする」=記情報記録媒体。
2)該金属層が、上記金属を50原子数%以上含むこと
を特徴とする上記情報記録媒体。
を特徴とする上記情報記録媒体。
3)上記金属が、Au.Ta.Ti.Cr、A4.Pt
またはNiを含むことを特徴とする上記情報記録媒体。
またはNiを含むことを特徴とする上記情報記録媒体。
4)上記金属層が、上記金属以外の金属としてCuを含
むことを特徴とする上記情報記録媒体。
むことを特徴とする上記情報記録媒体。
5)該金属層が、深さ方向に連続で面方向には不連続な
島状の部分と該島状間の間隙部分とからなることを特徴
とする上記情報記録媒体。
島状の部分と該島状間の間隙部分とからなることを特徴
とする上記情報記録媒体。
6)上記記録層が、Cd,Zn,Art,Ga、In,
S,P,Ge,Sb,Bi.Si,Sn,Pb.Ta.
Cu,Au.Pt.AgおよびTIl.からなる群より
選ばれる少なくとも一種の金属を含むことを特徴とする
」二記情報記録媒体。
S,P,Ge,Sb,Bi.Si,Sn,Pb.Ta.
Cu,Au.Pt.AgおよびTIl.からなる群より
選ばれる少なくとも一種の金属を含むことを特徴とする
」二記情報記録媒体。
7)該中間層が、塩素化ポリオレフイン、フッ素化ポリ
オレフィン、ポリスチレンおよびニトロセルロースのい
ずれかであることを特徴とする情報記録媒体。
オレフィン、ポリスチレンおよびニトロセルロースのい
ずれかであることを特徴とする情報記録媒体。
8)該中間層か、200〜3000λの範囲の層厚にて
設けられていることを特徴とする情報記録媒体。
設けられていることを特徴とする情報記録媒体。
9 ) L記記録層が、TeおよびSeを原子数%で、
それぞれ70〜95%および5〜50%の範OQにて含
んでいることを特徴とするト記情報記録媒体。
それぞれ70〜95%および5〜50%の範OQにて含
んでいることを特徴とするト記情報記録媒体。
9)1二記記録層が、Te.Seおよびpbを原了゛数
%でそわぞれ94〜70%、5〜20%、1〜10%の
範囲にて含んでいることを特徴とずる1−記情報記録媒
体。
%でそわぞれ94〜70%、5〜20%、1〜10%の
範囲にて含んでいることを特徴とずる1−記情報記録媒
体。
なお、重一均層厚とは、単位面梢当たりに存71する金
属κを、空隙を埋めて−様な層J2に層を形成した場合
の層厚をいう。
属κを、空隙を埋めて−様な層J2に層を形成した場合
の層厚をいう。
[発明の効果]
本発明の情報記録媒体は、上記のように基板、金属層、
中間層そして記録層が、この順て積層さわた構造を有す
る。このように中間層か金属層と記録層の二゛.つの金
属層の間に設け、1つ該金属層をその平均層厚を極めて
薄い状態で設けることにより、1η生時における高いC
/Nおよびプッシュブル法による安定したトラッキンク
性を得ることかできる。
中間層そして記録層が、この順て積層さわた構造を有す
る。このように中間層か金属層と記録層の二゛.つの金
属層の間に設け、1つ該金属層をその平均層厚を極めて
薄い状態で設けることにより、1η生時における高いC
/Nおよびプッシュブル法による安定したトラッキンク
性を得ることかできる。
」二記金属層をこのように薄い層厚て設けると、金属層
は均一な層とはならず、島状の部分と該島状間の間隙部
分からなるまだら模様の状態となる場合か多い。本発明
においても、特にこのようなまたら模様の金属層の上に
、高分子化合物からなる中間層、そして記録層を設けた
場合、感度の向上モしてC/Nを高めるたけでなく、プ
ッシュブル法によるトラッキング性を向−卜させること
ができる。すなわち、このような構成を採ることにより
、情報の記録形態として例えばビッ1・を形成ずる場合
、レーサー光の照射により、ビッl・ができ易いたけで
なく、形成ざれたビット形状がビット幅が均−で良く揃
ったものになることが推定される。このためプッシュブ
ル法によるトラッキングに適しており、極めて高精度に
トラッキンッグを行なうことができる。
は均一な層とはならず、島状の部分と該島状間の間隙部
分からなるまだら模様の状態となる場合か多い。本発明
においても、特にこのようなまたら模様の金属層の上に
、高分子化合物からなる中間層、そして記録層を設けた
場合、感度の向上モしてC/Nを高めるたけでなく、プ
ッシュブル法によるトラッキング性を向−卜させること
ができる。すなわち、このような構成を採ることにより
、情報の記録形態として例えばビッ1・を形成ずる場合
、レーサー光の照射により、ビッl・ができ易いたけで
なく、形成ざれたビット形状がビット幅が均−で良く揃
ったものになることが推定される。このためプッシュブ
ル法によるトラッキングに適しており、極めて高精度に
トラッキンッグを行なうことができる。
従って、本発明の情報記録媒体は、記録感度および再生
時のC/Nが高く、さらにプッシュブル7人によるトラ
ッキング性か優れたものであるということがてきる。
時のC/Nが高く、さらにプッシュブル7人によるトラ
ッキング性か優れたものであるということがてきる。
[発明の詳細な記述]
本発明の情報記録媒体は、J,(本横造として、基板、
金属層、中間層そして記録層か、この順で積層された構
造を有する。
金属層、中間層そして記録層か、この順で積層された構
造を有する。
第1図に、木発明の情報記録媒体の基本的な層構成の断
面模式図を示す。
面模式図を示す。
第1図は、基板1、金属層2、中間層3そして記録層4
が、この順で積層されている。
が、この順で積層されている。
従来の情報記録媒体では、−1記金属層と金属記録層は
両力で記録層の役割を果たしており、両名は接して設け
られていた。そして、高分子物質からなる中間層を設け
る場合は、これらの層のト゛に形成されていた。一般に
、このような中間層は感度を高くすることはできるが、
必ずしもIIt生時のC/Hの向上およびプッシュブル
法のよるトラッキンク性を良化できるとはi゛えなかっ
た。
両力で記録層の役割を果たしており、両名は接して設け
られていた。そして、高分子物質からなる中間層を設け
る場合は、これらの層のト゛に形成されていた。一般に
、このような中間層は感度を高くすることはできるが、
必ずしもIIt生時のC/Hの向上およびプッシュブル
法のよるトラッキンク性を良化できるとはi゛えなかっ
た。
本発明者等の研究により、第1図に承ずように中間層を
金属層と記録層の二つの金属がらなる層の間に設けるこ
とにより、且つ該金属層をその゛ト均層厚を極めて薄い
状態で設けることにより、再生時における高いC/Nお
よびプッシュブル法によるトラッキンク性の向トを得る
ことができることが明らかとなった。しかも、士記中間
層を2つの金属からなる層でサン]・イッチずるだけで
は、高いC/Nと安定したトラッキング+′Lを実現す
ることは困難で、該反射層を極めて薄い、平均層厚が1
0〜100λの範囲に設けることにより、このような優
わた特性が得られることが判明した。
金属層と記録層の二つの金属がらなる層の間に設けるこ
とにより、且つ該金属層をその゛ト均層厚を極めて薄い
状態で設けることにより、再生時における高いC/Nお
よびプッシュブル法によるトラッキンク性の向トを得る
ことができることが明らかとなった。しかも、士記中間
層を2つの金属からなる層でサン]・イッチずるだけで
は、高いC/Nと安定したトラッキング+′Lを実現す
ることは困難で、該反射層を極めて薄い、平均層厚が1
0〜100λの範囲に設けることにより、このような優
わた特性が得られることが判明した。
すなわち木発明の情報記録媒体は、基板上に、(])A
u,Ta,Ti.Cr,N i,Ag、Pt.Afl、
C.W.MO.Nb、■、Fe、CoおよびSiからな
る群より選ばれる少なくども一種の金属を含み、平均層
厚が10〜100スの範囲にある金属層、 (2)高分子化合物からなる中間層、および(3)レー
サー光により情報の書き込みおよび/または読み取りが
可能なTeとSeとを含む記録層、 がこの順で積層されていることが必要である。
u,Ta,Ti.Cr,N i,Ag、Pt.Afl、
C.W.MO.Nb、■、Fe、CoおよびSiからな
る群より選ばれる少なくども一種の金属を含み、平均層
厚が10〜100スの範囲にある金属層、 (2)高分子化合物からなる中間層、および(3)レー
サー光により情報の書き込みおよび/または読み取りが
可能なTeとSeとを含む記録層、 がこの順で積層されていることが必要である。
本発明を構成する上記中間層および上記薄膜の金属層は
、一般に記録感度の向上に利用さねている。上記金属層
をこのように薄い層厚で設けると、金属層は均一な層と
はならず、島状の部分と該島状間の間隙部分からなるま
だら模様の状態となる場合が多い。本発明では、上記金
属層が、深さ方向に連続で面方向には不連続な島状の部
分と該島状間の間隙部分とからなることが好ましい。
、一般に記録感度の向上に利用さねている。上記金属層
をこのように薄い層厚で設けると、金属層は均一な層と
はならず、島状の部分と該島状間の間隙部分からなるま
だら模様の状態となる場合が多い。本発明では、上記金
属層が、深さ方向に連続で面方向には不連続な島状の部
分と該島状間の間隙部分とからなることが好ましい。
このまだら模様の金属層の上に、高分子化合物からなる
中間層、そして記録層を設けることにより、感度の向上
やC/Nを高めるだけでなく、プッシュブル法によるト
ラッキング性を向上させることができる。すなわち、こ
のような構成を採ることにより、情報の記録形態として
例えばビットを形成する場合、レーザー光の照射により
、ピットができ易いだけでなく、形成されたピット形状
がピット幅が均一て良〈揃ったものになることが推定さ
れる。
中間層、そして記録層を設けることにより、感度の向上
やC/Nを高めるだけでなく、プッシュブル法によるト
ラッキング性を向上させることができる。すなわち、こ
のような構成を採ることにより、情報の記録形態として
例えばビットを形成する場合、レーザー光の照射により
、ピットができ易いだけでなく、形成されたピット形状
がピット幅が均一て良〈揃ったものになることが推定さ
れる。
また、本発明者等の検討により、木発明では、記録時の
ビットの形成は記録層および中間層の一部に形成され、
金属層は殆ど変形しないことが明らかとなった。これに
より金属層が有する反射率を向上させる等の効果を得る
ことができるため、特にプッシュブル法によるトラッキ
ング性において顕著に向上すると考えられる。
ビットの形成は記録層および中間層の一部に形成され、
金属層は殆ど変形しないことが明らかとなった。これに
より金属層が有する反射率を向上させる等の効果を得る
ことができるため、特にプッシュブル法によるトラッキ
ング性において顕著に向上すると考えられる。
プッシュプル法は、一つのレーザービームを記録層のピ
ット部分に照射して、ピットの中心にビームスポットが
ある場合以外は左右の反射光の強度分布が異なるため、
これを検出してトラッキングを行なうものである。
ット部分に照射して、ピットの中心にビームスポットが
ある場合以外は左右の反射光の強度分布が異なるため、
これを検出してトラッキングを行なうものである。
従って、上記のように形状が均一でエッジが揃ったビッ
トが形成された記録層は、プッシュブル法によるトラッ
キングに適しており、極めて高精度にトラッキンッグを
行なうことができる。
トが形成された記録層は、プッシュブル法によるトラッ
キングに適しており、極めて高精度にトラッキンッグを
行なうことができる。
従って、本発明の情報記録媒体は、記録感度および再生
時のC/Nが高く、さらにプッシュブル法のよるトラッ
キング性が優れたものであるということができる。
時のC/Nが高く、さらにプッシュブル法のよるトラッ
キング性が優れたものであるということができる。
本発明の光情報記録方法に用いられる情報記録媒体は、
たとえば以下のような方法により製造することができる
。
たとえば以下のような方法により製造することができる
。
本発明において使用する基板は、従来の情報記録媒体の
基板として用いられている各種の材料から任意に選択す
ることができる。基板の光学的特性、平面性、加工性、
取扱い性、経時安定性および製造コストなどの点から、
基板材料の例としてはソーダ石灰ガラス等のガラス:セ
ルキャストポリメチルメタクリレート、射出成形ポリメ
チルメタクリレート等のアクリル樹脂;ポリ塩化ビニル
、塩化ビニル共重合体等の塩化ビニル系樹脂;エポキシ
樹脂;およびポリカーボネート:非晶質ポリオレフィン
を挙げることができる。これらのうちで、好ましいもの
はポリメチルメタクリレート、ポリカーボネート、エボ
キシ樹脂、非品質ポリオレフィンおよびガラスである。
基板として用いられている各種の材料から任意に選択す
ることができる。基板の光学的特性、平面性、加工性、
取扱い性、経時安定性および製造コストなどの点から、
基板材料の例としてはソーダ石灰ガラス等のガラス:セ
ルキャストポリメチルメタクリレート、射出成形ポリメ
チルメタクリレート等のアクリル樹脂;ポリ塩化ビニル
、塩化ビニル共重合体等の塩化ビニル系樹脂;エポキシ
樹脂;およびポリカーボネート:非晶質ポリオレフィン
を挙げることができる。これらのうちで、好ましいもの
はポリメチルメタクリレート、ポリカーボネート、エボ
キシ樹脂、非品質ポリオレフィンおよびガラスである。
記録層が設けられる側の基板表面には、平面性の改善、
接着力の向上および記録層の変質の防止の目的で、下塗
層が設けられていてもよい。下塗層の材料としては、た
とえば、ポリメチルメタクリレート、アクリル酸・メタ
クリル酸共重合体、ニトロセルロース、ポリエチレン、
ボリブロピレン、ポリカーポネート等の高分子物質:シ
ランカップリング剤などの有機物質;および無機酸化物
(Si02、Al20,等)、無機弗化物(MgF2)
などの無機物質を挙げることができる。
接着力の向上および記録層の変質の防止の目的で、下塗
層が設けられていてもよい。下塗層の材料としては、た
とえば、ポリメチルメタクリレート、アクリル酸・メタ
クリル酸共重合体、ニトロセルロース、ポリエチレン、
ボリブロピレン、ポリカーポネート等の高分子物質:シ
ランカップリング剤などの有機物質;および無機酸化物
(Si02、Al20,等)、無機弗化物(MgF2)
などの無機物質を挙げることができる。
ガラス基板の場合は、基板から遊離するアルカリ金属イ
オンおよびアルカリ土類金属イオンによる記録層への悪
影響を防止するために、スチレン・無水マレイン酸共重
合体などの親水性基および/または無水マレイン酸基を
有するポリマーからなる下塗層が設けられているのが望
ましい。
オンおよびアルカリ土類金属イオンによる記録層への悪
影響を防止するために、スチレン・無水マレイン酸共重
合体などの親水性基および/または無水マレイン酸基を
有するポリマーからなる下塗層が設けられているのが望
ましい。
下塗層は、たとえば上記物質を適当な溶剤に溶解または
分散したのち、この塗布液をスビンコート、ディップコ
ート、エクストルージョンコートなどの塗布法により基
板表面に塗布することにより形成することができる。
分散したのち、この塗布液をスビンコート、ディップコ
ート、エクストルージョンコートなどの塗布法により基
板表面に塗布することにより形成することができる。
また、基板上にはトラッキング用溝またはアドレス仁−
号等の情報を表わす凹凸の形成の11的で、プレグルー
プ層が設けられてもよい。プレクルーブ層の材料として
は、アクリル酸のモノエスデル、シエステル、トリエス
テルおよびテトラエステルのうちの少なくとも一種のモ
ノマー(またはオリゴマー)と光重合開始剤との混合物
を用いることがてきる。プレグループ層の層厚は、一般
に0.05〜100μmの範囲にあり、好ましくは0.
1〜50μmの範囲にある。また、プラスチック基板の
場合は直接基板表面にプレグループを形成してもよい。
号等の情報を表わす凹凸の形成の11的で、プレグルー
プ層が設けられてもよい。プレクルーブ層の材料として
は、アクリル酸のモノエスデル、シエステル、トリエス
テルおよびテトラエステルのうちの少なくとも一種のモ
ノマー(またはオリゴマー)と光重合開始剤との混合物
を用いることがてきる。プレグループ層の層厚は、一般
に0.05〜100μmの範囲にあり、好ましくは0.
1〜50μmの範囲にある。また、プラスチック基板の
場合は直接基板表面にプレグループを形成してもよい。
1−記の基板の上には(所望によりプレグループ層およ
び/または上塗り層を介して)本発明の金属層か設けら
れる。
び/または上塗り層を介して)本発明の金属層か設けら
れる。
金属層の材料としては、Au.Ta.Ti、Cr,Ni
、Ag.Pt.Afl.C,W.Mo、Nb.V.Fe
,CoおよびSiの少なくとも種の金属または半金属を
用いることが必要てある,、こわらの金属は、融点か高
く、且つ比較的高い反射率(基板に一定の層厚て形成さ
れた金属層の値として)を示すもので、このような金属
を」−記薄い層厚て設けることにより、高いC/Nとプ
ッシュブル法によるトラッキング性か共に向上したもの
となる。F記金属は一種のみ用いても良いし、組合わせ
て数種使用してもよい。」一記金属の使用量は一般に3
0原子数%以−J二用いらわ、好ましくは50原子数%
以十、特に好ましくは80原子数%以上である。これら
の中で、好ましくはAu.Ta.Ti,Cr.Ni.P
tおよびA1であり、特に好ましくはAuである。
、Ag.Pt.Afl.C,W.Mo、Nb.V.Fe
,CoおよびSiの少なくとも種の金属または半金属を
用いることが必要てある,、こわらの金属は、融点か高
く、且つ比較的高い反射率(基板に一定の層厚て形成さ
れた金属層の値として)を示すもので、このような金属
を」−記薄い層厚て設けることにより、高いC/Nとプ
ッシュブル法によるトラッキング性か共に向上したもの
となる。F記金属は一種のみ用いても良いし、組合わせ
て数種使用してもよい。」一記金属の使用量は一般に3
0原子数%以−J二用いらわ、好ましくは50原子数%
以十、特に好ましくは80原子数%以上である。これら
の中で、好ましくはAu.Ta.Ti,Cr.Ni.P
tおよびA1であり、特に好ましくはAuである。
上記金属以外に他の元素を用いてもよく、例えば下記の
ようなものを用いてもよい。その例としては、Cu.M
g.Se.Y.Zr,Hf、Mn.Re.Ru.Rh,
Tr,Zn.Cd、Ga.In、、Ge.Te.Pb.
PO、Sn、Biなとの金属および半金属を挙げること
ができる。これらの金属は、全金属縫から」二記特定の
金属量を除いた分に使用される。これらの中で、好まし
い金属は、反射率か高く融点の高いCuである。
ようなものを用いてもよい。その例としては、Cu.M
g.Se.Y.Zr,Hf、Mn.Re.Ru.Rh,
Tr,Zn.Cd、Ga.In、、Ge.Te.Pb.
PO、Sn、Biなとの金属および半金属を挙げること
ができる。これらの金属は、全金属縫から」二記特定の
金属量を除いた分に使用される。これらの中で、好まし
い金属は、反射率か高く融点の高いCuである。
エ 5
I 6
本発明のL記金属層を設けることにより、後述する中間
層および記録層をこの上−に設けた場合、再生時のC/
Nおよびトラッキング性を向十させることかできる。L
記金属層の平均層ノソは10〜100λの範囲にあるこ
とが必要である。10λ未満ではC/Nおよびトラッキ
ング性が共に充分ではなく、100Xを超えるとトラッ
キング性および感度の低−tかあり、好ましくない。
層および記録層をこの上−に設けた場合、再生時のC/
Nおよびトラッキング性を向十させることかできる。L
記金属層の平均層ノソは10〜100λの範囲にあるこ
とが必要である。10λ未満ではC/Nおよびトラッキ
ング性が共に充分ではなく、100Xを超えるとトラッ
キング性および感度の低−tかあり、好ましくない。
上記金属層の平均層厚は、金属層のΣト均化した層J1
yであるため、層厚が0^ずなわち金属の存在しない部
分が有っても良いし、100λを超える部分が有っても
良い。実際に蒸着等で反射層を設ける際は、上記)V均
層厚10〜100^の範囲に対応ずる蚕として、例えば
Auでは、学位面積当たりの重量が2。0〜20μg
/ c m 2の範囲で金属層の層厚を制御して形成す
れば良い。
yであるため、層厚が0^ずなわち金属の存在しない部
分が有っても良いし、100λを超える部分が有っても
良い。実際に蒸着等で反射層を設ける際は、上記)V均
層厚10〜100^の範囲に対応ずる蚕として、例えば
Auでは、学位面積当たりの重量が2。0〜20μg
/ c m 2の範囲で金属層の層厚を制御して形成す
れば良い。
般に、金属層形成時に用いられる単位面積当たりの重量
と金属密度からその平均層厚は求めることができる。す
なわち、東位面積当たりの重量をXμg/cm2、平均
層厚y久そして金属密度をρg/Cm3とすると、次式
より求めることができる。
と金属密度からその平均層厚は求めることができる。す
なわち、東位面積当たりの重量をXμg/cm2、平均
層厚y久そして金属密度をρg/Cm3とすると、次式
より求めることができる。
p ・ 1 0 0
L記金属層は前述のように、層厚が均−な層とはならず
、島状の部分と該島状間の間隙部分からなるまだら模様
の状態となる場合が多い。本発明では、1一記金属層が
、深さ方向に連続で面方向には不連続な島状の部分と該
島状間の間隙部分とからなることが好ましい。
、島状の部分と該島状間の間隙部分からなるまだら模様
の状態となる場合が多い。本発明では、1一記金属層が
、深さ方向に連続で面方向には不連続な島状の部分と該
島状間の間隙部分とからなることが好ましい。
上記金属層の十には本発明の中間層を設りることが必要
である。
である。
−4−記中間層の材料としては、ポリメチルメタクリレ
ート、アクリル酸・メタクリル酸共重合体、ニトロセル
ロース、ボリスチレン、ポリエチレン、ボリブロビレン
、ポリカーボネート、塩素化ポリオレフィンおよびフッ
素化ポリオレフィン(好ましくはポリテトラフルオ口エ
チレン)が挙げらわる。この中では,ニトロセルロース
、ボリスチレン、塩素化ポリオレフィンまたはフッ素化
ポリオレフィンか好ましい。特に好ましくはフッ素化ポ
リオレフィンである。
ート、アクリル酸・メタクリル酸共重合体、ニトロセル
ロース、ボリスチレン、ポリエチレン、ボリブロビレン
、ポリカーボネート、塩素化ポリオレフィンおよびフッ
素化ポリオレフィン(好ましくはポリテトラフルオ口エ
チレン)が挙げらわる。この中では,ニトロセルロース
、ボリスチレン、塩素化ポリオレフィンまたはフッ素化
ポリオレフィンか好ましい。特に好ましくはフッ素化ポ
リオレフィンである。
これにより、主としてレーザービームの照射による熱エ
ネルギーが記録層から基板へ熱伝導によって損失するの
を低減することができる。
ネルギーが記録層から基板へ熱伝導によって損失するの
を低減することができる。
上記塩素化ポリオレフィンとしては一般に塩素化率が3
0%以上のものが用いられ、好ましくは50%以上、特
に好ましくは50〜70%の範囲の塩素化率を有するも
のが用いられる。また、熱安定性および溶解性の点から
、これらの塩素化ポリオレフィンのうちでも塩素化ポリ
エチレンおよび塩素化ボリブロビレンが特に好ましい。
0%以上のものが用いられ、好ましくは50%以上、特
に好ましくは50〜70%の範囲の塩素化率を有するも
のが用いられる。また、熱安定性および溶解性の点から
、これらの塩素化ポリオレフィンのうちでも塩素化ポリ
エチレンおよび塩素化ボリブロビレンが特に好ましい。
上記中間層は、塩素化ポリオレフィンなどを溶解して塗
布液を調製し、次いでこの塗布液を基板の上に(所望に
より下塗り層などを介して)塗布乾燥することにより設
けることができる。
布液を調製し、次いでこの塗布液を基板の上に(所望に
より下塗り層などを介して)塗布乾燥することにより設
けることができる。
塩素化ポリオレフィンなどを溶解するための溶剤として
は、トルエン、キシレン、酢酸エチル、酢酸ブチル、セ
ロソルブアセテート、メチルエチルケトン、1,2−ジ
クロルエタン、メチルイソブチルケトン、シクロヘキサ
ノン、シクロヘキサン、テトラヒド口フラン、エチルエ
ーテル、ジオキサンなどを挙げることができる。塗布液
中にはさらに可塑剤、滑刑なと各種の添加剤を目的に応
じて添加してもよい。
は、トルエン、キシレン、酢酸エチル、酢酸ブチル、セ
ロソルブアセテート、メチルエチルケトン、1,2−ジ
クロルエタン、メチルイソブチルケトン、シクロヘキサ
ノン、シクロヘキサン、テトラヒド口フラン、エチルエ
ーテル、ジオキサンなどを挙げることができる。塗布液
中にはさらに可塑剤、滑刑なと各種の添加剤を目的に応
じて添加してもよい。
塗布方法としては、スプレー法、スビンコート法、ディ
ップ法、ロールコート法、ブレードコート法、トクター
ロール法、スクリーン印刷法などを用いることができる
。
ップ法、ロールコート法、ブレードコート法、トクター
ロール法、スクリーン印刷法などを用いることができる
。
またフッ素化ポリオレフィンの中間層の材料としては、
例えばポリテトラフルオ口エチレン、ボリフッ化ビニル
、ボリ三フッ化エチレン、ボリフッ化ビニリデン、ボリ
六フッ化プロピレン、ポリクロロトリフルオ口エチレン
、ポリカーボンモノフルオライトおよびポリジカーボン
モノフルオライトを挙げることができる。フッ素化ポリ
オレフィンの中間層は、例えばポリテトラフルオ口エチ
レン[例えばテフロン{デュポン( Du Pont)
社製}コを基板上にスパッタリングすることにより設け
ることができる。
例えばポリテトラフルオ口エチレン、ボリフッ化ビニル
、ボリ三フッ化エチレン、ボリフッ化ビニリデン、ボリ
六フッ化プロピレン、ポリクロロトリフルオ口エチレン
、ポリカーボンモノフルオライトおよびポリジカーボン
モノフルオライトを挙げることができる。フッ素化ポリ
オレフィンの中間層は、例えばポリテトラフルオ口エチ
レン[例えばテフロン{デュポン( Du Pont)
社製}コを基板上にスパッタリングすることにより設け
ることができる。
中間層の層厚は、200〜3000又の範囲が好ましい
。特に好ましくは、500〜2600λの範囲である。
。特に好ましくは、500〜2600λの範囲である。
本発明では、情報の記録であるピットの形成は、記録層
および中間層の一部に行なわれる。従って、中間層が2
00λ未満と薄すぎる場合は、記録時にレーザービーム
が照射されることによって、中間層が全て融解または蒸
発するため、金属層まで変形することなり、これにより
本発明の効果である高いC/Nと優れたプッシュブル・
トラッキング性を得ることが難しい。また、3000λ
を超える場合は、中間層を形成するのに要する時間がか
かりすぎるとの問題がある。
および中間層の一部に行なわれる。従って、中間層が2
00λ未満と薄すぎる場合は、記録時にレーザービーム
が照射されることによって、中間層が全て融解または蒸
発するため、金属層まで変形することなり、これにより
本発明の効果である高いC/Nと優れたプッシュブル・
トラッキング性を得ることが難しい。また、3000λ
を超える場合は、中間層を形成するのに要する時間がか
かりすぎるとの問題がある。
上記中間層の上には本発明のTeおよびSeを含む記録
層が設けられる。記録層中のTeおよびSeの含有量は
、原子数%でそれぞれ70〜95%、5〜50%の範囲
にあることが好ましい。またTeおよびSe以外に、上
記記録層が含有することができる金属および半金属とし
ては、sb、Ga, S, Ge. Sb,
Bi, Sn, Pb,Ti,Cu,AgおよびT
b等を挙げることができる。これらの中で、好ましくは
pbである。そしてこれらの金属および半金属の少なく
とも一種を含むことにより、記録されたビットの大きさ
が揃ったものとなり好ましい。本発明の記録層は、Te
.SeおよびPbを原子数%でそれぞれ94〜70%、
10〜25%、1〜10%の範囲にて含んでいることが
特に好ましい。
層が設けられる。記録層中のTeおよびSeの含有量は
、原子数%でそれぞれ70〜95%、5〜50%の範囲
にあることが好ましい。またTeおよびSe以外に、上
記記録層が含有することができる金属および半金属とし
ては、sb、Ga, S, Ge. Sb,
Bi, Sn, Pb,Ti,Cu,AgおよびT
b等を挙げることができる。これらの中で、好ましくは
pbである。そしてこれらの金属および半金属の少なく
とも一種を含むことにより、記録されたビットの大きさ
が揃ったものとなり好ましい。本発明の記録層は、Te
.SeおよびPbを原子数%でそれぞれ94〜70%、
10〜25%、1〜10%の範囲にて含んでいることが
特に好ましい。
上記記録層の層厚は200〜1600Xの範囲にあるこ
とが必要である。200又未満では反射率が充分でなく
、また1600スを超えると感度が低下するため好まし
くない。
とが必要である。200又未満では反射率が充分でなく
、また1600スを超えると感度が低下するため好まし
くない。
上記の金属層および記録層は、上記の材料を用いて蒸着
、スパッタリング、イオンブレーティングなどの公知の
方法により金属層は基板上に、そして記録層は中間層上
に形成される。
、スパッタリング、イオンブレーティングなどの公知の
方法により金属層は基板上に、そして記録層は中間層上
に形成される。
記録層は単層または重層でもよいが、全体の層厚は光情
報記録に要求される光学濃度の点からも前記範囲内が好
ましい。
報記録に要求される光学濃度の点からも前記範囲内が好
ましい。
−1記記録層の1−には、さらにTeaX (1≦8≦
2)からなる層を設けてもよい。記録層形成後あるいは
Tea,層形成後、C/N等の向十の点からアニール処
理を施すことかlmましい。
2)からなる層を設けてもよい。記録層形成後あるいは
Tea,層形成後、C/N等の向十の点からアニール処
理を施すことかlmましい。
記録層の」−には1−記T e O M以外の保護層を
設けてもよい。保護層としては、軟質樹脂材料からなる
軟質保護層と硬質樹脂材料からなる硬質保護層との積層
体が好ましい。この積層体は、軟質保護層側を記録層側
にして、記録層上に積層する。
設けてもよい。保護層としては、軟質樹脂材料からなる
軟質保護層と硬質樹脂材料からなる硬質保護層との積層
体が好ましい。この積層体は、軟質保護層側を記録層側
にして、記録層上に積層する。
軟質樹脂材料の例としては、ポリウレタン、ポリ塩化ど
ニリデン、エチレン・酢酸ビニル共重合体、シリコンゴ
ム、スチレン・ブタシエン・ゴム、ポリ塩化ビニリデン
、ポリアクリル酸エステルを挙げることができる。通常
、これらは、溶液塗布、ラテックス塗布、熔融塗布など
の方法により記録層十に塗布され、必要により乾燥、加
熱などの処理を行なって軟質保護層とされる。軟質保護
層の層厚は通常100ス〜5μmの範囲にあり、好まし
くは0.3〜3μmの範囲にある。硬質樹脂材料の例と
しては、紫外線硬化樹脂、熱硬化樹脂などが挙げられる
。通常、これらは、溶液塗布なとの方法により軟質保護
層hに塗布され、必要により紫外線照射、加熱などの処
理を行なって硬質保護層とさわる。硬質保護層の層厚は
通常0.1〜lOμmの範囲にあり、好ましくは1〜3
μmの範囲にある。
ニリデン、エチレン・酢酸ビニル共重合体、シリコンゴ
ム、スチレン・ブタシエン・ゴム、ポリ塩化ビニリデン
、ポリアクリル酸エステルを挙げることができる。通常
、これらは、溶液塗布、ラテックス塗布、熔融塗布など
の方法により記録層十に塗布され、必要により乾燥、加
熱などの処理を行なって軟質保護層とされる。軟質保護
層の層厚は通常100ス〜5μmの範囲にあり、好まし
くは0.3〜3μmの範囲にある。硬質樹脂材料の例と
しては、紫外線硬化樹脂、熱硬化樹脂などが挙げられる
。通常、これらは、溶液塗布なとの方法により軟質保護
層hに塗布され、必要により紫外線照射、加熱などの処
理を行なって硬質保護層とさわる。硬質保護層の層厚は
通常0.1〜lOμmの範囲にあり、好ましくは1〜3
μmの範囲にある。
基板の記録層が設けられる側とは反対側の表面には、耐
傷性、防湿性などを高めるために、たとえば二酸化ケイ
素、酸化スズ、弗化マグネシウムなどの無機物質、ある
いは熱町塑性樹脂、光硬化型樹脂なとの高分子物質から
なる薄膜が、真空蒸着、スパッタリングまたは塗布等の
方法により設けら打ていてもよい。
傷性、防湿性などを高めるために、たとえば二酸化ケイ
素、酸化スズ、弗化マグネシウムなどの無機物質、ある
いは熱町塑性樹脂、光硬化型樹脂なとの高分子物質から
なる薄膜が、真空蒸着、スパッタリングまたは塗布等の
方法により設けら打ていてもよい。
次に、本発明の情報記録媒体に情報を記録るよび再生す
る方法について述べる。
る方法について述べる。
まず、情報記録媒体を1.2〜1.4m/秒の範囲内の
一定の線速度で回転させながら、基板側から半導体レー
ザー光などの記録用の光を照射する。一般に、記録光と
しては750〜850nmの範囲の発振波長を有ずる半
導体レーザービームか用いらわる。本発明の情報記録媒
体では、10mW以ドのレーサーパワーて記録すること
ができ、高感度である。
一定の線速度で回転させながら、基板側から半導体レー
ザー光などの記録用の光を照射する。一般に、記録光と
しては750〜850nmの範囲の発振波長を有ずる半
導体レーザービームか用いらわる。本発明の情報記録媒
体では、10mW以ドのレーサーパワーて記録すること
ができ、高感度である。
−1..記の記録方法により、記録層には、同心因状も
しくはスバイラル状にビットが形成さわる。そして、信
号が記録層に書き込まれる。
しくはスバイラル状にビットが形成さわる。そして、信
号が記録層に書き込まれる。
記録に際しては、トラッキング用プレグループを用いて
トラッキング制御を行なうことが好ましい。記録媒体に
プレグループか設けられている場合において、信号の記
録はグループの底部、もしくはグループ間の領域どちら
に行なってもよい。
トラッキング制御を行なうことが好ましい。記録媒体に
プレグループか設けられている場合において、信号の記
録はグループの底部、もしくはグループ間の領域どちら
に行なってもよい。
この方法により、たとえば、信号面の内径が50mm、
外径が1 1 5mmの記録媒体では、60分以上の記
録かり能である。
外径が1 1 5mmの記録媒体では、60分以上の記
録かり能である。
情報の再生は、記録媒体を」二記と同−の定線速度で回
転させながら半導体レーザー光を基板側から照射して、
その反射光を検出することにより行なうことかできる。
転させながら半導体レーザー光を基板側から照射して、
その反射光を検出することにより行なうことかできる。
以上の情報の記録、再生方法は、本発明の記録百ノ1.
方法の−態様であり、本発明を限定するものではない。
方法の−態様であり、本発明を限定するものではない。
例えば線速度はもっと速い速度にて記録再生するこども
可能である。
可能である。
次に本発明の実施例を記載する。ただし、これらの各例
は本発明を制限するものではない。
は本発明を制限するものではない。
[実施例1コ
l・ラッキング用溝を有ずる円盤状のポリカーポネート
基板(外径・120mm、内径=15mm、厚さ:1.
2mm、内径45mm〜外径1 1 6mmの範囲に深
さ0.07μm、幅0.8μm、ピッチ1 6μmの溝
がスバイラル状に設けられているもの)上に、Auを蒸
着量3μg/cm2 (平均層厚を15久)となるよう
にDCスバッタを用いてスパッタリングを行なって金属
層を形成した。その金属層の上に、PTFE (ポリテ
トラフルオ口エヂレン)をRFスバツタを用いてスバッ
タリンダを行なって層厚900又の中間層を形成した。
基板(外径・120mm、内径=15mm、厚さ:1.
2mm、内径45mm〜外径1 1 6mmの範囲に深
さ0.07μm、幅0.8μm、ピッチ1 6μmの溝
がスバイラル状に設けられているもの)上に、Auを蒸
着量3μg/cm2 (平均層厚を15久)となるよう
にDCスバッタを用いてスパッタリングを行なって金属
層を形成した。その金属層の上に、PTFE (ポリテ
トラフルオ口エヂレン)をRFスバツタを用いてスバッ
タリンダを行なって層厚900又の中間層を形成した。
そして中間層上に、T e 76S e +aPb4の
合金をRFスバッタを用いてスパッタリングを行なって
、層厚が600^の記録層を形成した。さらに、記録層
上に、TeOをTea.(、が約2)になるようにRF
スパッタリングを行なってTeOx層を形成後、60℃
で一時間アニール処理を行なった。
合金をRFスバッタを用いてスパッタリングを行なって
、層厚が600^の記録層を形成した。さらに、記録層
上に、TeOをTea.(、が約2)になるようにRF
スパッタリングを行なってTeOx層を形成後、60℃
で一時間アニール処理を行なった。
このようにして、基板、金属層、中間層、記録層および
TeOウ層からなる情報記録媒体を製造した。
TeOウ層からなる情報記録媒体を製造した。
上記DCスバッタおよびRFスパッタは、スパッタ装置
を5 X 1 0−’Torrに排気後、Arを3×1
0−’Torr導入して行なった。
を5 X 1 0−’Torrに排気後、Arを3×1
0−’Torr導入して行なった。
[実施例2]
実施例lにおいて、金属層材料のAuの蒸着量を6μg
/am2 (平均層厚30X)に変えた以外は実施例1
と同様にして情報記録媒体を製造した。
/am2 (平均層厚30X)に変えた以外は実施例1
と同様にして情報記録媒体を製造した。
[実施例3]
実施例1において、金属層材料のAuの蒸着量を12μ
g/cm2 (平均層厚60X)に変えた以外は実施例
1と同様にして情報記録媒体を製造した。
g/cm2 (平均層厚60X)に変えた以外は実施例
1と同様にして情報記録媒体を製造した。
[比較例1]
実施例1において、金属層材料のAuの蒸着量を2 4
μg / c m 2(平均層厚1 20X)に変え
た以外は実施例1と同様にして情報記録媒体を製造した
。
μg / c m 2(平均層厚1 20X)に変え
た以外は実施例1と同様にして情報記録媒体を製造した
。
[参考例1]
実施例1において、Auの金属層を設けなかった以外は
実施例1と同様にして情報記録媒体を製造した。
実施例1と同様にして情報記録媒体を製造した。
[実施例4]
実施例2において、中間層層厚を2600X、そして金
属層材料のAuの蒸着量を4μg/Cm2 (平均層厚
20又)に変えた以外は実施例2と同様にして情報記録
媒体を製造した。
属層材料のAuの蒸着量を4μg/Cm2 (平均層厚
20又)に変えた以外は実施例2と同様にして情報記録
媒体を製造した。
[実施例5]
実施例4において、中間層層厚を500λに変え、Te
aX層を設けなかった以外は実施例4と同様にして情報
記録媒体を製造した。
aX層を設けなかった以外は実施例4と同様にして情報
記録媒体を製造した。
[実施例6]
実施例5において、金属層材料をAuからTi2μg/
cm2 (平均層厚40X)に変え、そして中間層材料
をポリテトラフル才口エチレンからボリフッ化ビニリデ
ン変えた以外は実施例5と同様にして情報記録媒体を製
造した。
cm2 (平均層厚40X)に変え、そして中間層材料
をポリテトラフル才口エチレンからボリフッ化ビニリデ
ン変えた以外は実施例5と同様にして情報記録媒体を製
造した。
[実施例7]
実施例4において、金属層材料をAuからAn−Ta
(1 : 1、原子数比)4μg/cm2 (平均層厚
35又)に、中間層材料をポリテトラフルオ口エチレン
からポリクロロトリフルオ口エチレンに、そしてTea
X層の層厚を50λに変えた以外は実施例4と同様にし
て情報記録媒体を製造した。
(1 : 1、原子数比)4μg/cm2 (平均層厚
35又)に、中間層材料をポリテトラフルオ口エチレン
からポリクロロトリフルオ口エチレンに、そしてTea
X層の層厚を50λに変えた以外は実施例4と同様にし
て情報記録媒体を製造した。
[実施例8]
実施例7において、金属層材料をAfl.−TaからP
tlOμg/cm2 (平均層厚40λ)に変え、中間
層材料をポリクロロトリフル才口エチレンからポリカー
ボンモノフルオライドに変えた以外は実施例7と同様に
して情報記録媒体を製造した。
tlOμg/cm2 (平均層厚40λ)に変え、中間
層材料をポリクロロトリフル才口エチレンからポリカー
ボンモノフルオライドに変えた以外は実施例7と同様に
して情報記録媒体を製造した。
「実施例9」
実施例4において、金属層材料をAuからNi5μg/
cm2 (平均層厚20又)に、中間層材料をポリテト
ラフル才口エチレンからボリ六フッ化ブロビレンに、そ
してTeOX層の層厚を1oOλに変えた以外は実施例
4と同様にして情報記録媒体を製造した。
cm2 (平均層厚20又)に、中間層材料をポリテト
ラフル才口エチレンからボリ六フッ化ブロビレンに、そ
してTeOX層の層厚を1oOλに変えた以外は実施例
4と同様にして情報記録媒体を製造した。
[実施例10]
実施例4において、金属層材料をAuからTa5μg/
Cm2 (平均層厚25λ)に変え、そして記録層材料
をT e ,8S e ,8P b4からTe8,Se
l9に変えた以外は実施例4と同様にして情報記録媒体
を製造した。
Cm2 (平均層厚25λ)に変え、そして記録層材料
をT e ,8S e ,8P b4からTe8,Se
l9に変えた以外は実施例4と同様にして情報記録媒体
を製造した。
[実施例11]
実施例1において、金属層材料をAuのみからA u
4 μg / c m 2およびCulμg/cm2か
らなる層(平均層厚30又)に変えた以外は実施例1と
同様にして情報記録媒体を製造した。
4 μg / c m 2およびCulμg/cm2か
らなる層(平均層厚30又)に変えた以外は実施例1と
同様にして情報記録媒体を製造した。
得られた情報記録媒体の構成を第1表に示す。
第1表
金属層 中間層 記録層 TeOX材料/μg 材
料/λ 材料/又 λ実施例I Au/3 実施例2八u/6 実施例3 八u / I 2 P T F li / 9 0 0 T e S c
P b / 6 0 0P T F 14 / 9
0 0 T c S e P b / 6 0 0P
TFE/900 TcScPb/fioo比較例I
Au/24 PTFE/900 TeScPb/
600 70谷考例1−PTFE/900 TeS
ePb/600 70実施例4 Au/4 実施例5 Au/4 実施例6 Ti/2 実施例7八I−Ta/4 実施例8 Pt/10 実施例9 Ni/4 実施例10 ’ra/5 実施例II八+.+ (: t.+ /5PTFE/2
600 TeSePb/600P T F Ii /
5 0 0 T c S c P b / 6 0
0PFBD/500 丁esePb/600PC
TF/500 TcScPb/600PCMF/50
0 TeSePb/500PFPP/500 Te
SePb/600PTFE/500 TeSc/60
0PTFK/900 TeScPb/600第1表の
中間層材料の略号は以下の通ってある。
料/λ 材料/又 λ実施例I Au/3 実施例2八u/6 実施例3 八u / I 2 P T F li / 9 0 0 T e S c
P b / 6 0 0P T F 14 / 9
0 0 T c S e P b / 6 0 0P
TFE/900 TcScPb/fioo比較例I
Au/24 PTFE/900 TeScPb/
600 70谷考例1−PTFE/900 TeS
ePb/600 70実施例4 Au/4 実施例5 Au/4 実施例6 Ti/2 実施例7八I−Ta/4 実施例8 Pt/10 実施例9 Ni/4 実施例10 ’ra/5 実施例II八+.+ (: t.+ /5PTFE/2
600 TeSePb/600P T F Ii /
5 0 0 T c S c P b / 6 0
0PFBD/500 丁esePb/600PC
TF/500 TcScPb/600PCMF/50
0 TeSePb/500PFPP/500 Te
SePb/600PTFE/500 TeSc/60
0PTFK/900 TeScPb/600第1表の
中間層材料の略号は以下の通ってある。
PTFE:ポリテトラフルオ口エチレンPFBD :ボ
リフッ化ヒニリデン PCTF:ポリクロロl・リフル才口エヂレンPCMF
:ポリカーホンモノフルオライトPFPP :ボソ六
フッ化ブロビレン 得られた情報記録媒体について下記の方法にて評価を行
なった。
リフッ化ヒニリデン PCTF:ポリクロロl・リフル才口エヂレンPCMF
:ポリカーホンモノフルオライトPFPP :ボソ六
フッ化ブロビレン 得られた情報記録媒体について下記の方法にて評価を行
なった。
[情報記録媒体の評価]
得られた情報記録媒体について、再生時のプッシュブル
法によるトラッキング性を評価ずるためPPawおよび
再生時のC/Nを以下のように測定した。
法によるトラッキング性を評価ずるためPPawおよび
再生時のC/Nを以下のように測定した。
1)PPaw(記録後プッシュブル)
情報記録媒体の記録層に、ディスク評価装置( Nak
an+ichi Disk評価装置OMS−1000)
とEFMエンコ〜ダー( KEN−WOOD)を用いて
、定線速度1.3m/秒で、EFM−CDフォーマット
信号を記録した。
an+ichi Disk評価装置OMS−1000)
とEFMエンコ〜ダー( KEN−WOOD)を用いて
、定線速度1.3m/秒で、EFM−CDフォーマット
信号を記録した。
−1.記イ、3号が記録された光ディスクに再生パワー
0.2mW(定線速度1.3m/秒)にてレザー光を照
射し、その反射光を二分割のダイオードで受光し、その
受光した信号の差をトラック中心から0.1μmオフセ
ットさせた時の値をPPawとした。
0.2mW(定線速度1.3m/秒)にてレザー光を照
射し、その反射光を二分割のダイオードで受光し、その
受光した信号の差をトラック中心から0.1μmオフセ
ットさせた時の値をPPawとした。
2)C/N
情報記録媒体の記録層に、定線速度1 3m/秒で、7
20kHz (デューテイ:33%)の中−イバ−号を
記録した。
20kHz (デューテイ:33%)の中−イバ−号を
記録した。
−1−記記録ざれた信号を再生パワー0.2mW、定線
速度1.3m/秒の条件で、スペクトルアナライザー(
RBW:10kHZ、VBW:100H z )にてキ
ャリャーとノイズの出力レヘルの比(C/N)を測定し
た。
速度1.3m/秒の条件で、スペクトルアナライザー(
RBW:10kHZ、VBW:100H z )にてキ
ャリャーとノイズの出力レヘルの比(C/N)を測定し
た。
実施例1
実施例2
実施例3
比較例1
参考例1
実施例4
実施例5
実施例6
実施例7
実施例8
実施例9
実施例10
実施例1l
第2表
PPaw
(再生時)
C/N
(dB)
0. 078
0.101
0.124
0.165
0. 043
第2図に、特に第2表に示した実施例1〜3、比較例1
および参考例1をグラフ化し、金属層材料であるAuの
層厚変化による上記PPawおよびC/Nへの影習を示
した。
および参考例1をグラフ化し、金属層材料であるAuの
層厚変化による上記PPawおよびC/Nへの影習を示
した。
第2表および第2図から明らかなように、本発明の特定
の構成を有し且つ金属層の層厚が極めて薄い情報記録媒
体は、PPawが0.06以上であるためプッシュプル
法によるトラッキング性が良好で、トラック跳び等の発
生がほとんど無い。さらに、再生時のC/Nが47dB
以上と高く、再生時の読み誤りがほとんどないものであ
る。
の構成を有し且つ金属層の層厚が極めて薄い情報記録媒
体は、PPawが0.06以上であるためプッシュプル
法によるトラッキング性が良好で、トラック跳び等の発
生がほとんど無い。さらに、再生時のC/Nが47dB
以上と高く、再生時の読み誤りがほとんどないものであ
る。
第1図は、本発明の情報記録媒体の基本的層構成の断面
模式図を示す。 第2図は、金属層材料であるAuの層厚変化によるPP
awおよびC/Nの変化を示すグラフである。 基板=1、 金属層=2、 中間層=3記録層:4 K’3 N −
模式図を示す。 第2図は、金属層材料であるAuの層厚変化によるPP
awおよびC/Nの変化を示すグラフである。 基板=1、 金属層=2、 中間層=3記録層:4 K’3 N −
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、基板上に、 Au、Ta、Ti、Cr、Ni、Ag、Pt、Al、C
、W、Mo、Nb、V、Fe、CoおよびSiからなる
群より選ばれる少なくとも一種の金属または半金属を含
み、平均層厚が10〜100Åの範囲で設けられた金属
層、 高分子化合物からなる中間層、および レーザー光により情報の書き込みおよび/または読み取
りが可能なTeとSeとを含む記録層がこの順で積層さ
れた情報記録媒体。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1-27176 | 1989-02-06 | ||
JP2717689 | 1989-02-06 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02289934A true JPH02289934A (ja) | 1990-11-29 |
Family
ID=12213760
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1126372A Pending JPH02289934A (ja) | 1989-02-06 | 1989-05-18 | 情報記録媒体 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH02289934A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02312023A (ja) * | 1989-05-29 | 1990-12-27 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光ディスクおよびその製造方法 |
JPH0714212A (ja) * | 1993-06-28 | 1995-01-17 | Nec Corp | 光ディスク基板及びその製造方法 |
-
1989
- 1989-05-18 JP JP1126372A patent/JPH02289934A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02312023A (ja) * | 1989-05-29 | 1990-12-27 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光ディスクおよびその製造方法 |
JPH0714212A (ja) * | 1993-06-28 | 1995-01-17 | Nec Corp | 光ディスク基板及びその製造方法 |
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