JPH0228607Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0228607Y2 JPH0228607Y2 JP13547384U JP13547384U JPH0228607Y2 JP H0228607 Y2 JPH0228607 Y2 JP H0228607Y2 JP 13547384 U JP13547384 U JP 13547384U JP 13547384 U JP13547384 U JP 13547384U JP H0228607 Y2 JPH0228607 Y2 JP H0228607Y2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- electron beam
- amplifier
- lock
- sample
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- Expired
Links
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 claims description 25
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 14
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 claims description 9
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 claims 1
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 3
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 238000000682 scanning probe acoustic microscopy Methods 0.000 description 1
Description
【考案の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本考案はオージエ分光装置等の電子ビーム装置
における信号処理装置の改良に関する。
における信号処理装置の改良に関する。
[従来の技術]
近時、オージエ分光装置における信号処理装置
おいては、雑音に埋もれた微小な情報信号を検出
するためのロツクインアンプが用いられている。
該ロツクインアンプは、第3図に示すように信号
発生源よりの入力信号fsと同期関係にある参照信
号frによつて位相検波を行ない、入力信号fsのノ
イズに埋もれた情報信号Sだけを検出する装置で
ある。ところで、オージエ分光においてロツクイ
ンアンプを使用する場合、例えば、電子ビームを
偏向する偏向コイルに10KHzの矩形波電圧を与
え、試料上の電子ビームを偏向して、オン状態
(電子ビームが試料を照射している状態)、又はオ
フ状態(電子ビームが試料を照射していない状
態)とすることによつて10KHzの信号発生源を作
り出している。
おいては、雑音に埋もれた微小な情報信号を検出
するためのロツクインアンプが用いられている。
該ロツクインアンプは、第3図に示すように信号
発生源よりの入力信号fsと同期関係にある参照信
号frによつて位相検波を行ない、入力信号fsのノ
イズに埋もれた情報信号Sだけを検出する装置で
ある。ところで、オージエ分光においてロツクイ
ンアンプを使用する場合、例えば、電子ビームを
偏向する偏向コイルに10KHzの矩形波電圧を与
え、試料上の電子ビームを偏向して、オン状態
(電子ビームが試料を照射している状態)、又はオ
フ状態(電子ビームが試料を照射していない状
態)とすることによつて10KHzの信号発生源を作
り出している。
[考案が解決しようとする問題点]
このような従来装置において、偏向コイルに例
えば10KHzの矩形波電圧が与えられた場合、偏向
コイルの応答が充分でなく、又偏向コイルによつ
て発生する磁束の変化を相殺するように光軸を取
囲むように設けられたライナーチユブが渦電流を
発生するため、試料の一定点においてビームのオ
ン/オフが完全に行われず、同期検波期間の中央
部以外においては一定点以外に電子ビームが照射
されてしまい雑音が混入する。又、偏向コイルか
ら発生する磁束の変化に基づいて、信号系ライン
等に電流が誘起され所謂スイツチングノイズも発
生する。これらの雑音は、ロツクインアンプに入
力される参照信号(例えば10KHz)と同期した雑
音であるため、該ロツクインアンプでは取り除く
ことができず、これらの雑音によつて検出精度が
低下するという問題があつた。本考案は、このよ
うな参照信号と同期した雑音による検出精度の低
下を防止して検出精度の向上を図ることを目的と
している。
えば10KHzの矩形波電圧が与えられた場合、偏向
コイルの応答が充分でなく、又偏向コイルによつ
て発生する磁束の変化を相殺するように光軸を取
囲むように設けられたライナーチユブが渦電流を
発生するため、試料の一定点においてビームのオ
ン/オフが完全に行われず、同期検波期間の中央
部以外においては一定点以外に電子ビームが照射
されてしまい雑音が混入する。又、偏向コイルか
ら発生する磁束の変化に基づいて、信号系ライン
等に電流が誘起され所謂スイツチングノイズも発
生する。これらの雑音は、ロツクインアンプに入
力される参照信号(例えば10KHz)と同期した雑
音であるため、該ロツクインアンプでは取り除く
ことができず、これらの雑音によつて検出精度が
低下するという問題があつた。本考案は、このよ
うな参照信号と同期した雑音による検出精度の低
下を防止して検出精度の向上を図ることを目的と
している。
[問題点を解決するための手段]
本目的を達成するための本考案の構成は、試料
に電子線を間歇照射するため周期的に電子ビーム
を偏向するための手段と、該電子ビームの周期的
な偏向に同期した信号を発生する同期信号発生回
路と、該電子ビームの照射に基づいて試料より得
られる検出信号を該同期信号を参照信号として同
期検波するロツクインアンプとを備えた装置にお
いて、該ロツクインアンプの前段に該同期検波期
間の中央部における該検出信号のみを選択通過さ
せる回路を設けたことを特徴としている。
に電子線を間歇照射するため周期的に電子ビーム
を偏向するための手段と、該電子ビームの周期的
な偏向に同期した信号を発生する同期信号発生回
路と、該電子ビームの照射に基づいて試料より得
られる検出信号を該同期信号を参照信号として同
期検波するロツクインアンプとを備えた装置にお
いて、該ロツクインアンプの前段に該同期検波期
間の中央部における該検出信号のみを選択通過さ
せる回路を設けたことを特徴としている。
[実施例]
以下本考案の実施例を添付図面に基づき詳述す
る。
る。
第1図は本考案の一実施例装置の構成図であ
る。図において、1は試料2を照射する電子ビー
ムで、該電子ビーム1は偏向コイル3によつて偏
向される。4は偏向コイル3に偏向電流を供給す
るための偏向電源で、該偏向電源4は同期信号発
生回路5に接続されている。6は試料2よりの例
えばオージエ電子7を分析するアナライザーであ
り、8はアナライザー6よりの特定のエネルギー
を有するオージエ電子を検出するための電子増倍
型検出器である。9は該検出器8よりの信号を増
幅するための増幅器である。13は同期信号発生
回路5よりの同期信号に基づいてゲート信号を発
生するゲート信号発生回路であり、該増幅器9で
増幅された信号は、このゲート信号で駆動される
オン/オフ切換え回路10に入力される。11は
ロツクインアンプであり、該ロツクインアンプ1
1には、同期信号発生回路5よりの同期信号を参
照信号としてオン/オフ切換え回路10よりの信
号を同期検波する。12は光軸を取囲むように配
置されたライナーチユーブである。
る。図において、1は試料2を照射する電子ビー
ムで、該電子ビーム1は偏向コイル3によつて偏
向される。4は偏向コイル3に偏向電流を供給す
るための偏向電源で、該偏向電源4は同期信号発
生回路5に接続されている。6は試料2よりの例
えばオージエ電子7を分析するアナライザーであ
り、8はアナライザー6よりの特定のエネルギー
を有するオージエ電子を検出するための電子増倍
型検出器である。9は該検出器8よりの信号を増
幅するための増幅器である。13は同期信号発生
回路5よりの同期信号に基づいてゲート信号を発
生するゲート信号発生回路であり、該増幅器9で
増幅された信号は、このゲート信号で駆動される
オン/オフ切換え回路10に入力される。11は
ロツクインアンプであり、該ロツクインアンプ1
1には、同期信号発生回路5よりの同期信号を参
照信号としてオン/オフ切換え回路10よりの信
号を同期検波する。12は光軸を取囲むように配
置されたライナーチユーブである。
以上のように構成された装置において、同期信
号発生回路5よりの同期信号が偏向電源4に供給
されているため、偏向コイル3には偏向電源4か
ら第2図イに示す例えば10KHzの矩形波電圧が与
えられる。この矩形波電圧が偏向コイル3に与え
られると、偏向コイル3とライナーチユーブより
発生した磁場を重畳した磁場は第2図ロに示す様
に変化する。第2図ハは、この磁場の変化による
電子ビーム1の位置の変化を表わしており、図中
実線で示された位置が試料2の一定点を照射して
いる状態に対応している。
号発生回路5よりの同期信号が偏向電源4に供給
されているため、偏向コイル3には偏向電源4か
ら第2図イに示す例えば10KHzの矩形波電圧が与
えられる。この矩形波電圧が偏向コイル3に与え
られると、偏向コイル3とライナーチユーブより
発生した磁場を重畳した磁場は第2図ロに示す様
に変化する。第2図ハは、この磁場の変化による
電子ビーム1の位置の変化を表わしており、図中
実線で示された位置が試料2の一定点を照射して
いる状態に対応している。
さて、前述したように電子ビームを偏向するた
めの磁場は、偏向コイル3の応答が充分でないこ
とや、磁束がライナーチユブ12を横切る際に発
生する渦電流の影響により、電子ビーム1がオフ
からオンに変化するときに第2図ロに示すように
△tだけ遅れて変化する。この磁場の△tの遅れ
により、電子ビーム1は一定点の近傍からの情報
も検出してしまい雑音を発生する。又、偏向コイ
ルに例えば10KHzの矩形波電圧が与えられた場合
の前述したスイツチングノイズも第2図ニのよう
に発生する。これらの雑音は、検出器8よりの検
出信号に混入されて増幅器9により増幅されるた
め、例えば第2図ホに示す波形の信号がオン/オ
フ切換え回路10に入力される。該オン/オフ切
換え回路10は、ゲート信号発生回路13よりの
第2図ヘに示す如きゲート信号により駆動され
て、試料の一定点の近傍からの雑音や、スイツチ
ングノイズの部分を除いた信号をロツクインアン
プに入力するように動作する。そのため、ロツク
インアンプ11には、第2図トに示すような雑音
部分を除いた信号が入力されて同期検波される。
めの磁場は、偏向コイル3の応答が充分でないこ
とや、磁束がライナーチユブ12を横切る際に発
生する渦電流の影響により、電子ビーム1がオフ
からオンに変化するときに第2図ロに示すように
△tだけ遅れて変化する。この磁場の△tの遅れ
により、電子ビーム1は一定点の近傍からの情報
も検出してしまい雑音を発生する。又、偏向コイ
ルに例えば10KHzの矩形波電圧が与えられた場合
の前述したスイツチングノイズも第2図ニのよう
に発生する。これらの雑音は、検出器8よりの検
出信号に混入されて増幅器9により増幅されるた
め、例えば第2図ホに示す波形の信号がオン/オ
フ切換え回路10に入力される。該オン/オフ切
換え回路10は、ゲート信号発生回路13よりの
第2図ヘに示す如きゲート信号により駆動され
て、試料の一定点の近傍からの雑音や、スイツチ
ングノイズの部分を除いた信号をロツクインアン
プに入力するように動作する。そのため、ロツク
インアンプ11には、第2図トに示すような雑音
部分を除いた信号が入力されて同期検波される。
[効果]
以上詳述したように本考案によれば、同期検波
期間の中央部における検出信号のみを選択通過さ
せてロツクインアンプに供給するようにしている
ため、電子ビーム照射位置が一定点からはずれる
ことによるノイズと前述したスイツチングノイズ
を除くことができ、検出精度を向上できる。
期間の中央部における検出信号のみを選択通過さ
せてロツクインアンプに供給するようにしている
ため、電子ビーム照射位置が一定点からはずれる
ことによるノイズと前述したスイツチングノイズ
を除くことができ、検出精度を向上できる。
第1図は本考案の一実施例の構成図、第2図イ
〜トは本考案の動作を説明するための波形図、第
3図は従来装置を説明するための図である。 1:電子ビーム、2:試料、3:偏向コイル、
4:偏向電源、5:同期信号発生回路、6:アナ
ライザー、7:オージエ電子、8:電子増倍型検
出器、9:増幅器、10:オン/オフ切換え回
路、11:ロツクインアンプ、12:ライナーチ
ユーブ、13:ゲート信号発生回路。
〜トは本考案の動作を説明するための波形図、第
3図は従来装置を説明するための図である。 1:電子ビーム、2:試料、3:偏向コイル、
4:偏向電源、5:同期信号発生回路、6:アナ
ライザー、7:オージエ電子、8:電子増倍型検
出器、9:増幅器、10:オン/オフ切換え回
路、11:ロツクインアンプ、12:ライナーチ
ユーブ、13:ゲート信号発生回路。
Claims (1)
- 試料に電子線を間歇照射するため周期的に電子
ビームを偏向するための手段と、該電子ビームの
周期的な偏向に同期した信号を発生する同期信号
発生回路と、該電子ビームの照射に基づいて試料
より得られる検出信号を該同期信号を参照信号と
して同期検波するロツクインアンプとを備えた装
置において、該ロツクインアンプの前段に該同期
検波期間の中央部における該検出信号のみを選択
通過させる回路を設けたことを特徴とする電子ビ
ーム装置における信号処理装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13547384U JPH0228607Y2 (ja) | 1984-09-06 | 1984-09-06 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13547384U JPH0228607Y2 (ja) | 1984-09-06 | 1984-09-06 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6151656U JPS6151656U (ja) | 1986-04-07 |
JPH0228607Y2 true JPH0228607Y2 (ja) | 1990-07-31 |
Family
ID=30693957
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP13547384U Expired JPH0228607Y2 (ja) | 1984-09-06 | 1984-09-06 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0228607Y2 (ja) |
-
1984
- 1984-09-06 JP JP13547384U patent/JPH0228607Y2/ja not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS6151656U (ja) | 1986-04-07 |
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