JPH022785A - Network test system - Google Patents
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- JPH022785A JPH022785A JP14918688A JP14918688A JPH022785A JP H022785 A JPH022785 A JP H022785A JP 14918688 A JP14918688 A JP 14918688A JP 14918688 A JP14918688 A JP 14918688A JP H022785 A JPH022785 A JP H022785A
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、ｌ５ＤＮ交換機のネットワーク試験方式に利
用する。特に、ｌ５ＤＮ交換機の時分割通話路装置の動
作確認と、伝送装置、■インタフェース信号装置および
時分割通話路装置の各装置間の導通確認とを行うネ７）
ワーク試験方式に関するものである。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Industrial Field of Application] The present invention is applied to a network testing method for an 15DN switch. In particular, check the operation of the time-division channel device of the 15DN exchange, and check the continuity between each device of the transmission device, interface signal device, and time-division channel device.7)
This is related to the work test method.
本発明は、試験用の信号を発生する試験回路を時分割通
話路装置に接続し、折返された信号と比較することによ
りネットワークの試験を行う方式時分割通話路装置に接
続された■インタフェース信号装置に、その装置で折返
しを行う第一モードと、さらに試験用信号を伝送装置に
送出して折返させる第二モードさを切り替えて設定でき
るようにすることにより、
伝送装置まで含めた折返し試験路を構成できるようにし
たものである。The present invention is a method for testing a network by connecting a test circuit that generates a test signal to a time-division channel device and comparing it with the returned signal. By making it possible to switch between a first mode in which the device performs loopback, and a second mode in which the test signal is sent to the transmission device and looped back, it is possible to create a loopback test path that includes the transmission device. It is designed so that it can be configured.
従来、ネットワーク試験方式は、所定のビットパタンの
発生および照合を行う試験回路より送信された固定のビ
ットパタンのデータを時分割通話路装置の入側にもうけ
られた挿入回路によりハイウェイ上の任意のタイムスロ
ットに挿入し、出側にもうけられた抽出回路により、試
験対象のハイウェイ上のタイムスロットから抽出された
データを試験回路に着信させ、この試験回路により発信
したデータのビットパタンと着信したデータのビットパ
タンの照合を行うことにより実施していた。Conventionally, in the network test method, data with a fixed bit pattern transmitted from a test circuit that generates and verifies a predetermined bit pattern is inserted into an arbitrary point on the highway using an insertion circuit installed on the input side of a time-division channel device. The extraction circuit inserted into the time slot and provided on the output side allows the data extracted from the time slot on the highway to be tested to arrive at the test circuit, and the bit pattern of the data sent by this test circuit and the data received are This was done by comparing the bit patterns of .
〔発明が解決しようとする問題点〕
しかし、このような従来のネットワーク試験方式では、
時分割通話路装置の試験のみ行う構成になっているので
、同一試験回路で時分割通話路装置、Ｉインタフェース
信号装置および伝送装置の各装置間の導通試験を行うこ
とができない欠点があった。[Problems to be solved by the invention] However, in such conventional network testing methods,
Since the configuration is such that only the time-division channel device is tested, there is a drawback that continuity tests cannot be performed between the time-division channel device, the I-interface signal device, and the transmission device using the same test circuit.
本発明は上記の欠点を解決するもので、時分割通話路装
置の動作確認と、伝送装置、■インタフェースＩＪ号装
置および時分割通話路装置の各装置間の導通確認とがで
きるネットワーク試験方式を提供することを目的とする
。The present invention solves the above-mentioned drawbacks by providing a network test method that can check the operation of the time-division channel device and the continuity between the transmission device, the interface IJ device, and the time-division channel device. The purpose is to provide.
に問題点を解決するための手段〕
本発明は、ネットワーク試験方式において、■インタフ
ェース信号装置は、所定の試験用の信号を折返す第一手
段と、Ｂチャネル信号およびＤチャネル信号として伝送
装置に送出しその折返された信号を抽出して時分割通話
路装置に送出する第二手段とのいずれかが設定可能であ
り、上記伝送装置は、試験回路の伝送装置制御信号に基
づいてＢチャネル信号およびＤチャネル信号を折返す手
段を含むことを特徴とする。[Means for Solving the Problems] The present invention provides a network test system in which: (i) an interface signal device is a first means for returning a predetermined test signal; A second means for extracting the returned signal and sending it to the time-division channel device can be set, and the transmission device transmits the B channel signal based on the transmission device control signal of the test circuit. and means for folding back the D channel signal.
試験回路で所定の試験用の信号を発生して時分割通話路
装置に送信する。時分割通話路装置ではこの信号を時分
割多重化フレームの空きタイムスロットに挿入してＩイ
ンタフェース信号装置に与える。A test circuit generates a predetermined test signal and transmits it to the time division channel device. The time-division channel device inserts this signal into an empty time slot of the time-division multiplex frame and supplies it to the I-interface signal device.
Ｉインタフェース信号装置では、この所定の試験用の信
号に対して二つの動作モードを設ける。The I interface signal device provides two operating modes for this predetermined test signal.
すなわち第一モードではこの試験用の信号を折返して時
分割通話路装置に与える。第二モードでは、この信号を
Ｂチャネル信号およびＤチャネル信号として時分割多重
化フレームに挿入して伝送装置に送出する。伝送装置で
は折返す手段でこのＢチャネル信号およびＤチャネル信
号を試験回路の伝送装置制御信号に基づいて折返す。Ｉ
インタフェース信号装置では、第二のモードの場合にこ
の伝送装置で折返された信号を抽出して時分割通話路装
置に与える。That is, in the first mode, this test signal is looped back and given to the time division channel device. In the second mode, this signal is inserted into a time division multiplexed frame as a B channel signal and a D channel signal and sent to the transmission device. In the transmission device, a folding means folds back the B channel signal and the D channel signal based on the transmission device control signal of the test circuit. I
In the case of the second mode, the interface signal device extracts the signal returned by the transmission device and supplies it to the time division channel device.
試験回路では、■インタフェース信号装置から折返され
た信号と送信した信号とを照合する。The test circuit compares the signal returned from the interface signal device with the transmitted signal.
以上の動作により時分割通話路装置の動作確認と、伝送
装置、■インタフェース信号装置および時分割通話路装
置の各装置間の導通確認とができる。Through the above operations, it is possible to confirm the operation of the time-division channel device and the continuity between the transmission device, the interface signal device, and the time-division channel device.
本発明の実施例について図面を参照して説明する。第１
図は１本発明−実施例ネットワーク試験装置のブロック
構成図である。第１図において、ネットワーク試験装置
は、時分割通話路装置２と、この時分割通話路装置２に
ハイウェイＨＷ、 、、トｒｗ２゜を介して接続された
複数個の■インタフェース信号装置１．．１２と、■イ
ンタフェース信号装置１１１１□にそれぞれハイウェイ
ＨＷ、□、ＨＷ２□を介して接続された伝送装置４．．
４□とを備え、所定の試験用の信号を送信し、この所定
の試験用の信号とその折返された信号とを照合する手段
を含む試験回路３が時分割通話路装置２に接続され、時
分割通話路装置２は、時分割多重化フレームの空きタイ
ムスロットを介して上記所定の試験用の信号をＩインタ
フェース信号装置１に与え、上記折返された信号を試験
回路３に与える手段を含む。Embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. 1st
The figure is a block diagram of a network test device according to an embodiment of the present invention. In FIG. 1, the network test equipment includes a time-division channel device 2 and a plurality of interface signal devices 1.1 connected to the time-division channel device 2 via highways HW, . ．． 12 and ■interface signal device 1111□ via highways HW, □, and HW2□, respectively. ．．
A test circuit 3 comprising means for transmitting a predetermined test signal and comparing the predetermined test signal with the returned signal is connected to the time division communication path device 2; The time-division channel device 2 includes means for providing the above-mentioned predetermined test signal to the I-interface signal device 1 via an empty time slot of the time-division multiplexing frame, and providing the above-mentioned folded signal to the test circuit 3. .
ここで、本発明の特徴とするところは、■インタフェー
ス信号装置ｌに、上記所定の試験用の信号を折返す第一
手段と、Ｂチャネル信号およびＤチャネル信号として伝
送装置４に送出しその折返された信号を抽出して時分割
通話路装置２に送出する第二手段とのいずれかが設定可
能であり、伝送装置４は、試験回路３の伝送装置制御信
号に基づいてＢチャネル信号およびＤチャネル信号を折
返す手段を含むことにある。Here, the features of the present invention are: (1) The interface signal device l includes a first means for returning the above-mentioned predetermined test signal, and a method for transmitting the signal to the transmission device 4 as a B channel signal and a D channel signal and returning the signal. The transmission device 4 can extract the B channel signal and the D channel signal and send it to the time division channel device 2 based on the transmission device control signal of the test circuit 3. The present invention includes means for folding back the channel signal.
このような構成のネットワーク試験装置の動作について
説明する。第２図は本発明のネットワーク試験装置の各
ハイウェイ上のフレームフォーマットである。第３図は
本発明のネットワーク試験装置のＩインタフェース信号
装置から折返す場合のフレームフォーマットである。第
４図は本発明のネットワーク試験装置のＩインタフェー
ス信号装置および伝送装置から折返す場合のフレームフ
ォーマットである。インタフェース信号装置１は、Ｂチ
ャネル信号２個およびＤチャネル信号１個を処理するｌ
５ＤＮ端末を６０個収容し、ハイウェイＨＷ ＋ ＋
、ＨＷ ２１上の空タイムスロットの試験用の信号をハ
イウェイＨＷ、、、ＭＷ、、上のＢチャネル信号、Ｄチ
ャネル信号、伝送装置制御信号（以下、ＣＯ倍信号いう
。）、伝送装置状態表示信号（以下、ＳＴ倍信号いう。The operation of the network test device having such a configuration will be explained. FIG. 2 shows the frame format on each highway of the network testing device of the present invention. FIG. 3 shows a frame format when returning from the I interface signal device of the network test device of the present invention. FIG. 4 shows a frame format when returning from the I-interface signal device and transmission device of the network test device of the present invention. The interface signal device 1 processes two B channel signals and one D channel signal.
Accommodates 60 5DN terminals, highway HW ++
, HW 21's empty time slot test signals on the highway HW, , MW, , B channel signal, D channel signal, transmission device control signal (hereinafter referred to as CO double signal), transmission device status display signal ( Hereinafter, it will be referred to as the ST multiplied signal.
）として挿入し、また抽出することが可能である。時分
割通話路装置２は、試験回路３から送出される試験用デ
ータをハイウェイＨＷ、、、ＨＷ ２１上の空タイムス
ロットに挿入し、■インタフェース信号装置１からハイ
ウェイＨ’ｖＶ 、 、、ＭＷ２．経由で送出される空
タイムスロツト上のデータを抽出し、試験回路３に送出
するとともに、Ｉインタフェース信号装置ｌから送出さ
れてくるＢチャネル信号の交換処理を行う。) can be inserted and extracted as The time-division channel device 2 inserts the test data sent from the test circuit 3 into empty time slots on the highways HW, . It extracts the data on the empty time slots sent out via the test circuit 3 and sends it to the test circuit 3, and also exchanges the B channel signal sent out from the I interface signal device 1.
試験回路３は、時分割通話路装置２に対して所定のビッ
トパタンのデータの送出を行うとともに、時分割通話路
装置２から送出されてきたデータと送出したデータのビ
ットパタンの照合を行う。The test circuit 3 sends data of a predetermined bit pattern to the time-division channel device 2, and also compares the bit pattern of the data sent from the time-division channel device 2 with that of the sent data.
ハイウェイＨＷ ＋ １、ＨＷ ２１は、■インタフェ
ース信号装置１−時分割通話路装置２の方向および時分
割通話路装置２→■インタフエース信号装置１の二つの
方向で独立し、１フレームが１２８タイムスロツトで構
成され、１２０タイムスロツトにＢチャネル信号をのせ
、８タイムスロツトを試験用の空タイムスロットとして
時分割通話路装置２→Ｉインタフエース信号装置ｌの方
向のハイウェイではこのタイムスロットに試験回路３か
ら送出される所定のピッドパクンおよびＣＯ倍信号のせ
、■インタフェース信号装置１−時分割通話路装置２の
方向のハイウェイではこの空タイムスロットにＩインタ
フェース信号装置１内で抽出されたＢチャネル信号、Ｄ
チャネル信号、ＳＴ倍信号のせる。Highway HW + 1 and HW 21 are independent in two directions: ■ interface signal device 1 - time division channel device 2, and time division channel device 2 -> ■ interface signal device 1, and one frame is 128 times. The B channel signal is placed in 120 time slots, and the 8 time slots are used as empty time slots for testing.On the highway in the direction from time division communication channel device 2 to I interface signal device 1, a test circuit is placed in this time slot. 3, on the highway in the direction from interface signaling device 1 to time-division channel device 2, the B channel signal extracted in I interface signaling device 1 is added to this empty time slot; D
Add channel signal and ST times signal.
ハイウェイＨＷ ２ｒ、ＨＷ２□は、■インタフェース
信号装置ｌと伝送装置４を接続し、１フレームが１２８
タイムスロツトで構成され、１２０タイムスロツトにＢ
チャネル信号をのせＩインタフェース信号装置１→伝送
装置４の方向および伝送装置４−Ｉインタフェース信号
装置１の方向で独立したハイウェイで、■インタフェー
ス信号装置１−＋伝送装置４の方向で１２０タイムスロ
ツトにＤチャネル信号、ＣＯ倍信号のせ、また伝送装置
４→Ｉインタフ工−ス信号装置ｌの方向で１２０タイム
スロツトにＤチャネル信号、ＳＴ倍信号のせる。Highway HW 2r and HW2□ connect ■interface signal device l and transmission device 4, and one frame is 128
Consists of 120 time slots, B
The channel signal is transferred in the direction of I interface signal device 1 → transmission device 4 and in the direction of transmission device 4 - I interface signal device 1 in the direction of independent highways, and in the direction of ■ interface signal device 1 - + transmission device 4 in the direction of 120 time slots. The D channel signal and the CO multiplied signal are placed, and the D channel signal and the ST multiplied signal are placed in the 120 time slot in the direction from the transmission device 4 to the I interface signal device 1.
伝送装置４は、Ｂチャネル信号２個、Ｄチャネル信号１
個を処理するｌ５ＤＮ端末を６０回線収容し、ハイウェ
イＨＷ２ Ｉ、 ＨＷ２２を介して■インタフェース信
号装置１と接続され、■インタフェース信号袋＠１に対
して収容する端末とこの装置の間の伝送路の状態および
この装置の動作状態を示すＳＴ倍信号送出し、またＩイ
ンタフェース信号装置ｌから送出されるＣＯ倍信号より
収容する端末への着呼表示を行い、この装置内でＢチャ
ネル信号、Ｄチャネル信号の折返しを行う。The transmission device 4 has two B channel signals and one D channel signal.
It accommodates 60 lines of 15DN terminals that process It sends out an ST double signal indicating the status and operating status of this device, and indicates an incoming call to the terminal it accommodates from a CO double signal sent from the I interface signaling device 1. Perform signal loopback.
第２図において、７は第１図に示すハイウェイＨＷ２．
、 ＨＷ、２の中で伝送装置４からＴインタフェース信
号装置ｌの方向で８１チャネル信号、Ｂ２チャネル信号
をそれぞれ６０個送信するＢチャネル用上りハイウェイ
フレーム（以下、ＦＢＨＷという。）である。８は、第
１図に示すハイウェイＨＷ ２１、ＨＷ ２２の中で伝
送装置４から■インタフェース信号装置ｌの方向でＤチ
ャネル信号６０個とＳＴ信号６０個とを送信するＤチャ
ネル用上りハイウェイフレーム（以下、ＦＤＨＷという
。）である。９は、第１図に示すハイウェイＨＷ２１、
ＨＷ、□の中でｒインタフェース信号装置１から伝送装
置４の方向で、Ｂ１チャネル信号、Ｂ２チャネル信号を
それぞれ６０個送信するＢチャネル用下りハイウェイフ
レーム（以下、ＢＢＨＷという。）である。ｌＯは、第
１図に示すハイウェイＨＷ ２１、ＨＷ２□の中で■イ
ンタフェース信号装置ｌから伝送装置４の方向でＤチャ
ネル信号６０個とＣＯ信号６０個とを送信するＤチャネ
ル用下りハイウェイフレーム（以下、ＢＤＨＷという。In FIG. 2, 7 is the highway HW2. shown in FIG.
, HW, 2 is a B channel uplink highway frame (hereinafter referred to as FBHW) in which 81 channel signals and 60 B2 channel signals are transmitted in the direction from the transmission device 4 to the T interface signal device 1. 8 is an uplink highway frame for the D channel that transmits 60 D channel signals and 60 ST signals from the transmission device 4 in the direction of the interface signal device 1 in the highways HW 21 and HW 22 shown in FIG. (hereinafter referred to as FDHW). 9 is the highway HW21 shown in FIG.
This is a B channel down highway frame (hereinafter referred to as BBHW) in which 60 B1 channel signals and 60 B2 channel signals are transmitted in the direction from the r interface signal device 1 to the transmission device 4 in HW, □. lO is a D channel downlink highway frame () which transmits 60 D channel signals and 60 CO signals in the direction from the interface signal device l to the transmission device 4 in the highways HW 21 and HW2□ shown in FIG. Hereinafter referred to as BDHW.
）である。１１は、第１図に示すハイウェイＨＷ ＋
＋ 、ＨＷ ｌ ２の中でＩインタフェース信号装置１
から時分割通話路装置２の方向でＢｌチャネル信号、Ｂ
２チャネル信号をそれぞれ６０個（タイムスロット４〜
６３．６８〜１２７）送信するとともに、タイムスロッ
トＴＯ〜Ｔ２、Ｔ６４〜Ｔ６６の６タイムスロツトを■
インタフェース信号装置１内で抽出したデータを挿入す
る試験用タイムスロットとして使用する上りハイウェイ
フレーム（以下、ＦＨＷという。）である。１２は、第
１図に示すハイウェイＨＷ’＋ ＋ 、ＨＷ、□の中で
時分割通話路装置２から■インタフェース信号装置ｌの
方向で、Ｂｌチャネル信号、Ｂ２チャネル信号をそれぞ
れ６０個（タイムスロット４〜６３．６８〜１２７）送
信するとともに、タイムスロットＴＯ〜Ｔ２、Ｔ６２〜
Ｔ６６の６タイムスロツトに設定されたデータをＩイン
タフェース信号袋＠１内でハイウェイＨＷ２．、ＨＷ、
□上の任意のタイムスロットに挿入する試験用タイムス
ロットとして使用する下りハイウェイフレーム（以下、
ＢＨＷという。）である。ｄ−ｃ・は空きタイムスロッ
トを示す。). 11 is the highway HW + shown in FIG.
+, I interface signal device 1 in HW l 2
Bl channel signal, B
60 2-channel signals each (time slot 4~
63.68-127) At the same time as transmitting 6 time slots TO-T2 and T64-T66.
This is an uplink highway frame (hereinafter referred to as FHW) used as a test time slot into which data extracted within the interface signal device 1 is inserted. 12, 60 Bl channel signals and 60 B2 channel signals each (time slot 4~63.68~127) In addition to transmitting, time slots TO~T2, T62~
The data set in the 6 time slots of T66 is sent to highway HW2. , H.W.
□ Downlink highway frame (hereinafter referred to as
It's called BHW. ). d−c. indicates an empty time slot.
第３図は■インタフェース信号装置ｌ内でＢＨＷ１２の
タイムスロットＴＯの試験信号ＢＡＣＯを抽出してＦＨ
ＷＩＩのタイムスロットＴＯのＢＡＣＯ信号として挿入
することによりＩインタフェース信号装置１内での折返
し試験を行う場合の■インタフェース信号装置１内での
タイムスロット抽出、挿入を行う場合を示す。Figure 3 shows ■The test signal BACO of time slot TO of BHW12 is extracted in the interface signal device l and FH
2 shows a case where a time slot is extracted and inserted within the interface signal device 1 when a return test is performed within the I interface signal device 1 by inserting it as a BACO signal in the time slot TO of WII.
第４図はＢＨＷ１２のタイムスロットＴＯの試験信号Ｂ
ＡＣＯにＢチャネルの所定のデータバタン、タイムスロ
ッ）Ｔｌの試験信号ＢＡＣ１にＣＯ倍信号設定し、２イ
ンタフ工−ス信号装置１内で試験信号ＢＡＣＯ１ＢＡＣ
ｌをそれぞれＢＢＨＷ９のタイムスロットＴ４とＢＤＨ
ＷＩＯのタイムスロットＴ５とに抽出、挿入するととも
に、ＦＢＨＷ７のタイムスロットＴ４とＦＤＨＷ８のタ
イムスロットＴ５との信号をそれぞれＦＨＷＩＩのタイ
ムスロットＴＯとタイムスロットＴＩとに抽出、挿入す
ることにより、伝送装置４の折返し試験を行う場合のＩ
インタフェース信号装置１でのタイムスロット抽出、挿
入の実施例である。Figure 4 shows test signal B of time slot TO of BHW12.
A predetermined B channel data button, time slot) Tl test signal BAC1 is set as a CO multiplication signal, and the test signal BACO1BAC is set in the 2 interface signal device 1.
l to timeslot T4 and BDH of BBHW9, respectively.
The transmission device 4 I when performing a repeat test
This is an example of time slot extraction and insertion in the interface signal device 1.
第１図において、ネットワーク試験を行う場合の動作に
ついて説明する。Referring to FIG. 1, the operation when performing a network test will be explained.
時分割通話路装置２により試験回路３から発信される所
定のデータバタンかハイウェイＨＷ ＋ ＋のＢＨＷ１
２のタイムスロットＴＯに入り、ハイウェイＨＷ ｌ＋
のＦＨＷＩＩのタイムスロットＴＯをハイウェイＨＷ
ａ ＋のＢＨＷ１２のタイムスロットＴＯに入れ、ハイ
ウェイＨＷ ２１のＦＨＷＩＩのタイムスロットＴＯを
試験回路３に着信するように試験回路３−Ｉインタフェ
ース信号装置１間の通話路を設定し、！インタフェース
信号装置１．．１２にて第３図に示すようにＢＨＷ１２
のタイムスロットＴＯのデータを抽出し、このデータを
ＦＨＷＩＩのタイムスロットＴＯに挿入するよう折返し
動作設定した後に、試験回路３から所定のデータバタン
を発信し、試験回路３に着信されたデータのバタンと発
信したデータのバタンとを照合し、一致することにより
時分割通話路装置２の正常性を確認する。A predetermined data button transmitted from the test circuit 3 by the time division channel device 2 or the BHW 1 of the highway HW ++
2 time slot TO, highway HW l+
FHWII time slot TO of Highway HW
Set the communication path between the test circuit 3 and the I interface signal device 1 so that the time slot TO of the FHWII of the highway HW 21 arrives at the test circuit 3. Interface signal device 1. ．． 12, as shown in Figure 3, BHW12
After extracting the data in the time slot TO of the FHWII and setting the return operation to insert this data into the time slot TO of the FHWII, the test circuit 3 transmits a predetermined data button, and the data received at the test circuit 3 is checked. The normality of the time-division communication path device 2 is confirmed by comparing the data and the sent data, and if they match.
さらに、本実施例は伝送装置４−Ｉインタフェース信号
装置１−時分割通話路装置２間の導通試験を行うことも
可能である。Furthermore, in this embodiment, it is also possible to perform a continuity test between the transmission device 4-I interface signal device 1 and the time division channel device 2.
時分割通話路装置２により試験回路３から発信される所
定のデータパタンがＢＨＷ１２のタイムスロｙ ） Ｔ
Ｏに、試験回路３から発信されるＣＯ倍信号ＢＨＷ１
２のタイムスロットＴＩに入り、ノＸイウェイＨＷＩｌ
のＦＨＷＩＩのタイムスロットＴＯが所定のデータパタ
ンのデータとして試験回路３に着信され、ハイウェイＨ
Ｗ ＋ ＋のＦＨＷＩＩのタイムスロットＴｌがＳＴ倍
信号して試験回路３に着信されるように通話路を設定す
る。The predetermined data pattern transmitted from the test circuit 3 by the time division channel device 2 is the time slot of the BHW 12)
O, the CO multiplication signal BHW1 transmitted from the test circuit 3
Enter time slot TI of 2 and enter time slot TI
The time slot TO of FHWII is received as data of a predetermined data pattern to the test circuit 3, and the time slot TO of FHWII of
A communication path is set so that the time slot Tl of FHWII of W + + is received as an ST double signal to the test circuit 3.
また、■インタフェース信号装置ｌにてノ１イウェイＨ
Ｗ、、のＢＨＷ１２のタイムスロットＴＯ１ＴＩの信号
を抽出し、それぞれＢＢＨＷ９のタイムスロットＴ４お
よびＢＤＨＷＩＱのタイムスロットＴ５に挿入するとと
もに、Ｆ Ｂ ＨＷ ７のタイムスロットＴ４の信号と
ＦＤＨＷ８のタイムスロットＴ５の信号とを抽出し、そ
れぞれノ１イウエイＨＷ、。In addition, ■1 way H at the interface signal device L
The signal of time slot TO1TI of BHW12 of W, , is extracted and inserted into time slot T4 of BBHW9 and time slot T5 of BDHWIQ, respectively, and the signal of time slot T4 of F B HW 7 and the signal of time slot T5 of FDHW8 are extracted. and, respectively.
のＦＨＷＩＩのタイムスロットＴＯ１ＴＩに挿入するよ
うに動作設定する。The operation is set so that the time slot TO1TI of FHWII is inserted.
まず、試験回路３から伝送装置４を折返し動作するため
のＣＯ倍信号送出し、伝送装置４から折返されてくるＳ
Ｔ倍信号より、伝送装置４が折返し動作になったことを
確認した後に、試験回路３から所定のデータパタンを発
信し、試験回路３に着信されるデータのバタンと発信し
た所定のデータパタンとを照合し一致することにより、
伝送装置４−１インクフ工−ス信号装置１−時分割通話
路装首２間の通話路が正常であることを確認する。First, the test circuit 3 sends out a CO multiplied signal for loopback operation of the transmission device 4, and the signal sent back from the transmission device 4 is
After confirming that the transmission device 4 is in loopback operation based on the T-fold signal, the test circuit 3 transmits a predetermined data pattern, and the data sent to the test circuit 3 is matched with the bang of the data received. By matching and matching
It is confirmed that the communication path between the transmission device 4-1, ink office signaling device 1, and the time-division communication path neck 2 is normal.
以上説明したように、本発明は、時分割通話路装置の動
作確認と、時分割通話路装置、■インタフェース信号装
置および伝送装置の各装置間の導通確認とができるｆｌ
れた効果がある。したがって、通話路に障害が発生した
場合に障害箇所の判定を各装置単位で実施できる利点が
ある。As explained above, the present invention is an FL system that can check the operation of a time-division channel device and check the continuity between the time-division channel device, the interface signal device, and the transmission device.
It has a strong effect. Therefore, there is an advantage that when a failure occurs in the communication path, the location of the failure can be determined on a unit-by-device basis.
第１図は本発明のネットワーク試験装置のブロック構成
図。
第２図は本発明のネットワーク試験装置の各ハイウェイ
上のデータのフレームフォーマット。
第３図は本発明の不７）ワーク試験装置のＩインタフェ
ース信号装置から折返す場合のフレームフォーマット。
第４図は本発明のネットワーク試験装置のＩインタフェ
ース信号装置および伝送装置から折返す場合のフレーム
フォーマット。
１１．１２・・・■インタフェース信号装置、２・・・
時分割通話路装置、３・・・試験回路、４１．４２・・
・伝送装置、７・・・ＦＢＨＷ、８・・・ＦＤＨＷ、９
・・・ＢＢ）ｌ’ｖＶ、１０・・・ＢＤＨＷ、１１・・
・ＦＨＷ、１２・・・ＢＨＷ。
Ｂｌｃｈ・・・Ｂ１チャネル、Ｄｃｈ・・・Ｄチャネル
、ＢＡＣＯ〜ＢＡＣ５・・・試験信号、ＨＷ Ｉ ｌ、
ＨＷ２．、ＨＷ、□、ＨＷ ２２・・・ハイウェイ、Ｔ
Ｏ〜Ｔｌ２７・・・タイムスロット番号、ｄ−ｃ・・・
・空きタイムスロット。FIG. 1 is a block diagram of a network test device according to the present invention. FIG. 2 shows the frame format of data on each highway of the network test device of the present invention. FIG. 3 shows the frame format when returning from the I interface signal device of the workpiece testing device (7) of the present invention. FIG. 4 shows a frame format when returning from the I-interface signal device and transmission device of the network test device of the present invention. 11.12... ■Interface signal device, 2...
Time division communication path device, 3...Test circuit, 41.42...
・Transmission device, 7...FBHW, 8...FDHW, 9
...BB) l'vV, 10...BDHW, 11...
・FHW, 12...BHW. Blch...B1 channel, Dch...D channel, BACO to BAC5...test signal, HW I l,
HW2. , HW, □, HW 22...Highway, T
O~Tl27...Time slot number, d-c...
・Empty time slot.
Claims (1)
された複数個のＩインタフェース信号装置と、この複数
個のＩインタフェース信号装置にそれぞれ接続された伝
送装置とを備え、 所定の試験用の信号を送信し、この所定の試験用の信号
とその折返された信号とを照合する手段を含む試験回路
が上記時分割通話路装置に接続され、 上記時分割通話路装置は、時分割多重化フレームの空き
タイムスロットを介して上記所定の試験用の信号を上記
Ｉインタフェース信号装置に与え、上記折返された信号
を上記試験回路に与える手段を含む ネットワーク試験方式において、 上記Ｉインタフェース信号装置は、上記所定の試験用の
信号を折返す第一手段と、Ｂチャネル信号およびＤチャ
ネル信号として上記伝送装置に送出しその折返された信
号を抽出して上記時分割通話路装置に送出する第二手段
とのいずれかが設定可能であり、 上記伝送装置は、上記試験回路の伝送装置制御信号に基
づいてＢチャネル信号およびＤチャネル信号を折返す手
段を含む ことを特徴とするネットワーク試験方式。[Claims] 1. A time-division channel device, a plurality of I-interface signal devices connected to the time-division channel device, and a transmission device respectively connected to the plurality of I-interface signal devices. A test circuit including means for transmitting a predetermined test signal and comparing the predetermined test signal with the returned signal is connected to the time division communication path device, and the time division communication In a network test method, the network device includes means for providing the predetermined test signal to the I interface signal device via an empty time slot of a time division multiplexed frame, and providing the folded signal to the test circuit. The I interface signal device includes a first means for returning the predetermined test signal, and a first means for returning the predetermined test signal, and a method for transmitting the signal as a B channel signal and a D channel signal to the transmission device, extracting the returned signal, and performing the time division call. and a second means for sending the signal to the transmission device, and the transmission device includes means for returning the B channel signal and the D channel signal based on the transmission device control signal of the test circuit. Network test method.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14918688A JPH022785A (en) | 1988-06-15 | 1988-06-15 | Network test system |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14918688A JPH022785A (en) | 1988-06-15 | 1988-06-15 | Network test system |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH022785A true JPH022785A (en) | 1990-01-08 |
Family
ID=15469679
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14918688A Pending JPH022785A (en) | 1988-06-15 | 1988-06-15 | Network test system |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH022785A (en) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03209957A (en) * | 1990-01-12 | 1991-09-12 | Oki Electric Ind Co Ltd | I interface subscriber's line testing system |
| JPH08307525A (en) * | 1995-04-28 | 1996-11-22 | Nec Corp | System and method for testing isdn exchange and line |
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-
1988
- 1988-06-15 JP JP14918688A patent/JPH022785A/en active Pending
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