JPH0225793A - 核融合装置 - Google Patents
核融合装置Info
- Publication number
- JPH0225793A JPH0225793A JP63175049A JP17504988A JPH0225793A JP H0225793 A JPH0225793 A JP H0225793A JP 63175049 A JP63175049 A JP 63175049A JP 17504988 A JP17504988 A JP 17504988A JP H0225793 A JPH0225793 A JP H0225793A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- vacuum
- partition wall
- fusion device
- nuclear fusion
- insulating
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 230000004927 fusion Effects 0.000 title claims abstract description 15
- 238000005192 partition Methods 0.000 claims abstract description 32
- 239000000463 material Substances 0.000 claims abstract description 4
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 claims abstract description 3
- 229920006267 polyester film Polymers 0.000 claims 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 abstract description 10
- 239000007787 solid Substances 0.000 abstract description 6
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 abstract description 5
- 238000009413 insulation Methods 0.000 abstract description 5
- 229920002430 Fibre-reinforced plastic Polymers 0.000 abstract description 3
- 239000011151 fibre-reinforced plastic Substances 0.000 abstract description 3
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 abstract description 2
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 abstract description 2
- 239000004033 plastic Substances 0.000 abstract description 2
- 229920003023 plastic Polymers 0.000 abstract description 2
- 229920003055 poly(ester-imide) Polymers 0.000 abstract description 2
- 238000007789 sealing Methods 0.000 abstract description 2
- 229910052573 porcelain Inorganic materials 0.000 abstract 2
- 238000006731 degradation reaction Methods 0.000 abstract 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 8
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 6
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 5
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 5
- 230000007935 neutral effect Effects 0.000 description 5
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 description 3
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 3
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 3
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 2
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 description 2
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 1
- 238000005219 brazing Methods 0.000 description 1
- JJWKPURADFRFRB-UHFFFAOYSA-N carbonyl sulfide Chemical compound O=C=S JJWKPURADFRFRB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000010292 electrical insulation Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- LNEPOXFFQSENCJ-UHFFFAOYSA-N haloperidol Chemical compound C1CC(O)(C=2C=CC(Cl)=CC=2)CCN1CCCC(=O)C1=CC=C(F)C=C1 LNEPOXFFQSENCJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 1
- 238000001465 metallisation Methods 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 1
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E30/00—Energy generation of nuclear origin
- Y02E30/10—Nuclear fusion reactors
Landscapes
- Electron Sources, Ion Sources (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は核融合装値に係り、特に磁場によって核融合プ
ラズマを閉じ込める磁場閉じ込め形核融合装値に関する
。
ラズマを閉じ込める磁場閉じ込め形核融合装値に関する
。
従来、核融合装値等に用いられる電流導入端子は、電流
を通じる貫通導体の周囲に、アルミナセラミックスやエ
ポキシ樹脂等の絶縁物で構成された碍子、あるいは筒を
メタライズした後ろう付、又は高分子樹脂等で接着した
横進のものが多く使用されている。尚、コイルへの電流
導入端子に関しては、例えば特開昭61−221694
号公報等が挙げられる。
を通じる貫通導体の周囲に、アルミナセラミックスやエ
ポキシ樹脂等の絶縁物で構成された碍子、あるいは筒を
メタライズした後ろう付、又は高分子樹脂等で接着した
横進のものが多く使用されている。尚、コイルへの電流
導入端子に関しては、例えば特開昭61−221694
号公報等が挙げられる。
従来技術として示したアルミナセラミックスやエポキシ
樹脂による固体・真空沿面を有する電流導入端子では、
以下に示す理由によって、6!i場が作用すると耐電圧
が低下する欠点があった。第8図に示される平板電極系
に電圧を印加した場合のFOV (フラッジオーバ電圧
or放電電圧)を第9図に示す。Pは電極周囲の圧力で
あり、dは電極間距離を示す。電極1,2間に高電圧V
が課電されると宇宙線などによって生じた電子3は、電
界V/dによって正電w42側に加速される。この電子
は正電極2に向かう途中で中性気体分子4に衝突してこ
れを電芝する。次々に衝突電離が行われる結果、雪崩式
に電子の数が増大し、やがてフラッジオーバ(放電閃路
)が生ずる。第9図は圧力PとFOVとの関係を示して
いる。■の領域でPが増大するにつれてFOVが上昇し
ている。これは、気体分子密度が増加することにより、
電子が中性気体電子を電離するのに十分なエネルギーを
得る(加速される)以前に衝突が起こるようになるため
である。逆にIの領域は、気体分子の数が極端に少なく
なるため、電子が電離に必要なエネルギーを有している
にもかかわらず、前記した衝突電離が起こり得す(vf
i突せずに正電極に達する)、FOVは高い、すなわち
■領域のFOVが高いのは電子の中性気体分子に衝突す
る機会が減少したことに起因している。この■の領域は
一般に真空絶縁と呼ばれる領域で、前記した固体・真空
沿面を有する電流導入端子などは、この優れた耐電圧特
性を利用して設計されている。これらの19mの領域に
比較し■の領域の最低値近傍は、前記した衝突1!離に
よる電子増加が極めて効率的に生ずる領域で、極めて低
い印加電圧で放電が生ずる6例えば、周囲が空気でdが
5msとすると1領域のFOVは数十KVを越えるのに
対し、■の最低領域では330Vでも放電が生じる。
樹脂による固体・真空沿面を有する電流導入端子では、
以下に示す理由によって、6!i場が作用すると耐電圧
が低下する欠点があった。第8図に示される平板電極系
に電圧を印加した場合のFOV (フラッジオーバ電圧
or放電電圧)を第9図に示す。Pは電極周囲の圧力で
あり、dは電極間距離を示す。電極1,2間に高電圧V
が課電されると宇宙線などによって生じた電子3は、電
界V/dによって正電w42側に加速される。この電子
は正電極2に向かう途中で中性気体分子4に衝突してこ
れを電芝する。次々に衝突電離が行われる結果、雪崩式
に電子の数が増大し、やがてフラッジオーバ(放電閃路
)が生ずる。第9図は圧力PとFOVとの関係を示して
いる。■の領域でPが増大するにつれてFOVが上昇し
ている。これは、気体分子密度が増加することにより、
電子が中性気体電子を電離するのに十分なエネルギーを
得る(加速される)以前に衝突が起こるようになるため
である。逆にIの領域は、気体分子の数が極端に少なく
なるため、電子が電離に必要なエネルギーを有している
にもかかわらず、前記した衝突電離が起こり得す(vf
i突せずに正電極に達する)、FOVは高い、すなわち
■領域のFOVが高いのは電子の中性気体分子に衝突す
る機会が減少したことに起因している。この■の領域は
一般に真空絶縁と呼ばれる領域で、前記した固体・真空
沿面を有する電流導入端子などは、この優れた耐電圧特
性を利用して設計されている。これらの19mの領域に
比較し■の領域の最低値近傍は、前記した衝突1!離に
よる電子増加が極めて効率的に生ずる領域で、極めて低
い印加電圧で放電が生ずる6例えば、周囲が空気でdが
5msとすると1領域のFOVは数十KVを越えるのに
対し、■の最低領域では330Vでも放電が生じる。
以上の説明は磁場が無い場合のもので、その時の電子の
軌跡(衝突無し)は6で示されるように直線的である。
軌跡(衝突無し)は6で示されるように直線的である。
しかしながら、電界に直交し紙面に垂直な磁場が作用す
ると、i!子は電界と磁界からの力を同時に受け、7に
示すようなサイクロイ状の運動をすることになる。この
ように電子の運転軌跡が変化すると図からもわかるよう
に電子の中性気体分子の衝突確率(衝突の機会)は増加
する。そのため、磁場の無い場合は、■の領域の優れた
耐電圧を示すものでも、磁場が作用すると衝突[1が促
進され、Hの領域の放ffi電圧に低下する懸念がある
。特に第8図に示すような円筒電極の場合は、それが顕
著に表われる。それは、第8図の平板電極の場合の電子
は図において右側に移動して電極系の外部に出るのに対
し5第10図の場合は中心′+1!極8の周囲を回り続
けるためである。
ると、i!子は電界と磁界からの力を同時に受け、7に
示すようなサイクロイ状の運動をすることになる。この
ように電子の運転軌跡が変化すると図からもわかるよう
に電子の中性気体分子の衝突確率(衝突の機会)は増加
する。そのため、磁場の無い場合は、■の領域の優れた
耐電圧を示すものでも、磁場が作用すると衝突[1が促
進され、Hの領域の放ffi電圧に低下する懸念がある
。特に第8図に示すような円筒電極の場合は、それが顕
著に表われる。それは、第8図の平板電極の場合の電子
は図において右側に移動して電極系の外部に出るのに対
し5第10図の場合は中心′+1!極8の周囲を回り続
けるためである。
実際に、30KV以上の耐電圧を有する第10図の電極
系に磁場を作用させると数KV以下のFOVに低下する
。以上は、磁場による真空ギャップのFOVの低下につ
いてであるが、固体・真空沿面を有する電流導入端子の
場合でも■真空ギャップの放電→■固体・真空沿面の放
電→■フラッジオーバの順で絶縁破壊が進行するため、
同様に磁場の影響によるFOVの低下が生ずる。
系に磁場を作用させると数KV以下のFOVに低下する
。以上は、磁場による真空ギャップのFOVの低下につ
いてであるが、固体・真空沿面を有する電流導入端子の
場合でも■真空ギャップの放電→■固体・真空沿面の放
電→■フラッジオーバの順で絶縁破壊が進行するため、
同様に磁場の影響によるFOVの低下が生ずる。
上記の説明は、磁場の影響による耐電圧の低下が顕著に
あられれる電流導入端子を例に行ったが、この現象は核
融合装値などの真空断熱容器内に配置されたコイル、電
流導入線(リード線)など高電圧課電部と大地電位(真
空容器)間、あるいは課電部相互間で生ずる懸念がある
。
あられれる電流導入端子を例に行ったが、この現象は核
融合装値などの真空断熱容器内に配置されたコイル、電
流導入線(リード線)など高電圧課電部と大地電位(真
空容器)間、あるいは課電部相互間で生ずる懸念がある
。
本発明の目的は、このような磁場の影響による耐電圧の
低下を防止し、絶縁特性の優れた核融合装値を提供する
ことにある。
低下を防止し、絶縁特性の優れた核融合装値を提供する
ことにある。
前記の目的は、高電圧課電部分と大地電位間、及び高電
圧課電部分相互間(高電界部分)の真空空間に形状が工
夫された絶縁性の隔壁を設けることで達成される。
圧課電部分相互間(高電界部分)の真空空間に形状が工
夫された絶縁性の隔壁を設けることで達成される。
絶縁性の隔壁を設けることにより、例えば第10図に示
したような磁界と電界の作用によるサイクロイド状にま
わり続けるのが阻止できる。それによって衝突電離の繰
り返しによる電子の雪崩的増加からフラッジオーバに至
るのを阻止できる。
したような磁界と電界の作用によるサイクロイド状にま
わり続けるのが阻止できる。それによって衝突電離の繰
り返しによる電子の雪崩的増加からフラッジオーバに至
るのを阻止できる。
このような作用の絶縁性の隔壁を適宜の箇所に適宜の個
数膜ければ、磁場が作用しても耐電圧の低下のない絶縁
構成が容易に得られる。
数膜ければ、磁場が作用しても耐電圧の低下のない絶縁
構成が容易に得られる。
以下、本発明の一実施例を第1図により説明する。第1
図は本発明の効果が顕著に表われる電流導入端子部の構
成を示している。真空容器12は図において上部の大気
圧側と図において下部の真空側とを隔てている。真空側
には図示しないプラズマ閉じ込め用あるいはプラズマ加
熱用などの超電導コイルあるいは常電導コイルが設置さ
れており、電流導入端子は、これらのコイルに電流を供
給するためのものであり、貫通導体11を通じて行なわ
れる。13は電気絶縁と真空封止とを兼ねる碍管で通常
、セラミックスあるいはエポキシレジンなどで構成され
る。11.13は従来の端子構造と同じもので市販品を
そのまま購入することでも手に入いる。14は本発明の
絶縁性隔壁で、第2図にその横断面を示すように、径方
向(放射状)隔壁である。隔壁はセラミックスやプラス
チック板、FRP (繊維強化プラスチックス)板など
の堅い厚みのある材料で構成しても良いが、ポリエステ
ル、ポリイミドなどのフィルム材料で構成しても所定の
効果が得られる。その場合は、第3図に示すようにチュ
ーブ状にしたものを折り曲げて中心導体(貫通導体)を
挟むようにすれば容易に取付けられる。第2図では4個
の径方向隔壁を示しているが、これは印加される電圧、
磁界などにより個数を増減すれば良い。また、第1図に
おいて径方向隔壁の長さ方向は十分電界の低い部分(あ
るいは磁場の小さい部分)まで延長しておく必要がある
。第1図、第2図の隔壁14は貫通導体11側に固定さ
れているが、逆でも良い。このような絶縁性隔壁は第8
図に示したような中心導体のまわりをまわり続けながら
電子の数が増加してゆくのを阻止でき、磁場の影響によ
る耐電圧の低下を防止できる。
図は本発明の効果が顕著に表われる電流導入端子部の構
成を示している。真空容器12は図において上部の大気
圧側と図において下部の真空側とを隔てている。真空側
には図示しないプラズマ閉じ込め用あるいはプラズマ加
熱用などの超電導コイルあるいは常電導コイルが設置さ
れており、電流導入端子は、これらのコイルに電流を供
給するためのものであり、貫通導体11を通じて行なわ
れる。13は電気絶縁と真空封止とを兼ねる碍管で通常
、セラミックスあるいはエポキシレジンなどで構成され
る。11.13は従来の端子構造と同じもので市販品を
そのまま購入することでも手に入いる。14は本発明の
絶縁性隔壁で、第2図にその横断面を示すように、径方
向(放射状)隔壁である。隔壁はセラミックスやプラス
チック板、FRP (繊維強化プラスチックス)板など
の堅い厚みのある材料で構成しても良いが、ポリエステ
ル、ポリイミドなどのフィルム材料で構成しても所定の
効果が得られる。その場合は、第3図に示すようにチュ
ーブ状にしたものを折り曲げて中心導体(貫通導体)を
挟むようにすれば容易に取付けられる。第2図では4個
の径方向隔壁を示しているが、これは印加される電圧、
磁界などにより個数を増減すれば良い。また、第1図に
おいて径方向隔壁の長さ方向は十分電界の低い部分(あ
るいは磁場の小さい部分)まで延長しておく必要がある
。第1図、第2図の隔壁14は貫通導体11側に固定さ
れているが、逆でも良い。このような絶縁性隔壁は第8
図に示したような中心導体のまわりをまわり続けながら
電子の数が増加してゆくのを阻止でき、磁場の影響によ
る耐電圧の低下を防止できる。
第4図は円筒状の隔壁を示している。これはギャップ長
が大きいほど磁場の影響が大きいという実験結果に基づ
いて為された考案で、円筒状隔壁16を配することによ
り、ギャップが小さい場合と同様磁場の影響を受けにく
いという効果が得られる。長さ方向は、第1図と同様、
十分長く延長しておく必要がある。また、絶縁性隔壁の
形状としては第5図に示すような螺線状のものでも、第
6図に示すような円筒状と放射状(径方向)を組合せた
ものでも同様、あるいはより磁場の影1Jを受けにくい
特性が得られる。螺線状隔壁17は第3図の15と同様
、取付は易いという効果がある。
が大きいほど磁場の影響が大きいという実験結果に基づ
いて為された考案で、円筒状隔壁16を配することによ
り、ギャップが小さい場合と同様磁場の影響を受けにく
いという効果が得られる。長さ方向は、第1図と同様、
十分長く延長しておく必要がある。また、絶縁性隔壁の
形状としては第5図に示すような螺線状のものでも、第
6図に示すような円筒状と放射状(径方向)を組合せた
ものでも同様、あるいはより磁場の影1Jを受けにくい
特性が得られる。螺線状隔壁17は第3図の15と同様
、取付は易いという効果がある。
以上のような本発明の構成によれば1通常容易に入手で
きる碍管などを用いてlil!場の影響を受けない耐電
圧の優れた電流導入端子が形成できる。
きる碍管などを用いてlil!場の影響を受けない耐電
圧の優れた電流導入端子が形成できる。
本発明は電流導入端子以外の場所にも適用がきる。第7
図にその例を示す。20は、プラズマの閉じ込めあるい
は加熱に使用されるコイルの一個を示し、21はコイル
群に電流を供給するための電流導入線の一部である。こ
のような場所においてもコイルと電流導入線の間あるい
は電流導入線相互間にそれぞれ絶縁性隔壁22.23を
設けることにより、磁場による耐電圧の低下を防止でき
る。第7図においては第1図あるいは第2図に示した形
状の隔壁を示しているが、その他の形状のものでも効果
があることは言うまでもない。
図にその例を示す。20は、プラズマの閉じ込めあるい
は加熱に使用されるコイルの一個を示し、21はコイル
群に電流を供給するための電流導入線の一部である。こ
のような場所においてもコイルと電流導入線の間あるい
は電流導入線相互間にそれぞれ絶縁性隔壁22.23を
設けることにより、磁場による耐電圧の低下を防止でき
る。第7図においては第1図あるいは第2図に示した形
状の隔壁を示しているが、その他の形状のものでも効果
があることは言うまでもない。
また5以上の説明は真空断熱容器を有する核融合装値に
適用した場合であるが、その他の機器においても磁場の
影響による真空耐電圧の低下が生ずる場合には1本発明
を適用することによってその防止ができる。
適用した場合であるが、その他の機器においても磁場の
影響による真空耐電圧の低下が生ずる場合には1本発明
を適用することによってその防止ができる。
以にに述べたように本発明によれば、真空絶縁ギャップ
、あるいは固体・真空沿面の耐電圧が磁場の影響によっ
て低下するのを防止できるため、耐電圧特性の優れた絶
縁構成を提供できる効果がある。
、あるいは固体・真空沿面の耐電圧が磁場の影響によっ
て低下するのを防止できるため、耐電圧特性の優れた絶
縁構成を提供できる効果がある。
第1図は本発明の一実施例の電流導入端子部を示す縦断
面図、第2図はその横断面図、第3図〜第6図は本発明
の別の構成を示す横断面図、第7図は別の実施例を示す
コイル、及び電流導入線周囲の斜視図、第8図〜第10
図は本発明で述へている磁場による真空ギャップの耐電
圧低下を示す説明図であり、第8図、第10図は電極系
を第9図はその特性を示す。 1・・・負電極、2・・・正電極、3・・・電子、4・
・・中性気体分子、5・・・端子、6・・・磁場が無い
場合の電子軌跡、7・・・図において紙面に垂直な磁場
が存在する場合の電子軌跡、8・・・中心電極、9・・
・外側電極、■・・・印加電圧、P・・・圧力、d・・
・電極間距離、FOVフラッジオーバ電圧、1〜■・・
・Pの領域、11・・・貫通導体、12・・・真空容器
、13・・・碍管、14・・・径方向隔壁、15・・・
フィルム隔壁、16・・・円筒状隔壁、17・・・螺旋
状隔壁、20・・・コイル、21・・・S流導入線、2
2.23・・・絶縁性隔壁。
面図、第2図はその横断面図、第3図〜第6図は本発明
の別の構成を示す横断面図、第7図は別の実施例を示す
コイル、及び電流導入線周囲の斜視図、第8図〜第10
図は本発明で述へている磁場による真空ギャップの耐電
圧低下を示す説明図であり、第8図、第10図は電極系
を第9図はその特性を示す。 1・・・負電極、2・・・正電極、3・・・電子、4・
・・中性気体分子、5・・・端子、6・・・磁場が無い
場合の電子軌跡、7・・・図において紙面に垂直な磁場
が存在する場合の電子軌跡、8・・・中心電極、9・・
・外側電極、■・・・印加電圧、P・・・圧力、d・・
・電極間距離、FOVフラッジオーバ電圧、1〜■・・
・Pの領域、11・・・貫通導体、12・・・真空容器
、13・・・碍管、14・・・径方向隔壁、15・・・
フィルム隔壁、16・・・円筒状隔壁、17・・・螺旋
状隔壁、20・・・コイル、21・・・S流導入線、2
2.23・・・絶縁性隔壁。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、極低温に保持された超電導コイルと、この超電導コ
イルを収納し常温大気空間から真空断熱する断熱真空容
器と、前記超電導コイル、若しくは前記断熱真空容器内
に設けられた常電導コイルに常温大気空間より電流を導
入する電流導入線、及び電流導入端子とを備えた核融合
装置において、前記電流導入端子の課電部分と真空容器
間、あるいは前記電流導入線と真空容器間、あるいは前
記コイル群と真空容器間、あるいは前記の課電部分の相
互間の少なくとも1箇所に絶縁性隔壁を設けたことを特
徴とする核融合装値。 2、請求項1記載の絶縁性隔壁として、前記課電部分か
ら該課電部分を含む面に沿つて放射状に伸びた絶縁性隔
壁を少なくとも一箇所設けたことを特徴とした核融合装
置。 3、請求項1記載の絶縁性隔壁として、前記課電部を取
り囲むように設けられた絶縁性隔壁を少なくとも一箇所
設けたことを特徴とした核融合装置。 4、請求項1記載の絶縁性隔壁として、前記課電部から
他の課電部、あるいは前記真空容器に向つて螺線状に伸
びた絶縁性隔壁を少なくとも一箇所設けたことを特徴と
した核融合装置。 5、請求項1〜4記載の絶縁性隔壁を、ポリイミドフィ
ルム、ポリエステルフィルムなどのフィルム材料で構成
したことを特徴とした核融合装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63175049A JP2675084B2 (ja) | 1988-07-15 | 1988-07-15 | 核融合装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63175049A JP2675084B2 (ja) | 1988-07-15 | 1988-07-15 | 核融合装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0225793A true JPH0225793A (ja) | 1990-01-29 |
JP2675084B2 JP2675084B2 (ja) | 1997-11-12 |
Family
ID=15989336
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63175049A Expired - Lifetime JP2675084B2 (ja) | 1988-07-15 | 1988-07-15 | 核融合装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2675084B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101500002B1 (ko) * | 2009-10-07 | 2015-03-06 | 현대자동차주식회사 | 어코스틱 덕트유닛 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5678602U (ja) * | 1979-11-20 | 1981-06-26 |
-
1988
- 1988-07-15 JP JP63175049A patent/JP2675084B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5678602U (ja) * | 1979-11-20 | 1981-06-26 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101500002B1 (ko) * | 2009-10-07 | 2015-03-06 | 현대자동차주식회사 | 어코스틱 덕트유닛 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2675084B2 (ja) | 1997-11-12 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US7180243B2 (en) | Plasma accelerator with closed electron drift | |
JP4902926B2 (ja) | プラズマ加速装置 | |
KR101870790B1 (ko) | 직류 하전 입자 가속기, 직류 전압을 사용하여 하전 입자를 가속하는 방법 및 그와 함께 사용하기 위한 고 전압 전력 공급 장치 | |
JP4944336B2 (ja) | プラズマ加速装置 | |
EP3776623B1 (en) | Partly sealed ion guide and ion beam deposition system | |
US6975072B2 (en) | Ion source with external RF antenna | |
JP2001506337A (ja) | 磁気流体力学的推進手段のためのイオンビーム集中化装置および該装置を装着した磁気流体力学的推進手段 | |
JP2774326B2 (ja) | パルスパワー線形加速器 | |
RU2544838C2 (ru) | Излучающая трубка, а также ускоритель частиц с излучающей трубкой | |
JPH0225793A (ja) | 核融合装置 | |
JP5722254B2 (ja) | デフレクタ | |
EP3550587A1 (en) | Partly sealed ion guide and ion beam deposition system | |
US5247263A (en) | Injection system for tandem accelerators | |
US2799836A (en) | Pulse transformer | |
JP3696079B2 (ja) | 慣性静電閉じ込め装置 | |
EP0252113B1 (en) | High voltage feedthrough for ion pump | |
JP2988764B2 (ja) | 直流電圧型加速器の加速管 | |
EP3550588A1 (en) | Ion guide comprising electrode wires and ion beam deposition system | |
USH878H (en) | High voltage insulators for long, linear switches | |
JP7321536B2 (ja) | 小型電動機駆動絶縁静電粒子加速器 | |
JPH08111198A (ja) | イオン源 | |
RU2265974C1 (ru) | Безжелезный синхротрон | |
US5457361A (en) | Ion removing device, ion removing method and electron accumulating ring having ion removing device | |
JP3335740B2 (ja) | イオン加速装置における冷却システム | |
US4307317A (en) | Bipolar crossed-field device including electromagnetic coils of the same polarity |