JPH02257558A - 多重極電極 - Google Patents
多重極電極Info
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- JPH02257558A JPH02257558A JP1079909A JP7990989A JPH02257558A JP H02257558 A JPH02257558 A JP H02257558A JP 1079909 A JP1079909 A JP 1079909A JP 7990989 A JP7990989 A JP 7990989A JP H02257558 A JPH02257558 A JP H02257558A
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- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、多重極電極、特に、イオン軌道の調整やイオ
ンのふるい分けを行うための多重極電極に関する。
ンのふるい分けを行うための多重極電極に関する。
多重極電極を用いた装置、たとえば質量分析計には、四
重極電極が用いられている。これは、正方形の各頂点に
相当する位置に4本の電極を平行に置いて相対する電極
を連結し、ここに直流電圧と高周波電圧との重畳電圧を
同時にかけるようにしたものである。このような四重極
電極では、4本の電極の中心に向けてイオンを送り込み
、前記重畳電圧を変化させていくことにより、電圧に応
じた特定の質量のイオンだけを通過させ、他のイオンを
発散させる。これによって、イオンのふるい分けを行う
ことができる。
重極電極が用いられている。これは、正方形の各頂点に
相当する位置に4本の電極を平行に置いて相対する電極
を連結し、ここに直流電圧と高周波電圧との重畳電圧を
同時にかけるようにしたものである。このような四重極
電極では、4本の電極の中心に向けてイオンを送り込み
、前記重畳電圧を変化させていくことにより、電圧に応
じた特定の質量のイオンだけを通過させ、他のイオンを
発散させる。これによって、イオンのふるい分けを行う
ことができる。
このような四重極電極では、イオンが受ける電界強度を
安定させる必要がある。もし、イオンが受ける電界強度
が変化すると、質量ピークのテーリングやスプリアスピ
ークが発生し、高精度な分析が困難となる。
安定させる必要がある。もし、イオンが受ける電界強度
が変化すると、質量ピークのテーリングやスプリアスピ
ークが発生し、高精度な分析が困難となる。
イオンが受ける電界強度を安定させるための手段として
は、4本の電極の中心と各電極との距離(ro)を四重
極電極の長手方向全体に均一にする構成が知られている
。このroを均一にするためには、電極及び電極を支持
するホルダーの加工精度や組立精度を向上させる必要が
ある。ところが、電極やホルダーの精密加工には、高度
な技術が必要である。そのため、電極及びホルダーの加
工精度や組立精度を向上させることによりroを均一に
し、イオンが受ける電界強度を安定させるのは困難を伴
う。
は、4本の電極の中心と各電極との距離(ro)を四重
極電極の長手方向全体に均一にする構成が知られている
。このroを均一にするためには、電極及び電極を支持
するホルダーの加工精度や組立精度を向上させる必要が
ある。ところが、電極やホルダーの精密加工には、高度
な技術が必要である。そのため、電極及びホルダーの加
工精度や組立精度を向上させることによりroを均一に
し、イオンが受ける電界強度を安定させるのは困難を伴
う。
一方、質量分析を高速化するためには、電極にかける電
圧を超高速で変化させること(高速スキャン)が必要と
なる。しかし、roが単に均一であるだけでは、イオン
が四重極電極を通過し終わる前に電界強度が変化してし
まい、イオンのふるい分は等を正確に行えない。
圧を超高速で変化させること(高速スキャン)が必要と
なる。しかし、roが単に均一であるだけでは、イオン
が四重極電極を通過し終わる前に電界強度が変化してし
まい、イオンのふるい分は等を正確に行えない。
本発明の目的は、イオンが受ける電界強度の調整をより
的確に行うことができる多重極電極を提供することにあ
る。
的確に行うことができる多重極電極を提供することにあ
る。
本発明の多重極電極は、イオン軌道の調整やイオンのふ
るい分けを行うための多重極電極である。
るい分けを行うための多重極電極である。
この多重極電極は、複数のロッド電極と、複数のロッド
電極を並べて支持する支持具と、ロッド電極の姿勢を温
度変化により調整するための温調手段とを備えている。
電極を並べて支持する支持具と、ロッド電極の姿勢を温
度変化により調整するための温調手段とを備えている。
本発明では、多重極電極を構成する複数のロッド電極は
、支持具により並べて支持される。このロッド電極は、
温調手段を用いた温度変化により姿勢が変化する。これ
により、複数のロッド電極の中心と各電極との距離を調
整することが可能となるから、イオンが受ける電界強度
を的確に調整できる。
、支持具により並べて支持される。このロッド電極は、
温調手段を用いた温度変化により姿勢が変化する。これ
により、複数のロッド電極の中心と各電極との距離を調
整することが可能となるから、イオンが受ける電界強度
を的確に調整できる。
第3図に、本発明の一実施例に係る四重極電極を用いた
質量分析装置の概略構成を示す。
質量分析装置の概略構成を示す。
質量分析装置は、試料を導入するための試料導入部1と
、試料をイオン化するためのイオン源ボックス2と、イ
オン源ボックス2でイオン化された試料を引き出し収束
するためのレンズ部3と、レンズ部3により引き出し収
束されたイオンのうち特定の質量のイオンだけをふるい
分ける四重極電極4と、四重極電極4を通過したイオン
を検出7るための検出器5とを備えている。前記質量分
析装置は、試料導入部1を除き真空チャンバー6内に直
線状に配室されている。
、試料をイオン化するためのイオン源ボックス2と、イ
オン源ボックス2でイオン化された試料を引き出し収束
するためのレンズ部3と、レンズ部3により引き出し収
束されたイオンのうち特定の質量のイオンだけをふるい
分ける四重極電極4と、四重極電極4を通過したイオン
を検出7るための検出器5とを備えている。前記質量分
析装置は、試料導入部1を除き真空チャンバー6内に直
線状に配室されている。
前記¥を量分折装置に用いられる四重極電極4を第1図
、第2図により詳細に説明する。
、第2図により詳細に説明する。
四重極電極4は、主として4本のロッド電極41と、ロ
ッド電極41を支持するためのホルダー42と、ホルダ
ー42を温調するためのバンドヒータ44とから構成さ
れている。
ッド電極41を支持するためのホルダー42と、ホルダ
ー42を温調するためのバンドヒータ44とから構成さ
れている。
ロッド電極41は、略円柱状の部材であり、熱膨張係数
の小さい導体、たとえばモリブデンを用いて構成されて
いる。4本のロッド電極41は、正方形の各頂点にあた
る位置に空間43を介して略平行に配置されている。そ
のため、空間43の中心と各ロッド電極41との距離(
ro)は、四重極電極4の長手方向の全体に略一定に保
たれている。なお、空間43を介して相対する一組のロ
ッド電極41及び他の一組のロッド電極41には、それ
ぞれ直流電圧及び高周波電圧を重畳させて同時に印加で
きるようになっている。
の小さい導体、たとえばモリブデンを用いて構成されて
いる。4本のロッド電極41は、正方形の各頂点にあた
る位置に空間43を介して略平行に配置されている。そ
のため、空間43の中心と各ロッド電極41との距離(
ro)は、四重極電極4の長手方向の全体に略一定に保
たれている。なお、空間43を介して相対する一組のロ
ッド電極41及び他の一組のロッド電極41には、それ
ぞれ直流電圧及び高周波電圧を重畳させて同時に印加で
きるようになっている。
前記4本のロッド電極41は、長手方向の両端部近傍と
中央部とが3個のホルダー42により支持されている。
中央部とが3個のホルダー42により支持されている。
ホルダー42は9円板状の部材であり、熱膨張係数の比
較的大きい絶縁体(たとえばセラミンク)を用いて構成
されている。ホルダー42の中心部には、概ね正方形状
のくり抜き部42Aが設けられており、その各辺の中央
部にはロッド電極41の断面形状に合わせた円弧状の支
持部42Bが形成されている。各ロッド電極41は、円
弧状の支持部42Bに嵌入されて支持されている。
較的大きい絶縁体(たとえばセラミンク)を用いて構成
されている。ホルダー42の中心部には、概ね正方形状
のくり抜き部42Aが設けられており、その各辺の中央
部にはロッド電極41の断面形状に合わせた円弧状の支
持部42Bが形成されている。各ロッド電極41は、円
弧状の支持部42Bに嵌入されて支持されている。
前記ホルダー42の外周全面には、円環状のバンドヒー
タ44が密接して配置されている。バンドヒータ44は
、温調器45により制御され、ホルダー42を温調する
。ホルダー42は、熱膨張係数の比較的大きい絶縁体を
用いて構成されているため、温調されることにより半径
方向に膨張収縮する。
タ44が密接して配置されている。バンドヒータ44は
、温調器45により制御され、ホルダー42を温調する
。ホルダー42は、熱膨張係数の比較的大きい絶縁体を
用いて構成されているため、温調されることにより半径
方向に膨張収縮する。
次に、前記四重極電極4の動作について説明する。
まず、質量分析により得られたチャートの質量ピークに
テーリングの生じている場合がある。これは、レンズ部
3から四重極電極4に打ち込まれたイオンが、その入口
部と出口部において異なる電界強度を受けることによる
。すなわち、これは、四重極電極4の両端部のroが異
なっている場合に起こる。この場合、本実施例の四重極
電極4では、バンドヒータ4を用いて各ホルダー42を
それぞれ温調することにより、ロッド電極41の姿勢を
調整して両端部のroを調整することができる。たとえ
ば、レンズ部3側から検出器5側に向けて互いに離れる
ようにロッド電極41が傾斜している場合には、3つの
ホルダー42をレンズ部3側から検出器5側に向けて順
に高温、中温、低温に温調する。これにより、レンズ部
3側のホルダー42がより膨張するため、電極41の傾
きが修正される。したがって、roが均一になり、テー
リングが改善される。
テーリングの生じている場合がある。これは、レンズ部
3から四重極電極4に打ち込まれたイオンが、その入口
部と出口部において異なる電界強度を受けることによる
。すなわち、これは、四重極電極4の両端部のroが異
なっている場合に起こる。この場合、本実施例の四重極
電極4では、バンドヒータ4を用いて各ホルダー42を
それぞれ温調することにより、ロッド電極41の姿勢を
調整して両端部のroを調整することができる。たとえ
ば、レンズ部3側から検出器5側に向けて互いに離れる
ようにロッド電極41が傾斜している場合には、3つの
ホルダー42をレンズ部3側から検出器5側に向けて順
に高温、中温、低温に温調する。これにより、レンズ部
3側のホルダー42がより膨張するため、電極41の傾
きが修正される。したがって、roが均一になり、テー
リングが改善される。
次に、スプリアスピークが生じる場合について説明する
。スプリアスピークは、イオンが四重極電極4の両端部
と中央部とで異なる電界強度を受ける場合に生じる。す
なわち、これは、四重極電極4の両端部と中央部とのr
oに差がある場合に生じる。この場合には、中央部のホ
ルダー42を両端部のホルダー42と異なる温度に温調
してr。を調整することにより、スプリアスピークを解
消することができる。たとえば、中央部のroが両端部
のr、よりも大きい場合には、中央部のホルダー42を
両端部のホルダー42よりも低温にする。これにより、
中央部のroは両端部のroと等しくなる。
。スプリアスピークは、イオンが四重極電極4の両端部
と中央部とで異なる電界強度を受ける場合に生じる。す
なわち、これは、四重極電極4の両端部と中央部とのr
oに差がある場合に生じる。この場合には、中央部のホ
ルダー42を両端部のホルダー42と異なる温度に温調
してr。を調整することにより、スプリアスピークを解
消することができる。たとえば、中央部のroが両端部
のr、よりも大きい場合には、中央部のホルダー42を
両端部のホルダー42よりも低温にする。これにより、
中央部のroは両端部のroと等しくなる。
次に、高速スキャン時の動作について説明する。
この場合には、ロッド電極41に印加される電圧が高速
で変化していくため、四重極電極4の入口部と出口部と
でイオンが受ける電界強度が異なり、質量ピークのテー
リングやスプリアスピークが発生する。そこで、ホルダ
ー42を検出器5からレンズ部3に向けて順に低温、中
温、高温にたとえば温調し、第4図に示すように、re
が四重極電極の入口部から出口部に向けて順に増加する
ように調整する。これにより、四重極電極4を通過する
イオンは入口部と出口部とで電界強度が調整され、質量
ピークのテーリングやスプリアスピークの発生が防止さ
れる。
で変化していくため、四重極電極4の入口部と出口部と
でイオンが受ける電界強度が異なり、質量ピークのテー
リングやスプリアスピークが発生する。そこで、ホルダ
ー42を検出器5からレンズ部3に向けて順に低温、中
温、高温にたとえば温調し、第4図に示すように、re
が四重極電極の入口部から出口部に向けて順に増加する
ように調整する。これにより、四重極電極4を通過する
イオンは入口部と出口部とで電界強度が調整され、質量
ピークのテーリングやスプリアスピークの発生が防止さ
れる。
(1)他の実施例に係る四重極電極を第5図に示す。
この実施例の四重極電極4では、4本のロッド電極41
は、異なる熱膨張係数を有する3つのホルダー46によ
り両端部近傍及び中央部が支持されている。四重極電極
4の外周全体にはヒータ47が密接して配置されており
、これは温調器48により制御されるようになっている
。そのため、3つのホルダー46は、ヒータ47及び温
調器48により均等に温調されることとなる。
は、異なる熱膨張係数を有する3つのホルダー46によ
り両端部近傍及び中央部が支持されている。四重極電極
4の外周全体にはヒータ47が密接して配置されており
、これは温調器48により制御されるようになっている
。そのため、3つのホルダー46は、ヒータ47及び温
調器48により均等に温調されることとなる。
たとえば、中央部のホルダー46を両端部のホルダー4
6よりも大きな熱膨張係数を有する材質で構成した場合
には、中央部のroを調整することができるため、スプ
リアスピークの補正が可能となる。また、3つのホルダ
ー46の熱膨張係数を端から順に変えておけば、質量ピ
ークのテーリングの改善や高速スキャン時の電界強度の
補正が可能となる。
6よりも大きな熱膨張係数を有する材質で構成した場合
には、中央部のroを調整することができるため、スプ
リアスピークの補正が可能となる。また、3つのホルダ
ー46の熱膨張係数を端から順に変えておけば、質量ピ
ークのテーリングの改善や高速スキャン時の電界強度の
補正が可能となる。
この実施例では、ヒータ47と温調器48とが1つでよ
いため、安価にすることが可能となる。
いため、安価にすることが可能となる。
(2)温調手段は、ホルダーに直接組み込まれていても
よい、・この場合、たとえばセラミックヒータを用いる
ことができる。
よい、・この場合、たとえばセラミックヒータを用いる
ことができる。
また、ロッド電極内にヒータを組み込む構成にしてもよ
い。
い。
また、ヒータとして赤外線ランプを用いてもよいし、さ
らに、真空チャンバー6の外部から高周波加熱等の手段
を用いて温調してもよい。
らに、真空チャンバー6の外部から高周波加熱等の手段
を用いて温調してもよい。
(3)ロッド電極を支持するホルダーは、2個あるいは
4個以上でもよい。ホルダーを多数設けた場合には、ロ
ッド電極の姿勢の調整を精密に行うことができる。
4個以上でもよい。ホルダーを多数設けた場合には、ロ
ッド電極の姿勢の調整を精密に行うことができる。
(4)多重極電極は、質量分析計に用いられる以外に、
イオン軌道を調整するためのイオン光学系装置に用いら
れてもよい。この場合、四重極電極以外に八重極電極、
八重極電極、−二重極電極が用いられてもよい。
イオン軌道を調整するためのイオン光学系装置に用いら
れてもよい。この場合、四重極電極以外に八重極電極、
八重極電極、−二重極電極が用いられてもよい。
本発明の多重極電極では、温調手段によりロッド電極の
姿勢を調整することができるため、多重極電極を通過す
るイオンが受ける電界強度の的確な調整が可能となる。
姿勢を調整することができるため、多重極電極を通過す
るイオンが受ける電界強度の的確な調整が可能となる。
第1図は本発明の一実施例に係る四重極電極の概略構成
を示す斜視図、第2図は第1図の■−■断面図、第3図
は本発明の一実施例に係る四重極電極を用いた質量分析
装置の概略構成図、第4図はロッド電極の姿勢を調整し
た状態を示す概略図、第5図は他の実施例に係る四重極
電極の概略構成を示す斜視図である。 4・・・四重極電極、41・・・ロッド電極、42・・
・ホルダー、44・・・バンドヒータ、45・・・温調
器、46・・・ホルダー、47・・・ヒータ、48・・
・温調器。
を示す斜視図、第2図は第1図の■−■断面図、第3図
は本発明の一実施例に係る四重極電極を用いた質量分析
装置の概略構成図、第4図はロッド電極の姿勢を調整し
た状態を示す概略図、第5図は他の実施例に係る四重極
電極の概略構成を示す斜視図である。 4・・・四重極電極、41・・・ロッド電極、42・・
・ホルダー、44・・・バンドヒータ、45・・・温調
器、46・・・ホルダー、47・・・ヒータ、48・・
・温調器。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 イオン軌道の調整やイオンのふるい分けを行うための多
重極電極であって、 複数のロッド電極と、 前記複数のロッド電極を並べて支持する支持具と、 前記ロッド電極の姿勢を温度変化により調整するための
温調手段と、 を備えた多重極電極。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1079909A JPH02257558A (ja) | 1989-03-29 | 1989-03-29 | 多重極電極 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1079909A JPH02257558A (ja) | 1989-03-29 | 1989-03-29 | 多重極電極 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02257558A true JPH02257558A (ja) | 1990-10-18 |
Family
ID=13703413
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1079909A Pending JPH02257558A (ja) | 1989-03-29 | 1989-03-29 | 多重極電極 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH02257558A (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5291016A (en) * | 1992-01-28 | 1994-03-01 | Hitachi, Ltd. | Electrostatic lens arrangement of multi-stages of multi-pole electrodes and mass spectrometer using the same |
EP0655771A1 (en) * | 1993-11-18 | 1995-05-31 | Shimadzu Corporation | Quadrupole mass analyzers |
JP2007095702A (ja) * | 1995-08-11 | 2007-04-12 | Mds Health Group Ltd | 軸電界を有する分析計 |
JP2013149550A (ja) * | 2012-01-23 | 2013-08-01 | Lift Force Co Ltd | 多重電極、多重電極の製造方法、及び質量分析装置 |
WO2019155543A1 (ja) * | 2018-02-07 | 2019-08-15 | 株式会社島津製作所 | 質量分析装置 |
WO2019155545A1 (ja) * | 2018-02-07 | 2019-08-15 | 株式会社島津製作所 | 質量分析装置 |
-
1989
- 1989-03-29 JP JP1079909A patent/JPH02257558A/ja active Pending
Cited By (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5291016A (en) * | 1992-01-28 | 1994-03-01 | Hitachi, Ltd. | Electrostatic lens arrangement of multi-stages of multi-pole electrodes and mass spectrometer using the same |
EP0655771A1 (en) * | 1993-11-18 | 1995-05-31 | Shimadzu Corporation | Quadrupole mass analyzers |
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JP2007317669A (ja) * | 1995-08-11 | 2007-12-06 | Mds Health Group Ltd | 軸電界を有する分析計 |
JP2009076466A (ja) * | 1995-08-11 | 2009-04-09 | Mds Health Group Ltd | 軸電界を有する分析計 |
JP4511505B2 (ja) * | 1995-08-11 | 2010-07-28 | エムディーエス アナリティカル テクノロジーズ | 軸電界を有する分析計 |
JP4588049B2 (ja) * | 1995-08-11 | 2010-11-24 | エムディーエス アナリティカル テクノロジーズ | 軸電界を有する分析計 |
JP4688921B2 (ja) * | 1995-08-11 | 2011-05-25 | エムディーエス アナリティカル テクノロジーズ | 軸電界を有する分析計 |
JP2013149550A (ja) * | 2012-01-23 | 2013-08-01 | Lift Force Co Ltd | 多重電極、多重電極の製造方法、及び質量分析装置 |
WO2019155543A1 (ja) * | 2018-02-07 | 2019-08-15 | 株式会社島津製作所 | 質量分析装置 |
WO2019155545A1 (ja) * | 2018-02-07 | 2019-08-15 | 株式会社島津製作所 | 質量分析装置 |
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