JPH02251007A - 半導体製造ガスの熱分解装置 - Google Patents

半導体製造ガスの熱分解装置

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JPH02251007A
JPH02251007A JP7331889A JP7331889A JPH02251007A JP H02251007 A JPH02251007 A JP H02251007A JP 7331889 A JP7331889 A JP 7331889A JP 7331889 A JP7331889 A JP 7331889A JP H02251007 A JPH02251007 A JP H02251007A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
gas
heating element
ceramic filter
heating
semiconductor manufacturing
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP7331889A
Other languages
English (en)
Inventor
Akishige Murakami
明繁 村上
Shuichi Hikiji
秀一 曳地
Akihiro Fuse
晃広 布施
Hiroshi Miura
博 三浦
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ricoh Research Institute of General Electronics Co Ltd
Ricoh Co Ltd
Original Assignee
Ricoh Research Institute of General Electronics Co Ltd
Ricoh Co Ltd
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Publication date
Application filed by Ricoh Research Institute of General Electronics Co Ltd, Ricoh Co Ltd filed Critical Ricoh Research Institute of General Electronics Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔技術分野〕 本発明は、半導体製造ガスを熱分解によって無害化する
ための熱分解装置に関する。
〔従来技術〕
CVD法やドライエツチング法を安全に行なうには、未
反応の半導体製造ガス(Si)I4. PH3、B10
.、 AsH3、CCl4、SF、 etc)を無害化
することが重要である。
従来まで代表的には以下の3つの方法が、行なわれてい
た。
(1)ガスを高温に加熱したシースヒーターパネルヒー
ター等と接触させ、熱分解する方法 この方法は設備コス1〜が小さくかつランニングコスト
を小さくできる点でメリットが大きい。しかしながら、
ガスとヒーターとの接触面積が小さく熱分解に必要な十
分の熱量をガスに与えることが難かしいため。
未分解ガスが残りやすい。現在まで、接触面積を増やす
ためヒーターの形状を工夫したり、フィン等を設けて改
良をはかっているがまだ十分ではない。
(2)ガスを吸着剤で吸着し、無害化する方法半導体製
造ガスは単体で使われるよりは、混合ガスで用いられる
のが一般的である。
そのため、吸着剤を用いる場合は吸着筒が多段になりや
すく、初期の設備コストが大きくなる欠点がある。
また処理能力が比較的小さいため、吸着剤の交換がひん
ばんになり、ランニングコストも高くなる。
=2 (3)燃焼方式 未反応の半導体製造ガスを火炎と接触させ、燃焼あるい
は熱分解し、無害化する方式である。この方式は、(1
) (2)の手法で無害化できないIf2等にも効果が
あり、この観点からは望ましい方式といえる。しかしな
がら、燃焼炉及び固気及び固液分離のシステムが大型化
しやすく、初期コストが3法のなかで著しく高い。また
システムの管理も複雑になる。
〔構  成〕
本発明の半導体製造ガスの熱分解装置は半導体製造ガス
を熱分解するための加熱体を兼用または隣位配置した多
孔質セラミックフィルターを前記ガスの通路に設置した
ことを特徴とするものである。
未処理のガスは、高温の多孔質セラミックフィルター内
を通過することにより加熱され、熱分解を起こし、無害
化する。本発明は特に加熱源として多孔質のセラミック
フィルターを用いるため、シースヒーターやパネルヒー
ター及びフィン等を設けたヒーターよりもガスとの接触
面積が非常に大きい。その結果熱分解に十分なエネルギ
ーが供給され易く、分解が完全に終了するので未処理ガ
スが残らず、安全性が極めて高い。
特に多孔質フィルターの孔径を制御した場合、その効果
は著しく大きい。
一般のセラミックも多孔質であるが、孔径が小さく、ガ
スが内部を通過しにくい。本発明では、ガスとセラミッ
クフィルターの接触面積を増加させるため、通常のセラ
ミックよりも孔径を大きくする必要がある。特にガスが
熱分解を起こし微粒子を発生させる5jH4r IIQ
(C)Ia )3等を処理する場合は、孔の目詰りを考
慮し、さらに大きくする必要がある。孔径としては、一
般的に0.1−30mm、望ましくは1−20mm、最
適には2〜10mmとするのが良い。孔径が0.1mm
以下であれば、前述のようにガスがセラミックフィルタ
ーを通過しにくく、接触面積を著しく減少させてしまう
。30mm以上であれば処理槽内でのガス流速が速く、
熱分解に十分なエネルギーが与えられない。
処理槽内でのガス速度は、未反応ガスとセラミックフィ
ルターの接触時間に影響を与えるので、重要である。同
じセラミックフィルターの孔径を用いる場合でも、熱分
解温度の高いガスでは、ガス速度を小さくし、比較的低
温で熱分解するガスでは、ガス速度を大きくする工夫が
必要である。
一般的には10〜400mm/minのガス速度を目安
にして、フィルターの孔径および未反応ガス量を決める
のが工業的には望ましい。なお、未反応ガス量は、通常
非常に少ないので、N2、Ar等の不活性ガスで希釈し
、所望のガス速度に合わせるのが良い。
次に本発明の一例を第1図に示す。(a)はセラミック
フィルタ−12自体が発熱するタイプ、(b)は発熱体
25がセラミックフィルターを加熱するタイプである。
第1図(a)では処理槽11の中に、セラミックフィル
ター12が設置されている。セラミックフィルター12
は、加熱電源14から電流導入端子13を通して電力が
供給され、発熱し、高温に保持される。そして処理槽上
部から導入されるガスと接触し、ガスを無害化する。(
a)の場合、セラミックフィルター12としては、8N
、 SjC,LaCrO3等の導電性セラミックを用い
る。
第1図(b)では加熱電源24から、電流導入端子23
を通して発熱体25に電力が供給され、発熱し、セラミ
ックフィルター22が加熱され高温に保持される。発熱
体25としては、処理するガスとの反応性から検討しな
ければならないが、般的には、モリブデン、タングステ
ン、NjCr、カンタル等の金属および合金、ないし前
述の導電性セラミックを用いるのが良い。これらの発熱
体25とセラミックフィルター22を並べたり。
ないし発熱体25を線状にし、セラミックフィルター2
2を巻いて用いる。発熱体25とセラミックフィルター
22を並べる場合は、ガスを効率良く流すためにも、発
熱体25にも穴を設けた方が良い。セラミックフィルタ
ーとしては、比較灼熱伝導度の大きな絶縁性セラミック
たとえば、酸化マグネシウム、酸化アルミニウム等を用
いると良い。
なお、処理槽11及び21は内部が高温になるのでステ
ンレスを用いて製作し、外壁を冷却する必要がある。
第1図ではセラミックフィルターが1段ないし2段であ
るが、多段にすることによって、さらに分解の効率を上
げることができる。
〔実施例〕
次に実施例を述べる。
実施例1 実施例1の構成を第2図に示す。外径125mm、厚み
5mm、長さ400mmのステンレス製パイプ(以下5
LISパイプと称す)301の上下に、フランジ302
 &介して管径1インチのSUSパイプ303を溶接し
た処理槽300を作製する。なお、処理槽の外壁中央に
、電流導入端子3011を2ケ所設け、外壁全体には1
74インチ銅パイプ305を溶接し、水冷できるように
する。
処理槽の中に直径]、 OOm m、厚さ50 m m
の円板状のSjCセラミック306(平均孔径0.]1
111m1mm、5mm、] Omm、30mmの5種
類を使用)をカス流に対して直角に設け、電流導入端子
より200V]2Aの電力を供給する。その結果セラミ
ックの温度はガス通過時では約650℃になる。
処理槽上部の1インチSUSパイプ303より、S]1
−14ガス2 secmをN2ガスで希釈し、導入し、
処理槽下部の5tlSパイプ303よりなる出口におい
て、ガス分析を行ない、残留5jl14ガスを測定した
なお希釈N2ガス流量は、処理槽内でのカス速度が25
mm/minになるように調整した。
結果を表1に示す。
(以下余白) *) 0.1  mm         1001.0   
        100 5.0           100 ]0.0            9830.0   
         72*)検出i1ppm以下のとき
は、100%とした。
以上の結果、5in4ガスに対しては、孔径0.1〜3
0 m mで効果があり、特に孔径を0.1〜10mm
において著しい。しかしながら、孔径0.Im’mでは
発生するSユの微粉末のため、目づまりをおこしメンテ
ナンスサイクルが短かい。このことがら孔径は約1.0
〜10mmとするのが好ましい。
実施例2 実施例1の処理槽300にcc14ガス2secm(気
化させて使用)をN2ガスで希釈し、導入する。希釈N
2量は処理槽300内でのガス速度を50mm/min
になるようにした。なお、供給電力は200V8Aとし
、セラミックの温度を約400 ’Cにした。
結果を表2に示す。
表2 セラミック孔径 実施例2の結果 CCl4分解効率(%) *) 0.1   mm           1.001.
0             1.005.0    
         100]0.0         
    10030.0             9
8*)検出量lppm以下のときは、10ozとした。
CCV4ガスに対しては、セラミツタ径0.1〜30m
■1までほぼ同様の効果が得られた。CC,1−、、は
、熱分解によって微粉末を発生しないので、セラミック
径約0.1mmより使用可能である。
実施例3 実施例3の構成を第3図に示す。実施例1と同様の外形
の処理槽400の中に直径]、 OOm 111厚さ]
 mn1のモリブデン板よりなる発熱体406に直径4
mmの穴を多数個あけ、そのモリブデン板の両側しこ直
径100mm厚さ25mmのA1□03セラミックフィ
ルター407(平均孔径4mm)を固定し、ガス流に対
して直角に設ける。なお、モリブデン板よりなる発熱体
406は電流導入端子404より200V12Aの電力
を供給されて、発熱し、Al2O,が加熱される。
A1□03セラミックフィルター407の温度は、ガス
通過時で約600℃である。
上記処理槽にN2希釈の5in4ガス2sccIIlを
SUSパイプ403より導入する。処理槽内でのガス速
度は、25mm/n+inとした。
その結果ガス出口403では、SiH,の分解効率は1
00%であった。
〔効  果〕
本発明の方式を用いると、未反応ガスを効率的に分解す
ることができる。また、ランニングコストについても、
安価にすることが可能である。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明装置である(a)、(b)2つのタイプ
を例示するものである。第2図は実施例1および2で使
用した熱分解装置であり、第3図は実施例3で使用した
熱分解装置である。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、半導体製造ガスを熱分解するための加熱体を兼用ま
    たは隣位配置した多孔質セラミックフィルターを前記ガ
    スの通路に設置したことを特徴とする半導体製造ガスの
    熱分解装置。
JP7331889A 1989-03-24 1989-03-24 半導体製造ガスの熱分解装置 Pending JPH02251007A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP7331889A JPH02251007A (ja) 1989-03-24 1989-03-24 半導体製造ガスの熱分解装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP7331889A JPH02251007A (ja) 1989-03-24 1989-03-24 半導体製造ガスの熱分解装置

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JPH02251007A true JPH02251007A (ja) 1990-10-08

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ID=13514705

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP7331889A Pending JPH02251007A (ja) 1989-03-24 1989-03-24 半導体製造ガスの熱分解装置

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JP (1) JPH02251007A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2014198983A1 (es) 2013-06-14 2014-12-18 Universitat Politècnica De Catalunya Máquina de absorción refrigerada por aire

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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