JPH0224505A - 2次元計算機ホログラムおよび波面測定方法 - Google Patents
2次元計算機ホログラムおよび波面測定方法Info
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- JPH0224505A JPH0224505A JP17444588A JP17444588A JPH0224505A JP H0224505 A JPH0224505 A JP H0224505A JP 17444588 A JP17444588 A JP 17444588A JP 17444588 A JP17444588 A JP 17444588A JP H0224505 A JPH0224505 A JP H0224505A
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- Japan
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- wavefront
- dimensional computer
- hologram
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- dimensional
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims abstract description 22
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 claims description 8
- 230000002452 interceptive effect Effects 0.000 claims description 2
- 230000009466 transformation Effects 0.000 claims 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 4
- 230000004907 flux Effects 0.000 abstract 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 3
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 2
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- 238000004441 surface measurement Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Holo Graphy (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、2次元計算機ホログラムおよび、この2次元
計算機ホログラムを用いた波面測定方法に関する。
計算機ホログラムを用いた波面測定方法に関する。
[従来の技術]
波面の干渉状態を計算機により計算し、その結果に基づ
いて作製されたホログラムは1周知の如く計算機ホログ
ラムとよばれている。計算機ホログラムは、従来、主と
してデイスプレィの分野で利用されていたが、近来、干
渉測定技術への利用が意図され、1次元干渉縞型計算機
ホログラムやローマン型計算機ホログラムが提案されて
いる(例えば: Applied 0ptics 、V
ol、10.P、819,1971やApplied
0ptics 、Vol、1?、P、558.1978
)。
いて作製されたホログラムは1周知の如く計算機ホログ
ラムとよばれている。計算機ホログラムは、従来、主と
してデイスプレィの分野で利用されていたが、近来、干
渉測定技術への利用が意図され、1次元干渉縞型計算機
ホログラムやローマン型計算機ホログラムが提案されて
いる(例えば: Applied 0ptics 、V
ol、10.P、819,1971やApplied
0ptics 、Vol、1?、P、558.1978
)。
[発明が解決しようとする課題]
上記1次元干渉縞型計算機ホログラムは、その記録方法
としてX−Yプロッターで描く方法や電子ビームにより
描く方法が提案されている。
としてX−Yプロッターで描く方法や電子ビームにより
描く方法が提案されている。
x−Yプロッターによる方法では、プロッターの解像力
の限界のため深い非球面の波面によるホログラムなどは
描き切れないし、描画時間が長い。
の限界のため深い非球面の波面によるホログラムなどは
描き切れないし、描画時間が長い。
また、電子ビームにより描く方法は、解像力の点では問
題ないが矢張り描画時間が長いという問題がある。
題ないが矢張り描画時間が長いという問題がある。
一方、ローマン型計算機ホログラムは1本質的に開口部
位置に伴う位相誤差を含むという問題がある。
位置に伴う位相誤差を含むという問題がある。
本発明は、上述した事情に鑑みてなされたものであって
、その目的とするところは、2次元計算機ホログラムと
いう、全く新規な計算機ホログラムと、この2次元計算
機ホログラムを用いた波面測定方法の提供にある。
、その目的とするところは、2次元計算機ホログラムと
いう、全く新規な計算機ホログラムと、この2次元計算
機ホログラムを用いた波面測定方法の提供にある。
[課題を解決するための手段]
以下、本発明を説明する。
本発明の2次元計算機ホログラムは、所定の波面を2つ
に分割し、各波面の交点を計算機にて計算し、その結果
に基づいて記録を行うことにより作成される。
に分割し、各波面の交点を計算機にて計算し、その結果
に基づいて記録を行うことにより作成される。
交点を干渉縞の中心線から計算して記録しても良いし、
あるいは干渉縞の強度分布に対し閾値を設けて計算し、
記録しても良い。
あるいは干渉縞の強度分布に対し閾値を設けて計算し、
記録しても良い。
波面測定方法では、2次元計算機ホログラムから所望の
波面を含む波面群を平行レーザー光束により再生させ、
被験波面とともにフーリエ変換し。
波面を含む波面群を平行レーザー光束により再生させ、
被験波面とともにフーリエ変換し。
フーリエ変換面に設けられた空間フィルターにより、上
記被験波面に関する回折光と、所望の波面に関する回折
光とを透過させ、これら回折光を干渉させ、被験波面を
測定する。干渉パターンの解析にあたっては、所謂縞走
査の手法を利用しても良い。
記被験波面に関する回折光と、所望の波面に関する回折
光とを透過させ、これら回折光を干渉させ、被験波面を
測定する。干渉パターンの解析にあたっては、所謂縞走
査の手法を利用しても良い。
[作 用]
本発明の、2次元計算機ホログラムは1通常のホログラ
ムが2次元波面を記録しているという、ホログラムの基
本的な性質を有効に活用するものである。即ち1本発明
の2次元計算機ホログラムでは直交座標のX、Y 2方
向に拡がった2つの波面を記録する。従って、再生時に
は2つの波面が再生されるが、適当な空間フィルターを
用いることにより2つの波面の和や差を得ることもでき
る。
ムが2次元波面を記録しているという、ホログラムの基
本的な性質を有効に活用するものである。即ち1本発明
の2次元計算機ホログラムでは直交座標のX、Y 2方
向に拡がった2つの波面を記録する。従って、再生時に
は2つの波面が再生されるが、適当な空間フィルターを
用いることにより2つの波面の和や差を得ることもでき
る。
いま、上記2つの波面をHa(X=Y)、Hz(X、Y
)とすると、これらは H,(X、Y) ;Σ(sin(g mq)/x m)exp(jm(2
x a X−ξ(X、Y)))、、、、、、、、、、(
1) H,(X、Y) =Σ(sin(x nq)/ s n)exp(jn(
2sβY−φ(X、Y)))、、、、、、、、、、、
(2) とフーリエ級数展開できる。但し、ξ(X、Y)、φ(
X、Y)は波面を表す関数であり、a、βは搬送周波数
である。また、和は展開次数のm、nに付いて取ること
は言うまでもない。
)とすると、これらは H,(X、Y) ;Σ(sin(g mq)/x m)exp(jm(2
x a X−ξ(X、Y)))、、、、、、、、、、(
1) H,(X、Y) =Σ(sin(x nq)/ s n)exp(jn(
2sβY−φ(X、Y)))、、、、、、、、、、、
(2) とフーリエ級数展開できる。但し、ξ(X、Y)、φ(
X、Y)は波面を表す関数であり、a、βは搬送周波数
である。また、和は展開次数のm、nに付いて取ること
は言うまでもない。
本発明の2次元計算機ホログラムは、これら波面の交点
として記録される。即ち、本発明の2次元計算機ホログ
ラムは上記(1)、 (2)式の積、H(X、Y)= ΣΣ(sin(s mq)hl)(sin(g nq)
/+c n)0exp(j(2z(macX+nβY)
−(mξ(X、Y)−nφ(X、Y))])、、、、、
、(3) となる、この(3)式の、第1項(m=n=1) 、
h+x(X。
として記録される。即ち、本発明の2次元計算機ホログ
ラムは上記(1)、 (2)式の積、H(X、Y)= ΣΣ(sin(s mq)hl)(sin(g nq)
/+c n)0exp(j(2z(macX+nβY)
−(mξ(X、Y)−nφ(X、Y))])、、、、、
、(3) となる、この(3)式の、第1項(m=n=1) 、
h+x(X。
Y)は。
hxx(X、Y)=(sin(x q)/lc )”e
xp(j[2s Ca X+βY)−(ξ(X、Y)
+φ(X、Y))]) 、、、、、、。(4)となる
。
xp(j[2s Ca X+βY)−(ξ(X、Y)
+φ(X、Y))]) 、、、、、、。(4)となる
。
説明の簡単のために、α=β、ξ(x、y)=φ(X、
Y)とすると、(4)式は。
Y)とすると、(4)式は。
hll(x、Y)=
(sin(z q)/ n q)”exp(j[2π(
2a X−2ξ(X、Y))])、、、、、、、(5) となる、従って、もし2ξ(x、y)が所望の波面V(
X。
2a X−2ξ(X、Y))])、、、、、、、(5) となる、従って、もし2ξ(x、y)が所望の波面V(
X。
Y)に等しいとすると。
(1/2)W(X、Y)=ξ(X、Y)=φ(X、Y)
(6)となる、また、Bをw(x、y)の
最大空間周波数とすると、計算機ホログラムを記録する
のに必要な搬送周波数Tは1周知の如くT≧3Bの条件
を満たさねばならない、従って、2次元計算機ホログラ
ムの2つの波面のそれぞれの搬送周波数はα=β= T
/2 、、、、、、、、、、(7)となる、この(
7)式の条件は、XもしくはY方向の1次の回折光を他
の回折光がら分離するための条件である。第2図は、2
次元計算機ホログラムの回折パターンを示している、V
(X、Y)を再生するためには、1=ロー+lの(1次
1、J次)回折光を分・だする必要があり、従・り、て
6′$:際の搬送層ii&i !”’ !t 。
(6)となる、また、Bをw(x、y)の
最大空間周波数とすると、計算機ホログラムを記録する
のに必要な搬送周波数Tは1周知の如くT≧3Bの条件
を満たさねばならない、従って、2次元計算機ホログラ
ムの2つの波面のそれぞれの搬送周波数はα=β= T
/2 、、、、、、、、、、(7)となる、この(
7)式の条件は、XもしくはY方向の1次の回折光を他
の回折光がら分離するための条件である。第2図は、2
次元計算機ホログラムの回折パターンを示している、V
(X、Y)を再生するためには、1=ロー+lの(1次
1、J次)回折光を分・だする必要があり、従・り、て
6′$:際の搬送層ii&i !”’ !t 。
T′≧5B/ 2 41.、、 、、 、 、 、
、、 、。(S>となる、即ち、(÷1次、+1次)回
折光を用いる場合には、搬送周波数が1次元計算機ホロ
グラムに比べて、516に軽減される。
、、 、。(S>となる、即ち、(÷1次、+1次)回
折光を用いる場合には、搬送周波数が1次元計算機ホロ
グラムに比べて、516に軽減される。
さて、2次元計算機ホログラムを作成するには。
(IL (2)式の交点を計算する必要がある。
説明の簡単のため2つの波面は等しく、q=Oでμ、る
とする。これは干渉縞の中心線のみに注目したことに相
当する。すると(1)、(2)式から2yc T’X−
W(X、Y)/2=2x M (9)2c
T’Y−W(X、Y)/2=2πN (1
0)となる、ここでに、Nは整数で、フリンジ・インデ
ックスと呼ばれるものである。
とする。これは干渉縞の中心線のみに注目したことに相
当する。すると(1)、(2)式から2yc T’X−
W(X、Y)/2=2x M (9)2c
T’Y−W(X、Y)/2=2πN (1
0)となる、ここでに、Nは整数で、フリンジ・インデ
ックスと呼ばれるものである。
(9) 、 (10)式を用いると、2つの波面の交点
は容易に計算することが可能である。
は容易に計算することが可能である。
2次元計算機ホログラムは、このように2つの波面の交
点を記録すれば良い、上の説明では9=0としたが、q
≠0であっても良く、その場合には点ではなくエリアが
記録されることになる。
点を記録すれば良い、上の説明では9=0としたが、q
≠0であっても良く、その場合には点ではなくエリアが
記録されることになる。
本明細書では、q=Qの場合を立型2次元計算機ホログ
ラム、9≠0の場合を面積型2次元計算機ホログラムと
称する。
ラム、9≠0の場合を面積型2次元計算機ホログラムと
称する。
[実施例]
以下、具体的な実施例に即して説明する。
第1図は、2次元計算機ホログラムを用いた波面測定装
置の1例を略示している。
置の1例を略示している。
この測定装置は1本発明の波面測定方法をトワイマン・
グリーン干渉測定装置として実施した実施例となってい
る。
グリーン干渉測定装置として実施した実施例となってい
る。
図に於いて、符号10は被験体を示す、この被検体10
の凹面が測定の対象となる非球面をなしている。符号L
l、L2はレンズ、符号MLはミラー、符号BSはビー
ムスプリッタ−1符号SFは空間フィルター、符号20
は2次元計算機ホログラム、符号30はエリアセンサー
の受光面を、示している。
の凹面が測定の対象となる非球面をなしている。符号L
l、L2はレンズ、符号MLはミラー、符号BSはビー
ムスプリッタ−1符号SFは空間フィルター、符号20
は2次元計算機ホログラム、符号30はエリアセンサー
の受光面を、示している。
平行レーザー光束LBはビームスプリッタ−BSにより
2分割されると、一方はレンズL1により一旦集束した
のち、被検体10の被験面の非球面に入射する。このと
き、入射球面波の波面が被験面の曲率゛と最も良くフィ
ツトするように被検体10の位置が調整される。
2分割されると、一方はレンズL1により一旦集束した
のち、被検体10の被験面の非球面に入射する。このと
き、入射球面波の波面が被験面の曲率゛と最も良くフィ
ツトするように被検体10の位置が調整される。
被験面からの反射光は、レンズBSを透過し、ビームス
プリッタ−BSで反射され、被験波面となって、2次元
計算機ホログラム20を(0次、O&)光として透過す
る。なお、この被験波面を伴う光束により、2次元計算
機ホログラム20からは、上記(0次、0次)光の他に
、第3図に示す如き種々の回折光が再生される。
プリッタ−BSで反射され、被験波面となって、2次元
計算機ホログラム20を(0次、O&)光として透過す
る。なお、この被験波面を伴う光束により、2次元計算
機ホログラム20からは、上記(0次、0次)光の他に
、第3図に示す如き種々の回折光が再生される。
ビームスプリッタ−BSにより分離された平行レーザー
光束は、ミラーMLに入射して平行レーザー光束として
反射され、ビームスプリッタ−BSを透過すると再生光
として2次元計算機ホログラム20に入射し、1連の波
面群を再生する。2次元計算機ホログラム20には、上
記再生光による(+1次、+1次)回折光の波面として
基準波面が再生されるようにホログラム記録がなされて
いる。前述した第1図は、平行レーザー光束により2次
元計算機ホログラム20から再生される回折光のパター
ンを示しているのである。
光束は、ミラーMLに入射して平行レーザー光束として
反射され、ビームスプリッタ−BSを透過すると再生光
として2次元計算機ホログラム20に入射し、1連の波
面群を再生する。2次元計算機ホログラム20には、上
記再生光による(+1次、+1次)回折光の波面として
基準波面が再生されるようにホログラム記録がなされて
いる。前述した第1図は、平行レーザー光束により2次
元計算機ホログラム20から再生される回折光のパター
ンを示しているのである。
上記基準波面は、被験波面の有るべき形状である。
2次元計算機ホログラム20から上記の如く再生された
種々の回折光は1MいてレンズL2に入射してフーリエ
変換される。
種々の回折光は1MいてレンズL2に入射してフーリエ
変換される。
そして、そのフーリエ変換面に配置された空間フィルタ
ーSFは、上記(0次、0次)光と(+1次、+1次)
回折光とを選択的に通過させる。
ーSFは、上記(0次、0次)光と(+1次、+1次)
回折光とを選択的に通過させる。
これら(0次、0次)光と(÷1次、+1次)回折光と
は。
は。
エリアセンサーの受光面30上で互いに干渉し、被験波
面と参照波面の位相差に応じた干渉縞が発生する。従っ
て、この干渉縞を読取り、トワイマン・グリーンの干渉
測定の縞解析を行うことにより被験波面、従って被検体
10の被検面の形状を測定することが出来る。
面と参照波面の位相差に応じた干渉縞が発生する。従っ
て、この干渉縞を読取り、トワイマン・グリーンの干渉
測定の縞解析を行うことにより被験波面、従って被検体
10の被検面の形状を測定することが出来る。
次に掲げる表は、2次元計算機ホログラムに用いる、上
述の如き非球面測定に有用な2次元計算機ホログラムと
被験波面との回折光の組合せと。
述の如き非球面測定に有用な2次元計算機ホログラムと
被験波面との回折光の組合せと。
その場合に必要な搬送周波数とを示す。
表
この表から分かるように、上記の説明の場合のように2
次元計算機ホログラムの(0次、0次)回折光と、被験
波面の(−1次、−1次)光とを組み合わせると、搬送
周波数はT′はT′≧8/2となり、1次元計算機ホロ
グラムを用いる場合に比して1/6に減少する。従って
、深い非球面の測定も可能となる。また、 Appli
ed 0ptics 、Vol、17.P、558.1
978の Interferometric Tes
ting with Computer Gen
erated Holograms:Aberrati
on Ba1ancinz Methode and
Error Analysis に提案されている、
収差バランス法を用いると1/4となり、搬送周波数を
全体として1/24(=(1/8)・(1/4))にま
で減少させることができる。
次元計算機ホログラムの(0次、0次)回折光と、被験
波面の(−1次、−1次)光とを組み合わせると、搬送
周波数はT′はT′≧8/2となり、1次元計算機ホロ
グラムを用いる場合に比して1/6に減少する。従って
、深い非球面の測定も可能となる。また、 Appli
ed 0ptics 、Vol、17.P、558.1
978の Interferometric Tes
ting with Computer Gen
erated Holograms:Aberrati
on Ba1ancinz Methode and
Error Analysis に提案されている、
収差バランス法を用いると1/4となり、搬送周波数を
全体として1/24(=(1/8)・(1/4))にま
で減少させることができる。
発明者は、第1図の如き装置により具体的に非球面の測
定を行った。
定を行った。
被験体としては、中央部に25mmφの開口を有する放
物線ミラーであり、その回転放物面により形成されるミ
ラー面が被験面である。勿論、このミラー面は設計上の
形状に対する。製作上の誤差を含んでいる。
物線ミラーであり、その回転放物面により形成されるミ
ラー面が被験面である。勿論、このミラー面は設計上の
形状に対する。製作上の誤差を含んでいる。
波面として上記被検面のあるべき正確な回転放物面が再
生されるようにホログラム記録をおこなった。この2次
元計算機ホログラムの記録はX−Yプロッターを用いて
、実物より大きい形状に行い、得られたものを写真で縮
小撮影して2次元計算機ホログラムとした。
生されるようにホログラム記録をおこなった。この2次
元計算機ホログラムの記録はX−Yプロッターを用いて
、実物より大きい形状に行い、得られたものを写真で縮
小撮影して2次元計算機ホログラムとした。
この2次元計算機ホログラムの様子を第4図に示す、ま
た、2次元計算機ホログラムを(0次、0次)光として
透過し、上記(÷1次、+1次)回折光の波面とともに
フーリエ変換され、空間フィルターにより濾過されてエ
リアセンサーの受光面上で干渉した2波面の干渉状態を
第5図に示す、この干渉パターンを読取解析処理するこ
とにより極めて精度よく被検面の形状を測定できた。
た、2次元計算機ホログラムを(0次、0次)光として
透過し、上記(÷1次、+1次)回折光の波面とともに
フーリエ変換され、空間フィルターにより濾過されてエ
リアセンサーの受光面上で干渉した2波面の干渉状態を
第5図に示す、この干渉パターンを読取解析処理するこ
とにより極めて精度よく被検面の形状を測定できた。
[発明の効果]
以上、本発明によれば新規な2次元計算機ホログラム及
び、これを用いた波面測定方法を提供できる。
び、これを用いた波面測定方法を提供できる。
2次元計算機ホログラムは、上述の如く、従来の1次元
干渉縞型ホログラムに比して、搬送周波数が小さくてす
み、記録容量が減少するので、ホログラム作成時間の減
縮が可能となる。特に、立型2次元計算機ホログラムは
、2つの波面の交点のみを記録すればよいから電子ビー
ムやレーザービームを用いる描画方式による記録に適し
ており。
干渉縞型ホログラムに比して、搬送周波数が小さくてす
み、記録容量が減少するので、ホログラム作成時間の減
縮が可能となる。特に、立型2次元計算機ホログラムは
、2つの波面の交点のみを記録すればよいから電子ビー
ムやレーザービームを用いる描画方式による記録に適し
ており。
X−Yプロッターによっても容易に記録できる。
なお、波面測定方法の例として実施例では、トワイマン
・グリーン干渉計として実施した例を説明したが、マイ
ケルソン干渉計やフィゾー干渉計として実現することも
できる。
・グリーン干渉計として実施した例を説明したが、マイ
ケルソン干渉計やフィゾー干渉計として実現することも
できる。
また1周知の縞走査方式を実施することもできる。縞走
査の実施には、例えば第1図の例の場合。
査の実施には、例えば第1図の例の場合。
ミラー肚に圧電素子を取り付け、レーザー光束の1波長
分だけミラーを振動させ、再生波面の位相を変化させる
方法が考えられる。
分だけミラーを振動させ、再生波面の位相を変化させる
方法が考えられる。
第1図は1本発明の2次元計算機ホログラムを用いた波
面測定方法をトワイマン・グリーン干渉測定装置として
実施した例を示す図、第2図は。 実施例に関連し、2次元計算機ホログラムから平行レー
ザー光束により再生、される再生波面のパターンを示す
図、第3図は、被験波面を有するレーザー光束により2
次元計算機ホログラムから再生される再生波面パターン
を示す図、第4図は、2次元計算機ホログラムの1例を
示す図、第5図は、実施例に関連した干渉パターンを示
す図である。 io、、、被験体、 20.、、2次元計算機ホログラ
ム、SF、、、空間゛フィルター、 L2.、、フーリ
エ変換用のレンズ もl 幻 も2図 ガ 形δ 園 ル
面測定方法をトワイマン・グリーン干渉測定装置として
実施した例を示す図、第2図は。 実施例に関連し、2次元計算機ホログラムから平行レー
ザー光束により再生、される再生波面のパターンを示す
図、第3図は、被験波面を有するレーザー光束により2
次元計算機ホログラムから再生される再生波面パターン
を示す図、第4図は、2次元計算機ホログラムの1例を
示す図、第5図は、実施例に関連した干渉パターンを示
す図である。 io、、、被験体、 20.、、2次元計算機ホログラ
ム、SF、、、空間゛フィルター、 L2.、、フーリ
エ変換用のレンズ もl 幻 も2図 ガ 形δ 園 ル
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、所定の波面を2分割し、分割された各波面の交点を
計算機にて計算し、記録することにより得られる2次元
計算機ホログラム。 2、2次元計算機ホログラムから所望の波面を含む波面
群を平行レーザー光束により再生させ、被験波面ととも
にフーリエ変換し、フーリエ変換面に設けられた空間フ
ィルターにより、上記被験波面に関する回折光と、所望
の波面に関する回折光とを透過させ、これら回折光を干
渉させ、被験波面を測定する波面測定方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP17444588A JPH0224505A (ja) | 1988-07-13 | 1988-07-13 | 2次元計算機ホログラムおよび波面測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP17444588A JPH0224505A (ja) | 1988-07-13 | 1988-07-13 | 2次元計算機ホログラムおよび波面測定方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0224505A true JPH0224505A (ja) | 1990-01-26 |
Family
ID=15978627
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP17444588A Pending JPH0224505A (ja) | 1988-07-13 | 1988-07-13 | 2次元計算機ホログラムおよび波面測定方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0224505A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8985359B2 (en) | 2011-03-28 | 2015-03-24 | Corning Incorporated | Container cap with kink-resistant connector |
-
1988
- 1988-07-13 JP JP17444588A patent/JPH0224505A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8985359B2 (en) | 2011-03-28 | 2015-03-24 | Corning Incorporated | Container cap with kink-resistant connector |
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