JPH02241718A

JPH02241718A - 成形機の成形条件解析装置

Info

Publication number: JPH02241718A
Application number: JP6455889A
Authority: JP
Inventors: Shingo Asai; 真吾浅井; Toru Okumura; 徹奥村; Junya Kato; 純也加藤; Yasuhiko Takeda; 泰彦武田
Original assignee: Minolta Co Ltd
Current assignee: Minolta Co Ltd
Priority date: 1989-03-15
Filing date: 1989-03-15
Publication date: 1990-09-26

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】［産業上の利用分野〕本発明は、成形サイクルにおける成形品品質に影響を与
える成形条件をショット毎にｉｔ　ａ？ｊ　ｔ、、その
＝１Δ−１データから成形条件の統計的解析を行う成形
機の成形条件解析装置に関する。

〔従来の技南〕

従来、成形機の成形品品質に影響を与える成形条件を計
測し、そのｉｔ　７１１Ｊデータ若しくはその計測デー
タを用い゛た品質データを表示及び又は記録する・もの
が知られている。例えば、特開昭６０−２４７５３６号
公報には、成形品品質に影響を与λる圧力、速度、温度
、時間等の成形条件を成形ショット毎に検出し、その検
出した計測値をデジタル量に変換した後、予め設定され
ている良品基檗値と比較ｌ′Ｉ′ｉ算してショツト数に
対する良品数、良品発生率及び上記各成形条件毎の平均
値、標学偏差等を記録する品質記録装置が示されている
。上記品質記録装置ｔにより連続成Ｊｌ；　１１．’ｉ
に、ｔ；いで、成１１ツ機に設定する成形条件の設定値
４１〜その管理幅からシ１側値による成形品の品質管理
が容易に行λるよ、うになったが、上記１１品基準値と
なる成形条件やその管理幅は成形技術者がテストショッ
トを繰返し１、その経験とノウハウに基１づい゛Ｃ設定
Ｉ２ている、。

また、特開昭６３−１０８’）ｆ＋１号公報及び特開昭
６３−１０８９６２号公報には、射出成形機の各ショッ
トにおける成形条件の計測データを・連続的な軌跡波形
として表示若（、＜は記録したり、任意のｊｌ−Ｄデー
タをデジタル崎に壺換り、て表示ｔｊ−＜は、：ピルす
る方法が示されている。上記射出成形条件計測データの
表示・記録方法によりり・１出成形条件の計測データの
内、希望の計測デ・−タの軌跡が迅速かつ容易に観測で
きるＪ、うになるとともに（Ｔ　１１の観Ａ１１点の計
測値を正確に取ｉｉＩできるような　っ　を二　。

〔発明が解決しようとする課題〕

Ｊ−ころで、上記従来技術では７、各ショットにおける
成１【ニ条件の：ｉ−Ａｐｉルミデータ易に＆！測でき
るようにな一少たが、成形加１におりる成形条件は非常
に多く、例えば同じ金型内圧力でも位置の異なる条件が
多数含まれるから、各シばットについ゛にれら全ての成
形条件をｉ！！測１．て成形品品質に影響４・与える成
形条件を抽出し、その成形条件の設定値を変更１．たり
するのは非常に困難である。このため１．ｉｌ　ｉｌＮ
データを観測して成形品品質に影響を与えるＪ思われる
成形条件を抽出したり、七の成形条件の設定値を変更Ｖ
る作業は熟練の成形技術ｎがその経験とノウハウにより
行っている。

一方、熟練の成形技術者の経験とノウハウに頓ることな
く、多数の成形条件の中から成形品品質に及ぼす主要条
件を抽出したり、各成形条件の変ａｍや金型の寿命等を
より科学的に管理するものと１７て構成！に条件の計紺
デ・−夕を統＝１”的に解１′ｉ′するツノ法がある。

１．かじ、膨大なｉｔ　）ｉ１１データから必要なｍｌ
　ｉｌｐ！データを抽出１．５で統計処理用のデータに
変換したり、その統＝１用データを演算処理するのに多
大の時間を要し、効率良く解析処理が行えなかった。ま
た、上記作業を手作業で行っｔ−場合、人為的なミスが
発生し易く正確な解ＩＪ？処理が迅速に行えなかった。

本発明は、」二記課題に鑑みて成されたものであり、シ
Ｊツｉ・毎に成形サイクルにおける成形条件の全ての変
量を計Ａｌ　ｔ、て記憶し、記憶した計測データから任
意の成形条件のｔ１側データを抽出して統計的解析処理
を行うことのできる成形機の成形条件解８１７装置を提
供することを目的上する。

〔課題を解決するための手段〕

上記課題を解決するために、本発明に係る成形機の成形
条件解１ｆｉ装置は、成形サイクルにおけ５成形機及び
金型の成形品品質に影響を与える成形条件をシ１゛側す
る計測手段と、成形サイクルにおける各タイミング信号
を検出する手段と、上記計昶１データとタイミング信号
とをショット毎に記憶する記憶手段と、記憶された上記
計測データ及びタイミング信号から、設定された解析条
件に対応する、タイミング信号を基準にして決定される
時点における計ｔ−１データを抜数のショット回数分抽
出する手段と、該抽出した計測データから統計的解析処
理を行う演算手段と、該演算結甲庖表・Ｊミす乙表示手
段とを伺えたものである。

〔作用〕

上記のように構成された成形機の成形条件解）１１装置
においては、ショット毎に成形機の成形サイクルにおけ
るタイミング信号が検出されると」（に成形品品質に影
響を与える成形条件が計測され、これら計測されたタイ
ミング信号及び計ハ１データがショット毎に記憶される
。そして、記憶された上記計測デ・＝−夕及びタイミン
グ信号から、設定された解析条件に対応する、タイミン
グ信号を）Ａ”／１に（７て決定される時点における計
ＪＰ１データが設定された複数のショット回数分だけ抽
出され、その二１測データから統計的な演算処理が行わ
れ、その解！ｌｉ結果が表示装置に表示される。

〔実施例〕

第１図は本発明に係る射出成形機の成形条（／ｊ解析装
置の構成図を示１．たものである。同図において、１は
スクリュー式射出成形機、２は射出成１ヒ機１に取付け
られた金！伊、３は」二記射出成形ｉｔの射出ｎである
。金型［２には７、射出成形時１．゛金≧セ内の樹脂に
加わる圧力をａｔ　ｊｌｌｊする金メゼ内樹脂Ｆ−（勾
検出装置４及び射出成形時の全１゛夕内訳度を計ΔＦＪ
する金型温度検出装置５が配設さ第１ている。また、射
出筒３には、加熱筒の温度を検出する加熱筋４Ｘ位検出
装置６、射出時のスクリュ・−位置を検出する射出スク
リュー位置検出装置７及び射出時のスクリコーの圧力を
検出する射出圧力検出装置８が配設されている。なお、
上記全型内樹脂圧力検出装置４、金型温度検出装置５、
加熱筒温度検出装置６、射出スクリコー位置検出装置７
及び射出圧力検出装置８と１．　ｒそれぞれ複数の検出
器を配λ（３することで、δ成形条件に−）いて：［棚
位置の異なる複数の計ＡｐＩデータが得られ、乙。例え
ば全型内樹脂圧力検出装置４では金型内の中心付近と周
辺付近の位置の異なる。圧力が検出される。

射出成形機１にはアナログ信号増幅装置９、割込信号出
力装置１０及び−信制御装置１１が設けられている。ア
ナログ信号増幅装置９は］１記検出装置４〜８のそれぞ
わの検出装置に設０られた各検出器１．゛λ・Ｉ応１″
る増幅器を白”１７、検出されｔ−アナログ検出信号を
それぞれ増幅する。これにより各検出第３号は検出メ′
：同時にアナログ信号増幅装置９で増幅され、ぞの増幅
信号は後述する計１１１１１信号入力装置１７２に随時
出力される。また、割込信号出力装置１０は射出成形機
の成形サイクルにお；１４）、例えば金型の開閉動作の
切換えや射出速度の高速、ａ℃、速の切換え等の動作食
中を指示或いは動作路ｒを確認する谷信号（以下、タイ
ミング（５号という）を検出１．て、÷１゛側（ｉｉ号
人力装置１２へ出力するも０）である。また、通ｒニー
Ｅ制御装置１１は射出成形機１側−Ｃ検ｌ′（１Ｆ、、
、蓄積６！！打ている、例スば温度等の検出データを計
７１ＰＩ　（ｌｉ　Ｑ入力装置１２へ出力するものであ
る。通信制御装置１１は演算処理制御装置＆　１１１か
らの指示により蓄積データえ・−括してシ１肺１ス。

シ）・人力装置１２−＼出力する。なお、検出データが
−・定量蓄積されたとき、該蓄積データが一括して出力
されるように１．でもよい。

３０は上記成形冬ｄの、ｆｆｔ　ａＦ＃データ及びタイ
ミング信号を用いて解Ｍ’ｖ′処理及び表示を行う解析
処理システムを示１７７、計測信号人力装置１′：２　
、ｍｌｌ副制御装置１３演算処理制御装置１４、計測デ
ーター時記憶装置１５、主記憶装置１６、補助記憶装置
１７．１８、キーボード１９、Ｃｒ’、　Ｔ表示装置２
０及び他の表示装置きしてのプリンタ２１及びブロック
２２より構成されている。

計測信号入力装置１２は上記アナログｆＪ９増幅装置９
、割込信号出力装置１０及び通信制御装置１１から射出
成形機の成形サイクルにおける一連の動作に対応１−で
入力された成、形条件の各種検出信号及びタイミング信
号を解析処理システム３１）に取込む入力部である。１
記検出ｌ＝　’ｊ尺・びタイミング信号はＪ１１信号人
力装置１２を介ｊ、て計ＪＰＩダーター時記ｔａ装置１
５１ご入力され、該記憶装置１５で一時的に記憶され、
更１ご後述するように主記憶装置］６を介して補助記憶
装置１７及び１８に記憶、保存される。なお、計測信号
人力装置１２はＡ／Ｄ変換器を有しており、上記アナロ
グ信号増幅装置９及び通信制御装置１１から入力される
アナログ検出信号をデジタル信号に変換し、て計Ａ１１
データー時記憶装置１５へ・出力する。

計測制御装置１３はａｌｌ信号人力装置１２による上記
成形条件の検出信号及びタイミング信号のデータ取込み
を制御するものである。すなわち、１−記アナログ信号
増幅装置９及び通ｔ、：　＄１１都装置１１から入力さ
れる成形条件の８検出器号及びりｆミング信号の内１、
演算処理制御装置１４からのデータ取込み指令ｉ：、　
＋ｘづき解祈デークとし“Ｃ必要なデータを選択的に計
ハ！データー時記憶装置１５へ出力さｌ十ろものである
。まｔ、−１検１（４信号のサンプリング速度は予め成
ｊ（γ・件の：↑瀾項１］毎に決定されｊ：゛おり、討
ｊＦＪ＄１ｉ３ＩＩＷＷ　１−１は計測項Ｌｊ毎Ｅ、ｎ
決められたサンプリング速度で計測データを取込むよう
に計測信号人力装置１２を制御する。なお、サンプリン
グ速度はキーボー　ド１９から指定することもできる。

キーボード１９からザニ／ブリング速ｊ良が指定される
と、演算処理制御装置１４から指定されたサンプリング
速度がＨ−ａＭ　１ｉ制御装置１３へ入力され。そのサ
ンプリング速度で３１′ΔｐＩ人力装置１：２のデータ
取込みが１．１！御される。

ｅＬ算処理制御装置１・４は、解重処理シ入テム３０の
動作を集中的に管理すると、！：もに計１１１ＰＩデー
タの解析処理を行う。解析処理では補助シ己憶装置１７
及び１８に記憶されている成形条件の、ｉｔ　ｉ’Ｊ＃
ｊデータを用いて、例えばヒストグラム、バ【／・−ト
図、相関図等の解析処理を行い、その解１６結県を補助
記憶装置１７又は１８に記憶さぜると共にＣＲＴ表示装
置２０に表示させたり、ブリンク２１又プロツタ２２に
記録させる。

土ｕＬ憶装置（ＲＡＭ）１６は演算処理１．ｌ制御装置
１３の演算処理のための記憶装置であり、例えば成１１
３安定性解←１１ヒストグラム解鋲、バレート図解ξＩ
ｉ１相関解伍笠の演算処理方法をも記憶さ第１ている。

補助記憶装置１７（フロッピーディスク）及び１８（固
定ディスク）は解析処理り法、計測データ及びタイミン
グ１−Ｘ号、解析結！Ｖ等が記憶さ４する二己憶装置Ｎ
であり、例えば補助：こ憶装置１８は第２図に示すファ
イル体系を有Ｌ　ｒいる。なお、？１ｆ１助記憶装置１
８も同様のファイル体系を合している。

同図において、成形サイクル管理ファイル２３には、１
成形サイクルにおいて検出される全てのタイミング信号
の発生時刻、成形条件の計測項目を示す項［Ｉナンバー
、計１１−１データファイル２６にお６）るδ成形条件
のシー１−〇データのメモリアドレスを示す１ノコード
ナンバー、ｉｔｉ＋ｐｍデータの各成形条件ｆ、ｉに決
定されているサンプリング速度及び成形機の成形条件の
設定値の成形条件設定ファイル２７におけるメモリアド
レスを示すレコードナンバーが全でのショットについて
記憶されている。なお、上記タイミング信号とは、例え
ば型締開始、型締完了、射出開始、射出完了、保圧開始
、保圧切換、４、保圧完了、計器開始、計量完了、型開
開始、突出開始、突出完了、す・イクル終了の各ｍ号及
び射出速度の切換ｉｚ号である。

解析処理方法フッイル２４には！１′側項目、それぞれ
の解杭処理方法で用いられるタイミング信号とその発生
時刻及びタイミング信号の発生時刻から指定さねた時間
経過１７た時刻が記憶される。なお、上記指定時間はキ
ーボード１．９から指定可能な（ＦｆＢ、の時間である
。

演算処理パラメータファイル２５には解析ｔ！里をＣＲ
Ｔ表示装置２０に画面表示するための、例えば表示項目
、表示スケール等の演算処理ベラメータがシ己憶される
。

計ａＰＪデータファイル２６には計測ｆ３号人力装置１
１から人力された成形条件の計測データが計測項１−１
毎に整理して記憶される。なお、演算処（ｌ！１！制御
装置１４は主記憶装置１６から補助記憶装置１７又は１
８への計Ａｌｌデータの転送を制御し、必要す４１　ｄ
ｌＪ　チー　タラ上に！、　ｉｆ’　ａｌ　チー　９７
　ｙ　イル２６１：　：ｉ３憶させる。

成形条件設定データファイル２７には成形機側で設定し
た成形条件設定値が成形条件の項［１毎に整理して＝己
憶されている。

解析結果記憶ファイル２８には解析演算処理が終了する
と１４時にその解析結果が記憶、保イｊされる。

なお、補助記憶装置１７及び］８に」二足ファイル２′
う〜２８を同時に複数個保有させれば、解析能力をより
大きくすることができる。

第１図に戻って、′３１は金Ｊ！！　２の温度を調節す
る金型温度。関節装置である。金型温度調節装置３１で
は冷却用油の温度が油温検出装置３２により検出され、
アナログ信号増幅装置′う３で増幅された後、コ１゛Δ
村データ入力装置１２・入出力される。ｊ＝た、割込信
号入出力装置３４により全てのタイミング信号が計′Ａ
Ｐｊデータ入力装置１２へ出力される。７．３６は射出
成形された製品を搬送する製品順送装置である。製品搬
送装置３６では割込信号入力装置３５により製品搬送の
タイミング１５号が検出され、計７１１３　ｆＨ号大入
力装置１２入力される。

４６は射出成形の樹脂材料を乾燥し２、供給するホッパ
ードライヤーである。ホッパードライヤー４６では樹脂
材料乾燥用エアーの温度が乾燥エアー温度検出装置４７
により検出され、アナログ４３号増幅装置４８で増幅さ
れた後、計８１１データ人力装置１２へ出力される。ま
た、割込信号入出力装置４９によりすべてのタイミング
信号が計Ａ−１データ入力装置へ、出力される。

第′う図は本発明に係る押出成形機の成形条（′ト解析
装置の構成図を示り、たものである。同図において、解
析処理システム３０の構成は射出成形機の成形条件解析
装置と同じ構成である。押出成形機１では混練機３７の
回転速度及び混練温度がそれぞ“れ回転速度検出装置′
３９及び混練瓜度検出装置、・１０により検出され、そ
の検出信号がアナログ信号増幅装置３乏３を介して計ａ
ＰＪ信号入力装置１２へ人力される。また、ダイ４１及
び冷却用水槽４１３の温度かそれゼれダイ温度検出装置
４２及び水Ｆｈ温度検出装置ｌ￥４４により検出され、
その検出信号がアナログ信号増幅装置４５を介しで：ｔ
゛ａｐ＋信号人力装置１２へ人力される。そ１．て、上
記計庸！デークにより後述する統；［的解析処理か？ｊ
われろ。

次に、解析処理方法に・ついて説明する。本発明に係る
解析処理システムでは、成形条件の各３１′１ｔｊｊ項
Ｉ］について任意のタイミング信号の発生時刻における
計Ａ−１データ７７シ（は−８のタイミング信号の発生
時刻からｆ［意の時１ルＩ経過した時点における計測デ
ータを用いて、例えば成形安定性解析、ヒストグラム解
析、バレート図解析及び相関解（；Ｉ′等の統１寸的解
１ｉが行われる。また、計測データと１．て解析対９と
；２ている計ｉ’ｌＰＩ項［ｌの１成形すｆクル内の最
大値若し２くは最小値を採ることもできろ。

まず、解析処理シスヂム４立」二げろ、−１ＣＲＴ表示
装置２０のＣＲＴ上に上記解析処理ｌＪ法の）エコー、
ユ［計１項目、、タイミング信号、１成）レサイクル内
の最大値若ｌ、＜は最小値を計ａＰＪデータとする３）
用データの抽出方法等が表示されるので、４−ボード１
９より解析しｔ、―い解析処理方法、３１　Ｊｌ１１項
１．−！及び夕・（ミニフグ信号を選択し、ン１ツト数
、ト記選択１．たタイミング１３号からの経過時間で決
定される解析１７たい時刻等の解析条件を入力する。

なお、これら設定された８ｆｉｌＩ１１．ｌ′Ｉ′ＩＬ
１、タイミングｆ昌号、ショツト数及び解析時刻等の解
！１ｉ条件は解（１ｉ′処１４１ｊ　ｊｊ法ファイノＮ
、　２４に記憶されるので、再瓜同じ条件の計測データ
を用いて解析する時は改めて条件設定する必要はない。

解析条件の選択及び人力が柊ｒすると、演京処理１ｉｔ
ｉ陣装置１４は補助記憶装置１８から必決な解＃ｆｉデ
ータを抽出する。すなわち、指定されたタイミング信号
の発生時刻におけるｉ　ｊ＃３データを抽出する場合、
演算処理制御装置１４は成形サイクルファイル２１から
指定されたタイミング信号の発生時刻を呼出（７、同時
に計Δ−１データファ・イル２６におＩｊる：ｉ　Ａｌ
！データのレコードナンバーとサンプリング速度とによ
り決定される上記タイミング信号の発生時刻に対応する
計ＡＦｊデータのメモリアト１ノスを算出して計Ａ１デ
ータファイル２６からその計４−１データを抽出する。

また、指定されたタイミング信号の発生時刻から指定さ
れた時間経過した時点における吐／Ｉ−１データを抽出
する場合、演算処理制御装置１４は指定されたタイミン
グ信号から指定されｔ＝時間経過後の時刻を算出し、該
発生時刻にｋ・１応する計測デー　タのメモリアドレス
を算出して計Δか１データフアイル２６からその計測デ
ータを抽出する。上記方法により解析対象の全計測項目
につき、全ショットについて計Δか１データが抽出され
る。また、１成形サイクル内の最大値若しくは最小値を
３ｉ側データとする場合は、演算処理制御装置１４は解
析対象の計測項目についでぶショットにおける計ｉｌｌ
データの最大値又は最小値を＋ｉ’１川ダーラダータフ
アイルから全ンうツトについて算出する。

例えば連続成形開始から１５シｊット分について射出開
始時のスクリュー位置、スクリュー速度及び射出圧力の
成形安定性解析を行っｔ−場＆、演算処理制御装置１４
は補助記憶装置ｉ８内の計測データファイル２６から射
出開始時のスクリュー位置、スクリュー速度及び射出圧
力の各ｍｌ’　ａｌｌ＋データを連続成形開始から１５
シ３・：ｔトについで抽出し、各計測項［１について最
大値、最小値及びこれら最大値、最少値を記録したショ
ット番号及び平均値を算出する。

第４図は上記成形安定性解析結果をＣＲＴ表示装置２０
に表示した一例を示している。同図に示すように各計Ａ
ｐ１項目の計、ｉｌ？Ｊデータが時系列的にグラフ化さ
れ、同時に表示される。各グラフのスゲールの横軸はシ
ョツト数、縦軸はそれぞれの物理量の単位を示している
。なお、各コｉ　ａ項１］について、それぞれ枠数の計
ａｌｌボイ：、トの言ｌ測テ゛−り交・解Ｈｒｉ１．．
．たときは、それらを虫ね表示させたり、その内の任意
の：［側ポイントの解ｖｉ結果を表示させることもでき
る。また、スケールを任意に変更１，７て拡大・縮小表
示を自由にさ（４ることもできる。

上記のように選択的に表示した表示項［１や変更１゜た
表示スケール等は演算処理パラメータ２５に記憶される
ので、同一条件の解ｌＪｉ′結果の再表示を筒中に行う
ことができる。また、第４図には示Ｅ７ていないが、カ
ーソル及びその力・−ツルとグラフとの交点の：＋Ａｐ
＋データ値（デジタル＆ＩＯを表示さｔ會ることもでき
る。

次に、第５図は−Ｌ　Ｘ己成形安定性解各１ｉ結果をプ
リンタ′、２１で記録表示１．た−例である。同図に示
すようにブリンク２１では−［側項目毎１．：各シヲ・
ットの計測データが全′Ｃ出力される。、また、第６図
は」二足成形安定性解析結宋をブｔ“］ツタ２２で記録
表示しｊニー例である。同図に示すようにブロック２０
ではスクリュー位置、スクリュー速度及び射出圧力の成
形安定性解析結果が一つのグラフに小ね描き６＼ｔ１ろ
と共に谷Ｘｔ　ｉ’ｌ＃１項ｒｌ　ＩＱ二ついて最大値
、最小（１６及びこ４ν、ら最大値、最小値を記録した
ショット番号及び東均値が記録表示される。

第゛７図は連続成形開始から５０ショット分についてり
・１出開始から０．５秒後の全型内樹脂圧力の成形安定
性解析を行った結果をＣＲＴ表示装置２０に表示１．た
ものである。また、同図は２種類の全型内樹脂圧力の成
形安定性解析結果を示１−でいる。この場合、演算処理
１１御装置１４は計測データファ、イル２６から射出開
始から０．５秒後の６金Ｊ管内樹脂圧力の計ｉ’ｌＰＪ
データを成形開始からｒ）０シヨツトについて抽出Ｌ１
、該抽出データの最大値、最小値及びこれら最大値、最
少値を記録したショット番号及びｑＬ均値をや出する。

第３３図は上記成彰安−ｊ、′性解析ξ、シ宋をプリン
タ２１で記録表示１．たｔ）のＣ，凸金型内樹脂圧力の
δショッＩ・の計測デ・−タが全て記録表示される。

上述のように族１１Ｓ安定性解析では連続成１ヒにおけ
、コ任意の計パか１項［二Ｉに−）いてＪ１ΔｐＩデー
タのシ、ｊットの繰返１．によろ変動が一目で観ＡＰＩ
できるので、異゛岳のあったシコットを簡単に見付は出
す゛ことができると共に成形機の成形条件又は機械的条
件の安定性を極め′Ｃ容易にｆｌ定することができる。

以上、成形安定性解析を例に解析処理方法を説明１１．
だが、ヒストグラム解析、バレート図解析、相関解析に
〕いても上述と同様の方法で計ａＪＩＪデ・−タを抽出
して解析することができる。

ヒストグラム解析では解析対象と１２でいる全ショット
の計測データを比較演算してヒストグラムデータどその
特性値が算出される。ヒストグラムの表示範囲及び分割
数はキーボード１９から任、Ｓｔ、：設定することがで
き、設定された表示用のパラメータは演算処理パラメー
タ２５に記憶される。

従って、同一条件の解析は改めて解析条件を人力するこ
となく行うことができる。

第９図は上記スクリュー速度の例についてヒストグラム
解Ｖ１を行−）た結果の表示例を示ｊ、５、第１０図及
び第１１図はそれぞれその解析結果をプリンタ２１とプ
ロッタ２２で記録表示Ｉ７た一例である。

ＣＲＴ表・Ｊミ装置２０には第９図に示すようにヒスト
グラムの分布、−各分割領域のデータの数及びその分布
の最大値、最少値及びそれら最大値、最少値を記録した
ショット番号、標準偏差等の特性（たが表示される。こ
れらの解析結果は解析と同時１ご解析結果記憶ファイル
２８に記憶され、再度表示させるときに使用される。

プリンタ２１では第１０図に示すよ・うに解析１４件と
ヒストグラムの各分割領域のデータ数及び分Ｓの最大値
、最少値及びこれら最大値、最′し鎮を記録し、たショ
ット番号、標準偏差等の特性値が記録表示され、プロッ
タ２２では第１１図に示すようにＣＲ，Ｔ表示装置で２
０で表示された内容と同一内容が：ｒ！録表不表示る。

バレート図解析では対象としている全ショットの３１．
０＋データを比較演算１．でバレ・−ト図のデータ及び
その特性値が算出される。このとき計測データの分類は
＝Ｉ川用−タの計測範囲を任意に分割し。

た分割領域について行われる。バレート図の表示範囲及
び分割数はキーボード１９から任意に設定することがで
き、設定された表示用のバラメー＝〜夕は演１．ン処理
パラメータ２５に記憶される。

第１２図は上記スクリュー・速度の例についでバレー　
！・図解Ｉハをｊ−１−１１ｔ：：結果の表示例を示し
、第１３図はその解析結果をプリンタ２１で記録表示１
゜た−例である。

ＣＲＴ表示装置２（〕では第１２図に示すように解析条
件と計、’ＩＰＪデータの：を用前囲を任倉に分割１゜
Ｃ１その分割領域に含まれる計測データの数が棒グラフ
で表示される共に６分割領域のｆｆ１ｔ　ａｌ！データ
数が積算されて折れ線グラフで表示される。また、各分
割１１域のデータの数及びその分布の最大値、最少値及
びこれら最大値、最少値を記録１−２たショット番号、
標準偏差等の特性値が表示さイトろ。、これらの解析結
果は解析と同時に解析結果記憶ファイル２８に記憶され
、再度表示さセる６−きに使用される。

バレート図解析では計測・データの計測範囲を分割【７
だ分割領域の各デ＝−タ数を積算し°Ｃ表示させている
のＣ，，例えば不良となるしきい値を設定ｔ６６ノー、
（れによる不ｔ１の発生数を簡単に判別する二たができ
る。

プリンタ２１では第１３図に示すように解Ｉｎ条件とバ
レート図の各分割領域のデータ数、各分割領域の積算デ
ータ数及び上記分布の特性値が記録表示される。

相関解析では２−）の計測項目のそれぞれのシ１“用デ
ータを全ショットについて相互に比較演算して２つの＝
１−測項目間の相関図（散ｒＩｉ図）データが算出され
る。

第１４図は」二足、スクリュー速度及びスクリュ位置の
例について相関解析を行った結果の表示例を示し、第１
５図及び第１６図はそれぞれその結果をプリンタ２１と
ブロック２２で記録表示した一磨である。

ＣＲＴ表示装置２０には第１４図に示すよ・）に解析条
件、散布図、各計測項目についての最大値、最少値及び
これら最大値、最少値を記録し７たショット番号、標準
偏差及び相関係数等の特性（１６が表示される。これら
の解析結果は解析と同時に解＃Ｊｉ結果記憶ファイル２
８に記憶され、再度表・にさせるときに使用される。散
布図の表示スケールはキーボード１９から任意に設定す
ることができ、設定された表示用のパラメータは演算処
理パラメータ２５１こ５己憶される。

ブ１．１ンタ２１では第１４図に示すように解Ｈｒ条件
とて２つの計ＡＰＩ項ｉ］ｊの全ショットにおけるそれ
ぞれの３１川データがｄｄ記録表示れ、ブロック２２で
は第１６図に示すようにＣＲＴ表示装置＝２０で表示さ
れた内容と同一・の内容が記録表示される。

上記のように相関解析では１下意の２つの成形条件＋１
’ｌ　’、、ｎの相関解析データが迅速にｉすられるの
で、種々の成形条件用７１の相関を確認しておいた後、
相関解析データの異常の発生をｍ　Ａ＄３することによ
り成形機の成形条件又は機械的条件の異常状携とその異
常原因を９期に発見することができる。

なお、上記成形条件の：ｌ″Δｐ（データの解析・表示
り法は射出成形機、押出成形機だけでなく、類似の成形
機である鋳物成形機やセラミック成形Ｒ−こむ適用する
ことができる。

〔発明の効里〕

以−Ｌ１説明したように本発明にかかる成形機の成形条
件解析装置では、ワンショット毎に、ｔ　ａＮ　ｔ。

た成形機の成形す・イクルにおける成形条件の計測デー
タを用いて、成形安定性、ヒストグラム、バレート図及
び＃＃１関図等の統計的解析処理をｉうい、その解析結
果を表示するようにしたので、成１１技術乙の経験やノ
ウハウに頼ることなく成形品品質の定量的な管理か迅速
かつ容易に行える。また、テストショツト時の計ハ１デ
ータの整理、分析が迅速に行えるので、テストショット
による好適な成形条件の設定時１１）１を大幅に短縮す
ることができる。

また、連続成形時の成形安定性を解ｆｌｉ処理して表示
するよう（７したので、各成形サイクルにおりる同一時
点の成形条件の変動が一目で観察でき、その変ｉＥ１よ
り成形品品質の９占判定を容易に行うことができる。ま
た、成形条件の走化と密接な関係を有する成形機性能、
金型ｍ　ｔｔｌ、　３！Ｊ整機性能及びホッパードライ
ヤー性能の連続成形時における経時変化が随時観ＡＰ１
でき、」二二己性能の安定性の管理が容易に行える。

また、成形条件の：［測項目の内、任意の２つの計測類
１．１について相関解析処理して表示するようにしたの
で、成形条件の各計測項目間の相関関係が瞬時に判断で
きると共に成１１工条件どうしの因果関係が明確１ζな
り、成形機の性能の定量的な管理が行える。また、−度
、Ｕ礎となる相関関係を確認しておき、相関解Ｄ１結末
がその基礎となる相関関係から外れていないか観測する
ことにより成形条件又は機械の異常及び異常原因が容易
に発見できる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明に係る成形条件計測データの解析・表示
方法を射出成形機に適用１．た解析処理システムの構成
図、第２図は補助記憶装置内のファイル体系を示す図、
第３図は押出成形機に適用した場合の構成図、第４図は
成形安定性の解析結果を表示した図、第５図は成形安定
性の解＃７結果をプリンタで記録表示した図、第６図は
成形安定性の解析結果をプロッタで記録表示した図、第
７図は第２の成形安定性の解析結果を表示した図、第８
図１ｉ第２の成形安定性の解析結果をプリンタで記録表
示した図、昂９図はヒストグラム図の解析結果を表示し
た図、第１０図はヒストグラ４図の解１１結果をプリン
タで記録表示Ｉ７た図、第１１図はＬ６ストグラム図の
解析結果をプロッタで記録表示した図、第１２図はバレ
ート図の解析結果を表示した図、第１３図はバレート図
の解析結果をプリンタで記録表示した図、第１４図は相
関図の解析結果を表示した図、第１５図はＩ’ｌｌ関図
の解析結果をプリンタで記録表示した図、ｆｉ１６ＦＸ
Ｊは相関図の解析結果・をブロックで記録表示した図で
ある。１・・・Ｑ１出出願形、２・・・金型、３・・・射出筒
、４・・・金ヤ内樹脂圧力検出装置、５・・・金型温度
検出装置６・・・加熱筒温度検出装置、７・・・射出ス
クリュー位置検出装置、８・・・射出圧力検出装置、９
．３３゜３８．４５．４８・・・アナログ信号増幅装置
、１（）・・・割込信号検出装置、１１・・・通信制御
装置、１２・・・計ハｌ信号入力装置、１３・・・計１
ｌｐｔ制御装置、１４・・・演算処理制御装置、１５・
・・計測データー時記憶装置、１６・・・主記憶装置、
１７，１．８・・・補助記憶装置、１９・・・キーボー
ド、２０・・・ＣＲＴ表示装置、２１・・・プリンタ、
２２・・・ブロック、２３・・・成形ザ・イクル管理フ
ァイル、２４・・・解析処理方法記憶ファイル、２５・
・・演算処理パラメータ記憶ファイル、２６・・・計ａ
１１データファイル、２７・・・成形条件設定ファイル
、２８・・・解析結果記憶ファイル、３０・・・解析処
理システム、３１・・・金型温度調節装置、３２・・・
油温度検出装置、３４．４９・・・割込信号入出力装置
、′３５・・・割込信号人力装置、３６・・・製品搬出
装置、３７・・・ａｌ、９１４機、３９・・・回転速度
検出装置、４０・・・混練温度検出装置、４１・・・ダ
イ、４２・・・ダイ温度検出装置、４３・・・水槽、４
４・・・水１０温度検出装置、４６・・・ホブパードラ
イヤー、４７・・・乾燥エアー温度検出装置。第　　３図特許出願人　　　ミノルタカメラ株式会社代　理　人　
　　弁理士　小　谷　悦　旬間　　　　　弁理士　長　
１）　　正向　　　　　　　　弁理士　　伊　　藤　　孝　　夫第図第図

Claims

【特許請求の範囲】１、成形サイクルにおける成形機及び金型の成形品品質
に影響を与える成形条件を計測する計測手段と、成形サ
イクルにおける各タイミング信号を検出する手段と、上
記計測データとタイミング信号とをショット毎に記憶す
る記憶手段と、記憶された上記計測データ及びタイミン
グ信号から、設定された解析条件に対応する、タイミン
グ信号を基準にして決定される時点における計測データ
を複数のショット回数分抽出する手段と、該抽出した計
測データから統計的解析処理を行う演算手段と、該演算
結果を表示する表示手段とを備えたことを特徴とする成
形機の成形条件解析装置。２、上記統計的解析処理は連続成形時における成形安定
性であることを特徴とする請求項１記載の成形機の成形
条件解析装置。３、上記統計的解析処理は成形条件内の２つの計測項目
相互の相関関係であることを特徴とする請求項１記載の
成形機の成形条件解析装置。