JPH02240515A - 位置検出装置 - Google Patents

位置検出装置

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Publication number
JPH02240515A
JPH02240515A JP6325289A JP6325289A JPH02240515A JP H02240515 A JPH02240515 A JP H02240515A JP 6325289 A JP6325289 A JP 6325289A JP 6325289 A JP6325289 A JP 6325289A JP H02240515 A JPH02240515 A JP H02240515A
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JP
Japan
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optical scale
light
mask
slit
light receiving
Prior art date
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Pending
Application number
JP6325289A
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English (en)
Inventor
Shohei Takeda
昌平 武田
Toshihiko Kudo
俊彦 工藤
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Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [技術分野] 本発明は、読取りユニットで光学式スケールを読取り、
読取りユニットに対する光学式スケールの相対位置を検
出する位置検出装置に関する。
[従来技術] 従来から、可動部材の位置や移動量を検出する装置とし
て、所謂エンコーダと呼称される位置検出装置が知られ
ている。
この種の装置は、例えば1発光部と受光部を有する読取
りユニットを使用し、可動部材に連結した光透過部と遮
光部を所定周期で交互に形成した光学式スケールを発光
部と受光部の間に位置付け、発光部からの光で光学式ス
ケールを照明し、光学式スケールで変調された(光透過
部を通過した)光を受光部で受光して電気信号に変換し
、この電気信号のパルス数をカウントすることにより可
動部材の位置や移動量を検出していた。そして、分解能
を向上させるために光学式スケールの光透過部と遮光部
の周期を小さくした時には、発光部と光学式スケールの
間、又は光学式スケールと受光部の間の一方に所謂固定
スケールと呼称される所定のスリットを有するマスクを
設け、受光部に信号光以外の不要な光が入射するのを防
いでいた。そして、受光部から第1図に示すような規則
正しい出力信号を得ていた。尚、第1図の縦軸は電流レ
ベル(■)、横軸は時間(1)を示している。
しかしながら、従来の位置検出装置では、光学式スケー
ルが発光部側又は受光部側に変位すると、マスクのスリ
ットと光学式スケールの位置関係が変化し、第2図に示
すように受光部からの出力信号が乱れてしまい、可動部
材の位置や移動量の検出を精度良く行なえなかった。
[発明の概要] 本発明は、常に精度良く位置検出を行なえる位置検出装
置を提供することを目的としている。
この目的を達成するために、本発明の位置検出装置は、
光学式スケールに光を向ける発光部と該光学式スケール
で変調された光を受光し電気信号を出力する受光部とを
具えた読取りユニットで、該読取りユニットに対する該
光学式スケールの相対位置を検出する装置において、該
発光部と該光学式スケールの間及び該光学式スケールと
該受光部の間の双方に所定のスリットを有するマスクを
設けたことを特徴としている。
本発明では、発光部と光学式スケールの間、及び光学式
スケールと受光部の間の双方に所定のスリットを有する
マスクを設けているので、たとえ光学式スケールが発光
部側又は受光部側に変位しても、受光部からの出力信号
か乱れることがない、従って、常に精度良く位置検出を
行なうことが可能になる。
本発明の具体的構成及び更なる特徴は後述する実施例に
記載されている。
[実施例] 第3図は本発明の位置実施例を示す概IIs図であり、
同図において、lは読取りユニットで。
LED等の発光部1− aとフォトダイオード等の受光
部1−bを有する。2は発光部用マスクでスリット2−
 aを有し、発光部1− aに密着して設けてあり、3
は受光部用マスクでスリット3−aを有し受光部1−b
に密着して設けである。4は光学式スケール(パルス板
)で光透過部4− aと遮光部4−b光学式スケール4
は不図示の可動部材に固設してあり、可動部材と連動し
て動く、5は受光部1−bからの出力信号を増幅する増
幅回路、6は増幅回路からの信号を処理するが交互に所
定周期で形成しである。演算制御回路、71.72が可
動部材の動き又は位置に関連して制御される他のシステ
ムもしくはユニットとなっている。
本実施例では、スリット2− a及びスリット3− a
の大きさは、各々発光部1− a及び受光@1−bの大
きさより小さく設定してあり、スリット2− aにより
光学式スケール4に向けられる光を制限し、スリット3
− aにより受光部で受光する光を制限している。ここ
では、前述のように発光部用マスク2を発光部1− a
に密着させ、受光部用マスク3を受光部1−bに密着さ
せているが、各々発光部1− a、受光部1−bから離
して設けても良い。
光学式スケール4が、可動部材の動きに連動して発光部
用マスク2と受光部用マスク3の間を動き、スリット2
− aとスリット3− aと光学式スケール4の透過部
4− aと遮光部4−すとにより、発光部1− aから
の光を透過せしめたり遮ったりすることにより、非連続
的に受光部1−bに光が入射し、受光部1−bで電気信
号に変換され、その電気信号が増幅回路5に入力されて
、増幅された信号が演算、制御回路6に送られる。そし
てこの信号に基づいて演算制御回路6から関連のシステ
ム71やユニット72に制御信号が送られ、これらのシ
ステム71、ユニット72が制御される。演算制御回路
6では、増幅回路5からの信号を2値化して2値化され
た信号のパルス数をカウントすることにより光学スケー
ル4の位置即ち可動部材の位置を検出する。
本実施例の装置において、受光部i−bから得られる出
力信号は第4図に示すような信号であり、上述の発光部
用マスク2と受光部用マスク3の双方を設けているため
、光学式スケール4が発光部1− a側又は受光部1−
b側に変位(紙面上下方向に変位)しても、第4図に示
す信号の波形は殆ど変化しない。従って、常に安定した
信号が演算制御回路6に送られ光学式スケール4の位N
(移動量)が正確に検出できる。また、受光部1−bと
演算制御回路6の間に増幅回路5を設けているので、マ
スクを2つ使用したことによる受光部1−bからの信号
レベルの低下も問題にならなくなった。
第5図は本発明に用いるマスクの他の形態を示す該略図
であり、第3図に示した部材と同一の部材には第3図と
同じ符号を付し、ここでは説明しない1図中の10はマ
スクであり、発光部1− aと受光部1−bのためのス
リット2−a、3−aが形成しである。即ちプラスチッ
ク、アルミなどの金属板より成る部材に穴をあけて2つ
のスリットを形成したマスク(一体形成のマスク)とな
っている、そして、このマスク10には、マスク10の
位置決めのための突起部1− cと面1−dか形成され
ており、これら1−c、l−dを読取りユニット1の対
応する面に密着させてマスクlOを固定する。
本実施例のマスクIOに形成しであるスリット2− a
、3− aの大きさも発光部1− a、受光部i−bの
大きざより小さく設定してあり、マスク10を使用して
も第3図の装置同様の信号を出力することができる。ま
た、前述の効果を奏することは言うまでもない。
[発明の効果] 以上、本発明によれば、発光部と光学式スケールの間及
び光学式スケールと受光部の間の双方に所定のスリット
を有するマスクを設けたことにより、光学式スケールが
発光部側や受光部側に変位しても受光部からの出力信号
が乱れることがないため、常に精度良く光学式スケール
の移動量や位置も検出することが可能になる。
【図面の簡単な説明】
第1図及び第2図は従来の位置検出装置における出力信
号の一例を示す図。 第3図は本発明の一実施例を示す概略図。 第4図は第3図の装置における出力信号の一例を示す図
。 第5図は本発明に使用するマスクの他の形態を示す該略
図。 1・・・読取りユニット 1− a・・・発光部 1−b・・・受光部 2・・・発光部用マスク 3・・・受光部用マスク 2−a、3−a−・・スリット 4・・・光学式スケール 5・・・増幅回路 第二口 第5図

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)光学式スケールに光を向ける発光部と該光学式ス
    ケールで変調された光を受光し電 気信号を出力する受光部とを備えた読取り ユニットで、該読取りユニットに対する該 光学式スケールの相対位置を検出する装置 において、該発光部と該光学式スケールの 間及び該光学式スケールと該受光部の間の 双方に所定のスリットを有するマスクを設 けた位置検出装置。
  2. (2)前記電気信号を増幅する増幅回路を有する特許請
    求の範囲第(1)項記載の位置検 出装置。
JP6325289A 1989-03-14 1989-03-14 位置検出装置 Pending JPH02240515A (ja)

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JP6325289A JPH02240515A (ja) 1989-03-14 1989-03-14 位置検出装置

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JP6325289A JPH02240515A (ja) 1989-03-14 1989-03-14 位置検出装置

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ID=13223876

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JP (1) JPH02240515A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06258101A (ja) * 1993-03-04 1994-09-16 Rohm Co Ltd 光エンコーダ

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06258101A (ja) * 1993-03-04 1994-09-16 Rohm Co Ltd 光エンコーダ

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